一种改进的射频前端组件测试工装的制作方法

文档序号:28407936发布日期:2022-01-08 02:08阅读:109来源:国知局
一种改进的射频前端组件测试工装的制作方法

1.本实用新型涉及射频前端组件测试技术领域,具体地来说,涉及一种改进的射频前端组件测试工装。


背景技术:

2.射频前端组件在现代雷达如有源相控阵雷达领域中应用广泛,是构成有源相控阵雷达天线的基础,射频前端组件的性能指标尤其是电参数指标直接影响到雷达系统相应的整机指标。目前,基于射频前端组件的结构小型化与一致性的要求,射频前端组件越来越多地采用了sip以及板卡级二次组装,其接口方式对射频前端组件的测试性设计提出了更苛刻的要求,同时为提高生产效率,对于测试的快捷性、方便性也提出了更高的要求。
3.现有的射频前端组件测试工装大多结构繁琐,装配复杂,且测试快捷性、方便性不佳,同时无法满足不同接口形式的射频前端组件的测试需求。
4.中国授权专利公告号cn204462378u,公告日2015年7月8日,公开一种微波收发组件测试工装,文中提出“包括底座、公共口支架、天线口支架、盖板、第一微波转接器、第二微波转接器、第三微波转接器,所述公共口支架固定于所述底座的第一侧,所述天线口支架固定于所述底座的第二侧,所述第一微波转接器通过所述公共口支架上设置的孔连接至所述微波收发组件的公共口,所述第二微波转接器和所述第三微波转接器分别通过所述天线口支架上设置的两个孔连接至所述微波收发组件的第一天线口和第二天线口”。该现有技术中的微波转接器的位置完全固定,测试的快捷性和方便性一般,同时也解决不了不同接口形式对测试工装的测试需求,尤其是插针形式的接口对测试工装的测试需求的技术问题。


技术实现要素:

5.本实用新型的目的在于提供一种改进的射频前端组件测试工装,以解决上述背景技术中提出的现有测试工装,其测试的快捷性和方便性一般,同时也无法满足不同接口形式的射频前端组件的测试需求,尤其是插针形式的接口对测试工装的测试需求的技术问题。
6.为实现上述目的,本实用新型采取以下技术方案:
7.一种改进的射频前端组件测试工装,包括底座,所述底座的上方两侧对称设有凹槽,所述凹槽内均螺纹连接有接口机构,两个所述接口机构之间形成有卡槽,所述卡槽的四角均分别设置有螺纹孔ⅳ,所述螺纹孔ⅳ用于螺纹连接待测试射频前端组件,所述接口机构包括滑动连接在凹槽内的支架、以及螺纹固定在支架上的测试电缆组件,所述测试电缆组件包括用于连接外部测试设备的sma连接器、用于连接射频前端组件的孔式连接器、以及连接在sma连接器和孔式连接器之间的同轴电缆,所述孔式连接器配合射频前端组件的绝缘针使用,所述同轴电缆的两端端部分别与sma连接器和孔式连接器电信号连通;所述凹槽的中间位置均分别左右对称设置有两个螺纹孔ⅰ,所述支架上设置有螺纹孔ⅰ相配合的通孔槽,所述通孔槽位于螺纹孔ⅰ的正上方,所述通孔槽内分别穿设有螺钉ⅰ,两个所述螺钉ⅰ分
别竖直穿过通孔槽连接至螺纹孔ⅰ中,所述支架通过螺钉ⅰ和通孔槽沿凹槽的长度方向滑移。
8.其中,所述接口机构还包括压块,所述压块上左右对称设置有两个通孔ⅰ,所述通孔ⅰ内分别穿设有螺钉ⅱ,同一所述支架的两个通孔槽之间设置有安装槽,所述安装槽用于放置测试电缆组件,所述安装槽靠近卡槽一端的左右两侧对称设置有螺纹孔ⅱ,两个所述螺钉ⅱ分别竖直穿过通孔ⅰ连接至螺纹孔ⅱ中,所述sma连接器与同轴电缆之间设置有安装板,所述sma连接器与安装板为一体式设置,所述安装板与同轴电缆呈t型结构,所述安装板上左右对称设置有两个通孔ⅱ,所述通孔ⅱ内分别穿设有螺钉ⅲ,所述支架远离螺纹孔ⅱ一端的端部左右对称设置有两个螺纹孔ⅲ,两个所述螺钉ⅲ分别径向穿过通孔ⅱ连接至螺纹孔ⅲ中,各部件以螺纹连接的方式进行装配,装配迅速,有助于提高测试效率。
9.与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
10.1.本实用新型中测试电缆组件由sma连接器和孔式连接器组成,可以满足不同接口形式对测试工装的测试需求,尤其是插针(如绝缘子针)形式的射频接口对测试性的要求;同时,通过滑动连接在凹槽内的支架的配合,测试电缆组件的位置可以根据测试需要进行前后移动,保证了测试的快捷性和方便性;
11.2.本实用新型的各个部分均分别通过螺钉、螺纹孔、以及通孔以螺纹连接的方式进行装配,装配工艺简单,可靠性高、插损小、成本低,并且在各种环境条件下均可以对射频前端组件进行测试,可以满足射频前端组件批量化生产的需求;
12.3.本实用新型的测试电缆组件安装时利用安装板和压板在支架的两侧配合固定,进一步保证了测试电缆组件乃至整个测试工装的安装稳定性和测试可靠性。
附图说明
13.图1为本实用新型的俯视图;
14.图2为本实用新型的主视图;
15.图3为本实用新型的左视图;
16.图4为本实用新型底座的俯视图;
17.图5为本实用新型底座的主视图;
18.图6为本实用新型底座的左视图;
19.图7为本实用新型接口机构的俯视图;
20.图8为本实用新型接口机构的主视图;
21.图9为本实用新型接口机构的左视图;
22.图10为本实用新型支架的俯视图;
23.图11为本实用新型支架的主视图;
24.图12为本实用新型支架的左视图;
25.图13为本实用新型测试电缆组件的俯视图;
26.图14为本实用新型测试电缆组件的左视图;
27.图15为本实用新型压块的俯视图;
28.图16为本实用新型压块的主视图;
29.图17为本实用新型压块的右视图。
30.图中:1、底座,2、凹槽,3、卡槽,4、支架,5、测试电缆组件,501、sma连接器, 502、安装板,503、同轴电缆,504、孔式连接器,6、压块,7、螺纹孔ⅰ,8、通孔槽,9、螺钉ⅰ,10、通孔ⅰ,11、螺钉ⅱ,12、安装槽,13、螺纹孔ⅱ,14、通孔ⅱ,15、螺钉ⅲ,16、螺纹孔ⅲ,17、螺纹孔ⅳ,18、安装槽。
具体实施方式
31.下面结合附图和具体实施实例,对本实用新型做进一步详细说明。
32.请参照图1~17,其示出一种改进的射频前端组件测试工装,包括底座1,底座1的上方两侧对称设有凹槽2,凹槽2内均分别螺纹连接有接口机构,接口机构之间形成有卡槽3,接口机构由支架4、测试电缆组件5和压块6组成;凹槽2的中间位置均分别左右对称设置有两个螺纹孔ⅰ7,支架4上设置有螺纹孔ⅰ7相配合的两个通孔槽8,通孔槽8位于螺纹孔ⅰ7的正上方,通孔槽8内分别穿设有螺钉ⅰ9,两个螺钉ⅰ9分别竖直穿过通孔槽8连接至螺纹孔ⅰ7中,从而将两个支架4分别滑动连接于底座1的两个凹槽2内;测试电缆组件5由sma连接器501、安装板502、同轴电缆503、以及孔式连接器504组成,同轴电缆503的两端端部分别与sma连接器501和孔式连接器504电信号连通,sma连接器501用于连接外部测试系统,孔式连接器504用于连接射频前端组件的插针式接口,安装板502与sma连接器501为一体式设置且位于sma连接器501与同轴电缆503之间,同轴电缆503与安装板502呈t型结构。
33.其中,测试电缆组件5设置于支架4和压块6之间,压块6上左右对称设置有两个通孔ⅰ10,通孔ⅰ10内分别穿设有螺钉ⅱ11,同一支架4的两个通孔槽8之间均设置有一与测试电缆组件5相配合的安装槽18,安装槽18靠近卡槽3一端的左右两侧对称设置有螺纹孔ⅱ13,两个螺钉ⅱ11分别竖直穿过通孔ⅰ10连接至螺纹孔ⅱ13中,从而将测试电缆组件5的一端固定在支架4上;同时,安装板502上左右对称设置有两个通孔ⅱ14,通孔ⅱ14内分别穿设有螺钉ⅲ15,支架4远离螺纹孔ⅱ13一端的端部左右对称设置有两个螺纹孔ⅲ16,两个螺钉ⅲ15分别径向穿过通孔ⅱ14连接至螺纹孔ⅲ16中,从而将测试电缆组件5的另外一端固定在支架4上;此外,卡槽3的四角均分别设置有与待测试射频前端组件相配合的螺纹孔ⅳ17。
34.工作时,首先利用螺钉ⅰ9、螺钉ⅱ11和螺钉ⅲ15将工装装配完成,然后利用sma连接器501连接外部测试系统,利用孔式连接器504连接射频前端组件的绝缘子针后,开始进行测试。
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