烘焙设备的校准方法与流程

1.本发明涉及咖啡豆烘焙设备和用于校准此类设备的方法。


背景技术：

2.咖啡豆的烘焙包括将咖啡豆引入烘焙室中以及将热量施加到所述豆。
3.通常，烘焙设备包括用于容纳咖啡豆的室、加热向室供应的空气的加热装置、用于调节由加热装置供应的温度的温度探头和与温度探头和加热装置进行操作性通信的控制器。控制器操作以激活和去激活加热装置。控制器在其中存储有预定义烘焙组成，其包括对应于特定时间和温度的多个数据点。控制器在周期性的基础上操作以读取烘焙控制信号值，将该烘焙控制信号值与烘焙组成相关连并且控制加热装置的操作，以便根据烘焙组成来维持咖啡豆的温度。
4.这种预定义烘焙组成通常针对特定类型的咖啡豆限定并且由咖啡专家限定。烘焙组成被定义为提供这种类型的咖啡豆的最佳烘焙，并且再现这种烘焙组成是不浪费豆的保证。
5.为了再现这种烘焙组成，烘焙设备必须能够精确地应用烘焙组成所需的温度。这通常是通过调节咖啡豆床内部烘焙室本身的温度来实现的。例如，us6053093提供了一种烘焙设备，其具有浸入烘焙室内部的热敏传感器。
6.然而，根据烘焙设备的类型，并不总是希望或可能在烘焙室内部引入温度传感器来测量咖啡豆床内部的温度。
7.首先，不希望在室和咖啡豆床内部具有温度传感器，因为该传感器会很快变脏并提供错误的测量结果，或者需要频繁的清洁或维护操作。并且，如果温度传感器被定位在室的可保护温度传感器不受污染的部分中，即不与豆直接接触，则测量不那么可靠。其他传感器可存在于室的出口处，但仍在室的外部，如wo2018021081或us6770315中。
8.其次，在一些设备中，很难提供这种内部温度传感器，特别是在为了引入和倒空豆的操作而必须从设备中移除的室中。因为温度传感器需要连接到设备的处理单元，因此每次烘焙操作都需要断开传感器。在每次烘焙操作时拔掉温度传感器将很复杂，或者会使设备变得易碎。在这种类型的设备中，优选地用至少一个固定传感器来调节温度，所述至少一个固定传感器位于室的外部，优选地靠近加热装置，即靠近室内部的热空气入口。
9.这种类型的烘焙设备包括位于烘焙室外部的温度探头，对于每种类型的豆，利用主设备来定义特定的烘焙组成。利用主设备定义的该特定烘焙组成对应于由加热装置提供并由被定位在室外部的所述至少一个温度探头调节的热空气的温度。
10.当制造一系列相同的烘焙设备时，已经观察到，即使通过基于用正确校准的温度探头测量的温度的调节来操作每个设备的加热装置以应用与主设备所定义的相同烘焙组成，在相同的设备中烘焙相同的豆也不总是一致的：咖啡豆的颜色和香味不同。在新制造的烘焙设备和主设备之间以及在同一系列的两个烘焙设备之间，在再现类似的烘焙组成方面缺乏一致性。
11.本发明的目的是提供一种在不同烘焙设备中持续烘焙相同烘焙组成的问题的解决方案。


技术实现要素：

12.在本发明的第一方面，提供了一种咖啡豆烘焙设备(x)的校准方法，用于再现用一个特定的主烘焙设备(m)定义的咖啡豆烘焙配方，
13.所述咖啡豆烘焙设备(x)包括：
[0014]-室，该室用于容纳咖啡豆，
[0015]-加热装置，该加热装置用于加热供应给室的空气，
[0016]-至少一个第一温度探头，所述至少一个第一温度探头用于调节由加热装置供应的空气的温度，所述第一温度探头被定位在室外部，
[0017]-控制系统，该控制系统被配置为控制加热装置并被配置为再现烘焙曲线，所述烘焙曲线提供至少一个点集(t
@ti；ti
)，该至少一个点集表示要分别在离散的相继时间ti应用的温度，该加热装置的所述控制基于由所述至少一个第一温度探头(5)测量的温度t
reg
实现反馈回路调节，
[0018]
所述校准方法包括以下步骤：
[0019]
a-将至少一个第二临时温度探头引入待校准的烘焙设备的室内部，或者用临时校准室代替所述室，所述临时校准室包括至少一个第二温度探头，
[0020]
b-控制加热装置以再现预设曲线r
set
，所述曲线提供点集(t
set@ti；ti
)，该点集表示要分别在预设的对应相继时间t1、t2、
…
、t
最终
应用的温度t
set@t1
、t
set@t2
、
…
、t
set@t最终
，所述控制基于由所述至少一个第一温度探头调节的温度t
reg
，
[0021]
c-在预设曲线r
set
的再现期间，测量室内部在所述至少一个第二温度探头处的随时间变化的温度t
cal
，使得能够确定至少一个点集(t
cal@ti；ti
)，
[0022]
d-将在至少一个时间ti测量的温度t
cal@ti
与在用主烘焙设备(m)获得的预先确定的参考曲线r
ref
的所述相同时间ti的温度t
ref@ti
进行比较，所述参考曲线r
ref
表示在控制主设备的加热装置以再现所述预设曲线r
set
时在特定主设备(m)的室中测量的温度t
ref
，
[0023]
e-基于该比较，通过对反馈回路调节应用校正，优选地通过对由第一温度探头测量的温度t
reg
应用校正，或者通过对将由烘焙设备(x)再现的烘焙曲线提供的温度t
@ti
应用校正，来校准烘焙设备(x)。
[0024]
该方法涉及咖啡豆烘焙设备(x)的校准，以便在再现用一个特定主烘焙设备(m)定义的咖啡豆烘焙配方时保持一致。通常，烘焙配方是由操作一个特定烘焙设备的咖啡专家为特定类型的咖啡豆或不同咖啡豆的特定混合物定义的。专家已经定义了烘焙配方的这种烘焙设备被定义为主烘焙设备。
[0025]
该校准方法旨在使得能够用通常是特定主烘焙设备(m)的制造副本的其他设备(x)一致地再现用特定主烘焙设备(m)定义的咖啡豆烘焙配方。
[0026]
该方法应用于咖啡豆烘焙设备，该咖啡豆烘焙设备至少包括：室，该室用于容纳咖啡豆；加热装置；至少一个第一温度探头，所述至少一个第一温度探头用于调节由加热装置供应的温度并被定位在室的外部；以及控制系统。
[0027]
该烘焙设备使得其在烘焙咖啡豆的操作期间在室内部不包括任何探头，特别是任
何调节探头。烘焙设备可以包括仅在校准方法期间在室内部的测量探头。
[0028]
主设备呈现相同的配置。
[0029]
方法可以应用于诸如上文所描述的任何类型的烘焙设备。
[0030]
室被设计成在烘焙过程中容纳咖啡豆。在室中，咖啡豆被加热并且优选地混合以使通过豆的加热均匀化。
[0031]
混合可用热空气的流化床或用搅拌叶片或通过转筒的旋转机械地获得。
[0032]
优选地，烘焙设备为热空气流化床室。在此类室内，以足够的力迫使加热的空气通过咖啡豆下方的筛网或穿孔板以提升豆。当豆在此流化床内翻滚和循环时，热量被传递到豆。
[0033]
另选地，烘焙设备可为筒室，其中咖啡豆在加热环境中翻滚。筒室可由沿着水平轴线旋转的筒组成，或者筒室可包括搅拌叶片以在加热环境中使咖啡豆翻滚。
[0034]
室通常包括出口，在烘焙操作期间产生的烟雾可从该出口排放。
[0035]
加热装置加热向室供应的空气，以便加热室中容纳的咖啡豆。
[0036]
优选地，加热装置被配置为产生热空气流，所述热空气流被引导至容纳在室中的咖啡豆以便加热该咖啡豆。通常，加热装置至少包括空气驱动器和用以加热由空气驱动器产生的空气流的加热器。
[0037]
加热装置可以包括由天然气、液化石油气(lpg)或甚至木材进料的燃烧器(意指燃烧)。另选地，加热装置可以包括电阻器、陶瓷加热器、卤素源、红外源和/或微波源。
[0038]
优选地，加热装置是电动的，使得在烘焙期间产生的空气污染物是仅由咖啡豆本身的加热产生的污染物，而不是由在加热源是使用天然气、丙烷、液化石油气(lpg)或甚至木材的气体燃烧器时发生的气体燃烧产生的污染物。
[0039]
该设备包括用于调节由加热装置供应的温度的至少一个第一温度探头。由此探头测量的温度用作反馈回路控制中的控制系统的输入数据。该第一温度探头被定位在室的外部，这意味着该第一温度探头在烘焙操作期间不接触咖啡豆。优选地，此第一探头定位在设备中，以便测量向室供应的热空气的温度，该热空气通常位于加热装置与室之间。
[0040]
为了提高向室供应的热空气测量的准确性，设备可以包括至少两个第一温度探头。这些第一探头可以被定位在导管中，该导管被构造成驱动热空气从加热装置到室的流动，优选地在所述导管的局部横向收缩部中，每个探头被定位在所述局部横向收缩部中的不同径向位置处。
[0041]
任选地，设备可以包括位于室下游的另一第一探头。然而，由于与烟雾发射的烘焙操作接触，位于室下游的此探头下游的此位置是不太优选的，从而导致污染和对准确测量温度的影响。
[0042]
该设备的控制系统可操作以控制加热装置以便再现烘焙曲线，所述烘焙曲线提供至少一个点集(t
@ti；ti
)，该至少一个点集表示要分别在离散的相继时间ti应用的温度。加热装置的这种控制是基于反馈回路调节的实施，该反馈回路调节基于由反馈回路控制中的至少一个第一温度探头测量的温度t
reg
。反馈回路调节通常包括将所测量的温度t
reg
与要应用的温度t进行比较，然后基于比较，包括按照预定义规则控制加热装置。这种反馈回路调节是现有技术中熟知的。
[0043]
如果设备包括多于一个第一探头，则控制系统可以使用所有所述探头的测量的平
均值作为反馈回路调节中的温度t
reg
。
[0044]
在第一步骤a)中，校准方法包括：
[0045]
在第一模式下：将至少一个第二临时温度探头引入待校准的烘焙设备的室内部，或者
[0046]
在第二模式下：用临时校准室代替所述室，所述临时校准室包括至少一个第二温度探头。
[0047]
在两种模式下，所述至少一个辅助探头的存在使得能够在校准方法期间测量室或临时室内部的温度t
cal
。
[0048]
在两种模式下，可以引入若干个辅助探头。当使用多于一个的辅助探头时，这些探头可以被定位在室的不同区域。
[0049]
在第一模式下，优选地，引入所述至少一个第二临时温度探头，以便定位在该室的在烘焙操作期间咖啡床所处的区域中或靠近该区域。
[0050]
在第二模式下，在校准方法期间，烘焙设备的这种室由类似的室代替，该类似的室包括至少一个定位在其内部的辅助探头，该辅助探头在该类似的室中优选地靠近烘焙操作期间咖啡床所处的区域或者位于该区域中。
[0051]
在另一步骤b)中，校准方法包括控制设备(x)的加热装置以再现预设曲线r
set
，所述预设曲线提供点集(t
set@ti；ti
)，该点集表示要分别在预定义的对应相继时间t1、t2、
…
、t
最终
应用的温度t
set@t1
、t
set@t2
、
…
、t
set@t最终
，所述控制基于由所述至少一个第一温度探头调节的温度t
reg
。
[0052]
在预设曲线r
set
的再现期间，在同时进行的步骤c)中，校准方法包括测量室内部在所述至少一个第二温度探头处的随时间变化的温度t
cal
。因此，该步骤c)使得能够确定至少一个点集(t
cal@ti；ti
)。
[0053]
在步骤d)中，校准方法包括将在至少一个时间ti测量的温度t
cal@ti
与在利用主焙烧设备(m)获得的预先确定的参考曲线r
ref
的所述相同时间ti处的温度t
ref@ti
进行比较。该校准曲线r
ref
表示在控制主设备的加热装置以再现相同的预设曲线r
set
时在主设备(m)的室中测量的温度t
ref
。
[0054]
如下文进一步所述，该步骤d)可以在步骤b)和c)之后或同时实施。
[0055]
然后，在步骤e)中，基于从步骤d)得到的比较，校准方法包括通过对反馈回路调节应用校正来校准烘焙设备(x)。优选地，将这种校正应用于以下各项：
[0056]-设备(x)的控制系统中的测量温度t
reg
。在此，意味着在控制系统中，基于在步骤d)中建立的比较，在加热装置的反馈回路调节中，校正由所述至少一个第一探头测量的温度的值。
[0057]
或
[0058]-由烘焙曲线提供的温度t
@ti
，该烘焙曲线将在烘焙设备的控制系统内被再现。这里，意味着在控制系统中，基于在步骤d)中建立的比较，在加热装置的反馈回路调节中，校正由加热装置再现的温度的值。
[0059]
根据设备的类型、加热的类型(诸如仅加热器或仅风扇或风扇和加热器两者的变型)，校正可以是乘法因数、乘法因数与偏移的组合、基于多项式公式的校正、基于对数型公式的校正或仅偏移。通常，可以经由建立t
cal@ti
和t
ref@ti
之间关系的众所周知的数学回归方
法来确定校正。
[0060]
在校准方法的一个实施方案中：
[0061]-步骤d)与步骤c)同时发生，并且
[0062]-在步骤c)中，在预设曲线r
set
的再现期间，在预定义时间t
refi
，比较对应的温度t
ref@trefi
和t
cal@trefi
，并且立即对反馈回路调节应用校正，优选地对由第一温度探头调节的温度t
reg
应用校正，或者对由预设曲线r
set
提供的温度t
set@ti
应用校正，
[0063]-在步骤e)中，基于步骤c)中的最后校正，通过对反馈回路调节应用所述最后校正，优选地通过对由第一温度探头测量的温度t
reg
应用所述最后校正，或者通过对将由烘焙设备(x)再现的烘焙曲线提供的温度t
@ti
应用所述最后校正，来校准烘焙设备(x)。
[0064]
优选地，在校准方法中，在步骤c)和步骤d)之间：
[0065]-在步骤c)在所述至少一个第二温度探头处测量的温度t
cal@ti
的值可以被调整为调整值t
cal@ti-调整
，所述调整值取决于引入待校准的烘焙设备的室内部的第二温度探头或者取决于代替待校准的烘焙设备的室的临时校准室，
[0066]
以及
[0067]-在步骤d)中，该调整值t
cal@ti-调整
可以与温度t
ref@ti
进行比较。
[0068]
已经观察到，通过在烘焙室内部引入不同的第二温度探头，并且利用所述不同的第二温度探头中的每个第二温度探头来操作校准方法，获得烘焙设备的反馈回路的不同校正。实际上，尽管不同探头的测量差异非常小，只有几度的差异，但这些差异直接影响校准方法。实际上，众所周知，几摄氏度的差异直接影响烘焙咖啡豆的最终颜色几个ctn值(颜色测试neuhaus)，并且明显影响最终烘焙咖啡豆的味道。为了尽可能接近地再现在主设备中应用的烘焙组成，优选地在校准方法中考虑这些测量的差异。
[0069]
这些差异可能与临时校准室内部的第二温度探头的位置有关，与由于组装精度的缺乏、生产线变化、部件变化、部件老化而导致的临时校准室的机械构造的较小差异有关。
[0070]
通常，这种调整是在第二临时温度探头本身的校准的先前操作中预先确定的。第二临时温度探头的这种校准是通过与已经调整的探头进行比较来实现的。
[0071]
根据两个探头的温度之间的关系，可以应用不同类型的调整。
[0072]
在一个优选的方法中：
[0073]
t
cal@ti-调整
＝k
2探头
.(t
cal@ti
)2+k
1探头
.t
cal@ti
+t
探头
[0074]
其中：
[0075]
t
探头
对应于预设温度偏移，所述预设温度偏移是针对引入待校准的烘焙设备的室内部的至少一个第二临时温度探头或者针对代替待校准的烘焙设备的室的临时校准室而专门预先确定的，或者默认等于0，
[0076]k1探头
对应于预设温度比，所述预设温度比是针对引入待校准的烘焙设备的室内部的至少一个第二临时温度探头或者针对代替待校准的烘焙设备的室的临时校准室而专门预先确定的，或者默认等于1，
[0077]k2探头
对应于预设温度比，所述预设温度比是针对引入待校准的烘焙设备的室内部的至少一个第二临时温度探头或者针对代替待校准的烘焙设备的室的临时校准室而专门预先确定的，或者默认等于0，
[0078]
在温度的调整过程中，在步骤c)中，在预设曲线r
set
的再现期间，t
探头
的值和/或k1探头
的值和/或k
2探头
的值可以随时间和/或温度而变化。
[0079]
已经观察到，两个温度探头之间的测量差异在较高温度下被放大。因此，系数t
探头
、k
1探头
和k
2探头
的值可以在步骤c)的预设曲线r
set
的再现期间随着温度变化而变化。
[0080]
上述优选模式使用基于多项式的温度调整，也可以应用其他类型的调整。
[0081]
在校准方法的上述实施方案的一个特定模式下：
[0082]-步骤d)与步骤c)同时发生，并且
[0083]-在步骤c)中，在预设曲线r
set
的再现期间，在预定义时间t
refi
，计算对应的比率t
ref@trefi
/t
cal@trefi
，并且将校正立即应用于：
[0084]
由待再现的烘焙曲线提供的温度t
set
，所述校正是如下定义的乘法因数ki：
[0085][0086]
其中k0是预设的，或者默认等于1，
[0087]
或
[0088]
由第一温度探头(5)测量的温度t
reg
，所述校正是乘法因数
[0089]-在步骤e)中，基于步骤c)中最后定义的比率ki，通过以下操作来校准烘焙设备(x)：
[0090]
将所述校正因数ki应用于将由烘焙设备(x)再现的烘焙曲线提供的温度t
@ti
，或者
[0091]
将所述因数应用于由第一温度探头测量的温度t
reg
。
[0092]
因数k0可以对应于：
[0093]-针对一系列类似制造的设备专门预先确定的预设因数，或
[0094]-针对特定环境条件预先确定的预设因数，或
[0095]-所述两个预设因数的组合。
[0096]
k0通常对应于针对一系列类似制造的设备专门预先确定的预设因数。
[0097]
实际上，要校准的烘焙设备通常是一系列类似制造设备的一部分。该系列相似制造的设备可以是包括以相同方式组装的相同元件的设备，对应于例如设备的特定模型或设计，或者甚至对应于同一批产品。
[0098]
如果该系列的第一设备已经被校准并且其乘法因数校正ki已经被预先确定，则所述校正或所述校正的四舍五入值可以作为预设因数k0立即应用于该系列的其他设备的校准方法中。优点是校准方法变得更短。
[0099]
如果该预设因数k0未知，例如进一步由于制造烘焙设备的新的类型或由于在制造中使用新装置(新的气流驱动器、新的加热器)，则k0被设置为1。
[0100]
另选地，k0可对应于关于环境条件诸如烘焙设备(x)外部的温度或湿度定义的预设因数。如果在校准方法期间，环境条件对应于通常的环境条件，诸如包括在20℃和25℃之间的温度和约60％的湿度，则该因数可以被设置为1。基于相同设备在不同环境条件下的初步校准，可以根据环境条件为该因数预先确定不同的值，并存储在查找表中用于进一步的校准操作。
[0101]
最后，k0可以对应于针对一系列设备专门预先确定的上述预设因数和关于环境条件定义的上述预设因数的组合，即相乘。
[0102]
如上所述，在上述特定模式下，根据在烘焙设备的校准方法期间使用的第二临时温度探头或临时校准室，在步骤c)中在所述至少一个第二温度探头处测量的温度t
cal@ti
的值可以被调整为调整值t
cal@ti-调整
。
[0103]
在上述特定模式下，在步骤c)中，如果对于相继的t
refi
，对应的计算比率t
ref@trefi
/t
cal@trefi
收敛到一个固定值，例如t
ref@trefi
/t
cal@trefi
与t
ref@trefi-1
/t
cal@trefi-1
相差小于2％，则步骤c)可以停止，并且最后计算的校正因数ki可以用作步骤d)中最后定义的比率。
[0104]
实际上，这意味着调节回路中的温度校正已经达到，并且继续操作不会提供更好的校正。
[0105]
在该特定模式下，在步骤c)中，如果对于相继的t
refi
，对应的计算比率t
ref@trefi
/t
cal@trefi
未收敛到一个固定值，特别是与先前计算比率t
ref@trefi-1
/t
cal@trefi-1
和下一个计算比率t
ref@trefi+1
/t
cal@trefi+1
有很大不同，则可以停止校准方法。
[0106]
当对应的计算比率t
ref@trefi
/t
cal@trefi
不随时间收敛(例如，振荡)时，这意味着不能确定调节回路中的温度的校正。无法实施校准方法。
[0107]
在这种情况下，可以重新开始校准方法，以验证这是否是一个临时问题，并且可以成功实施校准方法。如果不是，校准的缺省可能反映烘焙设备存在缺陷的事实，尤其是在加热装置的控制方面。
[0108]
在该特定模式下，步骤d)的比较基于比率t
ref@trefi
/t
cal@trefi
，然而如上所述，其他类型的比较可以应用于其他模式。
[0109]
在校准方法的第一实施方式中：
[0110]-预设曲线r
set
可以是用主烘焙设备(m)针对烘焙特定类型的咖啡豆和特定量的所述咖啡豆而建立的曲线，以及
[0111]-在步骤b)之前，将所述特定类型的咖啡豆和所述特定量的咖啡豆引入烘焙设备(x)的室内部或临时校准室中，以及
[0112]-在步骤b)中，在烘焙设备的室包括所述咖啡豆时，控制加热装置以再现所述预设曲线r
set
。
[0113]
在校准方法的第一实施方式的替代方案中：
[0114]-预设曲线r
set
可以是用主烘焙设备(m)针对烘焙特定类型的咖啡豆和特定量的所述咖啡豆而建立的曲线，以及
[0115]-在步骤b)之前，将所述特定类型的咖啡豆和所述特定量的咖啡豆引入烘焙设备(x)的室内部或临时校准室中，以及
[0116]-在步骤b)中，在烘焙设备的室包括所述咖啡豆时，控制加热装置以再现所述预设曲线r
set
，以及
[0117]-在步骤d)中，将温度t
cal@ti
与温度t
ref@ti
进行比较，并且在曲线r
ref
和r
cal
的最终时间t
最终
计算一次比率k
最终
＝t
ref@ti
/t
cal@ti
，
[0118]-在步骤e)中，将对应于所述计算比率的校正因数应用于：
[0119]
由待再现的烘焙曲线提供的温度t
set
，所述校正是乘法因数k
最终
，
[0120]
或
[0121]
由第一温度探头测量的温度t
reg
，所述校正是乘法因数
[0122]
优选地，在该第一实施方式的替代方案中，步骤a)至e)被再现至少一次。
[0123]
在该方法的第一实施方式中，咖啡豆在该方法期间被引入室内部。
[0124]
在该第一实施方式的变型中，
[0125]-预设曲线r
set
可以是用主烘焙设备(m)针对烘焙粒状惰性物体而建立的曲线，所述粒状惰性物体被设计成模拟咖啡豆，以及
[0126]-在步骤b)之前，将所述粒状惰性物体引入烘焙设备(x)的室内部或临时校准室中，以及
[0127]-在步骤b)中，在烘焙设备的室包括所述粒状惰性物体时，控制加热装置以再现所述预设曲线r
set
，以及
[0128]
惰性是指这些物体具有能够承受至少250℃的温度而不发生物理或化学反应的性质。在优选实施方案中，这些粒状惰性物体是玻璃或塑料珠。
[0129]
这些物体具有不会在设备(x)的烘焙室内产生污垢的优点。
[0130]
这些粒状惰性物体被构造成在室没有咖啡豆时产生热空气流的压力损失，并且被设计成模拟咖啡豆。
[0131]
在该校准方法的第二实施方式中，在该方法期间没有豆被引入到室内部。
[0132]
在该第二实施方式中，与第一实施方式相比，获得若干个优点：
[0133]-不需要操作者称量特定类型的豆并将其引入室内部，从而消除了人为错误的风险，节省了操作者的时间，避免了用于校准方法的豆的浪费。
[0134]-不需要相继重复校准方法来接近正确校正，这需要时间来使焙烧设备在两次校准操作之间冷却，这是很耗时的。
[0135]-设备室保持正常。
[0136]-校准方法不受校准方法中使用的特定豆的属性的影响，如来自工厂或豆的储存条件的变化(储存期间可变的温度和湿度)。
[0137]
在校准方法的第二实施方式中：
[0138]-预设曲线r
set
是在主烘焙设备(m)的室中没有豆时用所述室建立的曲线，
[0139]-在步骤b)中，在烘焙设备(x)的室中没有豆时，控制加热装置以再现所述预设曲线r
set
。
[0140]
在该第二实施方式的一个模式下，在步骤a)中，被构造成模拟室内部的咖啡豆存在的装置被引入室内部或者存在于临时校准室内部。
[0141]
这种被构造成模拟咖啡豆存在的装置可以是被构造成在室中没有咖啡豆时产生热空气流的压力损失的装置。这种装置可以是设计成限制室内部热空气流的装置，诸如栅格、网片、具有至少一个孔的板和/或具有文丘里管设计的管道。
[0142]
在第二替代模式下：
[0143]-烘焙设备的加热装置包括气流驱动器和加热器，并且烘焙设备的控制系统被配置为控制所述气流驱动器以改变空气的流动，以及
[0144]-在步骤b)中，在室中没有咖啡豆时，控制气流驱动器以产生热空气流的压力损失，从而在烘焙操作期间模拟室内部咖啡豆的存在。
[0145]
无论该第二实施方式的模式如何，用主设备确定的参考曲线r
ref
是在用于烘焙设备x的校准方法的相同条件下建立的，这意味着在r
ref
的确定期间，主设备呈现相同的装置来模拟豆，或者使用相同的校准壶或控制气流驱动器来产生热空气流的相同压力损失。
[0146]
无论该第二实施方式的模式如何，优选地，预设曲线r
set
提供点集(t
set@tseti；tseti
)并依次包括：
[0147]-在第一阶段：温度t
set
在固定温度t
set-stab
优选地约40℃处于平稳段，然后
[0148]-在第二阶段：温度t
set
从t
set-stab
升高到更高的温度t
set-high
，然后
[0149]-在第三阶段：温度t
set
在所述温度t
set-high
处于平稳段。
[0150]-任选地在比t
set-high
更高的温度下再现第二阶段和第三阶段。
[0151]
在第一阶段，固定温度t
set-stab
优选地被定义为烘焙设备可以容易地达到的温度，而不管使用烘焙设备的房间的环境温度如何。根据世界上的位置(热或冷的地理区域)和商店的类型(开在室外或在有空调的房间内)，大约40℃的温度t
set-stab
可以被定义为对于高于40℃的环境温度通过冷却容易达到，对于低于40℃的环境温度通过加热容易达到。
[0152]
在第二阶段，该增加可以取决于烘焙设备中使用的加热装置的类型，特别是取决于提供给加热装置的功率的调节的类型。
[0153]
优选地，上述预设曲线包括冷却的最终阶段，其中停止加热，直到温度降低并再次达到t
set-stab
。
[0154]
当在校准方法中使用具有至少三个阶段的上述预设曲线时，其中：
[0155]-步骤d)与步骤c)同时发生，并且
[0156]-在步骤c)中，在预设曲线r
set
的再现期间，在预定义时间t
refi
，比较对应的温度t
ref@trefi
和t
cal@trefi
，并且立即将校正应用于由烘焙设备的控制系统内部的第一温度探头测量的温度t
reg
，或应用于由要在烘焙设备的控制系统内部再现的预设曲线r
set
提供的温度t
set@ti
，
[0157]
以及
[0158]-在步骤e)中，基于步骤c)中的最后校正，通过将所述校正应用于由烘焙设备的控制系统内部的第一温度探头测量的温度t
reg
，或应用于由要在烘焙设备的控制系统内部再现的烘焙曲线提供的温度t
@ti
，来校准烘焙设备。
[0159]
然后：
[0160]
在曲线r
set
的包括平稳段的部分中定义至少一个预定义时间t
refi
，优选地，在第一阶段中定义一个预定义时间t
refi
，在第三阶段中定义至少两个预定义时间t
refi
，并且任选地，在比t
set-high
更高的温度下，在第二阶段和第三阶段的再现中定义至少两个预定义时间t
refi
。
[0161]
当在校准方法中使用具有至少三个阶段的上述预设曲线时，其中：
[0162]-步骤d)与步骤c)同时发生，并且
[0163]-在步骤c)中，在预设曲线r
set
的再现期间，在预定义时间t
refi
，计算对应的比率t
ref@trefi
/t
cal@trefi
，并且将校正立即应用于：
[0164]
由待再现的烘焙曲线提供的温度t
set
，所述校正是如下定义的乘法因数ki：
[0165][0166]
其中k0是预设的，或者默认等于1，
[0167]
或
[0168]
由第一温度探头测量的温度t
reg
，所述校正是乘法因数
[0169]-在步骤e)中，基于步骤c)中最后定义的比率ki，通过以下操作来校准烘焙设备(x)：
[0170]
将所述校正因数ki应用于将由烘焙设备(x)再现的烘焙曲线提供的温度t
@ti
，或者
[0171]
将所述因数应用于由第一温度探头测量的温度t
reg
。
[0172]
那么优选地，在步骤c)期间：
[0173]
如果在第一阶段期间，对于相继的t
refi
，对应的计算比率t
ref@trefi
/t
cal@trefi
收敛，例如，t
ref@trefi
/t
cal@trefi
与先前计算比率t
ref@trefi-1
/t
cal@trefi-1
相差小于2％，然后第一阶段被缩短。
[0174]
在这种情况下，预设曲线的第二阶段较早地应用。
[0175]
类似地，优选地，在步骤c)期间，如果在第三阶段期间，对于相继的t
refi
，对应的计算比率t
ref@trefi
/t
cal@trefi
收敛，例如，t
ref@trefi
/t
cal@trefi
与先前计算比率t
ref@trefi-1
/t
cal@trefi-1
相差小于2％，然后第三阶段被缩短。
[0176]
在这种情况下，并且如果预设曲线包括至少一个另外的阶段，所述另外的阶段较早地应用。
[0177]
类似地，优选地，在步骤c)期间，如果在第三阶段中，对于相继的t
refi
，对应的计算比率t
ref@trefi
/t
cal@trefi
不收敛到一个固定值，则延长第三阶段。
[0178]
无论实施方式如何，校准方法可以包括获得与环境条件相关的信息的步骤，诸如烘焙设备外部的温度和/或湿度，并且：
[0179]-在步骤e)中，可以基于所述信息修改校正。例如，校正包括偏移。
[0180]
或
[0181]-通过对温度应用偏移来修改预设曲线。例如，如果该预设曲线在第一阶段呈现平稳段，则该平稳段被偏移。
[0182]
无论实施方式如何，优选地在校准方法中，在再现预设曲线r
set
的步骤c)之后，将焙烧设备冷却至约40℃的温度。
[0183]
该冷却步骤保证烘焙设备被置回到能够进行后续烘焙操作或另一个校准操作的状态。这种冷却通常是通过停止加热但保持室内空气流来实现的。
[0184]
无论实施方式如何，校准方法可以根据需要实施，特别是对于烘焙设备制造之后或在修理或维护所述设备的操作之后的第一次(因为这些最后的操作可以对加热装置及其与设备内部的室的关系具有直接影响)，或者在期间设备可能受到震动的设备的移动或运输之后。
[0185]
校准方法可以自动实现，例如以固定的时间间隔或在使用一段时间后。烘焙设备
的某些零件如垫圈或密封件在运行一段时间后可能会损坏，特别是在热的烘焙环境中，这将直接影响设备的校准。空气的流动也可能会变脏，从而需要维护和校准。
[0186]
该设备的控制系统可以被配置为在那时显示警报，以促使操作者操作校准方法。
[0187]
在校准操作结束时，如果由于不能确定校正而导致校准失败，则设备的控制系统可以被配置为显示警报，以促使操作者重新开始校准方法和/或控制设备并最终修复该设备。
[0188]
如果该设备包括用于与远程资源通信的通信接口，操作者可以在需要时显示警报。
[0189]
优选地，该设备包括用户界面，并且控制系统可以被配置为使得实现校准方法的校准模式可经由用户界面访问。
[0190]
在校准模式下，控制系统可以被配置为要求操作者将至少一个第二温度探头引入室内，或者用校准室代替室，所述校准室包括至少一个第二温度探头。用户界面可以显示图表来说明引入临时第二温度探头或临时校准室的操作。
[0191]
该方法可以直接在烘焙设备的控制系统中实施，或者在计算机上实施，或者在移动装置如智能电话或桌面应用程序上实施，这些设备连接到烘焙设备。连接可以是远程的或有线的。
[0192]
优选地，在烘焙设备的加热装置包括气流驱动器和加热器的实施方案中，然后在实施校准方法的步骤a)之前，校准气流驱动器。
[0193]
校准包括将烘焙设备中供应的空气流的值调整到主烘焙设备中供应的空气流的值的步骤。
[0194]
在第二方面，提供了一种咖啡豆烘焙设备，该咖啡豆烘焙设备包括：
[0195]-室，该室用于容纳咖啡豆，
[0196]-加热装置，该加热装置用于加热供应给室的空气，
[0197]-至少一个第一温度探头，所述至少一个第一温度探头用于调节由加热装置供应的温度，所述第一温度探头被定位在室外部，
[0198]-控制系统，该控制系统被配置为控制加热装置并被配置为再现烘焙曲线，所述烘焙曲线中的每条烘焙曲线提供点集(t
@ti；ti
)，该点集表示要分别在离散的相继时间ti应用的温度，加热装置的所述控制基于由第一温度探头调节的温度t
reg
，
[0199]
其中所述设备包括用于将至少一个第二温度探头临时引入烘焙设备的室内部的装置，或者被配置为能够用校准室临时代替该室，所述校准室包括至少一个第二温度探头，以及
[0200]
其中该控制系统被配置为接收由所述至少一个第二温度探头测量的温度的输入，并且
[0201]
其中控制系统可操作以实施诸如上文所描述的校准方法。
[0202]
优选地，烘焙设备的室是可拆卸的，并且被构造成在引入和移除咖啡豆的操作期间从设备的壳体中移除。
[0203]
通常，用于容纳咖啡豆的所述室没有任何温度探头。
[0204]
在该设备中，所述至少一个第二温度探头存在于烘焙室中，并且仅在设备的校准模式期间可在烘焙室中操作。在正常烘焙操作期间，该第二探头未定位在室中。
[0205]
该室没有任何温度探头。在烘焙操作期间，没有温度探头定位在室内部以测量温度并使用该测量作为调节反馈回路的输入。
[0206]
优选地，该设备包括用户界面，并且控制系统可以被配置为使得实现校准方法的校准模式可经由用户界面访问。
[0207]
在校准模式下，控制系统可以被配置为要求操作者将至少一个第二温度探头引入室内，或者用校准室代替室，所述校准室包括至少一个第二温度探头。用户界面可以显示图表来说明引入临时第二温度探头或临时校准室的操作。
[0208]
在一个模式下，所述至少一个第二温度探头是咖啡豆烘焙设备外部的装置，并且咖啡豆设备包括开口，该开口设计成以气密方式将所述至少一个第二温度探头引入室内部，或者不太优选地引入连接到室出口的导管中。
[0209]
在该模式下，所述至少一个第二温度探头不是烘焙设备的一部分。其是独立的装置。
[0210]
烘焙设备包括开口，以使所述至少一个第二温度探头在室内部滑动。一旦被引入开口中，探头和开口之间的连接是气密的，例如通过紧密的弹性密封。
[0211]
在另一模式下：
[0212]-烘焙设备的用于容纳咖啡豆的室可从烘焙设备上移除，以及
[0213]-咖啡豆烘焙设备包括被设计成接纳和保持所述可移除室的区域，
[0214]
以及
[0215]-所述至少一个第二温度探头是校准室的一部分，所述校准室被构造成临时引入保持和接纳区域内以代替专用烘焙室。
[0216]
因此，当需要将至少一个第二温度探头定位在烘焙室内部时，专用于烘焙的通常的室被从设备中移除，并且被容纳所述至少一个第二温度探头的校准室所代替。
[0217]
在第三方面，提供了一种计算机程序，该计算机程序包括指令，该指令在由计算机、处理器或控制单元执行时致使该计算机、处理器或控制单元执行诸如以上所述的校准方法。
[0218]
优选地，计算机程序的指令由烘焙设备的处理单元执行。
[0219]
在一个实施方案中，计算机程序的指令可以由咖啡豆烘焙设备外部的装置(诸如移动装置)的处理单元来执行。
[0220]
在第四方面，提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质包括指令，该指令在由计算机、处理器或控制单元执行时，致使计算机、处理器或控制单元执行诸如上文所述的校准方法。
[0221]
在本说明书中，术语曲线、组成或配方可以同样使用并且限定至少一个离散点集(t
@ti；ti
)，该至少一个离散点集表示要在离散的相继时间ti应用的温度t
@ti
。
[0222]
本发明的以上方面可按任何合适的组合方式进行组合。此外，本文中的各种特征可以与上述方面中的一者或多者组合，以提供除了具体示出和描述的那些以外的组合。根据权利要求书、具体实施方式以及附图，本发明的另外的目的和有利特征将显而易见。
附图说明
[0223]
现将参考以下附图以举例的方式进一步描述本发明的具体实施方案。
[0224]-图1是可以实施本发明的方法的烘焙设备的示意图，
[0225]-图2a示出了根据图1的设备的控制系统的框图，
[0226]-图2b示出了温度调节的反馈回路，
[0227]-图3示出了根据图1的设备中的校准方法的实施方式，
[0228]-图4示出了图3的设备的控制系统的框图，以便能够实现校准方法，
[0229]-图5a至图5d示出了校准方法的实施方式，
[0230]-图6示出了校准方法的实施方案，其中预设曲线r
set
对应于针对特定类型和重量的咖啡豆定义的烘焙配方，
[0231]-图7示出了校准方法的实施方案，其中在不需要使用咖啡豆的情况下实施校准方法。
[0232]-图8a至图8d示出了可以在图7所示的实施方案中获得的曲线，
[0233]-图9示出了在图7和图8a至图8d的校准方法期间温度调节的闭环反馈回路，
[0234]-图10a和图10b示出了作为图8d所示曲线的替代的曲线。
具体实施方式
[0235]
烘焙设备
[0236]
图1示出了烘焙设备10的示例性侧视图部分。在功能上，烘焙设备10可操作以借助于引入室1内的热空气流烘焙保持在该室中的咖啡豆。在第一层级处，该设备包括：壳体4、烘焙单元和控制系统80。现在将按顺序描述这些部件。
[0237]
烘焙设备的烘焙单元
[0238]
烘焙单元可操作以接收并烘焙咖啡豆。
[0239]
烘焙单元通常在烘焙设备10的第二层级处包括：室1和加热装置2，将按顺序描述这些部件。
[0240]
室1被构造成接收和保持由操作者引入的咖啡豆。在优选的实施方案中，室1可从壳体4移除。室可放在烘焙设备旁边：
[0241]-用于引入或移除咖啡豆，或者
[0242]-用于在移除咖啡豆后清洁和维护室，或者
[0243]-用于清洁室后面的竖直壳体部件43。
[0244]
室的底部开口11被构造成使空气能够穿过，具体地讲，其可包括穿孔板，豆可位于穿孔板上并且空气可通过穿孔板向上流动。室1包括柄部，以便使得用户能够从壳体移除室并在壳体外部握住室。
[0245]
麸皮收集器(未示出)与室1流体连通以接收逐渐与豆分离的麸皮，并且由于麸皮的轻密度而被吹到麸皮收集器。
[0246]
加热装置2包括气流驱动器21和加热器22。
[0247]
气流驱动器21可操作以在室的底部11的方向上生成空气流(虚线箭头)。所产生的流被配置为加热豆并搅拌和提起豆。因此，咖啡豆被均匀地加热。具体地讲，气流驱动器可以是由马达供电的风扇。空气入口42可设置在壳体的基部内，以便将空气送入壳体的内部，气流驱动器如虚线箭头所示在室1的方向向上将该空气通过通道23吹送到空气出口孔41。
[0248]
加热器22可操作以加热由气流驱动器21生成的空气流。在具体例示的实施方案
中，加热器是定位在风扇21与室的底部开口11之间的电阻，其结果是空气流在进入室1之前被加热以加热并提升豆。可以使用其他类型的加热器，诸如电阻器、陶瓷加热器、卤素源、红外源和/或微波源。
[0249]
加热器22和/或气流驱动器21可操作以将烘焙曲线应用于豆，该烘焙曲线被定义为温度相对于时间的曲线。
[0250]
当室被安装到壳体时，室的底部紧密连接到空气出口孔41以避免热空气流的流在连接处泄漏。
[0251]
室的顶部开口12连接到烟雾和颗粒排出装置(未示出)。
[0252]
尽管本发明是用实施热空气流化床的烘焙机来描述的，但本发明不限于该特定类型的烘焙设备。可使用筒式烘焙机和其他类型的烘焙机。
[0253]
烘焙设备包括用于调节由加热装置2供应的空气的温度的至少一个第一温度探头5。该第一温度探头被定位室1的外部在导管23内部，该导管引导由加热装置2向室11的底部供应的热空气，室11在室1的上游。
[0254]
在替代性的不太优选的模式下，用于调节由加热装置2供应的空气的温度的至少一个温度探头51可以被定位在室的下游。在烘焙操作期间，该探头可能会被烟雾弄脏。
[0255]
在另一种替代性的不太优选的模式下，设备可以包括用于调节由加热装置2供应的空气的温度的两个第一温度探头5、51。测量温度的平均值用于调节加热装置2。
[0256]
烘焙设备10通常包括使得能够显示和输入信息的用户界面6。
[0257]
烘焙设备可包括代码读取器7以读取与例如存在于咖啡豆包装上的咖啡豆类型相关联的代码。优选地，该代码读取器定位在设备中，使得操作者能够容易地将代码定位在其前面。其优选地定位在设备的前面，例如靠近设备的用户界面6。因此，由代码提供的信息可通过位于一旁的用户界面6的显示器立即显示。
[0258]
烘焙设备的控制系统
[0259]
参考图1、图2a和图2b，现在将考虑控制系统80：控制系统80可操作以控制设备的部件来烘焙咖啡豆。控制系统80通常在烘焙设备的第二层级处包括：用户界面6、处理单元8、外部温度探头5、功率源9、存储器单元63、任选地数据库62、传感器19、用于远程连接的通信接口61、代码读取器7或这些装置的任何组合。
[0260]
用户界面6包括使得用户能够借助于用户界面信号与处理单元8进行交互的硬件。更具体地，用户界面接收来自用户的命令，用户界面信号将所述命令作为输入传输到处理单元8。命令例如可以是执行烘焙过程和/或调节烘焙设备10的操作参数和/或对烘焙设备10通电或断电的指令。处理单元8还可将反馈输出到用户界面6作为烘焙过程的一部分，例如以指示已经启动烘焙过程或已经选择与过程相关联的参数或指示该过程期间参数的演变或形成警报。
[0261]
此外，用户界面可以用于发起烘焙设备的校准模式。
[0262]
用户界面的硬件可包括任何合适的装置，例如，硬件包括以下各项中的一个或多个：按钮(诸如操纵杆按钮、旋钮或按压按钮)、操纵杆、led、图形或字符ldc、带触摸感测的图形屏幕和/或屏幕边缘按钮。用户界面6可以形成为一个单元或多个离散单元。
[0263]
当设备设置有如下所述的通信接口61时，用户界面的一部分也可以位于移动应用程序上。在该情况下，输入和输出的至少一部分可以通过通信接口61传输到移动装置。
[0264]
传感器19和温度探头5可操作以将输入信号提供给处理单元8，以用于调节烘焙过程和/或烘焙设备的状态。输入信号可为模拟或数字信号。传感器19通常包括至少一个温度传感器5和任选地以下传感器中的一者或多者：与室1相关联的料位传感器、空气流速传感器、与室和/或麸皮收集器相关联的位置传感器。
[0265]
代码读取器7可以被提供并且可操作以读取例如咖啡豆包装上的代码，并且自动提供输入，该输入是引入室1中的类型cn咖啡豆的标识。
[0266]
处理单元8通常包括被布置为集成电路(通常为微处理器或微控制器)的存储器、输入及输出系统部件。处理单元8可包括其他合适的集成电路，诸如：asic、可编程逻辑装置(诸如pal、cpld、fpga、psoc)、片上系统(soc)、模拟集成电路(诸如控制器)。对于此类装置，在适当的情况下，上述程序代码能够被认为是编程逻辑或另外包括编程逻辑。处理单元8还可包括上述集成电路中的一者或多者。后者的示例是若干集成电路以模块化方式被布置成彼此通信，例如：用于控制用户界面6的从集成电路与用于控制烘焙设备10的主集成电路通信。
[0267]
功率源9可操作以向所述受控部件和处理单元8供应电能。功率源9可包括各种器件，诸如电池或用以接收和调节主电源的单元。功率源9可操作地连接到用户界面6的用于使烘焙设备10通电或断电的部分。
[0268]
处理单元8通常包括用于存储指令作为程序代码和任选地数据的存储器单元63。为此，存储器单元通常包括：用于存储程序代码和操作参数作为指令的非易失性存储器，例如eprom、eeprom或闪存，用于临时数据存储的易失性存储器(ram)。存储器单元可包括单独或集成的(例如在半导体管芯上)的存储器。对于可编程逻辑设备，指令可被存储为编程逻辑。
[0269]
存储在存储器单元63上的指令可被理想化为包括咖啡豆烘焙程序。
[0270]
控制系统80可操作以通过使用外部温度探头5的信号控制加热装置2(即，在图1的特定示出的实施方案中，气流驱动器21和/或加热器22)来应用该咖啡豆烘焙程序。
[0271]
咖啡豆烘焙程序可以使用在代码上编码的提取信息和/或可以作为数据存储在存储器单元63上或通过通信接口61从远程源存储的其他信息和/或经由用户界面6提供的输入和/或传感器19的信号来实现对所述部件的控制。
[0272]
具体地，控制系统80被配置为应用烘焙曲线r，该烘焙曲线提供表示要分别在离散的相继时间t1、t2、
…
、t
最终
应用的温度t
@t1
、t
@t2
、
…
、t
@t最
终。
[0273]
为此，处理单元8可操作以：
[0274]-接收外部温度探头5的输入t
reg@ti
，
[0275]-根据烘焙曲线r处理该输入，
[0276]-提供输出，该输出为烘焙曲线r。更具体地，输出包括至少加热器22和气流驱动器21的操作。
[0277]
由温度探头5测量的温度用于调整反馈回路中的加热器22的功率和/或空气驱动器21的功率，以便将烘焙曲线应用于豆，例如图2b中所示。
[0278]
在所示的反馈回路调节中，在外部温度探头5处测量的温度t
reg@ti
与要再现的烘焙曲线的温度t
@ti
进行比较。根据差异，操作加热装置2以补偿差异。
[0279]
根据在烘焙机中应用的控制的类型，可以按一个预定功率向加热器22供电，这意
味着其温度是恒定的，并且在该情况下，可以基于在探头5处调节的温度来控制空气驱动器21的功率，以便改变通过加热器的流动空气在其移动期间的接触时间。
[0280]
另选地，可以在一个预先确定的功率下向空气驱动器21供电，这意味着空气的流速是固定的，并且在该情况下，可以基于在探头5处调节的温度来控制加热器22的功率，以便在空气穿过加热器期间加热更多或更少的空气。
[0281]
在最后的另选方案中，可以基于探头5对温度的调节来控制加热器22和空气驱动器21两者。
[0282]
控制系统80可以包括用于烘焙设备10与另一个装置和/或系统(诸如服务器系统、移动装置和/或物理分离的测量设备3)进行数据通信的通信接口61。通信接口61可以用于供应和/或接收与咖啡豆烘焙过程相关的信息，诸如烘焙过程信息、豆的类型、豆的量。通信接口61可以包括用于同时与若干装置进行数据通信或经由不同介质进行通信的第一通信接口和第二通信接口。
[0283]
通信接口61可以被配置用于缆线介质或无线介质或他们的组合，例如：有线连接，诸如rs-232、usb、i2c、由ieee 802.3定义的以太网，无线连接，诸如无线lan(例如ieee 802.11)或近场通信(nfc)，或蜂窝系统，诸如gprs或gsm。通信接口61借助于通信接口信号与处理单元8交接。通常，通信接口包括用于控制通信硬件(例如，天线)与主处理单元8交互的单独处理单元(其示例在上文提供)。然而，可使用较不复杂的构型，例如，用于直接与处理单元8进行串行通信的简单有线连接。
[0284]
处理单元8使得能够访问不同的预定义烘焙配方(rma、rmb…
)，配方适用于烘焙特定类型的咖啡豆或咖啡混合物(ca、cb…
)，并且优选地特定量(ma、mb…
)的所述豆或混合物。
[0285]
这些配方可以存储在处理单元8的存储器13中。另选地，这些数据可以存储在远程服务器中，并且可以通过通信接口61、直接或间接地通过在远程服务器与处理单元之间建立连接的移动装置向处理单元8提供对该远程服务器的访问。
[0286]
控制系统80可以包括存储关于咖啡豆(特别是关于用于烘焙特定咖啡豆的操作条件)的信息的数据库62，如下所述。数据库62可以本地存储在烘焙设备的控制系统的存储器63中或远程存储在可通过通信接口63进行访问的服务器中。
[0287]
在一个另选的实施方案中，在代码读取操作期间可以向控制系统提供烘焙配方rmn(以及根据实施方案，提供其相关联的特定量mn)，这些信息片段在代码内部被编码并且由控制系统解码。
[0288]
适用于烘焙特定类型的咖啡豆或咖啡混合物和特定重量的所述豆的预定义烘焙配方(rma、rmb…
)是在定义为主烘焙设备(m)的特定烘焙设备内部烘焙这些特定豆的初始操作期间定义的。通常，此操作由咖啡专家实施，该咖啡专家基于他/她在烘焙方面的专业知识，能够定义温度和时间的参数以最佳地烘焙特定豆，并且因此定义烘焙配方，该烘焙配方提供点集(t
@ti；ti
)，该点集表示要分别在预定义的对应相继时间t1、t2、
…
应用的温度t
@t1
、t
@t2
、
…
。
[0289]
一旦用主烘焙设备预先定义了这些烘焙配方，就可以用类似于主烘焙设备的烘焙设备自动再现这些烘焙配方。
[0290]
在逻辑上，从相同的豆开始并且在类似于主烘焙设备的烘焙设备中应用相同的烘焙配方，应该获得相同的烘焙咖啡豆。然而，已经观察到烘焙的再现不是系统地一致的。尽
管温度探头5被完全校准以测量正确的温度，但在类似的烘焙设备之间观察到相同的豆的烘焙的非一致性。
[0291]
在本发明的过程中，怀疑在制造期间在每个设备之间出现了小的差异。这些差异可以涉及使用设备的不同关键部件(风扇、加热器、温度传感器)、进一步涉及供应源的变化或涉及每个设备的组件中的小差异(例如，在各个位置处产生非常小的空气泄漏)，或由于关键元件彼此的相对位置的小差异。
[0292]
因此，尽管在室内部引入的空气流呈现了如由温度探头5测量的正确温度，但是这种热空气流在室内部以对豆的烘焙的直接影响而以不同方式被接收。
[0293]
为了解决该问题，已经开发了一种方法，以使得能够校准任何新生产的烘焙设备，从而使得所述设备可以一致地再现用特定主烘焙设备定义的烘焙配方。
[0294]
参考图3、图4和图5a至图5c说明了该方法。
[0295]
图3示出了在校准操作期间类似于图1的烘焙设备的烘焙设备x。校准的目的是使烘焙设备x能够再现用一个特定且相似的主烘焙设备m定义的咖啡豆烘焙配方。在该校准操作期间，辅助温度探头5被临时引入室1内部。
[0296]
临时的意思是，该辅助温度探头5仅在校准操作期间引入，或者用于其他临时操作(如维护检查)，而不是在烘焙咖啡豆的正常操作期间引入。
[0297]
辅助温度探头5连接到烘焙设备的处理单元8，使得室内部的温度t
cal
的测量作为输入提供给控制系统，如图4所示。
[0298]
在设备x的校准方法开始之前，在初步阶段，用如图5a所示的主烘焙设备m建立预先确定的校准曲线r
ref
。
[0299]
在此阶段期间，控制烘焙设备m的加热装置2以再现预设曲线r
set
，所述预设曲线提供点集(t
set@ti；ti
)，该点集表示要分别在预定义的对应相继时间t1、t2、
…
、t
最终
应用的温度t
set@t1
、t
set@t2
、
…
、t
set@t最终
。此控制是基于由第一温度探头5调节的温度t
reg
。
[0300]
在预设曲线r
set
的再现期间，在临时第二温度探头3处测量随时间变化的室内的温度t
ref
。该测量使得能够确定在图5c中用曲线t
ref
示出的至少一个点集(t
ref@ti；ti
)，该点集对应于预先确定的校准曲线r
ref
。
[0301]
以相同的方式，在图5b所示的校准方法期间，烘焙设备x的加热装置2被控制为再现相同的预设曲线r
set
。此控制是基于由第一温度探头5调节的温度t
reg
。
[0302]
在预设曲线r
set
的再现期间，在临时第二温度探头3处测量随时间变化的室1内的温度t
cal
。该测量使得能够确定在图5c中用曲线t
cal
示出的至少一个点集(t
cal@ti；ti
)
[0303]
在烘焙设备x的校准方法中，将温度t
cal@ti
与用主烘焙设备m在至少一个相同时间ti获得的温度t
ref@ti
进行比较。图5c示出了对应于以下各项的曲线或点集：
[0304]-预设曲线r
set
，
[0305]-在预设曲线r
set
的再现期间主烘焙设备的室中的温度t
ref@ti
，建立预先确定的校准曲线r
ref
，以及
[0306]-在相同预设曲线r
set
的再现期间烘焙设备x的室中的温度t
cal@ti
。
[0307]
图5c使相同预设曲线r
set
的再现如何因设备而异显而易见。这种差异可以通过制造过程的差异来进行解释。
[0308]
为了完成焙烧设备x的校准，基于t
cal
和t
ref
之间的比较，在设备x的反馈回路调节
中应用校正，使得当设备x的控制系统将再现预设曲线r
set
时，在设备x的室内部获得期望的温度t
ref
，如图5d示意性所示。
[0309]
可以根据t
cal
与t
ref
之间的关系来应用不同类型的校正。关系的复杂性可以取决于：烘焙设备与主烘焙设备之间的构造差异(诸如使用另一种类型的加热器、另一种形状的室、另一控制规则或算法)以控制加热器(例如在气流驱动器和加热器上存在2度控制的情况下更复杂)，从而提供例如更灵敏的控制。
[0310]
关系通常通过回归分析来确定并且使用已知分析模型(诸如线性回归、多重回归、非线性回归、多项式回归
…
)经由回归分析软件来实施。
[0311]
一旦定义t
cal
与t
ref
之间的关系，校正就可以应用于由反馈回路调节应用的规则或算法。根据此规则的复杂性，可以在此规则的不同步骤中应用校正。在最简单的实施方案中，优选地，校正应用于由第一温度探头5测量的温度t
reg
或由要再现的烘焙曲线提供的温度t
@ti
。
[0312]
在图5a和图5b所示的烘焙机m和x的情况下，其中两个烘焙机都包括非常类似的部件，这些部件具有仅基于由温度探头5测量的温度来操作加热器22的简单反馈回路控制，可以在时间t
最终
通过比率k定义校正因数：
[0313][0314]
在与反馈回路调节中的t
reg
进行比较之前，该比率可以用作由要再现的烘焙曲线提供的温度t
@ti
的简单乘法因数。
[0315]
在本发明的另一实施方案中，在由第一温度探头5测量的温度t
reg
与反馈回路调节中的t
@ti
进行比较之前，以上比率的倒数(即，)可以用作此温度t
reg
的乘法因数。
[0316]
校正使得设备x的控制系统能够在更接近在主设备中获得的温度t
ref
的温度下在室内部供应热空气。
[0317]
因此，除了校准方法之外，在用烘焙设备x进行烘焙操作期间，通过控制系统将上述比率应用于在第一探头5处调节以控制加热装置5的温度的测量或者应用于由待再现的烘焙曲线提供的温度t
@ti
，可以精确地再现利用主烘焙设备m针对特定豆定义的预定义咖啡豆烘焙配方r。
[0318]
该校准方法可以采用与下列各项有关的不同替代选项加以应用：
[0319]-温度t
ref
和t
cal
之间的比较类型，和/或
[0320]-在该校准方法中实施迭代，用甚至更精确的校正将该方法重复迭代，和/或
[0321]-在该方法中使用的预设曲线r
set
的类型，和/或
[0322]-在校准方法期间，咖啡豆是否存在于室内部。
[0323]
这些替代选项能够或多或少地增加该校准过程的准确度，并且能够进一步一致地再现烘焙配方。
[0324]
图6示出了校准方法的实施方案，其中预设曲线r
set
对应于针对特定类型和量的咖啡豆定义的烘焙配方。在该方法中：
[0325]-在第一初步阶段6a中，对应于烘焙配方的预设曲线r
set
用烘焙特定类型和量的咖啡豆的主烘焙设备m创建。这种创建通常是咖啡专家的工作，目的是最终考虑到特定类型的
提取(浓缩咖啡、手冲咖啡、冷萃咖啡
…
)而为烘焙的咖啡豆提供最佳味道。
[0326]-在进一步的初步步骤6b中，通过控制加热装置以便基于用第一温度探头5测量温度再现所述曲线r
set
来在主烘焙设备m中再次烘焙这些特定类型和量的咖啡豆，同时通过引入室内部的第二临时探头3在室中测量温度t
ref
，
[0327]-然后实施设备x的校准方法：通过控制加热装置以便基于用第一温度探头5测量温度再现所述曲线r
set
来在待校准的烘焙设备x中烘焙这些特定类型和量的咖啡豆，同时通过第二临时探头3在室中测量温度t
cal
(图6中的6c)。
[0328]
在进一步的步骤中，比较由第二临时探头3在相应室中测量的温度t
ref@ti
和t
cal@ti
。在一个优选实施方案中，该比较包括计算曲线r
ref
和r
cal
的最终时间t
最终
处的比率t
ref@ti
/t
cal@ti
，并且将该比率作为校正因数应用于要再现的温度t
set
，或者将该比率的倒数作为校正因数应用于由烘焙设备x中的温度探头5测量的温度t
reg
(图6中的6d)
[0329]
优选地，在应用该刚刚确定的校正因数时再现步骤6c，并且可以在反馈回路调节中确定新的更精确的校正因数。可以再次重复该操作。
[0330]
该实施方案可能存在一些缺点：
[0331]-其需要烘焙大量无用的咖啡豆。这是浪费。
[0332]-需要时间让操作者引入豆并实施逐次迭代。具体地，建议在两次烘焙操作之间等待一段时间，以便让烘焙设备冷却下来，并且能够总是在相同的条件下重复烘焙操作。
[0333]-人工操作可以产生对校准有直接影响的误差(例如，豆称重)。
[0334]-校准取决于豆的特性，该特性可随时间变化，
[0335]-新设备在出售前需要清洁。
[0336]
为了解决这些缺点，咖啡豆可以用粒状惰性物体如玻璃珠来代替。
[0337]
图7示出了校准方法的实施方案，其中在不需要使用咖啡豆的情况下实施校准方法。
[0338]
在该方法中，预设曲线r
set
是与任何特定类型或重量的咖啡豆无关地建立的曲线。
[0339]
类似于前面描述的实施方案：
[0340]-在第一初步阶段7a中，基于用第一温度探头5对温度进行的调节n，在主烘焙设备m中再现预设曲线r
set
，同时通过引入室内部的第二临时探头3在室中测量温度t
ref
。建立表示随时间变化的t
ref
的校准曲线r
ref
或点集。
[0341]-然后实施烘焙设备x的校准方法：
[0342]
控制设备x的加热装置，以便基于用第一温度探头5对温度进行的调节来再现所述曲线r
set
，同时通过引入室内部的第二临时探头3在室中测量温度t
cal
(图7中的7b)。建立表示随时间变化的t
cal
的曲线或点集。
[0343]
在另一步骤中或同时地，将由第二临时探头3在室中测量的该温度t
cal@ti
与先前确定的t
ref@ti
进行比较，并推导出校准校正k(图7中的7c)。
[0344]
图8a至图8d示出了可以在图7所示的实施方案中获得的曲线。
[0345]
图8a示出了不需要再现对应于烘焙配方的轮廓的预设曲线r
set
的优选轮廓。优选地，该曲线提供点集(t
set@tseti；tseti
)并依次包括：
[0346]-在第一阶段，温度t
set
在固定温度t
set-stab
处于平稳段，然后
[0347]-在第二阶段，温度t
set
从t
set-stab
升高到更高的温度t
set-high
，然后
[0348]-在第三阶段，温度t
set
在所述温度t
set-high
处于平稳段。
[0349]-在第四阶段，冷却，期间停止加热。
[0350]
因此，该预设曲线r
set
可以用三个点来定义：(t
set-stab；tstab
)、(t
set-high；thigh
)和(t
set-high，tend
)。
[0351]
如前所述，在第一阶段，固定温度t
set-stab
优选地被定义为烘焙设备可以迅速达到的温度，而不管使用烘焙设备的房间的环境温度如何，例如大约40℃的温度。该第一阶段的长度必须足以能够加热冷设备或冷却热设备(如果其先前已经被使用)直到稳定状态。该长度可以根据设备的类型而变化，特别是根据加热装置的功率、与外部的热交换而变化。
[0352]
通常几分钟就足够了。
[0353]
在第二阶段和第三阶段，要达到并保持的温度t
set-high
可以再次取决于烘焙设备中使用的加热装置的类型，特别是取决于提供给加热装置的功率的调节的类型。对于鼓风机保持在相同速度并且调节仅通过调整电阻的功率来操作的电加热装置，温度t
set-high
优选地设置在电阻的稳定操作区域中。因此，将电阻保持在所述区域不会在调节期间产生重大偏差。
[0354]
第三阶段中平稳段的存在使得温度能够稳定，并且沿着该平稳段而不是在温度快速变化的区域中(如在第二阶段开始时的增加中)与r
cal
相比更可靠。
[0355]
在诸如图1所示的焙烧设备中，曲线r
set
可以定义如下：
[0356]-t
set-stab
＝40℃
[0357]-t
stab
在7分钟到10分钟的范围内
[0358]-t
set-high
在100℃到200℃的范围内
[0359]-t
end
在4分钟到6分钟的范围内。
[0360]
图8b示出了在实施第一初步阶段(诸如图7中的步骤7a所示)期间获得的曲线r
ref
，其中预设曲线r
set
基于用第一温度探头5测量的温度在主烘焙设备m中再现，并且其中同时通过引入室内部的第二临时探头3在室中测量温度t
ref
。确定包括表示随时间变化的t
ref
的点集(t
ref@ti；ti
)的校准曲线r
ref
，如白点所示，优选地，在预定义时间t
refi
确定点，这些点在曲线r
set
的包括平稳段的部分中。
[0361]
如图8b所示，在第一阶段中定义至少一个预定义时间t
ref1
，并且在第三阶段中定义至少两个预定义时间t
ref2
至t
ref7
。
[0362]
图8c示出了在烘焙设备x的校准方法的实施期间获得的曲线r
cal
，其中控制设备x的加热装置，以便基于用第一温度探头5测量的温度来再现曲线r
set
，并且其中同时通过引入室内部的第二临时探头3在室中测量温度t
cal
(如图7中的步骤7b所示)。如图所示，建立包括表示随时间变化的t
cal
的点集(t
cal@ti；ti
)的曲线r
cal
，并且在预定义时间t
refi
测量t
cal
，从而建立表示随时间变化的t
cal
的点集(t
cal@trefi；trefi
)，如黑点所示。
[0363]
在图8c的实施方案中，在预设曲线r
set
的再现期间，在预定义时间t
refi
，可以比较对应的温度t
ref@trefi
和t
cal@trefi
，并且在烘焙设备的控制系统内部立即应用校正。
[0364]
在一个优选实施方案中，如图8d中的曲线所示，在由设备x再现预设曲线r
set
期间，在预定义时间t
refi
(如图8c中所确定的)，计算对应的比率t
ref@trefi
/t
cal@trefi
，并且立即将校正因数应用于将由焙烧设备x再现的温度t
set@ti
，所述校正因数对应于如下定义的比率ki：
[0365][0366]
图8d示出了在不同的预定义时间t
refi
该比率ki的演变。在每个计算的比率之后在控制系统中立即应用校正使得能够在校准的一个单一操作中确定该比率的收敛值。
[0367]
在t
cal7
处获得的该最终收敛值k7用于通过将所述乘法因数应用于利用主烘焙设备m建立的且将由烘焙设备x再现的烘焙曲线的温度t
@ti
来校准烘焙设备。
[0368]
另选地，在t
cal7
处获得的最终收敛值k7可用于通过将乘法因数应用于由焙烧设备x的控制系统内部的第一温度探头5测量的温度t
reg
来校准焙烧设备。
[0369]
根据计算的比率k收敛到固定值的演变，可以更早地停止校准方法。
[0370]
图9a示出了在图7(步骤7b、7c)和图8a至图8d的校准方法期间温度调节的闭环反馈回路。
[0371]
在预设曲线r
set
的再现期间，在预定义时间t
refi
(i＝1至n)，在第二温度探头3处测量室中的温度t
cal@trefi
，并且将该温度输入控制单元8。将该温度与对应的预先确定的温度t
ref@trefi
进行比较，这里该比较包括如下计算比率ki：
[0372][0373]
然后，该比率ki立即用于校正温度调节的反馈回路内的温度t
set
：因此，在所示的例子中，当与反馈回路中的t
reg@ti
进行比较时，输入值t
set@ti
被输入为ki
×
t
set@ti
。
[0374]
图9b示出了图9a中实施的校准方法的替代方法。图9b示出了在图7(步骤7b、7c)和图8a至图8d的校准方法期间温度调节的闭环反馈回路。
[0375]
在预设曲线r
set
的再现期间，在预定义时间t
refi
(i＝1至n)，在第二温度探头3处测量室中的温度t
cal@trefi
，并且将该温度输入控制单元8。将该温度与对应的预先确定的温度t
ref@trefi
进行比较，这里该比较包括如下计算比率ki：
[0376][0377]
然后，该比率ki立即用于校正温度调节的反馈回路内的温度t
reg
：因此，在所示的示例中，当与反馈回路中的t
set@ti
进行比较时，测量值t
reg@ti
被输入为
[0378]
在图7(步骤7b、7c)、图8a至图8d以及图9a和图9b所示的方法中，如果待校准的设备x是已经实施了校准方法的一系列类似制造的设备的一部分，则可以针对该系列预先确定预设因数k0。因此，为了缩短设备x的校准方法，该因数k0可以用于如下图8d中所示的校正因数的计算：
[0379]
[0380]
图10a和图10b说明了两种不同的情况。
[0381]
图10a示出了相继计算的比率t
ref@trefi
/t
cal@trefi
随着时间的推移彼此变得越来越接近的情况。可以设定，如果在一个t
refi
处，对应的计算比率t
ref@trefi
/t
cal@trefi
与先前计算的比率t
ref@trefi-1
/t
cal@trefi-1
相差小于2％，则可以停止如图8c中所示设置的预设曲线r
set
的再现。最后计算的比率ki可以用作设备x的校正因数。在所示的曲线中，比率t
ref@tref5
/t
cal@tref5
非常接近t
ref@tref4
/t
cal@tref4
，这意味着校准方法的步骤c)可以在t
cal5
已经停止。
[0382]
图10b示出了相继计算的比率t
ref@trefi
/t
cal@trefi
未收敛的情况。可以设定，如果在相继的t
refi
处，对应的计算比率t
ref@trefi
/t
cal@trefi
增加超过20％，则校准方法停止。在图示的曲线中，比率t
ref@trefi
/t
cal@trefi
在t6之后不收敛，这意味着不能定义因数k。校准方法失败，并且必须停止。这种情况揭示了该方法没有正确地操作，或者该设备被破坏，或者出现了不能正常操作和校准的缺陷。
[0383]
可以建议重新开始校准方法。如果校准方法再次失败，则需要进行维护。
[0384]
可以通过设备的显示器以自动方式引导操作者实施这些不同的步骤。
[0385]
另选地，可以估计，当比率达到预先确定的上限值和下限值时(诸如低于0.5或高于2)，相继计算的比率不收敛。如果监测到这样的比率，则停止该过程。
[0386]
优选地，在利用没有咖啡豆的设备实施校准方法的实施方案中，被配置为模拟咖啡豆的存在的装置在校准方法期间被引入设备x的室内部或者存在于定位在设备x内部的临时校准室内部。
[0387]
在这种情况下，利用主设备确定的参考曲线r
ref
在将用于烘焙设备x的校准方法的相同条件下建立：主设备呈现相同的装置来模拟豆或使用相同的校准壶。
[0388]
另选地，在利用没有咖啡豆的设备x实施校准方法的实施方案中，并且其中烘焙设备x的控制系统被配置为控制加热装置以控制供应到室的空气流，则在校准方法的步骤b)中，加热装置优选地被控制为再现室内部存在咖啡豆时产生的空气流的值。
[0389]
在这种情况下，利用主设备确定的参考曲线r
set
建立在相同的条件下，这些条件为：主设备呈现相同的热空气流。
[0390]
在校准方法的上述实施方案中，在第二温度探头3处测量的温度t
cal@ti
的值可以被调整为特定于所述第二温度探头的调整值t
cal@ti-调整
。
[0391]
如果仅有一个单独的第二临时探头3来确定利用主烘焙设备获得的预先确定的参考曲线r
ref
并且随后校准所有烘焙设备，则不需要温度的这种调整，如图6的初步步骤6b和校准步骤6c中所示。
[0392]
然而，当存在多个不同的第二临时探头3或临时校准室时(当大量烘焙设备被商业化时，这变得必要)，将这些探头或室的测量与原始第二临时探头3的测量或与另一个已经校准的第二临时探头3的测量进行比较。基于该比较，新的第二临时探头3可以用在诸如上述的烘焙设备的校准方法中。
[0393]
优选地，
[0394]-在步骤c)中在新的第二温度探头处测量的温度t
cal@ti
的值可以被调整为调整值t
cal@ti-调整
，以及
[0395]-在步骤d)中，该调整值t
cal@ti-调整
可以与温度t
ref@ti
进行比较。
[0396]
对于新的第二临时探头的测量与原始的第二临时探头3的测量或者与另一个已经
校准的第二临时探头3的测量的比较的操作，再现参考的温度-时间曲线，例如如图8a所示的曲线。然后，基于该比较，可以定义新的第二临时探头的温度测量的调整。
[0397]
根据两个探头的温度之间的关系，可以应用不同类型的调整。这种关系的复杂性取决于：它们之间构造的差异，诸如使用新的探头类型、室的另一种形状、探头在临时室内部的新位置等等。
[0398]
关系可以通过回归分析来确定并且使用已知分析模型(诸如线性回归、多重回归、非线性回归、多项式回归
…
)经由回归分析软件来实施。
[0399]
在一个优选的方法中：
[0400]
t
cal@ti-调整
＝k
2探头
.(t
cal@ti
)2+k
1探头
.t
cal@ti
+t
探头
[0401]
其中预设温度偏移t
探头
和预设温度比率k
1探头
和k
2探头
由回归分析软件定义。
[0402]
本发明的校准方法在呈现图1的设备的特征的烘焙设备模型上实施。
[0403]
生产一系列烘焙设备作为利用其建立烘焙配方的主烘焙设备的副本。在没有将校准方法应用于与主烘焙设备相似的系列烘焙设备的情况下，观察到根据相同烘焙配方的相同豆的烘焙从一个设备到另一个设备产生不同颜色的烘焙豆，这是缺少一致烘焙的证据。这些不同设备的室内部温度的测量显示与主设备的差异为约10％，即当要求200℃的温度时，差异为20℃至25℃。
[0404]
通过在该系列的每个烘焙设备中实施校准方法，这种差异被减少到大约1℃，并且证实获得相同颜色的豆。
[0405]
本发明的校准方法具有以下优点：
[0406]-使得能够利用任何类似的和新制造的烘焙设备一致地再现由专家在主烘焙设备上定义的咖啡豆配方，
[0407]-实现自动实施。
[0408]-在一些实施方案中，避免浪费咖啡和操作者的时间，并且不需要任何清洁操作，
[0409]
虽然已参考以上所示的实施方案描述了本发明，但应当理解，如权利要求书所保护的本发明不以任何方式受限于这些示出的实施方案。
[0410]
在不背离如权利要求书所限定出的本发明范围的情况下，可以做出各种变化和修改。此外，对于具体的特征如果存在已知的等同物，则应如同在本说明书中明确提到的那样来并入此类等同物。
[0411]
如本说明书中所用，词语“包括”、“包含”和类似词语不应理解为具有排他性或穷举性的含义。换句话讲，这些词语旨在表示“包括但不限于”的意思。
[0412]
附图中的标引列表：
[0413]
烘焙设备
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
10
[0414]
室
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ1[0415]
底部开口
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
11
[0416]
顶部开口
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
12
[0417]
加热装置
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ2[0418]
气流驱动器
ꢀꢀꢀꢀꢀ
21
[0419]
加热器
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
22
[0420]
通道
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
23
[0421]
第二温度探头
ꢀꢀꢀ3[0422]
壳体
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ4[0423]
空气出口孔
ꢀꢀꢀꢀꢀ
41
[0424]
空气入口
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
42
[0425]
竖直壳体部件
ꢀꢀꢀ
43
[0426]
第一温度探头
ꢀꢀꢀ
5、51
[0427]
用户界面
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ6[0428]
代码读取器
ꢀꢀꢀꢀꢀ7[0429]
处理单元
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ8[0430]
控制系统
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
80
[0431]
功率源
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ9[0432]
传感器
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
19
[0433]
通信接口
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
61
[0434]
数据库
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
62
[0435]
存储器单元
ꢀꢀꢀꢀꢀ
63