专利名称：Led静态模组测试卡的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种检测设备，尤其涉及对LED行业中LED静态显示模组的检测。
背景技术：
目前LED产品已广泛应用于银行、证券、税务、电力、医院、车站、港务、工厂等各行 各业。随着LED行业的蓬勃发展，LED产品的生产已经达到规模化、批量化，对LED产品检 测工作也随之加剧。然而目前市场上针对大批量模组的测试、老化，却很难找到一种操作简单、测试功 能齐备的测试卡。如市场上大规模使用的灵心雨控制卡在进行模组的测试的时候，对驱动 芯片为5039的模组手动调节电流增益调节很不方便，并且在进行测试时，点亮的模组数很 有限，其他诸多控制卡也遇到同类似的问题。随着单片机技术的发展和成熟，单片机已经广泛应用到生产生活的各个领域，如 智能仪表、实时工控、通信设备、导航系统、家用电器、医疗器械等，单片机用于产品，使得产 品的性能大幅度提高。而AVR单片机作为单片机领域的佼佼者，具有资源丰富，性能优异， 抗干扰性好，价格低廉，程序易于升级等诸多忧点，用AVR单片机开发产品具有一定工程意 义。
实用新型内容本实用新型的目的在于解决上述问题，提供了一种LED静态模组测试卡，通过对 LED显示模组的测试，检查LED显示模组是否满足生产要求，并对不满足生产要求的模组进 行故障检测，方便生产人员对模组的修复。本实用新型的技术方案为本实用新型揭示了一种LED静态模组测试卡，该测试 卡包括微处理单元，控制对待测LED静态模组的测试动作；输入设备，连接该微处理单元，实现对待测LED静态模组的测试操作；输出端口，连接该微处理单元，且连接待测LED静态模组，输出测试信号至待测 LED静态模组。根据本实用新型的LED静态模组测试卡的一实施例，该微处理单元是AVR单片机。根据本实用新型的LED静态模组测试卡的一实施例，该输入设备是按键和/或拨 码开关。根据本实用新型的LED静态模组测试卡的一实施例，该输出端口是Hub板连接端 口和/或模组连接端口，该Hub板连接端口通过一 Hub板连接待测LED静态模组，该模组连 接端口通过接口线缆直接连接待测LED静态模组。根据本实用新型的LED静态模组测试卡的一实施例，该测试卡还包括一电源。根据本实用新型的LED静态模组测试卡的一实施例，该测试卡还包括通信端口。根据本实用新型的LED静态模组测试卡的一实施例，该通信端口是RS232通信端
3[0016]根据本实用新型的LED静态模组测试卡的一实施例，该微处理单元进一步包括以 下的任意一种组合逐点测试单元，通过对待测LED静态模组上的LED灯逐个点亮的方式对待测LED 灯的走线方式进行检测；走线方式配置单元，配置待测LED静态模组的走线方式；显示方式配置单元，配置待测LED静态模组的显示方式；颜色配置单元，配置待测LED静态模组的颜色配置方式；亮度调节单元，通过调节待测LED静态模组上驱动芯片的电流增益来调节LED灯 的亮度。根据本实用新型的LED静态模组测试卡的一实施例，该显示方式配置单元进一步 包括以下的任意一种组合走斜线测试单元，让待测LED静态模组走动条纹状的斜线以测试有无焊点相连的 情况发生；全亮测试单元，点亮待测LED静态模组上的全部LED灯以测试有无暗点；全暗测试单元，让待测LED静态模组上的LED灯在保持通电的情况下全部熄灭以 测试有无常亮点。根据本实用新型的LED静态模组测试卡的一实施例，该显示方式配置单元还包 括自动测试单元，使待测LED静态模组循环实行该走斜线测试单元、该全亮测试单 元以及该全暗测试单元的实现方式，以检测该LED静态模组是否发生老化。本实用新型对比现有技术有如下的有益效果本实用新型的LED静态模组测试卡 以拨码开关作为输入设备，采用模组端口直连和HUB板转接作为输出，对所要测试的LED模 组进行走线方式调节、颜色调节、8级亮度电流增益调节等，对模组的接入极为方便。端口可 以拖动200块以上的模组，并且具备手动和自动切换的功能，从而使LED模组的测试、老化 变得简单方便。测试卡基于AVR单片机Atmegaie设计开发，具有操作简单、性能优越、价格 低廉的特点，是对LED行业中静态模组的检测、老化的一次革命。对比现有技术，本实用新 型的测试卡的优点包括(1)集多种调试手段于一体，既可走斜线、全亮，也可调整驱动芯片的电流增益。(2)支持多种LED模组大小、走线方式。(3)端口拖动模组总数彡200块。(4)可对模组的LED灯进行逐点测试，并可由此得知模组的走线方式。(5)兼具LED模组连接端口和Hub板接口，方便模组的连接，测试。(6)兼具手动、自动切换功能。
图1是本实用新型的LED静态模组测试卡和LED静态模组连接关系的示意图。图2是本实用新型的LED静态模组测试卡的实施例的框图。图3是本实用新型的微处理单元的内部框图。[0038]图4是本实用新型的显示方式配置单元的内部框图。图5是本实用新型的显示方式配置单元的运行流程图。图6是本实用新型的逐点测试单元的运行流程图。图7-9是本实用新型的拨码开关的开关示意图。
具体实施方式
以下结合附图和实施例对本实用新型作进一步的描述。本实施例的LED静态模组测试卡是一种相对独立、可单独工作的测试卡。测试卡 设有标准HUB板转接口和通用的模组接口。测试时，既可以如图1所示的将LED静态模组2 通过匹配的HUB板3与LED静态模组测试卡1相连，又可以通过匹配的接口线缆直接与测 试卡1相连，使得测试变得十分方便。LED静态模组测试卡的内部实现如图2所示，本实施例的测试卡包括如下的几个 基本组件微处理单元10、作为输入设备的按键11和拨码开关12、作为输出端口的HUB板 连接端口 13和模组连接端口 14、电源15。而附加的组件可以是一个通信端口，例如图2所 示的RS232通信端口 16。在本实施例中，作为主控单元的微处理单元10的具体实现例如是AVR单片机 Atmegal6芯片。系统工作时，微处理单元10根据拨码开关12和按键11的设置情况，选择 适用于待测LED静态模组2的走线方式的程序和相应的测试方式，对LED静态模组2进行 测试，预留的RS232通信端口 16为升级扩展之用。微处理单元10的内部实现如图3所示，微处理单元10可以包括以下任一种单元 的任意组合逐点测试单元100、走线方式配置单元102、显示方式配置单元104、颜色配置 单元106以及亮度调节单元108。在逐点测试单元100中，对LED静态模组上的LED灯的走线进行检测，主要目的是 在于测试LED静态模组的走线和坏点。系统上电后，按下LED静态模组测试卡的按键11上 对应的开关，待测的LED静态模组上的灯管就会被逐个点亮。根据逐点测试的结果不仅可 以测试LED静态模组上灯管的走线方式，而且还可以排查模组的坏点和损坏的驱动芯片。 具体的实现方法可以是采取外部中断方式，在中断程序中对逐点测试标志取反。在主程序 中查询这个测试标志，根据标志调用逐点测试程序，其流程请参见图6。在走线方式配置单元102中，主要完成不同LED静态模组的走线配置。传统的LED 静态模组可以划分为两种走线方式，4个灯为一排走动的方式和8个灯为一排走动的方式， 不同的走线方式对应不同的程序配置。拨动LED静态模组测试卡上的拨码开关S7(如图8 所示)的K1，重新上电，即可配置对应的走线方式。如图4所示，显示方式配置单元104进一步包括以下的任意一种组合走斜线测试 单元1040、全亮测试单元1042、全暗测试单元1044以及自动测试单元1046。走斜线测试单元1040主要是让待测LED静态模组走动条纹状的斜线，目的在于测 试有无连焊点。全亮测试单元1042让待测LED静态模组上的灯管全部点亮，目的在于测试 有无暗点。全暗测试单元1044让待测LED静态模组上的灯管在保持通电的情况下全部熄 灭，目的在于测试有无常亮点。自动测试单元1046使LED静态模组循环走动前面的显示方 式，主要目的是为进行LED静态模组的老化提供方便。只需要拨动LED静态模组测试卡上的拨码开关S6(如图9所示)的Kl和K2，即可改变相应的显示方式。在显示方式配置单元104的具体实现中，可设置显示状态标志为走斜线、全亮、全 暗、自动四种显示状态，通过拨码开关改变显示状态标志，程序轮回查询显示状态标志，根 据其改变值，切换不同的显示方式，其实现的流程图如图5所示。首先，查询显示状态标志 是否为走斜线状态，如果是则显示走斜线。再查询显示状态标志是否为全亮状态，如果是全 亮状态则显示全亮。然后，查询显示状态标志是否为全暗状态，如果是全暗状态则进行全暗 操作。最后查询显示状态标志是否为自动状态，如果是自动状态则进行自动轮回的处理。请参见图7，拨动拨码开关S7,当LED静态模组的走线方式为8个像素点为一行走 动时，如图7所示的将拨码开关的Kl K4拨为0000(拨上为1，拨下为0)。请参见图8，拨动拨码开关S7,当LED静态模组的走线方式为4个像素点为一行走 动时，如图8所示的将拨码开关的Kl K4拨为1000。请参见图9，拨动拨码开关S6可显示不同的状态、颜色和亮度，拨码开关次序从左 至右依次为Kl K8 (拨上为1，拨下为0)。举例来说，a 当自动状态下(即拨码开关K1K2的 状态为00)，后面的K3-K8将不再起作用，系统将自动走完各种状态。b:当全暗状态下(即 拨码开关K1K2的状态为10)，后面的K3-K8将不再起作用，系统将熄灭所有灯管。c 当走斜 线状态下(即拨码开关K1K2的状态为01)，用户可按照测试过程中的不同需求配置K3-K8。 例如K1-K8的状态为01110010，则此时模组将走红绿斜线，亮度为3级亮度。d 当全亮状 态下(即拨码开关K1K2的状态为11)，用户可按照测试过程中的不同需求配置K3-K8。例 如K1-K8的状态为11010110，则此时模组将显示绿色全亮，亮度为7级亮度。颜色配置单元106主要完成不同颜色模组的颜色配置，常用的静态屏有单色、双 色和三色。不同颜色模组需要对其进行配置，拨动LED静态模组测试卡上的拨码开关S6的 K3、K4和Κ5，即可配置不同的颜色。亮度调节单元108主要是用于测试LED静态模组的亮度，其主要原理是调节模组 上驱动芯片的电流增益，电流增益越大，则亮度越高，反之则越低。亮度调节在本实施例中 例如分为8级，拨动LED静态模组测试卡上的拨码开关S6的K6、K7和K8即可调节模组亮 度。根据模组上灯管亮度的变化情况来排查模组上驱动芯片的好坏。具体实现是先对电流 增益标志进行查询，如果电流增益标志有所改变，则系统调用亮度设置程序，根据具体的改 变值设置具体的亮度，在设置完成后模组亮度会发生改变，系统继续执行之前所执行的程 序。上述实施例是提供给本领域普通技术人员来实现或使用本发明的，本领域普通技 术人员可在不脱离本发明的发明思想的情况下，对上述实施例做出种种修改或变化，因而 本发明的保护范围并不被上述实施例所限，而应该是符合权利要求书提到的创新性特征的 最大范围。
权利要求1.一种LED静态模组测试卡，其特征在于，该测试卡包括 微处理单元，控制对待测LED静态模组的测试动作；输入设备，连接该微处理单元，实现对待测LED静态模组的测试操作； 输出端口，连接该微处理单元，且连接待测LED静态模组，输出测试信号至待测LED静 态模组。
2.根据权利要求1所述的LED静态模组测试卡，其特征在于，该微处理单元是AVR单片机。
3.根据权利要求1所述的LED静态模组测试卡，其特征在于，该输入设备是按键和/或 拨码开关。
4.根据权利要求1所述的LED静态模组测试卡，其特征在于，该输出端口是Hub板连接 端口和/或模组连接端口，该Hub板连接端口通过一 Hub板连接待测LED静态模组，该模组 连接端口通过接口线缆直接连接待测LED静态模组。
5.根据权利要求1所述的LED静态模组测试卡，其特征在于，该测试卡还包括一电源。
6.根据权利要求1所述的LED静态模组测试卡，其特征在于，该测试卡还包括通信端□。
7.根据权利要求6所述的LED静态模组测试卡，其特征在于，该通信端口是RS232通信端□。
8.根据权利要求1所述的LED静态模组测试卡，其特征在于，该微处理单元进一步包括 以下的任意一种组合逐点测试单元，通过对待测LED静态模组上的LED灯逐个点亮的方式对待测LED灯的 走线方式进行检测；走线方式配置单元，配置待测LED静态模组的走线方式； 显示方式配置单元，配置待测LED静态模组的显示方式； 颜色配置单元，配置待测LED静态模组的颜色配置方式；亮度调节单元，通过调节待测LED静态模组上驱动芯片的电流增益来调节LED灯的亮度。
9.根据权利要求8所述的LED静态模组测试卡，其特征在于，该显示方式配置单元进一 步包括以下的任意一种组合走斜线测试单元，让待测LED静态模组走动条纹状的斜线以测试有无焊点相连的情况 发生；全亮测试单元，点亮待测LED静态模组上的全部LED灯以测试有无暗点； 全暗测试单元，让待测LED静态模组上的LED灯在保持通电的情况下全部熄灭以测试有无常亮点。
10.根据权利要求9所述的LED静态模组测试卡，其特征在于，该显示方式配置单元还 包括自动测试单元，使待测LED静态模组循环实行该走斜线测试单元、该全亮测试单元以 及该全暗测试单元的实现方式，以检测该LED静态模组是否发生老化。
专利摘要本实用新型公开了一种LED静态模组测试卡，通过对LED显示模组的测试，检查LED显示模组是否满足生产要求，并对不满足生产要求的模组进行故障检测，方便生产人员对模组的修复。其技术方案为测试卡包括微处理单元，控制对待测LED静态模组的测试动作；输入设备，连接该微处理单元，实现对待测LED静态模组的测试操作；输出端口，连接该微处理单元，且连接待测LED静态模组，输出测试信号至待测LED静态模组。
文档编号G09G3/00GK201868067SQ201020593738
公开日2011年6月15日 申请日期2010年11月5日 优先权日2010年11月5日
发明者郝家旺 申请人:上海广电通信技术有限公司