专利名称：多路温度探测控制器的制作方法
技术领域：
本发明涉及温度探测与控制技术，尤其涉及一种温度控制精度在+/-1.5摄氏 度内的多路温度探测控制器。背景技术：
以空气为导热介质，以单片机作为控制核心，单点温度探头+力。热装置的控 制器已出现有较长时间。它们型号众多，功能强大，有些控制器已带有复杂的 探测一控制一加热模式。但大部分现有的这些温度控制器仍然没有较好地解决 精确恒温这一重要问题，也就是温度控制精度问题。究其原因，较为关键的是 以单点形式温度探测和控制作为恒温手段是不全面和不可靠的，其忽略温度场 内各个温度点之间的温度是相互影响的。温度在封闭环境下，空气循环作为加 热传递方式，使得温度场内各点温度都在不断变化。按照温度场梯度分布的形 式，单点探测和控制系统不能够全面反映封闭空间内的温度变化，那么其温度 控制精度亦不准确。
发明内容
本发明针对现有技术的上述缺陷，提供一种多路温度探测控制器，以达到 在目标温度+/-1.5摄氏度内变化的控制精度。
为了解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的 一种多路温度探测控制器，其特征在于包括4~8个一线制温度探头，一 組受控加热装置，MCU控制中心，可任意i:殳定某个探头与加热装置相连。所述 温度探头几何分布在加热空间感测周边温度，选定温度探头通过接线连接到 MCU控制中心，将感测到的温度值发送到MCU控制中心，MCU控制中心将接 收到的温度值与其设定的基准温度值比较，如果接收的温度值低于基准温度值，则控制加热装置加热使该点进入恒温状态。
优选的，温度探测控制器还包括2 4个带预设温度值的直流风扇，所述直
流风扇安装于加热空间进、出风口，且进风风扇与出风风扇比例为1: 1 1: 3。 优选的，MCU控制中心包括加热控制单元，加热控制单元由脉宽调制PWM 单元、发光二极管、光敏电阻、双向可控硅、加热电阻组成，该脉宽调制单元 根据探头感测到温度值与基准温度值之差大小调节输出的脉冲宽度，该脉冲驱 动发光二极管的亮、灭，控制双向可控硅的通断，加热电阻受控于双向可控珪。 优选的，温度探测控制器还包括控制面板，该控制面板与MCU控制中心 连接，所述控制面板装设有8字码LED显示器和输入按键。
从以上技术方案可以看出1、本发明带有4 8个一线制温度探头，可按需 要分布在加热空间，探头与MCU控制中心连接，实现实时测控，提高温度监控 质量；2、根据感测到的温度值与基准温度值差异，使用PWM信号作为输出， 对加热系统进行控制，使得加热系统温度调节更加精确；3、本发明还包括2-4 个直流风扇，进行温度微调校正，根据需要进行进风或出风放置，增强温度调 节能力。
图1为本发明一优选实施例原理框图2为本发明加热控制单元原理图。
具体实施方式
本发明为一种温度探测控制器，实现在室温到75摄氏度温度变化范围内对 某封闭环境进行温度控制，并达到在目标温度+/-1.5摄氏度内变化的控制精度。
下面结合具体实施方式
对本发明作进一步详细的说明。
参见图l所示，为本发明优选实施例原理框图，其包括MCU控制中心1、 温度探头组2、加热控制单元3、风扇组4、控制面板5，分别用接线将一线制温度探头2、加热控制单元3、风扇组4、控制面板5连接到MCU控制中心1 ， 其中控制面板包括装设的显示器和输入按4建。其具体功能实现如下
本发明使用一线制温度探头，使得温度探测过程变为MCU控制中心与温 度探头的数据交换的过程。选取探头0，设定该点的基准温度值，假设CH(^50， 则表示探头O的基准恒温温度值为50摄氏度。温度控制时，需注意风扇空气进 出方向，温度校正的效果与调温风扇的进出气方向有4艮大关系，根据实际情况 将进气与出去风扇比例调节为1: 1 1: 3，这些风扇可安装在加热室的进风口。
参见图2所示，为本发明加热控制单元连接原理图，其包括脉宽调制PWM 单元31、发光二极管32、光每文电阻33、双向可控硅34、加热电阻35，该l^宽 调制单元根据探头感测到温度值与基准温度值之差大小调节输出的脉冲宽度， 该脉冲驱动发光二极管的亮、灭，发光耳机管的亮灭又控制光敏电阻的通断， 再控制双向可控硅的通断，加热电阻受控于双向可控硅。当PWM的脉沖越宽， 发光二极管的发光时间越长，照射光敏电阻时间长、双向可控珪的导通时间也 越长，从而使得加热电阻在单位时间内的加热时间越长，这样更有利于调节加 热空间内的温度。结合调温举例TO作为恒温加热点，恒温温度设为50摄氏度， T4作为调温风扇，亦设定温度为50摄氏度，其预设温度值将自动下调4度。这 样，当T4在小于46度时，T4对应风扇不转。T4在大于等于46度时，开启其 风扇，此时风扇的电压等于5V左右，风扇低速转动。当T4等于47摄氏度时， 风扇电压为7V左右；当T4等于48摄氏度时，风扇电压为9V左右；当T4等 于50摄氏度时，风扇电压为IIV左右，风扇转速最大，这样可减少加热过程中 的热沖击，提高温控精度。调温风扇电压值，是MCU根据对应温度探头温差加 上预设值运算再通过关联硬件而得出，而T4温度值可根据该点要求而设定。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述丰支为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域 的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和 改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附 权利要求为准。
权利要求
1.一种多路温度探测控制器，其特征在于包括4～8个一线制温度探头，一组加热装置，MCU控制中心，探头与加热装置相连，所述温度探头几何分布在加热空间感测周边温度，温度探头通过接线连接到MCU控制中心，将感测到的温度值发送到MCU控制中心，MCU控制中心将接收到的温度值与其设定的基准温度值比较，如果接收的温度值低于基准温度值，则控制加热装置加热。
2、 根据权利要求1所述的多路温度探测控制器，其特征在于还包括2~4 个带预设温度值的受控12V直流风扇，所述直流风扇安装于加热空间进、-出风 口，且进风风扇与出风风扇比例为1: 1 1: 3。
3、 根据权利要求1或2所述的多路温度探测控制器，其特征在于MCU 控制中心包括加热控制单元，加热控制单元由脉宽调制PWM单元、发光二极管、 光敏电阻、双向可控硅、加热电阻组成，该脉宽调制单元根据探头感测到温度 值与基准温度值之差大小调节输出的脉冲宽度，该脉冲驱动发光二极管的亮、 灭，控制双向可控硅的通断，加热电阻受控于双向可控珪。
4、 根据权利要求3所述的多路温度探测控制器，其特征在于还包括控制 面板，该控制面板与MCU控制中心连接，所述控制面板装设有8字码LED显 示器和输入掩睫。
全文摘要
本发明公开了一种多路温度探测控制器，其特征在于包括4～8个一线制温度探头，一组受控加热装置，MCU控制中心，探头与加热装置相连，所述温度探头几何分布在加热空间感测周边温度，选定温度探头通过接线连接到MCU控制中心，将感测到的温度值发送到MCU控制中心，MCU控制中心将接收到的温度值与其设定的基准温度值比较，如果接收的温度值低于基准温度值，则控制加热装置加热使该点进入恒温状态。本发明可以达到在目标温度+/-1.5摄氏度内变化的控制精度。
文档编号H05B33/08GK101303608SQ20081002873
公开日2008年11月12日 申请日期2008年6月12日 优先权日2008年6月12日
发明者竞 黄 申请人:竞 黄