一种原子荧光采样针清洗装置制造方法
【专利摘要】本发明提供了一种原子荧光采样针清洗装置，属于采样针清洗装置【技术领域】。本发明要解决采样针吸取样品后直接吸取载流，可能造成载流的污染，影响实验结果的准确性，测试精度较低的问题。本发明所述连通管的一端与载流槽的下部相连通，连通管的另一端与清洗槽的下部相连通，所述第一溢出管的一端与清洗槽的上部相连通，第一溢出管的另一端与废液槽的上部相连通，第二溢出管的一端与载流槽的上部相连通，第二溢出管的另一端与废液槽的上部相连通。本发明的有益效果：本发明消除了现有原子荧光光谱仪自动进样方式的技术缺陷，采用新型的采样针清洗装置，结构简单，运行可靠，提高了测试结果的准确性和测试精度。
【专利说明】一种原子荧光采样针清洗装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种原子荧光采样针清洗装置，属于采样针清洗装置【技术领域】。
【背景技术】
[0002]现有技术中，光谱类分析仪器被广泛应用于元素的定量测定。原子荧光光度计是一种常见的光谱类分析仪器。原子荧光光度计测试过程的基本工作原理是:测试样品的各元素经反应形成相应的氢化物，与氢气和载气混合，进入原子化器实现原子化后，在激发光源的照射下发出特定波长原子荧光信号，检测器接收此荧光信号并根据此荧光信号强度与元素浓度成正比的特性来获得元素的浓度数据。
[0003]目前，大部分原子荧光光度计具有自动稀释、自动进样功能。传统的自动进样运行方式是自动进样器的采样针移动到样品位吸取待测样品，然后采样针移动到载流位吸取载流推动样品进入反应器。采样针吸取样品后直接吸取载流，可能造成载流的污染，影响实验结果的准确性，测试精度较低。
【发明内容】
[0004]本发明的目的是为了解决上述现有技术存在的问题，即采样针吸取样品后直接吸取载流，可能造成载流的污染，影响实验结果的准确性，测试精度较低。进而提供一种原子荧光采样针清洗装置。
[0005]本发明的目的是通过以下技术方案实现的:
一种原子荧光采样针清洗装置，包括:载流槽、连通管、清洗槽、第一溢出管、第二溢出管和废液槽，所述连通管的一端与载流槽的下部相连通，连通管的另一端与清洗槽的下部相连通，所述第一溢出管的一端与清洗槽的上部相连通，第一溢出管的另一端与废液槽的上部相连通，第二溢出管的一端与载流槽的上部相连通，第二溢出管的另一端与废液槽的上部相连通，所述载流槽上设有一个补充载流端口 ；所述清洗槽上设有一个废液排放端口；所述废液槽上设有一个废液排放端口。
[0006]本发明的有益效果:本发明消除了现有原子荧光光谱仪自动进样方式的技术缺陷，采用新型的采样针清洗装置，结构简单，运行可靠，提高了测试结果的准确性和测试精度。
[0007]【专利附图】
【附图说明】
[0008]图1为本发明原子荧光采样针清洗装置的结构示意图。
[0009]【具体实施方式】
[0010]下面将结合附图对本发明做进一步的详细说明:本实施例在以本发明技术方案为前提下进行实施，给出了详细的实施方式，但本发明的保护范围不限于下述实施例。
[0011]如图1所示，本实施例所涉及的一种原子荧光采样针清洗装置，包括:载流槽1、连通管2、清洗槽3、第一溢出管4、第二溢出管5和废液槽6，所述连通管2的一端与载流槽I的下部相连通，连通管2的另一端与清洗槽3的下部相连通，所述第一溢出管4的一端与清洗槽3的上部相连通，第一溢出管4的另一端与废液槽6的上部相连通，第二溢出管5的一端与载流槽I的上部相连通，第二溢出管5的另一端与废液槽6的上部相连通，所述载流槽I上设有一个补充载流端口 7;所述清洗槽3上设有一个废液排放端口 8;所述废液槽6上设有一个废液排放端口 9。
[0012]所述第一溢出管4和第二溢出管5同在一个水平高度上。
[0013]所述连通管2水平放置。
[0014]本发明的工作流程:
第一步，自动进样器的采样针移动到样品位吸取待测样品；
第二步，采样针移动到清洗槽清洗外壁；清洗结束后，清洗槽中的载流液通过废液排放端排出，同时，载流槽通过连通管向清洗槽不断补充新鲜载流液；
第三步，采样针移动到载流槽吸取载流推动样品进入反应器。同时，通过补充载流端不断补充新鲜载流液。
[0015]当载流槽和清洗槽中的载流液过多时，分别通过第一溢出管和第二溢出管进入废液槽，废液槽中的载流液从废液排放端口排出。
[0016]以上所述，仅为本发明较佳的【具体实施方式】，这些【具体实施方式】都是基于本发明整体构思下的不同实现方式，而且本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本【技术领域】的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求书的保护范围为准。
【权利要求】
1.一种原子荧光采样针清洗装置，其特征在于，包括载流槽(I)、连通管(2)、清洗槽(3)、第一溢出管(4)、第二溢出管(5)和废液槽(6)，所述连通管(2)的一端与载流槽(I)的下部相连通，连通管(2)的另一端与清洗槽(3)的下部相连通，所述第一溢出管(4)的一端与清洗槽(3)的上部相连通，第一溢出管(4)的另一端与废液槽(6)的上部相连通，第二溢出管(5)的一端与载流槽(I)的上部相连通，第二溢出管(5)的另一端与废液槽(6)的上部相连通，所述载流槽(I)上设有一个补充载流端口(7);所述清洗槽(3)上设有一个废液排放端口(8);所述废液槽(6)上设有一个废液排放端口(9)。
2.根据权利要求1所述的原子荧光采样针清洗装置，其特征在于，所述第一溢出管(4)和第二溢出管(5)同在一个水平高度上。
3.根据权利要求1所述的原子荧光采样针清洗装置，其特征在于，所述连通管(2)水平放置。
【文档编号】B08B9/02GK103592223SQ201310232104
【公开日】2014年2月19日 申请日期:2013年6月9日 优先权日:2013年6月9日
【发明者】宗林茂 申请人:北京锐光仪器有限公司