用于研磨和均质化包含颗粒的材料的精磨机和方法_2

文档序号:9892594阅读:来源:国知局
一个马达11。然而,可以为两个或更多个辊(例如,这些辊中的每一个)提供马达。
[0030]如图3到图5所示,精磨机I设置有传感器9和处理器,该传感器9用于测量指示颗粒尺寸分布的至少一个参数,处理器适于基于测量值控制辊之间的(一个或多个)间隙中的至少一个间隙、辊的旋转速度以及材料和辊的表面之间的摩擦力。
[0031]通过辊2-6施加到材料上的压力通过调整连续辊2-6的每一对之间的间隙来设置,辊2-6的每一对之间的间隙可借助于机械装置进行调整,诸如液压或者气压缸、电子装置(诸如步进马达)或其组合。优选地,处理器适于调整两个相邻辊之间的间隙,从而减少或者增加施加到精磨机I中材料上的压力。
[0032]材料中颗粒的颗粒尺寸也可以通过辊2-6的旋转速度或物质和辊2-6的表面之间的摩擦力进行控制。注意到,精磨机I可以包括例如两个、三个或者五个辊。传感器9被放置在精磨机I的排出辊6的附近。在这个实施例中,传感器9被定位在精磨机的排出辊6的上方。通过在排出辊6的附近设置传感器并测量仍然存在粘性物质的膜的排出辊6的表面上的颗粒尺寸的分布,可以在线测量产品中的颗粒尺寸分布。
[0033]传感器适于测量辊的表面上的点12 (图5 ),点12的直径范围从I Omm到40mm,优选地从15mm到35_,更特别地在从20mm到30mm的范围中。在此示例中,该点的直径为25_。
[0034]传感器和/或处理器(例如容纳在单元9中)适于测量频率的频谱,并优选地适于将频率的频谱划分为近红外频谱的不同频率区域。每个频率区域可以转化为信号,其中信号的形状和幅值指示颗粒尺寸分布。
[0035]处理器可以适于提供测量值和所希望的颗粒尺寸分布之间的相关性。例如,处理器可以适于基于统计函数和/或实验室分析例如经由实验室测量值建立的相关性根据测量值计算颗粒尺寸分布。传感器/处理器可据此被校准,被实现为建立所测量的参数值和所希望的参数值之间的相关性。
[0036]在一种实施例中,至少每25毫秒生成一信号,以用于基于所测量的参数和所希望的参数之间的相关性来控制辊2-6之间间隙中的至少一个间隙、辊2-6中的每一个的速度和摩擦力。
[0037]在另一种实施例中,处理器适于在线分析产品的水、糖、脂肪和/或蛋白质的含量,并由此利用这种应用在线控制精磨机或者其它机器或方法。此外,在一种实施例中,精磨机被布置成借助于处理器自动启动,该处理器适于对比在线分析成分和工艺的配方数据库、基于在线成分分析的成分根据配方数据库确定包含颗粒的材料的配方并自动设置机器(诸如精磨机或者方法)。可以在没有操作者干预的情况下自动设置机器或者方法。
[0038]如在图3中可见,也可以是第一传感器9被定位在辊6中心处,而第二传感器10被定位在辊6的边缘的附近。利用两个传感器9、10,可以确保颗粒尺寸分布跨辊6的长度或者长度的部分是大致上相同的。两个传感器测量指示颗粒尺寸分布的参数,所测量到的参数相互对比。如果对比的信号大致上位于相同范围之内,则两个相邻的辊大致上平行,从而确保颗粒尺寸分布跨辊6的整个长度大致相同。
[0039]注意到,传感器9、10可以共用一个处理器或者传感器9、10二者各自具有它们自己的处理器,这些处理器相互连接。
[0040]注意到,平均颗粒尺寸可以位于从Ιμπι到ΙΟΟμπι的范围之中,优选地,在从IMi到100μπι的范围中,具有+/-Ιμπι的精度。
[0041]本发明不限于上述实施例,这些实施例可以在权利要求的范围之中以多种方式进行改变。例如,除了巧克力外,本发明也可以用于生产包含颗粒的混合物、可可、脂肪、填料或者诸如涂料、漆、墨水等的非食物产品,例如颜料。
【主权项】
1.一种用于研磨和均质化包含颗粒的材料的精磨机(I),所述包含颗粒的材料包括巧克力、混合物、可可、涂料和墨水,所述精磨机(I)包括安装在框架中的成组辊(2-6)、用于驱动辊(2-6)中的至少一个的马达(11),其特征在于,包括用于测量指示材料中的颗粒尺寸分布的至少一个参数的传感器(9)。2.根据权利要求1所述的精磨机(I),包括处理器,所述处理器适于基于测量值控制辊(2-6)之间的间隙中的至少一个间隙、辊(2-6)的旋转速度以及材料和辊(2-6)的表面之间的摩擦力。3.根据权利要求1或2所述的精磨机(I),其中,传感器(9)被定位在成组辊中最后一个辊(6)的附近。4.根据前述任一项权利要求所述的精磨机(I),其中,传感器(9)适于测量至少一个辊(2-6)的表面上的点(12)。5.根据权利要求4所述的精磨机(I),其中,点(12)的直径在从1mm到40mm的范围中,优选地,在从15mm到35mm的范围中,优选地,在从20mm到30mm的范围中。6.根据前述任一项权利要求所述的精磨机(I),其中,传感器(9)和处理器中的至少一个适于测量频率的频谱,并优选地,适于将频率的频谱划分为不同的子频谱,优选地为近红外子频谱。7.根据权利要求6所述的精磨机(I),其中,传感器(9)和处理器中的至少一个进一步适于将每一个测量到的频谱转换为信号,其中信号的形状和幅值指示颗粒尺寸分布。8.根据前述任一项权利要求所述的精磨机(I),其中,传感器(9)和处理器中的至少一个适于在线测量指示颗粒尺寸分布的至少一个参数。9.根据前述任一项权利要求所述的精磨机(I),其中,传感器(9)和处理器中的至少一个适于在线分析包含颗粒的材料的成分,诸如水、糖、脂肪和蛋白质的含量,和/或处理器适于基于在线分析成分而在线控制精磨机(I)。10.根据权利要求9所述的精磨机(I),其中,处理器进一步适于对比在线分析成分和配方数据库以确定包含颗粒的材料的配方,并优选地,对于确定的配方自动调整精磨机。11.根据前述任一项权利要求所述的精磨机(I),其中,第一传感器(9)被定位在辊(6)的中心处,而第二传感器(10)被定位在辊(6)的边缘的附近。12.—种用于研磨和均质化包含颗粒的材料的方法,所述包含颗粒的材料包括巧克力、混合物、可可、涂料和墨水,所述方法包括步骤: 将包含颗粒的材料馈送到成组辊(2-6), 至少借助于成组辊(2-6)研磨和均质化材料,以及 从成组辊(2-6)排出材料, 其特征在于 测量指示材料中的颗粒尺寸分布的至少一个参数。13.根据权利要求12所述的方法,进一步包括以下步骤:基于测量值控制辊(2-6)之间的间隙中的至少一个间隙、辊(2-6)的旋转速度以及材料和辊(2-6)的表面之间的摩擦力。14.根据权利要求12或13所述的方法,进一步包括以下步骤:在线分析包含颗粒的材料的成分,诸如水、糖、脂肪和蛋白质的含量,和/或基于在线分析成分而在线控制方法。15.根据权利要求14所述的方法,进一步包括以下步骤:对比在线分析成分和配方数据库,以基于在线分析成分确定材料的配方,并对于确定的配方调整方法。
【专利摘要】本发明涉及用于研磨和均质化包含颗粒的材料的精磨机(1),所述包含颗粒的材料包括巧克力、混合物、可可、涂料和墨水,所述精磨机(1)包括安装在框架中的成组辊(2-6)以及用于驱动辊(2-6)中的至少一个的马达(11)。精磨机包括用于测量指示材料中的颗粒尺寸分布的至少一个参数的传感器(9)。
【IPC分类】B02C25/00, A23G1/12, A23G1/00, B02C4/32
【公开号】CN105658076
【申请号】
【发明人】B·J·埃勒梅杰尔
【申请人】皇家杜伊维斯维纳有限责任公司
【公开日】2016年6月8日
【申请日】2014年8月13日
当前第2页1 2 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1