技术特征：
技术总结
本发明公开了信号处理方法，其包括探测穿过包括多种材料的物体的X射线的总强度；获得多种材料的基础材料信息以及物体的光电吸收基础成分和康普顿散射基础成分的基础成分信息中的至少一组基础信息；根据至少一组基础信息和探测到的总强度来估算探测到的X射线的散射强度分量；及根据探测到的总强度和估算出的散射强度分量来获得入射到探测器上的初级X射线的强度估算值。本发明还公开了使用上述信号处理方法的成像系统。
技术研发人员：芮雪;吴明烨;金燕南;彼得·迈克尔·埃迪克;布鲁诺·克里斯蒂安·伯纳德·德曼
受保护的技术使用者：通用电气公司
技术研发日：2016.02.01
技术公布日：2017.08.08