一种8合1射频测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001] 本实用新型涉及通信技术领域，尤其是涉及一种8合1射频测试装置。
【背景技术】
[0002] 随着移动互联网的发展，用户对于无线网络传输速率的要求越来越高，为了满足 用户的需求增强自身的竞争力，运营商开始部署第四代移动通信网络。目前中国只发布了 TD-LTE的4G拍照且分配的频谱的频率范围比较高。由于频谱特性决定高频在覆盖上要弱 于低频，为了提高站点的覆盖能力和容量，减少站点的数量，从而缩减成本以及工程量，目 前运营商在建设TD-LTE网络时，很多都采用多天线技术。目前8T8R和2T2R是TD-LTE解 决方案的主流。为了适应这种方案，目前通信RRU的射频部分大多也采用8T8R方案。由于 要测试多个通道的射频信号，在测试过程中通道切换，设备和测试仪器连接的射频线缆也 要切换到相应的通道，导致测试效率低下。为了解决这个问题设计了这款8合1测试工装。 【实用新型内容】
[0003] 本实用新型的目的是为了减少在测试8路射频模块时切换输入线路或者仪器，提 高测试效率和减少仪器使用量，以减少设计生产成本。本实用新型通过逻辑转换来实现射 频通道的选择性切换，可以通过外部电源提供逻辑电平，也可以通过数字电路配合软件一 起提供逻辑电平，提供了一种通用性强、架构实现简单、且测试时操作简单的装置。
[0004] 本实用新型的技术方案为：
[0005] -种8合1射频测试装置，所述装置包括射频合路电路，该电路主要功能是为射频 信号提供通路，实现射频信号的切换；逻辑控制电路，逻辑控制电路和射频合路电路相连， 将外部提供的逻辑电平转换为所需要的电平来控制射频合路电路每个射频通路的通断。电 源电路，该电路主要是为其他电路提供直流电压。
[0006] 所述射频合路电路包括两个4合1射频开关和一个2合1射频开关。
[0007] 与射频合路电路相连的逻辑控制电路主要包括若干个与门、非门和与非门，并与 该装置外部的MCU相连或者直接与外部的其他电平控制装置相连；
[0008] 与射频合路电路以及逻辑控制电路分别相连的电源电路包括DC-DC开关电源和 LD0线性稳压电源，是整个系统的电源。
[0009] 所述的射频合路电路中，8个射频输入端分别与两个4合1开关的8个端子相连， 两个4合1射频开关的合路端分别和2合1射频开关的两个端子相连，2合1射频开关的合 路端和整个电路的射频合路端相连。
[0010] 所述的电源电路中，电源的输入端和输出端均设置有滤波电路。
[0011] 采用本实用新型所述的测试装置，相比于传统的测试方案，减少了测试时间，减小 了测试难度，节约了测试成本，从而提高产品的竞争力。
【附图说明】
[0012] 图1为本实用新型的系统原理框图。
[0013] 图2为本实用新型的电源单元原理框图。
[0014] 图3为本实用新型的射频合路单元原理框图。
[0015] 图4为本实用新型的逻辑控制单元原理框图。
【具体实施方式】
[0016] 下面结合附图及具体实例，对本实用新型电路的实施作进一步的详细描述。
[0017]图1是本实用新型的系统原理框图。整个实用新型有三个部分组成：射频合路单 元、逻辑控制单元和电源单元。整个系统有一个主电源，由电源单元转换为所需的直流电 压，转换后的直流电压给射频合路单元和逻辑控制单元供电。逻辑控制单元起到逻辑转换 的功能，它与外部的MCU或者直接与外部的其他电平控制装置相连相连，将MCU或者其他电 平控制装置相连的控制逻辑转换后用于控制射频合路单元。逻辑控制单元可以保证射频合 路单元其中一路射频输入信号只可以以较小的插损传输到8射频输出端其中1个，即保证 在测试其中某一通道时，其他通道对于输出端来说是关闭的。射频合路单元受到MCU和逻 辑控制单元的控制，它是射频通道切换的主体。射频合路单元是个线性装置，不会影响输入 信号的线性、增益波动等，或者使得这些信号的的改变在可接受范围内。
[0018] 图2是电源单元的原理框图。
[0019] 整个电源单元由一个DC-DC开关电源和一个LD0线性稳压电源组成。电源单元有 一个主电源，为28V直流电压。DC-DC开关电源将28V电压变换换到+5V。电源输出电压可 以由Vout端和FB相连的电阻决定。为了使得输出电压的纹波满足要求，请根据开关电源的 要求选择合适的电感和合适的低ESR电容。开关电源输出的5V直流电压除了直接给射频 合路单元和逻辑控制单元供电外，还作为LD0的输入电压。LD0将5V直流电压变换到3. 3V 直流电压，3. 3V直流电压给射频合路单元提供直流电压。
[0020] 图3是射频合路单元的原理框图。
[0021] 整个射频合路单元由两个4合1射频开关（或者可以实现4合1射频合路的其他 射频开关）和一个2和1射频开关（或者可以实现2合1射频合路的其他射频开关）组成。 可以根据测试的需求选择开关时间、隔离度、工作频率、P1和IP3合适的射频开关。
[0022] 图4是逻辑控制单元的原理框图。对每个模块分别而言：
[0023] 整个逻辑控制单元由门电路组成。通过门电路将4路控制信号转换 为射频合路单元中的射频开关的控制电平。保证其中一路开启时，其他几路 是关闭的。其中一路4合1开关的管脚控制电平和MCU给出的逻辑电平的关 系如下面三个公式：V3=FH_POW_RSW4,V2=FH_P0W_RSW2-FH_P0W_RSW3, Vl=Ft_K)W_RSWl-Fli_K)W_RSW3:另外一路4合1开关的管脚控制电 平和MCU给出的逻辑电平的关系如下面三个公式：V3=FH_POW_RSW8, V2=Ft_P0W_RSW6-FE_IJ0W_RSW7,V1=FHPOVV_RSW5?FH_P0VV_RSW7。 2合1开关的管脚控制电平和MCU给出的逻辑电平的关系如下面三个公式：VCTL= Ft；_P0W_RSW1 ?FtJ)0W_RSW2_FH_l)0W_RSW3-Ffc；_K)W_RSW4。经过逻辑控制单元的电 平转换，MCU给出的控制电平和控制射频开关的电平的关系见下面的真值表。
[0024]
【主权项】
1. 一种8合1射频测试装置，其特征在于：包括射频合路电路，该电路为射频信号提供 通路，实现射频信号的切换； 逻辑控制电路，逻辑控制电路与射频合路电路相连，将外部提供的逻辑电平 转换为所需要的电平来控制射频合路电路每个射频通路的通断； 电源电路，该电路为其他两个电路提供直流电压。
2. 根据权利要求1所述的一种8合1射频测试装置，其特征在于：所述射频合路电路 包括两个4合1射频开关和一个2合1射频开关；与射频合路电路相连的逻辑控制电路包 括若干个与口、非n和与非口，并与该装置外部的MCU相连；与射频合路电路W及逻辑控制 电路分别相连的电源电路包括DC-DC开关电源和LDO线性稳压电源。
3. 根据权利要求2所述的一种8合1射频测试装置，其特征在于：所述的射频合路电 路中，8个射频输入端分别与两个4合1开关的8个端子相连，两个4合1射频开关的合路 端分别和2合1射频开关的两个端子相连，2合1射频开关的合路端和整个电路的射频合路 端相连。
4. 根据权利要求3所述的一种8合1射频测试装置，其特征在于；所述的电源电路中， 电源的输入端和输出端均设置有滤波电路。
【专利摘要】本实用新型公开了一种8合1射频测试装置。包括：射频合路单元，该单元连接射频输入和输出，并和逻辑控制单元相连，通过逻辑单元的控制将一路射频通路其中一路开启，其他通路关闭；逻辑控制单元，该单元和射频合路单元以及外部的监控板（现有装置）相连，主要是控制射频通路的开关；电源单元，主要是给上述两个单元提供直流电压。该实用新型和监控板配合使用可以自动测试多路的射频单元，避免了在测试过程中不断的换线，减少了仪器的使用量，提高了多路射频单元的测试效率，减少了多路射频单元的测试成本和测试时间。此外该实用新型还具有通用性强，架构实现简单，资源少、成本低的特点。
【IPC分类】H04B17-309
【公开号】CN204376921
【申请号】CN201520086072
【发明人】张国强, 罗伟, 胡恺珣, 张雪, 李德明, 高金萍
【申请人】武汉虹信通信技术有限责任公司
【公开日】2015年6月3日
【申请日】2015年2月6日