眼科装置的制作方法

本发明涉及一种眼科装置。

背景技术：

1、众所周知能够对被检眼执行多个检查、测定的眼科装置。对被检眼的检查、测定包括自觉检查、他觉测定。在自觉检查中，基于来自被检者的应答来得到结果。在他觉测定中，并不参照来自被检者的应答，主要使用物理性方法来获取关于被检眼的信息。

2、例如，在专利文献1中公开了能够进行自觉检查、他觉测定的眼科装置。在该眼科装置中，作为他觉测定，能够进行屈光力测定、角膜形状测定以及使用光学相干断层成像的拍摄、计测。该眼科装置具备左右眼通用的光学系统，使用该光学系统能够对左右眼的一个执行自觉检查、他觉测定。

3、另外，例如，在专利文献2中公开了一种能够一边对左右眼分别独立地提示固视视标，一边使用一个光学系统对左右眼的一个执行屈光力测定的眼科装置。

4、与此相对，例如，在专利文献3中公开了以下一种具备在左右眼独立地设置的两个光学系统，并能够使用两个光学系统对左右眼同时执行屈光力测定和角膜形状测定的眼科装置。

5、另外，例如，在专利文献4中公开了一种能够同时获取左右眼的哈特曼像并同时测定左右眼的波前像差的眼科装置。

6、专利文献1：日本特开2016-187461号公报

7、专利文献2：日本特开平06-304139号公报

8、专利文献3：日本特开2019-062939号公报

9、专利文献4：美国专利第8506079号说明书

技术实现思路

1、然而，专利文献1和专利文献2所公开的结构具有分别测定左右眼的一个的结构，无法在双眼睁开状态下测定双眼的特性。与此相对，在专利文献3所公开的结构中，能够在双眼睁开状态下同时测定双眼，但是招致装置的大型化、成本高。另外，专利文献4所公开的结构具有在进行波前像差测定以外的测定的情况下招致装置的大型化，或者在进行波前像差测定以外的测定时无法在优选状态下进行测定而招致测定精度下降。

2、本发明是鉴于这种情形而完成的，其目的之一是提供一种低成本且节省空间并能够高精度地测定双眼的特性的新技术。

3、实施方式的一个方式是一种眼科装置，包括：物镜，使彼此分离配置的第一测定光轴和第二测定光轴通过；oct光学系统，将来自光源的光分割为测定光与参照光，并将所述测定光经由所述物镜投射到配置于所述第一测定光轴上的左被检眼或配置于所述第二测定光轴上的右被检眼，检测来自所述左被检眼或所述右被检眼的所述测定光的返回光与经由参照光路的所述参照光的干涉光；光轴调整部，调整所述oct光学系统的光轴；控制部，控制所述光轴调整部，以使得与所述第一测定光轴和所述第二测定光轴的任一个大致重合；以及眼内参数计算部，基于在所述oct光学系统的光轴调整为与所述第一测定光轴大致重合的状态下得到的所述干涉光的检测结果，计算所述左被检眼的眼内参数，基于在所述oct光学系统的光轴调整为与所述第二测定光轴大致重合的状态下得到的所述干涉光的检测结果，计算所述右被检眼的眼内参数。

4、根据本发明，能够提供一种低成本且节省空间并能够高精度地测定双眼的特性的新技术。

技术特征：

1.一种眼科装置，包括：

2.根据权利要求1所述的眼科装置，其特征在于，

3.根据权利要求1或2所述的眼科装置，其特征在于，

4.根据权利要求1或2所述的眼科装置，其特征在于，

5.根据权利要求1或2所述的眼科装置，其特征在于，

6.根据权利要求3所述的眼科装置，其特征在于，

7.根据权利要求3所述的眼科装置，其特征在于，

8.根据权利要求4所述的眼科装置，其特征在于，

9.根据权利要求4所述的眼科装置，其特征在于，

10.根据权利要求3所述的眼科装置，其特征在于，

11.根据权利要求3所述的眼科装置，其特征在于，

12.根据权利要求3所述的眼科装置，其特征在于，

13.根据权利要求1或2所述的眼科装置，其特征在于，

14.根据权利要求13所述的眼科装置，其特征在于，

15.根据权利要求1或2所述的眼科装置，其特征在于，

16.根据权利要求1或2所述的眼科装置，其特征在于，

17.根据权利要求1或2所述的眼科装置，其特征在于，

18.根据权利要求17所述的眼科装置，其特征在于，

19.根据权利要求17所述的眼科装置，其特征在于，

技术总结
本发明提供一种低成本且节省空间并至少能够高精度地测定双眼的特性的新技术。眼科装置包括物镜、OCT光学系统、光轴调整部、控制部以及眼内参数计算部。彼此分离配置的第一测定光轴和第二测定光轴通过物镜。OCT光学系统对将测定光配置于第一测定光轴上的左被检眼或配置于第二测定光轴上的右被检眼执行OCT。光轴调整部调整OCT光学系统的光轴。控制部控制光轴调整部，以使得与第一测定光轴和第二测定光轴的任一个大致重合。眼内参数计算部基于在OCT光学系统的光轴调整为与第一测定光轴或第二测定光轴大致重合的状态下得到的干涉光的检测结果，计算左被检眼或右被检眼的眼内参数。

技术研发人员：广原阳子
受保护的技术使用者：株式会社拓普康
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13