专利名称：用于显示板的显示检验方法和显示检验装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种显示检验方法等，用于检验以矩阵形式排列显示单元构成的显示板的电极断路，以及一种显示检验方法等，用于检验电极之间的短路。
背景技术：
作为传统的用于检验以矩阵形式排列显示单元构成的等离子体显示板中的电极断路的方法，通常是采用全表面显示模式，将显示模式作为图像数据，并使用图像分析来检测故障。如果图1A或图2A中所示的等离子体显示板30的电极中出现了断路，则在这条显示线上就出现了一个不发光的部分。因此，通过将有断路的显示线的灰度与分别位于此显示线上边和下边的两个相邻像素的灰度相比较，或者将有断路的显示线的灰度与分别位于此显示线的左边和右边的两个相邻像素的灰度相比较，就可以轻易地提取出这个线的故障。
已知的显示板包括有许多行电极，在垂直于行电极的方向上排列的许多列电极，和形成在行电极与列电极的交叉点处的R(红)，G(绿)，B(蓝)颜色的显示单元。在这种显示板中，当检测相邻电极间的短路时，单色模式(R，G或B模式)被显示在整个显示板上。这种情况下，如果相邻电极之间存在短路则另一种颜色的显示单元就会发光。从而可以检测电极间的短路。
如果有断路的显示线出现在图1B所示的显示区的顶端部分或底端部分，或者出现在图2B所示的显示区的左端部分或右端部分，则由断路引起的线故障部分的灰度与显示区外部的灰度基本相同，从而使用上述的方法就很难检测出该断路。另一方面，如果要比较线故障部分的灰度和显示区中一个相邻像素的灰度，就必须严格保证显示区中的水平状态，而不允许显示区中存在扭曲。因此很难采用这种方法。
发明内容
本发明的目的是提供一种用于显示板的显示检验方法和显示检验装置，能够可靠地检测显示区中上端部分或下端部分中的线故障，或是显示区中左端部分或右端部分中的线故障。
有一种其列电极在显示板的垂直方向上被划分的显示板类型。在这种类型的显示板中，图3所示的在垂直方向上划分的列电极组101和102中列电极之间的短路会引起妨碍正常显示的线故障。在上述的在整个显示板上采用单色模式显示的检测方法的情况下，在上部和下部列电极之间的短路并不会影响显示。因此在上部和下部列电极之间的短路不能被检测出来。
本发明的另一个目的是提供一种用于显示板的显示检验方法，和一种显示检验装置，能够检测出现的上部和下部列电极之间的短路从而把它们相互分离开。
此外，在等离子体显示板的相邻行电极之间出现短路的情况下，会导致整个表面显示板中不出现暗线的问题，从而行电极之间的短路不能被检测出来。
本发明的另一个目的是提供一种用于显示板的显示检验方法，和一种显示检验装置，能够可靠地检测出行电极之间的短路。
本发明的上述目的可通过一种对显示板的显示检验方法来实现，该方法用于检验显示板中的线故障，该显示板包括多个行电极和以垂直于行电极的方向排列的多个列电极，以在行电极和列电极交叉点处形成显示单元，该显示板通过控制显示区域中以矩阵形式排列的显示单元的光发射而显示图像，该显示检验方法包括以下处理使位于显示区域中顶端或底端的显示单元行发光；利用图像传感器检测发光的显示单元，位于发光显示单元附近并位于显示区域中且不发光的显示单元，以及位于显示区域之外的部分，并输出一个视频信号；根据输出的视频信号，检测对应于顶端或底端的发光单元行的在行方向上的亮线的数目和长度；当亮线的数目和长度小于预定值时，判断对应于显示单元行的行电极中出现断路。
本发明的上述目的可通过一种对显示板的显示检验方法来实现，该方法用于检验显示板中的线故障，该显示板包括多个行电极和以垂直于行电极的方向排列的多个列电极，以在行电极和列电极交叉点处形成显示单元，该显示板通过控制显示区域中以矩阵形式排列的显示单元的光发射而显示图像，该显示检验方法包括以下处理使位于显示区域中左端或右端的显示单元列发光；利用图像传感器检测发光的显示单元，位于发光显示单元附近并位于显示区域中且不发光的显示单元，以及位于显示区域之外的部分，并输出一个视频信号；根据输出的视频信号，检测对应于左端或右端的发光单元列的在列方向上的亮线的数目和长度；当亮线的数目和长度小于预定值时，判断对应于显示单元列的列电极中出现断路。
本发明的上述目的可通过一种对显示板的显示检验方法来实现，该方法用于检验显示板中的线故障，该显示板包括多个行电极和以垂直于行电极的方向排列的多个列电极，以在行电极和列电极交叉点处形成显示单元，显示单元在行方向上排列从而它们发光的颜色是三种颜色且彼此不同并形成一个像素，发射相同颜色光的显示单元被排列在一个列方向上，该显示板通过控制显示区域中以矩阵形式排列的显示单元的光发射而显示图像，该显示检验方法包括以下处理使位于显示区域中左端或右端的显示单元列发光；利用图像传感器检测发光的显示单元，位于发光显示单元附近并位于显示区域中且不发光的显示单元，以及位于显示区域之外的部分，并输出一个视频信号；根据输出的视频信号，检测对应于左端或右端的发光单元列的在列方向上的亮线的数目和长度；当亮线的数目和长度小于预定值时，判断对应于显示单元列的列电极中出现断路。
本发明的上述目的可通过一种对显示板的显示检验方法来实现，该方法用于检验显示板上在分开的列电极之间的线故障，该显示板包括多个行电极和以垂直于行电极的方向排列的多个列电极，以在行电极和列电极交叉点处形成显示单元，上述列电极在显示区域中以列方向被划分，当以一行为单位时，形成显示板以便可能在通过划分得到的分开的屏幕中同时地选择显示单元，该显示检验方法包括以下处理使通过划分得到的上部和下部分开的屏幕中的一个发射单色光；利用图像传感器检测作为不发光的分开的屏幕的上部或下部分开的屏幕中的另一个，并输出一个视频信号；根据输出的视频信号，检测对应于上部和下部分开的屏幕中的另一个中的显示单元列的在列方向上的亮线；判断对应于其上检测到亮线的显示单元列的分开的行电极之间出现电极短路。
本发明的上述目的可通过一种对显示板的显示检验方法来实现，该方法用于检验显示板中在分开的列电极之间的线故障，该显示板包括多个行电极和以垂直于行电极的方向排列的多个列电极，以在行电极和列电极交叉点处形成显示单元，显示单元在行方向上排列从而它们发光的颜色是三种颜色且彼此不同，并形成一个像素，发射相同颜色光的显示单元被排列在一个列方向上，上述列电极在显示区域中以列方向被划分，当以一行为单位时，形成显示板以便可能在通过划分得到的分开的屏幕中同时地选择显示单元，该显示检验方法包括以下处理使通过划分得到的上部和下部分开的屏幕中的一个发射单色光；利用图像传感器检测作为不发光的分开的屏幕的上部和下部分开屏幕中的另一个，并输出一个视频信号；根据输出的视频信号，检测对应于上部和下部分开屏幕中的另一个的显示单元列的在列方向上的亮线；判断对应于其上检测到亮线的显示单元列的分开的行电极之间出现电极短路。
本发明的上述目的可通过一种对显示板的显示检验方法来实现，该方法用于检验显示板中的线故障，该显示板包括多个行电极和以垂直于行电极的方向排列的多个列电极，以在行电极和列电极交叉点处形成显示单元，该显示板通过控制显示区域中以矩阵形式排列的显示单元的光发射而显示图像，该显示检验方法包括以下处理使显示区域中的显示单元以锯齿格形式发光；利用图像传感器检测显示区域中的显示单元，并输出一个视频信号；根据输出的视频信号检测行方向上的暗线；判断在对应于其上检测到暗线的显示单元行的行电极之间出现电极短路。
本发明的上述目的可通过一种用于显示板的显示检验装置来实现，该装置用于检验显示板中的线故障，该显示板包括多个行电极和以垂直于行电极的方向排列的多个列电极，以在行电极和列电极交叉点处形成显示单元，该显示板通过控制显示区域中以矩阵形式排列的显示单元的光发射而显示图像，该显示检验装置包括发光装置，用于使位于显示区域顶端或底端的显示单元行发光；图像传感器，用于检测发光的显示单元，位于发光显示单元附近并位于显示区域中且不发光的显示单元，以及位于显示区域之外的部分，并输出一个视频信号；和判断装置，用于根据从所述图像传感器输出的视频信号，检测对应于位于顶端或底端的发光单元行的在行方向上的亮线的数目和长度；当亮线的数目和长度小于预定值时，判断对应于显示单元行的行电极中出现断路。
本发明的上述目的可通过一种用于显示板的显示检验装置来实现，该装置用于检验显示板中的线故障，该显示板包括多个行电极和以垂直于行电极的方向排列的多个列电极，以在行电极和列电极交叉点处形成显示单元，该显示板通过控制显示区域中以矩阵形式排列的显示单元的光发射而显示图像，该显示检验装置包括发光装置，用于使位于显示区域左端或右端的显示单元列发光；图像传感器，用于利用图像传感器检测发光的显示单元，位于发光显示单元附近并位于显示区域中且不发光的显示单元，以及位于显示区域之外的部分，并输出一个视频信号；和判断装置，用于根据输出的视频信号，检测对应于位于左端或右端的发光单元列的在列方向上的亮线的数目和长度，当亮线的数目和长度小于预定值时，判断对应于显示单元列的列电极中出现断路。
本发明的上述目的可通过一种用于显示板的显示检验装置来实现，该装置用于检验显示板中的线故障，该显示板包括多个行电极和以垂直于行电极的方向排列的多个列电极，以在行电极和列电极交叉点处形成显示单元，显示单元在行方向上排列从而它们发光的颜色是三种颜色且彼此不同，并形成一个像素，发射相同颜色光的显示单元被排列在一个列方向上，该显示板通过控制显示区域中以矩阵形式排列的显示单元的光发射而显示图像，该显示检验装置包括发光装置，用于使位于显示区域左端或右端的显示单元列发光；图像传感器，用于利用图像传感器检测发光的显示单元，位于发光显示单元附近并位于显示区域中且不发光的显示单元，以及位于显示区域之外的部分，并输出一个视频信号；和判断装置，用于根据输出的视频信号，检测对应于位于左端或右端的发光单元列的在列方向上的亮线的数目和长度，当亮线的数目和长度小于预定值时，判断对应于显示单元列的列电极中出现断路。
本发明的上述目的可通过一种用于显示板的显示检验装置来实现，该装置用于检验显示板上在分开的列电极之间的线故障，该显示板包括多个行电极和以垂直于行电极的方向排列的多个列电极，以在行电极和列电极交叉点处形成显示单元，上述列电极在显示区域中以列方向被划分，当以一行为单位时，形成显示板以便可能在通过划分得到的分开屏幕中同时地选择显示单元，该显示检验装置包括发光装置，用于使通过划分得到的上部和下部分开屏幕中的一个发射单色光；图像传感器，用于利用图像传感器检测作为不发光的分开屏幕的上部和下部分开屏幕中的另一个，并输出一个视频信号；判断装置，用于根据输出的视频信号，检测对应于上部和下部分开屏幕中的另一个中的显示单元列的在列方向上的亮线，判断对应于其上检测到亮线的显示单元列的分开的行电极之间出现电极短路。
本发明的上述目的可通过一种用于显示板的显示检验装置来实现，该装置用于检验显示板上在分开的列电极之间的线故障，该显示板包括多个行电极和以垂直于行电极的方向排列的多个列电极，以在行电极和列电极交叉点处形成显示单元，显示单元在行方向上排列从而它们发光的颜色是三种颜色且彼此不同，并形成一个像素，发射相同颜色光的显示单元被排列在一个列方向上，上述列电极在显示区域中以列方向被划分，当以一行为单位时，形成显示板以便能够在通过划分得到的分开屏幕中同时地选择显示单元，该显示检验装置包括发光装置，用于使通过划分得到的上部和下部分开屏幕中的一个发射单色光；图像传感器，用于利用图像传感器检测作为不发光的分开屏幕的上部和下部分开屏幕中的另一个，并输出一个视频信号；判断装置，用于根据输出的视频信号，检测对应于上部和下部分开屏幕中的另一个中的显示单元列的在列方向上的亮线，判断对应于其上检测到亮线的显示单元列的分开行电极之间出现电极短路。
本发明的上述目的可通过一种用于显示板的显示检验装置来实现，该装置用于检验显示板中的线故障，该显示板包括多个行电极和以垂直于行电极的方向排列的多个列电极，以在行电极和列电极交叉点处形成显示单元，该显示板通过控制显示区域中以矩阵形式排列的显示单元的光发射而显示图像，该显示检验装置包括发光装置，用于使显示区域中的显示单元以锯齿格形式发光；图像传感器，用于利用图像传感器检测显示区域中的显示单元，并输出一个视频信号；判断装置，用于根据输出的视频信号检测行方向上的暗线，并判断在对应于其上检测到暗线的显示单元行的行电极之间出现电极短路。
图1A和1B是表示传统检验方法的方框图，图1A是表示中间部分有断路的方框图，图1B是表示端部有断路的方框图；
图2A和2B是表示传统检验方法的方框图，图2A是表示中间部分有断路的方框图，图2B是表示端部有断路的方框图；图3是表示传统的检验方法的方框图；图4是表示用于等离子体显示板的显示检验方法中使用的检验装置的结构方框图；图5是表示将被检验的等离子体显示板的电极排列的方框图；图6是表示一个场的结构的框图；图7是表示驱动脉冲的时序图；图8是表示等离子体显示板被平分为上下两部分区域的示例方框图；图9A，9B，9C，9D是表示根据是否存在断路而显示的各种发光模式的方框图，其中图9A是表示不存在断路的情况下的框图；图9B是表示在底端的显示单元行中存在断路的情况下的框图；图9C是表示在顶端和底端的显示单元行中分别存在断路的情况下的框图；图9D是表示在顶端和底端的显示单元行中分别存在断路的情况下的框图；图10是表示在检验时所进行的处理的流程图；图11A，11B，11C，11D是表示根据是否存在断路而显示的各种发光模式的方框图，其中图11A是表示不存在断路的情况下的框图；图11B，11C，11D是表示在右端在显示单元行中存在断路的情况下的框图；图12是表示在检验时所进行的处理的流程图；图13是表示将被检验的等离子体显示板的电极排列的方框图；图14A，14B，14C是表示根据列电极之间是否存在短路而显示的发光模式的方框图，其中图14A是表示列电极之间不存在短路的情况下的框图；图14B是表示列电极之间存在短路的情况下的框图，图14C是表示列电极之间的短路部分的框图；图15是表示在检验时所进行的处理的流程图；图16A和16B是表示行电极之间不存在短路的情况下发光模式的框图，其中图16A是表示是否每个单元都发光的框图；图16B是表示锯齿格型模式的框图；图17A，17B，17C是表示在行电极之间存在短路的情况下发光模式的方框图，其中图17A是表示整个显示区域的框图；图17B是表示图17A的一部分被放大的视图，图17C是表示行电极之间的短路部分的框图；及图18是表示在检验时所进行的处理的流程图。
具体实施例方式
(第一实施例)以下，将参照图4到10来说明根据本发明的显示板的显示检验方法的实施例。
图4是表示用于等离子体显示板的显示检验方法中使用的检验装置的结构方框图。图5是表示将被检验的等离子体显示板30的电极排列的方框图。
如图4所示，检验装置100包括一个检验机主体1，用于在检验的时候照亮等离子体显示板30，一个CCD摄像机2，用于获取等离子体显示板30显示表面的图像，一个图像处理装置3，用于接收从CCD摄像机2输出的视频信号，和一个控制装置4，用于控制检验机主体1，CCD摄像机2和图像处理装置3。图像处理装置3包括图像处理部分3a，用于执行图像处理以便分析以下所述的光发射模式，图像处理存储器3b，用于存储CCD摄像机2为每个R，G，B提供的图像数据，和图像处理对象存储器3c，用于暂时存储图像处理对象的数据。
如图5所示，检验机主体1包括，与等离子体显示板30的电极连接的地址驱动器11，X维持驱动器12，和Y维持驱动器13。
如图5所示，等离子体显示板30包括列电极D1r，D1g，D1b，D2r，D2g，D2b......Dmr，Dmg和Dmb，行电极X1到Xn和以垂直于列电极的方向排列的行电极Y1到Yn。如图5所示，所配置的列电极可以以所述的顺序重复地与R单元，G单元，B单元相关。在显示区域30a中，R单元，G单元，B单元被分别形成在列电极和行电极X1到Xn以及行电极Y1到Yn的交叉点处。如图5所示，连续形成的R单元，G单元，B单元被作为一个组，该组形成了一个像素。在显示区域30a之外还安排有外显示区域部分30b。
如图5所示，行电极X1到Xn和行电极Y1到Yn以梳状的形式被交替配置从而它们可以从互相相对的一侧延伸。行电极X1到Xn中的一个和行电极Y1到Yn中的一个被分配给一个显示单元行。在一个单元内，行电极X1到Xn和行电极Y1到Yn被平行地安排从而可以彼此相对。
如图5所示，列电极D1r，D1g，D1b，D2r......Dmb被连接到地址驱动器11，行电极X1到Xn被连接到X维持驱动器12，行电极Y1到Yn被连接到Y维持驱动器13。
以下将说明一种用于等离子体显示板30的驱动方法。
作为驱动等离子体显示板30的一个间隔的一个场由多个子场SF1到SFN而构成。如图6所示，在每个子场中都有用于选择将被照亮的单元的地址间隔和使在地址间隔内选择的单元继续被照亮一段预定时间的维持间隔。在第一子场SF1的头端部分还提供有复位间隔，用于复位前一个场中的照亮状态。在此复位间隔，所有的单元都被复位为照亮单元(其中形成壁电荷的单元)或复位为熄灭单元(put-outcell)(其中没有形成壁电荷的单元)。在前一种情况下，预定单元被切换为熄灭单元。在后一种情况下，预定的单元在随后的地址间隔中切换为照亮单元。维持间隔以子场SF1，SF2，...SFN的顺序被逐步地延长。通过改变继续被照亮的子场数目可以实现预定灰度显示。
如图7所示的每个子场的地址间隔中，地址扫描可以被逐线的进行。换言之，在扫描脉冲被施加到行电极Y1形成第一线的同时，数据脉冲DP1依据对应于第一线上的一单元的地址数据而被施加到列电极D1r，D1g，D1b，D2r...Dmb上。顺序的，在扫描脉冲被施加到行电极Y2形成第二线的同时，数据脉冲DP2依据对应于第二线上的一个单元的地址数据而被施加到列电极D1r，D1g，D1b，D2r...Dmb上。扫描脉冲和数据脉冲以相同方式被同时地施加到每个第三线和随后的线上的单元。最后，在扫描脉冲被施加到行电极Yn形成第n线的同时，数据脉冲DPn依据对应于第n线上的一个单元的地址数据而被施加到列电极D1r，D1g，D1b，D2r...Dmb上。在地址间隔中，预定的单元从照亮单元被切换到熄灭单元，或从熄灭单元被切换到照亮单元。
若地址扫描结束，则子场内的每个单元被设置为照亮单元或熄灭单元。在随后的维持间隔内，每当维持脉冲被施加时，只有照亮单元重复光发射。在维持间隔内，X维持脉冲和Y维持脉冲如图7所示以预定的时间被分别重复地施加到行电极X1到Xn和行电极Y1到Yn。在最后的子场SFN中，还包括一个清除间隔，提供用于将所有单元都设置为熄灭单元。
通过如上所述重复场，可实现在等离子体显示板30上使用动态画面的灰度表示。
图8示出了等离子体显示板被平分为上下两部分的一个例子，各个部分的电极也被相互分开。在这种情况下，在检验机主体中提供有与等离子体显示板31的电极相连的地址驱动器11a和11b，X维持驱动器12a和12b，Y维持驱动器13a和13b，如图8所示。
如图8所示，等离子体显示板31还包括列电极D1r，D1g，D1b，D2r，D2g，D2b...Dmr，Dmg和Dmb，以垂直于列电极的方向安排行电极X1到Xi和行电极Y1到Yi，显示板31还包括列电极DA1r，DA1g，DA1b，DA2r，DA2g，DA2b...DAmr，DAmg，DAmb，以垂直于列电极的方向安排行电极Xi+1到Xn和行电极Yi+1到Yn。各个列电极以所述的顺序被分配以便与R单元，G单元和B单元重复地相关联。R单元，G单元和B单元被分别形成在列电极和行电极X1到Xn以及行电极Y1到Yn的交叉点处。以与图5所示的情况相同的方式，被接连配置的R单元，G单元和B单元形成为一个组，该组形成了一个像素。
列电极D1r，D1g，D1b，D2r，D2g，D2b...Dmr，Dmg和Dmb被连接到地址驱动器11a。列电极DA1r，DA1g，DA1b，DA2r，DA2g，DA2b...DAmr，DAmg，DAmb被连接到地址驱动器11b。行电极X1到Xi被连接到X维持驱动器12a。行电极Y1到Yi被连接到Y维持驱动器13a。行电极Xi+1到Xn被连接到X维持驱动器12b。行电极Yi+1到Yn被连接到Y维持驱动器13b。
用于等离子体显示板31的驱动方法与上述等离子体显示板30的驱动方法相同。
以下将说明使用检验装置100而执行对等离子体显示板30的上下端的部分进行检验的步骤。对平分为上下部分的等离子体显示板31进行的检验也可以以相同的方式进行。
如图4所示，等离子体显示板30被设在检验机主体1中。在顶端的一个显示单元行和在底端的一个显示单元行，即，在等离子体显示板30的显示区域中共有两个显示单元行被用来发光。夹在这两些显示单元行之间的中间部分被用来显示黑屏(即，使其不发光)。执行这种模式的显示。图9A，9B，9C，9D表示根据是否存在断路而显示出的各种发光模式。图9A表示不存在断路的情况，且对应于顶端和底端的两个显示单元行有两个水平条的亮线。图9A所示的模式就是用于检测断路的检测模式。图9B表示在底端的显示单元行中存在断路的情况，且在底端的一个亮线其中间被打断了。图9C表示分别在顶端和底端的显示单元行都存在断路的情况，且顶端和底端的每个亮线其中间都被打断了。图9D表示分别在顶端和底端的显示单元行都存在断路的情况，且顶端没有亮线，而底端的亮线其中间被打断了。
等离子体显示板30的这种发光模式被CCD摄像机2记录(take-in)。图像处理装置3根据CCD摄像机2提供的图像数据而分析发光模式。
图10表示在检验时所执行的处理的流程图。图10所示的处理是根据控制装置4进行的控制而执行的。
在图10的步骤S1中，驱动脉冲通过检验机主体1被提供给等离子体显示板30从而显示上述的检测模式。结果，等离子体显示板30被照亮为，例如，如图9A到9D所示的发光模式。并且，断路数目的值被初始化为0。随后，发光模式的图像被CCD摄像机2记录(步骤S2)。被记录的图像的图像数据从CCD摄像机2被传送至图像处理装置3中的图像处理存储器3b中(步骤S3)。这里，三种颜色R，G，B的数据是分开传送的。
随后，从图像处理存储器3b中存储的图像数据中，包括位于等离子体显示板30顶端的显示单元行的一个区域被设为图像处理区域(步骤S4)。该区域被设置为包括位于上述显示单元行附近并位于显示区域中且不发光的显示单元(即，在黑显示区域中的显示单元)和位于显示区域之外的部分(即，位于显示单元行以上的部分)。随后，在预置区域中的图像数据被存储在图像处理对象存储器3c中(步骤S5)。
随后，根据图像处理对象存储器3c中存储的图像数据，执行从位于顶端的显示单元行中提取发光单元行的处理(步骤S6)。随后，判断位于顶端的发光单元行是否在对发光单元行的提取处理中已被提取。在肯定的判断情况下，处理进行到步骤S8。在否定的判断情况下，处理进行到步骤S10(步骤S7)。在步骤S8，所提取的发光单元行的长度与等离子体显示板30中显示区域的水平长度相比较。随后，判断是否存在水平长度小于等离子体显示板30上显示区域的水平长度的一发光单元行。如果判断存在这样一个发光单元行，则处理进行到步骤S10。若判断不存在这样一个发光单元行，则处理进行到步骤S11(步骤S9)。在步骤S10，行电极的断路数目增加1，处理进行到步骤S11。
从图像处理存储器3b中存储的图像数据中，包括位于等离子体显示板30底端的显示单元行的区域在步骤S11中被设置为图像处理区域。该区域被设置为包括不发光的、在显示区域中位于上述显示单元行附近的显示单元(即，黑显示区域中的显示单元)和位于显示区域之外的部分(即，位于显示单元行以上的部分)。随后，预置区域中的图像数据被存储在图像处理对象存储器3c中(步骤S12)。
随后，根据存储在图像处理对象存储器3c中的图像数据，执行从位于底端的显示单元行中提取发光单元行的处理(步骤S13)。随后，判断位于底端的发光单元行是否在发光单元行的提取处理中已被提取。在肯定的判断情况下，处理进行到步骤S15。在否定的判断情况下，处理进行到步骤S17(步骤S14)。在步骤S15，所提取的发光单元行的长度与等离子体显示板30中显示区域的水平长度相比较。随后，判断是否存在水平长度小于等离子体显示板30上显示区域的水平长度的一发光单元行。如果判断存在这样一个发光单元行，则处理进行到步骤S17。若判断不存在这样一个发光单元行，则处理结束。在步骤S17，行电极的断路数目增加1，然后处理结束。
这样，顶端的发光单元行在图10所示的处理中被提取(步骤S6)。若一发光单元行没有被提取(步骤S7中为否)，则断路的数目增加1(步骤S10)。发光单元行没有被提取的情况对应于顶端的显示单元行没有像图9D所示的那样被照亮的情况。这表示顶端的显示单元行存在一个断路。这种情况下，因此，断路数目增加1。若提取的发光单元行的长度小于等离子体显示板30上显示区域的水平长度(步骤S9中的“出现”)，则断路的数目增加1(步骤S10)。提取的发光单元行的长度小于显示区域的水平长度的情况对应于顶端的发光单元行如图9C所示的那样中间被打断的情况。这表示顶端的显示单元行存在一个断路。这种情况下，因此断路数目增加1。
并且，在图10所示的处理中，底端的发光单元行被提取(步骤S13)。若一发光单元行没有被提取(步骤S14中为否)，则断路的数目增加1(步骤S17)。发光单元行没有被提取的情况对应于底端的显示单元行没有被照亮的情况。这表示底端的显示单元行存在一个断路。这种情况下，断路数目增加1。若提取的发光单元行的长度小于等离子体显示板30上显示区域的水平长度(步骤S16中的“出现”)，则断路的数目增加1(步骤S17)。提取的发光单元行的长度小于显示区域的水平长度的情况对应于底端的发光单元行如图9B或图9D所示的那样中间被打断的情况。这表示底端的显示单元行存在一个断路。这种情况下，断路数目增加1。
例如，在图9A所示的显示模式情况下，顶端的发光单元行被提取(步骤S7中为是)且发光单元行的长度不小于等离子体显示板30上显示区域的水平长度(步骤S9中的“不出现”)。此外，底端的发光单元行被提取(步骤S14中为是)，且发光单元行的长度不小于等离子体显示板30上显示区域的水平长度(步骤S16中的“不出现”)。这种情况下，发现在顶端和底端的显示单元行中都不存在行电极断路。这样，图10所示的处理中所计数的断路数目变为0。
在图9B所示的显示模式情况下，顶端的发光单元行被提取(步骤S7中为是)且发光单元行的长度不小于等离子体显示板30上显示区域的水平长度(步骤S9中的“不出现”)。此外，底端的发光单元行被提取(步骤S14中为是)，但发光单元行的长度小于等离子体显示板30上显示区域的水平长度(步骤S16中的“出现”)。这种情况下，发现在顶端的显示单元行中不存在断路，但在底端的显示单元中存在行电极断路。这样，图10所示的处理中所计数的断路数目变为1。
例如，在图9C所示的显示模式情况下，顶端的发光单元行被提取(步骤S7中为是)但发光单元行的长度小于等离子体显示板30上显示区域的水平长度(步骤S9中的“出现”)。此外，底端的发光单元行被提取(步骤S14中为是)，但发光单元行的长度小于等离子体显示板30上显示区域的水平长度(步骤S16中的“出现”)。这种情况下，在顶端和底端的显示单元行中都发现存在行电极断路。这样，图10所示的处理中所计数的断路数目变为2。
在图9D所示的显示模式情况下，顶端的发光单元行没有被提取(步骤S7中为否)。此外，底端的发光单元行被提取(步骤S14中为是)，但发光单元行的长度小于等离子体显示板30上显示区域的水平长度(步骤S16中的“出现”)。这种情况下，在顶端和底端的显示单元行中都发现存在断路。这样，图10所示的处理中所计数的断路数目变为2。
在根据本实施例的对显示板的显示检验方法中，采用只照亮位于显示区域中顶端和底端的显示单元行的检测模式已在上面进行了描述。结果，从而有可能保证那些显示单元列和与那些显示单元列相邻的外显示区域之间的灰度差异。因此，就有可能可靠的执行关于位于顶端和底端的显示单元行是否存在电极断路的检测。
在上述实施例中，已描述了对位于顶端和底端的单个显示单元行进行检验的情况。然而，该实施例还可以应用于在顶端或底端的多个显示单元行(例如两个显示单元行)被同时检验的情况。这种情况下，可根据亮线的厚度而判断发光的显示单元行或存在断路的显示单元行的数目。
(第二实施例)如图4所示，等离子体显示板30被设置在检验机主体1中。在左端的一个显示单元列，在右端的一个显示单元列，即，在等离子体显示板30的显示区域中共有两个显示单元列被用来发光。夹在这两个显示单元列之间的中间部分被用来显示黑屏(即，使其不发光)。执行这种模式的显示。每个像素列包括三个相邻的显示单元列，即R，G，B显示单元列。
图11A，11B，11C，11D表示根据是否存在断路的各种发光模式。图11A表示不存在断路的情况，且在左端和右端中的每一端，对应于一个像素列具有由三个显示单元列(R，G，B)构成的一个亮线。在这种情况下，总共有6个显示单元列在左端和右端发光而不会有缺失部分。图11A所示的模式就是用于检测断路的检测模式。图11B表示在右端的显示单元列(R)中存在断路的情况，且包含在右端的一个亮线中的显示单元列(R)其中间被打断了。图11C表示在右端的显示单元列(R)中存在断路的情况，且包含在右端的亮线中的显示单元列(R)完全不发光。图11D表示在右端的显示单元列中存在断路的情况。在图11D的情况中，包含在右端的亮线中的显示单元列(R)的中间部分不发光，显示单元列(R)被分为了上下两个部分。
图12表示在检验时所执行的处理的流程图。图12所示的处理是根据控制装置4进行的控制而执行的。
在图12的步骤S21中，驱动脉冲通过检验机主体1被提供给等离子体显示板30从而显示上述的检测模式。结果，等离子体显示板30被照亮为，例如，如图11A到11D所示的发光模式。并且，断路数目的值被初始化为0。随后，发光模式的图像被CCD摄像机2记录(步骤S22)。被记录的图像的图像数据从CCD摄像机2被传送至图像处理装置3的图像处理存储器3b中(步骤S23)。这里，三种颜色R，G，B的数据是分开传送的。
随后，从图像处理存储器3b中存储的图像数据中，包括在等离子体显示板30左端的一个像素列(三个显示单元列)的一个区域被设为图像处理区域(步骤S24)。该区域被设置为包括位于上述显示像素列附近并位于显示区域中且不发光的显示单元(即，在黑显示区域中的显示单元)和位于显示区域之外的部分(即，位于显示单元列左侧的部分)。随后，在预置区域中的图像数据被存储在图像处理对象存储器3c中(步骤S25)。
随后，根据图像处理对象存储器3c中存储的图像数据，执行从位于左端的显示单元列中提取发光单元列(R)的处理(步骤S26)。随后，判断位于左端的发光单元列(R)是否在对发光单元列的提取处理中已被提取。在肯定的判断情况下，处理进行到步骤S28。在否定的判断情况下，处理进行到步骤S30(步骤S27)。在步骤S28，所提取的发光单元列(R)的长度与等离子体显示板30中显示区域的垂直长度相比较。随后，判断是否存在垂直长度小于等离子体显示板30上显示区域的垂直长度的一个发光单元列(R)。如果判断存在这样一个发光单元列(R)，则处理进行到步骤S30。若判断不存在这样一个发光单元列(R)，则处理进行到步骤S31(步骤S29)。在步骤S30，列电极的断路数目增加1，处理进行到步骤S31。
在步骤S31，判断在步骤S24到S30的处理对于形成位于左端的像素列的所有三个显示单元列(R，G，B)是否已结束。在否定的判断情况下，处理返回到步骤S24，其中步骤S24的处理以及随后的步骤对于下一个显示单元列(例如G)被重复执行。若步骤S31的判断为肯定，则处理进行到步骤S32。在对于各个颜色(R，G，B)的显示单元列步骤S24到S30的处理被执行之后，处理进行到步骤S32。
从图像处理存储器3b中存储的图像数据中，包括位于等离子体显示板30右端的像素列(三个显示单元列)的一个区域被设置为图像处理区域(步骤S32)。该区域被设置为包括位于上述显示像素列附近并位于显示区域中且不发光的显示单元(即，黑显示区域中的显示单元)和位于显示区域之外的部分(即，位于显示单元列右侧的部分)。随后，预置区域中的图像数据被存储在图像处理对象存储器3c中(步骤S33)。
随后，根据存储在图像处理对象存储器3c中的图像数据，执行从位于右端的显示单元列中提取发光单元列(R)的处理(步骤S34)。随后，判断位于右端的发光单元列(R)是否在发光单元列的提取处理中已被提取。在肯定的判断情况下，处理进行到步骤S36。在否定的判断情况下，处理进行到步骤S38(步骤S35)。在步骤S36，所提取的发光单元列(R)的长度与等离子体显示板30上显示区域的垂直长度相比较。随后，判断是否存在垂直长度小于等离子体显示板30上显示区域的垂直长度的一个发光单元列(R)。如果判断存在这样一个发光单元列(R)，则处理进行到步骤S38。若判断不存在这样一个发光单元列(R)，则处理进行到步骤S39(步骤S37)。在步骤S38，列电极的断路数目增加1，然后处理进行到步骤S39。
在步骤S39，判断在步骤S32到S38的处理对于形成位于右端的像素列的所有三个显示单元列(R，G，B)是否已结束。在否定的判断情况下，处理返回到步骤S32，其中步骤S32的处理以及随后的步骤对于下一个显示单元列(例如G)被重复执行。若步骤S39的判断为肯定，则处理结束。在对于各个颜色(R，G，B)的显示单元列步骤S24到S30的处理被执行之后，处理结束。
如上所述，左端的发光单元列在图12所示的处理中被提取(步骤S26)。若一发光单元列没有被提取(步骤S27中为否)，则断路的数目增加1(步骤S30)。发光单元列没有被提取的情况对应于显示单元列(这里，指右端的显示单元列)没有像图11C所示的那样被照亮的情况。这表示左端的显示单元列存在一断路。这种情况下，断路数目增加1。若提取的发光单元列的长度小于等离子体显示板30上显示区域的垂直长度(步骤S29中的“出现”)，则断路的数目增加1(步骤S30)。提取的发光单元列的长度小于显示区域的垂直长度的情况对应于发光单元列(这里，指右端的发光单元列)如图11B和11D所示的那样中间被打断的情况。这表示左端的显示单元列存在一断路。这种情况下，断路数目增加1。
并且，在图12所示的处理中，右端的发光单元列被提取(步骤S34)。若一发光单元列没有被提取(步骤S35中为否)，则断路的数目增加1(步骤S38)。发光单元列没有被提取的情况对应于右端的显示单元列没有被照亮的情况。这表示右端的显示单元列存在一断路。这种情况下，断路数目增加1。若提取的发光单元列的长度小于等离子体显示板30上显示区域的垂直长度(步骤S37中的“出现”)，则断路的数目增加1(步骤S38)。提取的发光单元列的长度小于显示区域的垂直长度的情况对应于右端的发光单元列中间被打断的情况。这表示右端的显示单元列存在一断路。这种情况下，断路数目增加1。
例如，在图11A所示的发光模式情况下，左端的所有三个发光单元列都被提取(步骤S27中为是)且发光单元列的长度不小于等离子体显示板30上显示区域的垂直长度(步骤S29中的“不出现”)。此外，右端的所有三个发光单元列都被提取(步骤S35中为是)，且发光单元列的长度不小于等离子体显示板30上显示区域的垂直长度(步骤S37中的“不出现”)。这种情况下，发现在左端和右端的显示单元列中都没有列电极断路。这样，图12所示的处理中所计数的断路数目变为0。
在图11B所示的发光模式情况下，左端的所有三个发光单元列都被提取(步骤S27中为是)且发光单元列的长度不小于等离子体显示板30上显示区域的垂直长度(步骤S29中的“不出现”)。此外，右端的所有三个发光单元列都被提取(步骤S35中为是)，但它们之中发光单元列(R)的长度小于等离子体显示板30上显示区域的垂直长度(步骤S37中的“出现”)。这种情况下，发现在左端的显示单元列中没有断路，但在右端的显示单元列(R)中发现存在列电极断路。这样，图12所示的处理中所计数的断路数目变为1。
例如，在图11C所示的发光模式情况下，左端的所有三个发光单元列都被提取(步骤S27中为是)且发光单元列的长度不小于等离子体显示板30上显示区域的垂直长度(步骤S29中的“不出现”)。此外，右端的发光单元列中的发光单元列(R)没有被提取(步骤S35中为否)。对于右端的另外两个发光单元列(G和B)，步骤S35中的判断为“是”且步骤S37中的判断为“不出现”。这种情况下，发现在左端的显示单元列中没有断路，但在右端的显示单元列(R)中发现存在列电极断路。这样，图12所示的处理中所计数的断路数目变为1。
在图11D所示的发光模式情况下，左端的所有三个发光单元列都被提取(步骤S27中为是)，且发光单元列的长度不小于等离子体显示板30上显示区域的垂直长度(步骤S29中为“不出现”)。此外，右端的所有三个发光单元列都被提取(步骤S35中为是)，但发光单元列(R)的长度小于等离子体显示板30上显示区域的垂直长度(步骤S37中的“出现”)。这种情况下，发现在左端的显示单元列中没有断路，但在右端的显示单元列(R)中发现存在断路。这样，图12所示的处理中所计数的断路数目变为1。
在根据本实施例的对显示板的显示检验方法中，采用只照亮位于显示区域中左端和右端的显示单元列的检测模式已在上面进列了描述。结果，从而有可能保证那些显示单元列和与那些显示单元列相邻的外显示区域之间的灰度差异。因此，就有可能可靠的执行对于位于左端和右端的显示单元列是否存在电极断路的检测。
在上述实施例中，已描述了对形成位于左端或右端的一个像素列的多个显示单元列(三个显示单元列)进行检验的情况。然而，该实施例还可以被应用于，例如单色显示板被检验和位于左端或右端的一个显示单元列被检验的情况。
(第三实施例)如图13所示，在检验机主体1中提供有与等离子体显示板31的电极相连的地址驱动器11a和11b，X维持驱动器12a和12b，Y维持驱动器13a和13b。
如图13所示，等离子体显示板31被平分为上下两个部分，各个部分的电极也被相互分开。如图13所示，等离子体显示板31的上部分包括列电极D1r，D1g，D1b，D2r，D2g，D2b...Dmr，Dmg和Dmb，行电极X1到Xi和行电极Y1到Yi。列电极D1r到Dmb被连接到地址驱动器11a。行电极X1到Xi被连接到X维持驱动器12a。行电极Y1到Yi被连接到Y维持驱动器13a。
等离子体显示板31的下部分包括列电极DA1r，DA1g，DA1b，DA2r，DA2g，DA2b...DAmr，DAmg和DAmb，行电极Xi+1到Xn和行电极Yi+1到Yn。列电极DA1r到DAmb被连接到地址驱动器11b。行电极Xi+1到Xn被连接到X维持驱动器12b。行电极Yi+1到Yn被连接到Y维持驱动器13b。
如图13所示，列电极以所述的顺序被分配为重复地与R单元，G单元和B单元相关联。在显示区域41中，R单元，G单元和B单元被分别形成在列电极和行电极X1到Xn以及行电极Y1到Yn的交叉点处。如图13所示，连续配置的R单元，G单元和B单元被处理为一个组，该组形成了一个像素。在显示区域41之外提供有外显示区域部分47。
如图13所示，行电极X1到Xn和行电极Y1到Yn以梳状的形式被交替安排从而它们可以从相互相对的侧延伸。行电极X1到Xn中的一个和行电极Y1到Yn中的一个被分配在一个显示单元行。在一个单元内，行电极X1到Xn和行电极Y1到Yn被平行地安排从而可以彼此相对。
在显示区域41的中间部分，列电极D1r到Dmb和列电极DA1r到DAmb在垂直方向上被分开。以下将进一步说明列电极的排列。
以下将说明利用检验装置100执行在等离子体显示板31的列电极之间检验短路的情况下的步骤。
如图4所示，在检验时等离子体显示板31被设置在检验机主体1内，使等离子体显示板31的显示区域41的上部分和下部分中的一个全部发射单色光(例如，R色)。此时，使另一个部分全部显示黑屏(即，使其不发光)。
图14A，14B和14C表示根据在列电极之间是否存在短路的发光模式。图14A表示在列电极之间不存在短路时的情况，且使显示区域41的上部分42作为整体发射单色光。此时，在下部分43中没有发光单元。图14A所示的模式就是用于检测列电极之间的短路的检测模式。图14B表示在列电极之间存在短路的情况下的发光模式。图14C表示在列电极之间的短路部分的示图。在上部分中的列电极组101的一列电极和下部分的列电极组102中的一列电极之间的短路部分103在图14C中被示出。若列电极之间存在这样一个短路，则上部分42中的列电极和下部分43中的列电极通过这个短路部分103被相互连接。沿着与列电极组101中的列电极相连的列电极组102的中列电极的一条线(亮线)104上的一单元发光。结果，就有可能检测列电极之间的短路。
在等离子体显示板31中的这样一个发光模式被CCD摄像机2记录。图像处理装置3根据CCD摄像机2提供的图像数据而分析发光模式。
图15是表示在检验时所执行的处理的流程图。图15所示的处理是根据控制装置4进行的控制而执行的。
在图15的步骤S41中，驱动脉冲通过检验机主体1被提供给等离子体显示板31从而显示上述的检测模式。结果，等离子体显示板31被照亮为，例如，如图14A或14B所示的发光模式。指示是否存在短路位置的一个标识值被初始化为指示“不存在短路位置”的一个值。随后，发光模式的图像被CCD摄像机2记录(步骤S42)。被记录的图像的图像数据从CCD摄像机2被传送至图像处理装置3的图像处理存储器3b中(步骤S43)。这里，三种颜色R，G，B的数据被传送到单独的存储区域。
随后，设定一个存储区域，其中存储有成为图像处理对象的发光颜色(R，G或B)，即成为图像处理对象的数据(步骤S44)。随后，根据图像处理存储器3b中存储的图像数据，计算近似于中央分割线的一条近似直线(步骤S45)。
随后，在图像处理存储器3b中存储的图像数据中，将不使其发光的上部分或下部分全部设为图像处理区域(步骤S46)。这里，图像处理区域可通过步骤S45的处理计算的近似直线作为参考来设定。例如，若检测模式就是图14A中所示的模式，则在步骤S46中包括整个下部分43和中央分割线的区域都被设为图像处理区域。
随后，根据图像处理对象存储器3c中存储的图像数据，执行从图像处理区域中提取发光点或发光线的处理(步骤S47)。这里，对于步骤S44中设置的发光颜色提取发光点或发光线。例如，在图14B中所示的发光模式情况下，在亮线104上提取发光点或发光线。在图14A所示的发光模式情况下，不提取发光点或发光线。
随后，在步骤S48中判断发光点或发光线是否在步骤S47的处理中已被提取。在肯定的判断情况下，处理进行到步骤S49。在否定的判断情况下，处理进行到步骤S50。在步骤S49，判断列电极之间存在短路，且指示是否存在短路位置的一个标志值被设置为指示对相关的发光颜色“这里存在短路位置”的一个值。然后，处理从步骤S49进行到步骤S51。另一方面，在步骤S50，判断列电极之间不存在短路，且指示是否存在短路位置的该标志值关于相关的发光颜色不改变。然后，处理从步骤S50进行到步骤S51。
在步骤S51，判断在步骤S41中将要执行的处理和随后的步骤是否关于所有的R，G和B发光颜色都已结束。在否定的判断情况下，处理返回到步骤S41以进行对下一个发光颜色(例如，G颜色)的处理。在肯定的判断情况下，如图15所示的处理结束。在步骤S41到S50的处理已对各个发光颜色(R，G和B)都执行后，所有的处理结束。
关于每个发光颜色R，G和B，对列电极之间是否存在短路的检测是由上述处理执行的。对于每个发光颜色(R，G和B)，可以根据标识来判断列电极之间是否存在短路。
在根据本实施例的对显示板的显示检验方法中，使通过在垂直方向上划分显示板而形成的上部分和下部分中只有一个发光，而上部分和下部分的另一个中的发光单元被提取。从而，列电极之间的短路能够可靠的被检测出来。
在上述实施例中，示出了检测具有三种发光颜色的单元排列的彩色显示板的一个例子。然而，根据本发明的对显示板的显示检验方法也可以被应用于排列单色单元的单色显示板的检测。这种情况下，使其中一个部分中的单元发光，而检测是关于其它部分中是否存在发光单元而进行的。
(第四实施例)以下将说明利用检验装置100执行在等离子体显示板30的行电极之间是否短路的检验的情况下的步骤。被平分为上下两部分的等离子体显示板31的检验也可以以相同方式进行。
如图4所示，等离子体显示板30被设置在检验机主体1内。使具有锯齿格型的发光模式显示在等离子体显示板30的显示区域中。图16A示出了在行电极之间不存在短路的情况下的发光模式。在图16A中，标识为“R”，“G”，“B”的区域分别表示红，绿，蓝色发光单元。其它区域表示不发光的单元。图16A所示的模式就是用于检测行电极之间的短路的检测模式。在等离子体显示板30中，在行方向上排列的R，G，B颜色的显示单元形成一个像素，如上所述。如图16B所示，黑-白的锯齿格型模式被显示在整个显示区域30a上。
图17A到17C表示在行电极之间存在短路情况下的发光模式。图17A表示在显示区域30a中出现行方向上的黑线111(暗线)的一个例子。如图17B所示，包括原来应当发光的显示单元的两个显示线在黑线111的部分中没有发光。
图17C表示在行电极之间的短路部分的示意图。如图17C所示，在行电极Yi和行电极Xi+1之间存在一个短路，从而通过短路部分112使得这两个电极分别与相邻的显示单元相关联。若出现了这种由短路部分112而引起的短路，则包含在对应于彼此短路的行电极的两条线上的显示单元不发光。这导致了具有一条黑线的发光模式，如图17A和17B所示。
图18表示在检验时所执行的处理的流程图。图18所示的处理是根据由控制装置4进行的控制而执行的。
在图18的步骤S61中，驱动脉冲通过检验机主体1被提供给等离子体显示板30从而显示图16所示的检测模式。结果，等离子体显示板30被照亮为，例如，如图16A和16B或图17A和17B所示的发光模式。随后，发光模式的图像被CCD摄像机2记录(步骤S62)。被记录的图像的图像数据从CCD摄像机2被传送至图像处理装置3的图像处理存储器3b中(步骤S63)。这里，三种颜色R，G，B的数据是分开传送的。
随后，在图像处理存储器3b中存储的图像数据中，等离子体显示板30上的整个显示区域30a被设置为图像处理区域，由此设置的区域中的图像数据被存储在图像处理对象存储器3c中(步骤S64)。
随后，根据图像处理对象存储器3c中存储的图像数据，执行提取显示区域30a中的黑线的处理(步骤S65)。随后，判断在步骤S65中进行的黑线提取处理中是否已从显示区域30a中提取了黑线(步骤S66)。在肯定的判断情况下，执行行电极之间存在短路的显示结果(步骤S67)。在否定的判断情况下，执行行电极之间不存在短路的显示结果(步骤S68)。不论哪种情况，图18中的处理都结束。
若在步骤S65，该发光模式就是图16A和图16B所示的检测模式，则不会出现黑线。由于在这种情况下步骤S66的判断是否定的，则确定行电极之间不存在短路。在图17A和图17B所示的发光模式的情况下，提取出一黑线。由于在这种情况下步骤S66的判断是肯定的，则确定行电极之间存在短路。
因此，在图18所示的处理中，使等离子体显示板30显示锯齿格型的检验模式。如果在这种情况下行电极之间存在短路，则对应的线上出现一条黑线。因此在本实施例中，执行黑线提取处理(步骤S65)。若提取出黑线，则判断行电极之间存在短路。若没有提取出黑线，则判断行电极之间不存在短路(步骤S66，S68)。从而，能够可靠的检测出行电极之间是否存在短路。
在上述实施例中，描述了具有三种发光颜色R，G，B的彩色显示板。然而，在单色显示板的情况下，单色的锯齿格型模式也可以被用作检测模式。
在第一到第四实施例中，举例说明了等离子体显示板的检验。根据本发明的对显示板的显示检验方法也可以被广泛地应用于其他的显示板。
本发明可以其它具体形式体现而不偏离本发明的精神或基本特征。因此本发明的实施例在各个方面都被看作是说明性的而非限定性的，由所附权利要求而不是由前述说明书指出的本发明的范围，以及落入权利要求书的等效的意义和范围内的所有变化都意在被包含其中。
权利要求
1.一种用于显示板的显示检验方法，用于检验显示板中的线故障，该显示板包括多个行电极和以垂直于行电极的方向排列的多个列电极，以在行电极和列电极交叉点处形成显示单元，该显示板通过控制显示区域中以矩阵形式排列的显示单元的光发射而显示图像，该显示检验方法包括以下处理使位于显示区域中顶端或底端的显示单元行发光；利用图像传感器检测发光的显示单元，位于发光显示单元附近并位于显示区域中且不发光的显示单元，以及位于显示区域之外的部分，并输出一视频信号；根据输出的视频信号，检测对应于位于顶端或底端的发光单元行的在行方向上的亮线的数目和长度；及当亮线的数目和长度小于预定值时，判断对应于显示单元行的行电极中出现断路。
2.根据权利要求1的用于显示板的显示检验方法，其中使位于顶端的显示单元行和位于底端的显示单元行同时发光。
3.一种用于显示板的显示检验方法，用于检验显示板中的线故障，该显示板包括多个行电极和以垂直于行电极的方向排列的多个列电极，以在行电极和列电极交叉点处形成显示单元，该显示板通过控制显示区域中以矩阵形式排列的显示单元的光发射而显示图像，该显示检验方法包括以下处理使位于显示区域中左端或右端的显示单元列发光；利用图像传感器检测发光的显示单元，位于发光显示单元附近并位于显示区域中且不发光的显示单元，以及位于显示区域之外的部分，并输出一视频信号；根据输出的视频信号，检测对应于位于左端或右端的发光单元列的在列方向上的亮线的数目和长度；及当亮线的数目和长度小于预定值时，判断对应于显示单元列的列电极中出现断路。
4.一种用于显示板的显示检验方法，用于检验显示板中的线故障，该显示板包括多个行电极和以垂直于行电极的方向排列的多个列电极，以在行电极和列电极交叉点处形成显示单元，显示单元在行方向上排列从而它们的发光颜色是三种颜色且彼此不同，并形成一个像素，其发光颜色相同的显示单元被排列在一列方向上，该显示板通过控制显示区域中以矩阵形式排列的显示单元的光发射而显示图像，该显示检验方法包括以下处理使位于显示区域中左端或右端的显示单元列发光；利用图像传感器检测发光的显示单元，位于发光显示单元附近并位于显示区域中且不发光的显示单元，以及位于显示区域之外的部分，并输出一视频信号；以及根据输出的视频信号，检测对应于位于左端或右端的发光单元列的在列方向上的亮线的数目和长度；当亮线的数目和长度小于预定值时，判断对应于显示单元列的列电极中出现断路。
5.一种用于显示板的显示检验方法，用于检验显示板上在划分的列电极之间的线故障，该显示板包括多个行电极和以垂直于行电极的方向排列的多个列电极，以在行电极和列电极交叉点处形成显示单元，上述列电极在显示区域中以列方向被划分，当以一行为单位时，形成显示板以便可能在通过划分得到的分开的屏幕中同时地选择显示单元，该显示检验方法包括以下处理使通过划分得到的上部和下部分开的屏幕中的一个发射单色光；利用图像传感器检测作为不发光的分开屏幕的上部和下部分开屏幕中的另一个，并输出一视频信号；根据输出的视频信号，检测对应于上部和下部分开的屏幕中的另一个中的显示单元列的在列方向上的亮线；以及判断在对应于在其上检测到亮线的显示单元列的分开的行电极之间出现电极短路。
6.一种用于显示板的显示检验方法，用于检验显示板上在划分的列电极之间的线故障，该显示板包括多个行电极和以垂直于行电极的方向排列的多个列电极，以在行电极和列电极交叉点处形成显示单元，显示单元在行方向上排列从而它们的发光颜色是三种颜色且彼此不同，并形成一个像素，其发光颜色相同的显示单元被排列在一列方向上，上述列电极在显示区域中以列方向被划分，当以一行为单位时，形成显示板以便可能在通过划分得到的分开的屏幕中同时地选择显示单元，该显示检验方法包括以下处理使通过划分得到的上部和下部分开的屏幕中的一个发射单色光；利用图像传感器检测作为不发光的分开屏幕的上部和下部分开屏幕中的另一个，并输出一视频信号；根据输出的视频信号，检测对应于上部和下部分开屏幕中的另一个中的显示单元列的在列方向上的亮线；以及判断对应于其上检测到亮线的显示单元列的分开的行电极之间出现电极短路。
7.一种用于显示板的显示检验方法，用于检验显示板中的线故障，该显示板包括多个行电极和以垂直于行电极的方向排列的多个列电极，以在行电极和列电极交叉点处形成显示单元，该显示板通过控制显示区域中以矩阵形式排列的显示单元的光发射而显示图像，该显示检验方法包括以下处理使显示区域中的显示单元以锯齿格形发光；利用图像传感器检测显示区域中的显示单元，并输出一视频信号；根据输出的视频信号检测行方向上的暗线；及判断在对应于其上检测到暗线的显示单元行的行电极之间出现电极短路。
8.一种用于显示板的显示检验装置，用于检验显示板中的线故障，该显示板包括多个行电极和以垂直于行电极的方向排列的多个列电极，以在行电极和列电极交叉点处形成显示单元，该显示板通过控制显示区域中以矩阵形式排列的显示单元的光发射而显示图像，该显示检验装置包括发光装置，用于使位于显示区域顶端或底端的显示单元行发光；图像传感器，用于检测发光的显示单元，位于发光显示单元附近并位于显示区域中且不发光的显示单元，以及位于显示区域之外的部分，并输出一视频信号；和判断装置，用于根据从所述图像传感器输出的视频信号，检测对应于位于顶端或底端的发光单元行的在行方向上的亮线的数目和长度；当亮线的数目和长度小于预定值时，判断在对应于显示单元行的行电极中出现断路。
9.根据权利要求8的用于显示板的显示检验装置，其中使位于顶端的显示单元行和位于底端的显示单元行同时发光。
10.一种用于显示板的显示检验装置，用于检验显示板中的线故障，该显示板包括多个行电极和以垂直于行电极的方向排列的多个列电极，以在行电极和列电极交叉点处形成显示单元，该显示板通过控制显示区域中以矩阵形式排列的显示单元的光发射而显示图像，该显示检验装置包括发光装置，用于使位于显示区域中左端或右端的显示单元列发光；图像传感器，用于利用图像传感器检测发光的显示单元，位于发光显示单元附近并位于显示区域中且不发光的显示单元，以及位于显示区域之外的部分，并输出一视频信号；和判断装置，用于根据输出的视频信号，检测对应于位于左端或右端的发光单元列的在列方向上的亮线的数目和长度；当亮线的数目和长度小于预定值时，判断对应于显示单元列的列电极中出现断路。
11.一种用于显示板的显示检验装置，用于检验显示板中的线故障，该显示板包括多个行电极和以垂直于行电极的方向排列的多个列电极，以在行电极和列电极交叉点处形成显示单元，显示单元在行方向上排列从而它们的发光颜色是三种颜色且彼此不同，并形成一个像素，其发光颜色相同的显示单元被排列在一列方向上，该显示板通过控制显示区域中以矩阵形式排列的显示单元的光发射而显示图像，该显示检验装置包括发光装置，用于使位于显示区域中左端或右端的显示单元列发光；图像传感器，用于利用图像传感器检测发光的显示单元，位于发光显示单元附近并位于显示区域中且不发光的显示单元，以及位于显示区域之外的部分，并输出一视频信号；和判断装置，用于根据输出的视频信号，检测对应于位于左端或右端的发光单元列的在列方向上的亮线的数目和长度；当亮线的数目和长度小于预定值时，判断对应于显示单元列的列电极中出现断路。
12.一种用于显示板的显示检验装置，用于检验显示板上在划分的列电极之间的线故障，该显示板包括多个行电极和以垂直于行电极的方向排列的多个列电极，以在行电极和列电极交叉点处形成显示单元，上述列电极在显示区域中以列方向被划分，当以一行为单位时，形成显示板以便可能在通过划分得到的分开的屏幕中同时地选择显示单元，该显示检验装置包括发光装置，用于使通过划分得到的上部和下部分开的屏幕中的一个发射单色光；图像传感器，用于利用图像传感器检测作为不发光的分开屏幕的上部和下部分开屏幕中的另一个，并输出一视频信号；判断装置，用于根据输出的视频信号，检测对应于上部和下部分开屏幕中的另一个中的显示单元列的在列方向上的亮线；判断对应于其上检测到亮线的显示单元列的分开的行电极之间出现电极短路。
13.一种用于显示板的显示检验装置，用于检验显示板中在划分的列电极之间的线故障，该显示板包括多个行电极和以垂直于行电极的方向排列的多个列电极，以在行电极和列电极交叉点处形成显示单元，显示单元在行方向上排列从而它们的发光颜色是三种颜色且彼此不同，并形成一个像素，其发光颜色相同的显示单元被排列在一列方向上，上述列电极在显示区域中以列方向被划分，当以一行为单位时，形成显示板以便可能在通过划分得到的分开的屏幕中同时地选择显示单元，该显示检验装置包括发光装置，用于使通过划分得到的上部和下部分开的屏幕中的一个发射单色光；图像传感器，用于利用图像传感器检测作为不发光的分开屏幕的上部和下部分开屏幕中的另一个，并输出一视频信号；判断装置，用于根据输出的视频信号，检测对应于上部和下部分开屏幕中的另一个中的显示单元列的在列方向上的亮线；并判断对应于其上检测到亮线的显示单元列的分开的行电极之间出现电极短路。
14.一种用于显示板的显示检验装置，用于检验显示板中的线故障，该显示板包括多个行电极和以垂直于行电极的方向排列的多个列电极，以在行电极和列电极交叉点处形成显示单元，该显示板通过控制显示区域中以矩阵形式排列的显示单元的光发射而显示图像，该显示检验装置包括发光装置，用于使显示区域中的显示单元以锯齿格形发光；图像传感器，用于利用图像传感器检测显示区域中的显示单元，并输出一视频信号；判断装置，用于根据输出的视频信号检测行方向上的暗线，并判断在对应于其上检测到暗线的显示单元行的行电极之间出现电极短路。
全文摘要
提供一种用于检验显示板中的线故障的显示检验方法，该方法包括以下处理使位于显示区域中顶端或底端的显示单元行发光；利用CCD摄像机来检测发光的显示单元，位于发光显示单元附近且位于显示区域中的不发光的显示单元，以及位于显示区域之外的部分；检测对应于位于顶端或底端的发光单元行的在行方向上的亮线的数目和长度；当亮线的数目和长度小于预定值时，判断对应于显示单元行的行电极中出现断路。
文档编号G09G3/20GK1494047SQ0313289
公开日2004年5月5日 申请日期2003年7月25日 优先权日2002年7月25日
发明者白川裕也 申请人:日本先锋公司, 先锋显示器产品株式会社