专利名称：X射线计算机断层成像系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及用于X射线计算机断层成像(CT)系统中的散射辐射校正技术，该系统通过X射线辐照来产生检测对象的X射线断层成像图像。
背景技术：
X射线CT系统的主要目的是，采集由穿透过检测对象的X射线提供的投射数据，并从投射数据重建X射线断层成像图像。更具体地说，首先，要求检测对象躺在诊察台上，并输送到台架的膛腔中。驱动台架的旋转组件使其旋转，在此旋转组件中包含有一个X射线探测装置作为构成其整体所必需的部分，在此探测装置中包括一个X射线管和多个X射线探测器。从不同的角度向检测对象辐照X射线，并探测在各个角度上辐照的并穿透过检测对象的X射线。操作员控制台接收探测到的数据(投射数据)并通过进行算术运算来重建X射线断层成像图像。探测X射线的步骤顺序通常被称为扫描。
此外，所谓的多切片X射线CT系统被认为是具有多个探测器阵列的系统，这些探测器阵列排布在输送方向上，即输送诊察台的方向上。多切片X射线CT系统的优点在于，通过进行一次扫描可以采集表现多个截面的投射数据。另一方面，在增加探测器阵列的数目时，沿着探测器阵列方向的散射辐射的有害影响是不可忽视的。例如，当探测器阵列的数目为1或2时，大部分的散射辐射是在没有探测器存在的方向上辐射的。因此，没有必要考虑沿着探测器阵列方向的散射辐射的有害影响。然而，当探测器的数目增加时，(例如，32个或更多)，沿着探测器阵列方向的散射辐射就会落在一些探测器上。此外，落在每个探测器阵列上的散射辐射的数量是不均匀的，尤其是在边缘上的探测器阵列和在中心的探测器阵列之间具有明显的差别。
顺便要提及的是，为了应付沿着过去分配给探测器的通道方向的散射辐射，已经采取了一些措施。例如，将一个准直器或一个格栅放置在邻接通道的边界上，以防止散射辐射的入射。然而，这个方法会导致X射线探测表面的有效面积的减少。此外，X射线管被检查(look up)的角度的问题不能被忽略，X射线使用效率会下降。此外，由于必须十分精确地放置准直器，不可避免地会增加硬件的成本。
因此，不应该通过改变硬件来解决沿着探测器阵列方向的散射辐射，而应当通过使用数据校正软件来解决这个问题。用数据校正软件来补偿沿着探测器阵列方向的散射辐射的有害影响的技术包括例如在下面专利文献1中所描述的例子。专利文献1揭示了一个X射线计算机断层成像系统，该系统从X射线元件阵列的输出数据中采集散射辐射数据，该X射线元件阵列包括在多切片X射线探测器中，例如，该多切片X射线探测器有8个X射线元件阵列，而且X射线并不直接辐照在这些X射线元件阵列上面。
专利文献1日本的未经审查的专利申请出版物No.2000-197628。
然而，在专利文献1揭示的X射线计算机断层成像系统中所进行的散射辐射校正并没有设计为考虑到这样的一种情况，即进入到每个探测器阵列的散射辐射的数量是不均匀的。因此，还需要对散射辐射实现高度准确的校正。
发明内容
本发明的目的在于提供一种能够更高度准确地校正散射辐射的X射线CT系统。
根据本发明的一个方面，在此提供的一个X射线CT系统包括X射线发生源；和X射线探测单元，该单元有多个探测器阵列，这些探测器阵列排布在阵列方向上，该方向是输送方向，即用于运载检测对象的诊察台的输送方向。该X射线CT系统还包括构成一条缝隙的准直器，该缝隙限制了来自X射线发生源的X射线的辐照范围；调节装置，用于调节准直器在输送方向上的位置和缝隙在输送方向上的宽度；扫描控制装置，用于在调节装置调节了准直器在输送方向上的位置和缝隙在输送方向上的宽度之后进行扫描，以使直接辐射仅落在多个探测器阵列之一，并用于对多个探测器阵列中的每一个进行扫描；校正数据产生装置，它使用在扫描控制装置每次进行扫描时由X射线探测装置探测到的数据来产生散射辐射校正数据；校正装置，该装置使用所产生的散射辐射校正数据来校正通过扫描检测对象而采集到的投射数据；重建装置，该装置根据由校正装置校正过的投射数据来重建检测对象的X射线断层成像图像。
根据本发明，提供了一个能够更加高度准确地进行散射辐射校正的X射线CT系统。
通过结合附图对本发明的优选实施例的下列说明，本发明的其他目的和优点将会变得更加清楚。
图1根据一个实施例示出了X射线CT系统的结构。
图2分别示出了含于本实施例中的X射线管、准直器和X射线探测装置的主要部分。
图3示出了用在本实施例中的准直器的调节机制。
图4是一个流程图，该图示出了散射辐射校正数据采集的一个例子，这是本实施例的一个组成特征。
图5示出了一个模式，该模式表现了落在探测器阵列上的散射辐射。
图6是一个流程图，该图说明了包括散射辐射校正步骤在内的一系列步骤的一个例子，散射辐射校正步骤是本实施例的一个组成特征，并在操作控制台上执行。
具体实施例方式
以下，参照附图来详细说明本发明的实施例。
图1根据一个实施例示出了X射线CT系统的结构。
如图所示，本系统包括台架100，它向检测对象(病人)辐照X射线并探测透过检测对象的X射线；操作控制台200，它用于指明在台架100上要进行的各种动作，并根据从台架100上发送的数据来重建和显示X射线断层成像图像。
台架100有主控制器10，它负责控制整个台架和下述的其它部件。
标号11和12表明台架100和操作控制台200通信的接口。标号13标出一个旋转组件，其上有一个膛腔，通过此膛腔在垂直于图面的方向上(通常相当于病人身体的轴线方向，下文中将此定义为z轴方向)来输送躺在诊察台14上的检测对象。在此旋转组件13中包含有作为X射线发生源的X射线管15；具有开缝(Opening)的准直器17，该开缝限制X射线的辐照范围；开缝控制电机18，用于调节准直器17上的开缝在z轴方向上的宽度；位置控制电机20，用于调节准直器17在z轴方向上的位置。分别由X射线管控制器16、开缝控制电机驱动器19和位置控制电机驱动器21来驱动或控制X射线管15、开缝控制电机18和位置控制电机20。
此外，该旋转组件13还包括X射线探测单元22，其中含有多个探测通道(例如，1000个探测通道)，在这些通道上探测由X射线管15辐射出来并通过准直器17和膛腔的X射线；数据采集单元23，它采集X射线探测单元22的探测通道上的输出的投射数据。X射线管15和准直器17隔着膛腔与X射线探测装置22相对，这就是说，检测对象在它们之间。旋转组件13设计为围绕着膛腔旋转，与此同时，保持X射线管15、准直器17和X射线探测单元22之间的位置关系。由旋转电机25来使能旋转，而该旋转电机是响应由旋转电机驱动器24发出的驱动信号而被驱动的。此外，在z轴方向上输送躺着检测对象的诊察台14，该诊察台由诊察台电机26来驱动，该诊察台电机响应由诊察台电机驱动器27发出的驱动信号而被驱动。
主控制器10分析经过接口11接收到的各种命令，并根据分析的结果，将各种控制信号分别发送给X射线管控制器16、开缝控制电机驱动器19、位置控制电机驱动器20、旋转电机驱动器24、诊察台电机驱动器27、数据采集单元23。
此外，将由数据采集单元23采集到的数据通过接口12发送给操作员控制台200。
另一方面，操作员控制台200起着所谓的工作站的作用，并且如图所示，它包括负责对整个系统的控制的CPU(中央处理单元)51；ROM(只读存储器)52，其中存储了引导装入程序(boot loader)和其它程序；还有作为主存储器工作的RAM(随机存取存储器)53；以及下述的其它部件。
除了OS(操作系统)而外，在硬盘驱动器(HDD)54中还存储有图像处理程序，根据此程序，将各种指令提供给台架100，或者根据从台架100接收到的数据来执行X射线断层成像图像的重建和显示。此外，VRAM(视频随机存取存储器)55是在其中形成图像数据的存储器，根据所形成的图像数据来显示图像。在VRAM 55中形成图像数据或类似数据的时候，在CRT(阴极射线管)56上就显示出图像。标号57和58分别标明键盘和鼠标，分别用于确定各种设置。标号59和60标明了操作员控制台200和台架100通信经由的接口，它们是与台架100的接口11和12相连接的。
上面已根据本实施例概述了X射线CT系统的结构。下面，将结合图2来详细说明X射线管15、准直器17和X射线探测单元22的结构。
图2分别示出了X射线管15、准直器17和X射线探测单元22的主要部分。这些部件保持了图示的位置关系，并由旋转组件13的预定底座来支承。
参见图2，X射线管15在结构上有一个阴极套筒42，其中包含了聚焦电极和丝极，在外架41中还装有一个旋转靶极43。X射线管15从聚焦点f上辐射X射线。从X射线管15上辐射出的X射线通过由准直器17构成的缝隙S，而由此形成了具有预定的X射线辐照角(扇角)的扇形X射线束。X射线探测单元22在结构上具有例如八个排列在z轴方向(相当于输送诊察台14的输送方向)上的探测器阵列，根据扇角的大小每个探测器阵列在一定的长度上都有若干个(例如，1000个)分配给它们的探测通道。在此，标号1、2、3、……、8是按如下顺序分配给探测器阵列的，即标号1分配给最边缘上的探测器阵列。这样，就实现了所谓的八阵列多切片X射线CT系统。在此，仅作为一个例子提出包含八个探测器阵列的X射线探测单元。本发明也可适用于含有至少两个探测器阵列的系统。
鉴于上述的部件，可以机械式地移动准直器17来调节由准直器17构成的缝隙S在z轴方向上的宽度(下文中简称其为开缝宽度)和准直器17在z轴方向上的位置。
下面将首先说明调节准直器17开缝宽度的装置的一个例子。
图3示出了用于调节用在本实施例中的准直器17的一个装置。并且如图3所示，准直器17是固定在台架13的预定的底座上。
准直器17的屏蔽板61和62的端部分别由连接件65a和65b连接起来，以使能够自由地转动它们，从而构成平行移动的连接装置。因此，屏蔽板61和62可以彼此平行地固定住。在两个屏蔽板61和62之间的间隙用作为X射线通过的缝隙S。此外，旋转轴固定在每个连接件65a和65b的中心上。将开缝宽度控制电机18的输出轴固定在连接件65b的旋转轴上。
鉴于上述的结构，在驱动开缝宽度控制电机18以转动旋转轴的时候，屏蔽板61和62就逐渐加宽或缩小其间的间隙并同时保持彼此平行。因此能控制缝隙S的开缝宽度。
此外，用滚珠丝杠66和直线导杆67来支持准直器17，滚珠丝杠66安置在z轴方向上并固定于准直器17的一端上，直线导杆67安置在z轴方向上并固定于准直器17的另一端上。用位于二者之间的耦接头(coupling)68将滚珠丝杠66安装在位置控制电机20的输出轴上。当用位置控制电机20来驱动滚珠丝杠66时，滚珠丝杠66的旋转运动就转变为在准直器17的z轴方向上直线运动，因此，能够调节整个准直器17的位置。
然而，上述的调节机制只是作为一个例子提出来的。本发明并不仅限于这个调节机制。这个调节机制也能采用任何其它的结构。
在具有上述部件的X射线CT系统中，按下述的方式来采集投射数据。
首先，根据放在旋转组件13的膛腔中的检测对象的位置来确定旋转组件13在z轴方向上的位置。然后从X射线管15向检测对象辐照X射线束(投射X射线)，并用X射线探测单元22来探测穿透过的X射线。通过围绕检测对象旋转X射线管15和X射线探测单元22(即通过改变投射角(或视角))，例如旋转360度，在多达N个观察方向(例如，N＝1000)上探测穿透过的X射线。
用数据采集单元23将探测到的、穿透过的X射线转化为数字数据，并经由接口12将数据传送到操作员控制台200。这一连串的步骤被称之为一次扫描，它是一个单元。按照预定的长度在z轴方向上连续地移动扫描位置，然后进行下一次的扫描。这种扫描技术称之为轴向扫描技术。或者，随着台架13的旋转(即X射线管15和X射线探测器22螺旋式地围绕着检测对象转动)，通过连续移动诊察台14来采集投射数据的螺旋扫描技术也是可行的。
在操作员控制台200中，从台架100上发送的投射数据被存储在HDD(硬盘驱动器)54中。此外，例如为了重建X射线断层成像图像，要进行预定的重建和旋变(convolution)，还要进行背面投射(back projection)。在此，操作员控制台200使用在扫描期间从台架100上顺序发送的投射数据实时地重建X射线断层成像图像。这样，最新的X射线断层成像图像总是显示在CRT 56上。进而，为了重建一个图像，可以从HDD 54中重新提取投射数据。
下面将要说明散射辐射校正，它是本实施例的一个组成特征。
如上所述，落在每个探测器阵列上的散射辐射量可能并非是不变的，这是因为在探测器阵列的方向上检测对象的形状有所不同或者是因为检测对象体内组织的结构有所差异。因此，根据本实施例，用预定的人体模型来测量落在每个探测器阵列上的散射辐射的数量。根据测量结果来得到散射辐射校正数据(散射辐射校正数据采集)。根据散射辐射校正数据来校正由实际扫描检测对象而采集的投射数据。
图4是一个流程图，该图说明了用在本实施例中的散射辐射校正数据采集的一个例子。
在开始散射辐射校正数据采集之前，先把预定的人体模型放在诊察台14上。例如，将一个填满水的、在垂直于输送诊查台14的输送方向上具有接近椭圆形截面的丙烯酸树脂(acrylic)容器用作为人体模型。
首先，在步骤S1中，等待直到属于操作员控制台200之内的键盘57或鼠标58上输入校正数据采集指令。一旦确认了校正数据采集指令，控制进入到步骤S2。在步骤S2，将代表探测器阵列号的变量D初始化为0。在步骤S3，将D值增加1。
此后，调节准直器17在z轴方向上的位置和缝隙的宽度，以使X射线的直接辐射只落在第D个阵列上(步骤S4)。在此情况下，进行一次扫描(步骤S5)。在本技术说明书中，术语“直接辐射”意味着来自X射线发生源的X射线成直线地落在X射线探测器上，并被用作为散射辐射的反义词。
图5示出了表示准直器状态的一个模式，该准直器是在步骤4中用设置为1的D值调节过的，其中，直接辐射仅落在第一个探测器阵列上。与此同时，从人体模型的材料上不规则反射的X射线作为散射辐射落在其它的第二到第八个探测器阵列上。
随后，在步骤S6中，计算作为散射辐射校正数据的校正系数。并对每个探测器阵列的每个探测通道计算校正系数，而不是对直接辐射落在其上的探测器阵列计算校正系数。在步骤S5中，直接辐射只落在第D个探测器阵列上，进行一次扫描以采集第i个视图。在此，假设含于第i个视图中并用如下的一个探测器来探测投射数据，该探测器含于第d个阵列中(在此，d不等于D)并且给它分配了第j个通道，这样，就把这个投射数据称之为投射数据p(d，i，j)。在此情况下，对于含于第d个阵列之中并给它分配了第j个通道的探测器，根据第i个视图计算出来的校正系数αD(d，i，j)可表达如下αD(d，i，j)＝p(d，i，j)/p(D，i，j) (1)此校正系数可理解为代表了散射辐射强度和直接辐射强度之比。在下文中，由于此校正系数显然是对于每个通道计算得到的，因此，投射数据p(d，i，j)和校正系数αD(d，i，j)将由省略了通道变量j的投射数据p(d，i)和校正系数αD(d，i)来表示。因此，可将表达式(1)改写如下
αD(d，i)＝p(d，i)/p(D，i) (2)例如，可将这样计算出来的校正系数αD(d，i)存储在RAM 53中。
在步骤S7中，核实D值是否小于包括于X射线探测单元22中的探测器阵列的总数MAX(在本实施例中MAX＝8)。如果满足D＜MAX，就将控制转回到步骤S3，并对下一个探测器阵列重复进行处理。在对所有的探测器阵列进行了处理之后，就不再满足D＜MAX的情况。然后结束此处理。
因此，对于每个使用人体模型的探测器阵列而言，校正系数是作为散射辐射校正数据计算出来的。
图6是一个流程图，该图说明了包括作为本实施例的组成特征的散射辐射校正步骤在内的、并在操作员控制台200上执行的一系列步骤的例子。一套具有与流程图中相同内容的程序包含在图像处理程序中，该图像处理程序存储在操作员控制台200上的硬盘驱动器54中。在接通电源之后，在RAM 53中导入此程序并由CPU 51来运行。
首先，在步骤S11中，制定一个扫描计划。例如，通过由图像处理程序提供的图形用户界面(GUI)来确定诸如切片厚度、扫描的起始和结束位置、进入X射线管15中的电流、和台架旋转组件13的旋转速度等扫描条件。扫描计划本身是已经知道的，因此不再详述其细节。将确定了的扫描条件存储在RAM 53中。
在下一个步骤S12中，根据在键盘57或鼠标58上进行的输入来判断是否输入了扫描起始指令。如果输入了扫描起始指令，就将一个扫描起始命令发送到台架100中，该扫描起始命令将在步骤S11中确定的扫描条件定为扫描参数。这将引起台架100扫描检测对象。在此假设对于一个切片厚度而言，每次进行扫描都可让X射线直接落在所有的探测器阵列上。
在步骤S13中，从台架100上接收在扫描时采集到的数据。在步骤S14中，监控是否接收到了所有的数据项。
在步骤S15中，进行预定的预处理，这包括基准校正(referencecorrection)、束硬化、X射线探测器的物理特性校正。如有必要，有选择地进行预处理，但是预处理与本发明无直接关系，因此，不再说明预处理的细节。
在步骤S16中，利用在散射辐射校正数据采集时计算出的校正系数来计算在采集每个视图时落在探测器阵列D上的散射辐射量scatD。具体地说，在采集第i个视图时分别落在第一到第八个探测器阵列上的散射辐射量scat1(i)到scat8(i)，可以像下列的式子那样来表达。在此，αD(d，i)表示一个校正系数，它是在直接辐射应当单独进入第D个探测器阵列的情况下，相对于属于第d个阵列的每个探测器，由第i个视图计算出来的。此外，p(d，i)表示这样的投射数据，它含于预处理过的第i个视图中，并由属于第d个阵列的每个探测器来探测。
scat1(i)＝α2(1，i)p(2，i)+α3(1，i)p(3，i)+α4(1，i)p(4，i)+α5(1，i)p(5，i)+α6(1，i)p(6，i)+α7(1，i)p(7，i)+α8(1，i)p(8，i)scat2(i)＝α1(2，i)p(1，i)+α3(2，i)p(3，i)+α4(2，i)p(4，i)+α5(2，i)p(5，i)+α6(2，i)p(6，i)+α7(2，i)p(7，i)+α8(2，i)p(8，i)scat3(i)＝α1(3，i)p(1，i)+α2(3，i)p(2，i)+α4(3，i)p(4，i)+α5(3，i)p(5，i)+α6(3，i)p(6，i)+α7(3，i)p(7，i)+α8(3，i)p(8，i)scat4(i)＝α1(4，i)p(1，i)+α2(4，i)p(2，i)+α3(4，i)p(3，i)+α5(4，i)p(5，i)+α6(4，i)p(6，i)+α7(4，i)p(7，i)+α8(4，i)p(8，i)scat5(i)＝α1(5，i)p(1，i)+α2(5，i)p(2，i)+α3(5，i)p(3，i)+α4(5，i)p(4，i)+α6(5，i)p(6，i)+α7(5，i)p(7，i)+α8(5，i)p(8，i)scat6(i)＝α1(6，i)p(1，i)+α2(6，i)p(2，i)+α3(6，i)p(3，i)+α4(6，i)p(4，i)+α5(6，i)p(5，i)+α7(6，i)p(7，i)+α8(6，i)p(8，i)scat7(i)＝α1(7，i)p(1，i)+α2(7，i)p(2，i)+α3(7，i)p(3，i)+α4(7，i)p(4，i)+α5(7，i)p(5，i)+α6(7，i)p(6，i)+α8(7，i)p(8，i)scat8(i)＝α1(8，i)p(1，i)+α2(8，i)p(2，i)+α3(8，i)p(3，i)+α4(8，i)p(4，i)+α5(8，i)p(5，i)+α6(8，i)p(6，i)+α7(8，i)p(7，i) (3)换句话说，通过使用相关校正系数对落在其它的探测器阵列上的X射线的强度加权并加上加权了的强度，可以计算出落在一个探测器阵列上的散射辐射的强度。在所有的视图上进行这样的计算。
随后，在步骤S17上，从在步骤S15中预处理过的投射数据p(d，i)中减去在步骤S16中计算出来的散射辐射强度scatD(i)，以算出投射数据p’(d，i)，该数据使由散射辐射提供的数据得到补偿。具体地说，包含在第i个视图中的、由第一到第八个探测器阵列分别探测的、并且每个都使由散射辐射提供的数据得到补偿的投射数据项可以表达如下p’(1，i)＝p(1，i)-scat1(i)
p’(2，i)＝p(2，i)-scat2(i)p’(3，i)＝p(3，i)-scat3(i)p’(4，i)＝p(4，i)-scat4(i)p’(5，i)＝p(5，i)-scat5(i)p’(6，i)＝p(6，i)-scat6(i)p’(7，i)＝p(7，i)-scat7(i)p’(8，i)＝p(8，i)-scat8(i) (4)在所有的视图上进行上面的计算。
在步骤S18上，投射数据用于进行图像重建，该投射数据使在步骤S17由散射辐射提供的数据得到补偿。这样，就构成了一个探测物体的X射线断层成像图像，并在步骤S19上显示在CRT 56上。
根据上述的本实施例，一个人体模型被用来测量来自每个视图的落到每个探测器阵列上的散射辐射量。根据测量的结果产生散射辐射校正数据。用此散射辐射校正数据来校正由实际扫描一个检测对象而采集的、含于每个视图中的投射数据。因此，考虑到这样的一个事实，即散射辐射对每个探测器阵列的有害影响并非是均匀的，就可以实现高准确度的散射辐射校正。
在不脱离本发明的精神和范围的情况下，可以构建许多大不相同的实施例。应当了解的是，除了在附后的权利要求中所规定的而外，本发明并不仅限于在此技术说明书中所描述的具体实施例。
权利要求
1.一种X射线CT系统，该系统包括X射线发生源；X射线探测单元，该单元具有多个排布在阵列方向上的探测器阵列，该排布探测器阵列的方向就是输送用于运载检测对象的诊察台的输送方向，所述X射线CT系统包括准直器，构成了限制来自所述的X射线发生源的X射线辐照范围的缝隙；调节装置，用于调节所述准直器在输送方向上的位置以及所述缝隙在输送方向上的宽度；扫描控制装置，用于在所述的调节装置调节所述准直器在输送方向上的位置和所述缝隙在输送方向上的宽度之后进行扫描，以使X射线的直接辐射落在多个探测器阵列中的一个阵列之上，并用于对多个探测器阵列中的每一个阵列进行扫描；校正数据产生装置，用于在所述的扫描控制装置进行每次扫描时，根据由所述的X射线探测单元探测到的数据来产生散射辐射校正数据；校正装置，该装置用所产生的散射辐射校正数据来校正通过扫描检测对象而采集到的投射数据；和重建装置，该装置根据由所述的校正装置校正了的投射数据来重建检测对象的X射线断层成像图像。
2.根据权利要求1所述的X射线CT系统，其中，启动所述的扫描控制装置以在预定的人体模型上进行工作。
3.根据权利要求2所述的X射线CT系统，其中，在与输送方向垂直的方向上，所述的人体模型的截面接近于椭圆形。
4.根据权利要求1到3中任何一个所述的X射线CT系统，其中，所述的校正数据产生装置利用由所述的扫描控制装置进行每次扫描时所采集的每个视图来计算一个校正系数，对于多个探测器阵列中的每一个，该校正系数代表散射辐射强度与直接辐射强度之比。
5.根据权利要求4所述的X射线CT系统，其中，所述的校正装置使用校正系数来计算落在每个探测器阵列上的散射辐射强度，并从扫描检测对象所采集的投射数据中减去散射辐射强度，以校正投射数据。
6.根据权利要求5所述的X射线CT系统，其中，所述的校正装置使用相关的校正系数，通过对落在其它的探测器阵列上的X射线的强度加权并加上加权了的X射线的强度，来计算落在一个探测器阵列上的散射辐射的强度。
7.一种补偿散射辐射对所采集的检测对象的投射数据的有害影响的方法，在包含下列各项的X射线CT系统中实施此方法X射线发生源；具有多个探测器阵列的X射线探测单元，这些探测器阵列排布在阵列方向上，即输送用于运载检测对象的诊察台的输送方向；准直器，构成用于限制来自所述的X射线发生源的X射线辐照范围的缝隙；调节装置，用于调节所述的准直器在输送方向上的位置和所述的缝隙在输送方向上的宽度；所述方法包括扫描控制步骤，在所述的调节装置调节了所述的准直器在输送方向上的位置和所述的缝隙在输送方向上的宽度之后进行扫描，以使X射线的直接辐射落在所述的多个探测器阵列中的一个之上，并对所述的多个探测器阵列中的每一个进行扫描；校正数据产生步骤，该步骤根据在所述的扫描控制步骤中进行每次扫描时由所述的X射线探测单元探测到的数据来产生散射辐射校正数据；和校正步骤，该步骤利用所产生的散射辐射校正数据来校正通过扫描一个检测对象而采集到的投射数据。
8.根据权利要求7所述的方法，其中，在预定的人体模型上执行所述的扫描控制步骤。
9.根据权利要求8所述的方法，其中，在垂直于输送方向的方向上，所述人体模型的截面接近于椭圆形。
10.根据权利要求7到9中的任何一个所述的方法，其中，在所述的校正数据产生步骤中，使用在所述的扫描控制步骤中进行每次扫描时所采集的每个视图，来计算对于所述的多个探测器阵列中每一个的校正系数，此校正系数代表散射辐射强度和直接辐射强度之比。
全文摘要
本发明的目的是提供一个能够以更高的准确度进行散射辐射校正的X射线CT系统。调节准直器的位置和缝隙的宽度，以使直接辐射落在多个探测器阵列中的一个之上。扫描一个预定的人体模型。针对多个探测器阵列中的每一个进行这样的扫描。根据在每次扫描时探测到的数据来产生散射辐射校正数据。所产生的散射辐射校正数据用来校正通过扫描检测对象而采集到的投射数据。
文档编号A61B6/03GK1577076SQ200410058999
公开日2005年2月9日 申请日期2004年7月29日 优先权日2003年7月29日
发明者萩原明 申请人:Ge医药系统环球科技公司