一种半敞开式测试机架的制作方法
【专利摘要】本发明涉及一种半敞开式测试机架，包括基座、侧围板和上面板，所述的上面板通过侧围板与基座连接，所述的基座、侧围板、上面板围设成一空腔，所述的基座上设有测试台，所述的上面板上设有开口。与现有技术相比，本发明可更方便快捷地找到测试板卡的故障，提高维修效率。
【专利说明】一种半敞开式测试机架
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种测试机架，尤其是涉及一种半敞开式测试机架。
【背景技术】
[0002]目前，高精度测试设备被广泛应用在生产、加工领域中，用于对产品测试和检验。现有高精度测试设备内一般设置有测试机架，测试机架是由型材焊接构成，，便于产品测试。现有的测试机架通常为全封闭的机架，如图1所示，在维修测试过程中会给维修工程师造成一定的维修困难:当板卡在通电测试过程中遇见了错误，此时工程师无法在板卡通电过程中用各种测量仪器去判断板卡的错误方位及是哪些电子元器件出了问题。
[0003]为了让维修工程师在维修过程中更能方便快捷地找到错误原因，需要对测试机架进行改良。
【发明内容】
[0004]本发明的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种半敞开式测试机架，在维修过程中可更方便快捷地找到测试板卡的故障，提高了维修效率。
[0005]本发明的目的可以通过以下技术方案来实现:
[0006]一种半敞开式测试机架，包括基座、侧围板和上面板，所述的上面板通过侧围板与基座连接，所述的基座、侧围板、上面板围设成一空腔，所述的基座上设有测试台，所述的上面板上设有开口。
[0007]所述的开口的形状为矩形。
[0008]所述的开口设有I?3个,分布设置在上面板上。
[0009]所述的侧围板上设有用于插入测试板卡的插槽。
[0010]所述的侧围板上设有电源连接座。
[0011]与现有技术相比，本发明在测试机架的上面板上设置开口，在维修过程中，可以很方便随意的在测试板卡在通电的状态下进行测量，解决了维修人员在维修过程中因为得不到通电状况下出现的数据而无法快速正确判断问题的根源的困难，能够真正加快维修的进度，保证出货的时间。
【专利附图】
【附图说明】
[0012]图1为现有测试机架的结构示意图；
[0013]图2为本发明机架的结构示意图。
【具体实施方式】
[0014]下面结合附图和具体实施例对本发明进行详细说明。本实施例以本发明技术方案为前提进行实施，给出了详细的实施方式和具体的操作过程，但本发明的保护范围不限于下述的实施例。
[0015]如图2所示，一种半敞开式测试机架，包括基座、侧围板I和上面板2，所述的上面板2通过侧围板I与基座连接，所述的基座、侧围板1、上面板2围设成一空腔，所述的基座上设有测试台，所述的上面板2上设有开口 3。所述的开口 3的形状为矩形，可根据需要设置I?3个，分布在上面板上。本实施例开口设有两个。所述的侧围板上设有用于插入测试板卡的插槽和电源连接座。
[0016]使用本发明机架，维修工程师可在测试板卡通电状况下就直接能使用测量仪器对板卡进行测量，可正确快速地判断出测试板卡中出现问题的根源，提高了维修效率，保证了出货时间。
【权利要求】
1.一种半敞开式测试机架，包括基座、侧围板和上面板，所述的上面板通过侧围板与基座连接，所述的基座、侧围板、上面板围设成一空腔，所述的基座上设有测试台，其特征在于，所述的上面板上设有开口。
2.根据权利要求1所述的一种半敞开式测试机架，其特征在于，所述的开口的形状为矩形。
3.根据权利要求1所述的一种半敞开式测试机架，其特征在于，所述的开口设有I?3个，分布设置在上面板上。
4.根据权利要求1所述的一种半敞开式测试机架，其特征在于，所述的侧围板上设有用于插入测试板卡的插槽。
5.根据权利要求1所述的一种半敞开式测试机架，其特征在于，所述的侧围板上设有电源连接座。
【文档编号】G12B9/08GK104167225SQ201310185800
【公开日】2014年11月26日 申请日期:2013年5月17日 优先权日:2013年5月17日
【发明者】顾宏翔 申请人:上海唐盛信息科技有限公司