提高了估计速度的用于补偿老化像素区域的自适应反馈系统的制作方法

提高了估计速度的用于补偿老化像素区域的自适应反馈系统的制作方法
【专利摘要】一种基于优先级的局部的扫描方案，该方案将扫描集中于显示面板的被测量的特性处于连续变化(例如，老化或弛豫)的区域。算法识别需要补偿的区域或区，使用来自区域中的单个像素的电流测量作为候选对象来判断其它的区是否需要进一步的补偿。所述算法因此快速地检测新近变化的区域，将耗时的测量集中于那些需要高度关注的区域。可选地，考虑到如果被测像素需要补偿那么邻近像素也将需要补偿的可能性，能够自动地调整与被测像素处于相同状态(例如，老化或过补偿)的邻近像素。
【专利说明】提高了估计速度的用于补偿老化像素区域的自适应反馈系 统版权声明[0001]本专利文件的公开内容的一部分包含受到版权保护的材料。版权所有者不反对任 何人复制如同在专利商标局的专利文献或档案中所呈现的本专利公开的内容，然而在其它 的方面，版权所有者保留所有的版权权利。【背景技术】[0002]现有系统提供电反馈来补偿显示面板中的像素中的驱动晶体管和有机发光器件 (OLED)的老化。显示面板可以被分成数块。在每帧中，每块只能测出非常少数量的像素的 电老化。因此，全面板扫描是非常漫长的过程，这导致了存在快速老化现象和热效应等问题。[0003]例如，假设面板尺寸为600X800像素或1200X1600子像素，如果控制电路控制 210列，那么需要八个这样的电路。假设帧频是60Hz且在每帧中同步地测量这八个电路中 的每个电路中的10个子像素，那么全面板扫描时期是:1200*210 / 10 / 60 / 60或7分 钟。结果，与初始估计的绝对值差为100的老化/弛豫的区域的补偿需要至少100*7=700 分钟或超过11小时，这是令人难以接受的过长的时间。需要更加有效的补偿方案。
【发明内容】
[0004]公开了这样的算法:通过自适应地将测量引导向这样的区域，该区域从先前测量 出的值变化(诸如老化/弛豫等)的(由于老化、弛豫、温度变化、加工不均匀等造成的) 或从参考值偏离的(由于驱动电流、Vmd、亮度、颜色强度等的不匹配造成的)可能性高，提 高这样的区域中的估计速度，并且利用其它像素的测量来提供处理以更新未被测量的像素 的估计变化(例如，老化)，该算法增加了处理的效率，通过所述处理补偿像素中的差异或 快速变化(例如由诸如老化、弛豫、颜色偏移、温度变化或加工不均匀等对像素有不良影响 的现象导致的)。[0005]根据本发明的一个方面，公开了识别偏离了先前状态的区域或偏离了先前测量出 的参考值的区域的方法。所述区域是包含像素的显示面板的区域，所述像素被布置成像素 簇。所述方法包括扫描第一簇中的至少一个像素中的各者直至满足第一标准。所述扫描包 括:测量所述第一簇中的所述像素中的一个目标像素的特性；将测量出的所述特性与参考 特性进行比较以确定所述目标像素的状态；和如果所述目标像素的状态相对于所述目标像 素的先前测量已经改变，那么判定所述第一标准得以满足。所述方法还包括:响应于被满足 的所述第一标准，至少基于被扫描的所述像素的状态自动补偿所述显示面板的测量出的所 述特性的偏离，以使测量出的所述特性朝向所述参考特性偏移。[0006]所述显示面板的所述像素还可以被布置成多个区。至少一些所述区中的各者具有 多个像素簇。可以在每个所述区中的至少一个簇中实施所述扫描。所述第一标准响应于每 个所述区中的至少一个像素中的的状态相对于所述至少一个像素的先前测量发生改变而得以满足。所述状态能够至少表明所述目标像素是否处于表示所述目标像素正在老化的老 化状态。所述自动补偿能够补偿所述第一簇中的至少一个像素的老化或过补偿。[0007]测量出的所述特性可以是用来驱动所述目标像素中的发光器件的电流。在所述第 一簇中可以根据在右上像素开始且在左下像素结束的扫描顺序实施所述扫描。在实施所述 自动补偿之前，只对所述第一簇中的一些所述像素进行所述测量。[0008]所述方法还可以包括将所述第一簇的优先级确定为所述第一簇中的每个被测像 素各自的所述状态的函数以生成优先级值。所述状态还能够表明所述目标像素是否处于过 补偿状态。所述函数可以包括确定所述第一簇中的处在所述过补偿状态中的被测像素的数 量与所述第一簇中的处在老化状态中的被测像素的数量的绝对差。[0009]所述方法还可以包括基于所述优先级值确定所述第一簇中要被测量的额外像素 的数量，使得越高的优先级值表明所述第一簇中要被测量的所述额外像素越多；以及测量 每个所述额外像素的特性以确定每个所述额外像素的所述状态。所述状态还能够表明所述 目标像素是否处于过补偿状态。所述函数可以包括确定所述第一簇中的处于所述过补偿状 态中的被测像素的数量与所述第一簇中的处于老化状态中的被测像素的数量的绝对差。响 应于不超过最小阈值的所述绝对差，所述额外像素的数量可以为0，所述最小阈值表明所述 第一簇中的所述额外像素是否要被测量。[0010]响应于超过阈值的所述优先级值，所述方法还可以包括调整与所述被测像素的邻 近像素的绝对老化值相关联的对应的绝对老化值，所述邻近像素与所述被测像素具有相同 的状态。所述绝对老化值能够表明所述被测像素老化或过补偿的程度。[0011]所述方法还能够包括:对于已经调整了所述绝对老化值的每个所述邻近像素，减 小与已经调整了所述绝对老化值的每个所述邻近像素相关联的平均滤波器的系数。所述调 整可以包括:响应于处在所述老化状态中的所述被测像素的状态，所述绝对老化值递增1， 并且响应于处在所述过补偿状态中的所述被测像素的状态，所述绝对老化值递减I。[0012]所述绝对老化值可以是通过恒定值调整的或者作为所述优先级值的函数，使得较 高优先极值相对于较低优先级值而言，所述绝对老化值被调整更大的量。所述方法还可以 包括将每个所述区中的所述至少一个簇的优先级确定为被测量的簇的相应簇中的每个所 述被测像素各自的所述状态的函数，以此为每个所述区生成相应的优先级值。所述状态可 以包括所述目标像素是否处于过补偿状态。所述函数可以包括确定每个所述区中的每个所 述至少一个簇中的处于所述过补偿状态的被测像素的数量与每个所述区中的每个所述至 少一个簇中的处于老化状态的被测像素的数量的绝对差。所述绝对差值能够对应于所述优 先级值。对于每个所述区，所述方法还可以包括基于所述优先级值确定在相应的所述至少 一个簇中要被测量的额外像素的数量，使得越高的优先级值表明在相应的所述至少一个簇 中要被测量的额外像素越多。[0013]所述第一簇中的所述目标像素可以在所述第一簇中的第一行。所述扫描还可以包 括在帧期间测量所述第一簇中的所述像素中的一个第二目标像素的特性。所述第二目标像 素可以出现在所述第一簇中的不同于所述第一行的第二行上。每个所述额外像素可以在所 述第一簇内的连续的或非连续的不同的行。在帧期间可以对处于所述不同行的至少两个所 述额外像素实施每个所述额外像素的所述特性的测量。[0014]所述状态还能够表明所述目标像素是处于老化状态还是处于过补偿状态。测量出的所述特性可以是由所述目标像素中的发光器件提取的电流并且所述参考特性是参考电 流。所述参考电流可以是由所述显示面板中的参考像素提取的电流。[0015]根据本发明的另一个方面，提供了一种为像素的区域确定优先级的方法，所述区 域具有偏离显示面板的像素区域的特性的先前测量值或参考值的高可能性，所述方法包 括:测量所述显示面板的至少一些所述像素的特性；将每个被测像素的测量出的所述特性 与对应的参考特性进行比较以确定每个所述被测像素的相应状态；将所述显示面板的所述 区域的优先级确定为每个所述区域中的所述被测像素的所述状态的函数以生成优先级顺 序；以及根据所述优先级顺序在所述区域中自动补偿测量出的所述特性与所述参考特性的 偏差。[0016]所述方法还可以包括扫描第一簇中的至少一些所述像素中的各者直至满足第一 标准。所述扫描可以包括:将测量出的所述特性与参考特性进行比较以确定所述第一簇中 的目标像素的状态，所述状态至少表明所述目标像素是否处于表示所述目标像素正在老化 的老化状态；和如果所述目标像素的所述状态相对于所述目标像素的先前测量已经改变， 那么就判定所述第一标准得以满足。所述自动补偿可以至少根据被扫描的所述像素的所述 状态并且补偿所述区域的老化或过补偿。[0017]所述显示面板的所述像素还可以被布置成多个区。至少一些所述区中的各者可以 具有多个像素簇。在每个所述区中的至少一个簇中可以实施所述扫描。所述第一标准响应 于每个所述区中的至少一个像素的所述状态相对于所述至少一个像素的先前测量发生改 变而得以满足。[0018]测量出的所述特性可以是用来驱动在所述目标像素中的发光器件的电流并且所 述参考特性是参考电流。在所述第一簇中可以根据在右上像素开始且在左下像素结束的扫 描顺序实施所述扫描。[0019]所述状态能够表明所述目标像素是处于所述老化状态还是处于过补偿状态。所述 函数可以包括确定所述第一簇中的处于所述过补偿状态的被测像素的数量与所述第一簇 中的处于所述老化状态的被测像素的数量的绝对差。[0020]所述确定优先级可以包括将所述第一簇的优先级确定为所述第一簇中的每个所 述被测像素各自的所述状态的函数以生成优先级值。所述方法还可以包括:基于所述优先 级值确定所述第一簇中要被测量的额外像素的数量，使得越高的优先级值表明所述第一簇 中要被测量的所述额外像素越多；和测量每个所述额外像素的特性以确定每个所述额外像 素的所述状态。[0021]所述状态能够表明所述目标像素是否处于老化状态还是过补偿状态。所述函数可 以包括确定所述第一簇中的处于所述过补偿状态的被测像素的数量与所述第一簇中的处 于所述老化状态的被测像素的数量的绝对差。响应于不超过表明在所述第一簇中是否要测 量额外像素的最小阈值的所述绝对差值，所述额外像素的数量能够是O。[0022]所述状态能够表明所述目标像素是处于老化状态还是处于过补偿状态。所述方法 还可以包括:响应于超过阈值的所述优先级值，调整与所述被测像素的邻近像素的绝对老 化值相关联的对应的绝对老化值，所述邻近像素与所述被测像素具有相同的状态，所述绝 对老化值对应于表明像素老化或过补偿的程度的值。所述方法还可以包括:对于已经调整 了绝对老化值的每个所述邻近像素，减小与已经调整了绝对老化值的每个所述邻近像素相关联的平均滤波器的系数。[0023]所述调整可以包括:响应于处在所述老化状态的所述被测像素的状态，所述绝对 老化值递增I，并且响应于处在所述过补偿状态中的所述被测像素的状态，所述绝对老化值 递减I。所述绝对老化值可以是通过恒定值调整的或作为所述优先级值的函数，使得较高优 先极值相对于较低优先级值而言，所述绝对老化值被调整更大的量。[0024]根据本发明的又一个方面，提供了一种利用像素的已知测量来更新显示面板的邻 近像素的估计老化的方法。所述显示面板被布置成像素簇。所述方法包括:测量所述显示 面板的所述簇的第一簇中的每个像素的特性；对于在所述簇中的每个像素，将所述像素的 测量出的所述特性与参考特性进行比较以确定所述像素的状态，所述状态表明所述像素是 处于老化状态、过补偿状态还是既不老化又不过补偿状态；如果所述簇中的所选像素的所 述状态相对于所述所选像素的先前测量没有变化并且所述所选像素的所述状态与所述簇 中的大部分其它像素的状态相同，那么调整与所述所选像素的邻近像素相关联的对应的老 化值，每个所述老化值代表着像素的老化或弛豫状态并且被存储在与所述显示面板耦合的 存储器中；以及至少部分基于所述邻近像素的所述老化值自动补偿所述显示面板的老化或 弛豫。[0025]所述方法还可以包括:对于已经调整了老化值的每个所述邻近像素，减小与已经 调整了老化值的每个所述邻近像素相关联的平均滤波器的系数。所述邻近像素可以紧邻所 述所选像素。[0026]根据本发明的又一个方面，提供了一种选择性地扫描显示面板的区域的方法，所 述显示面板具有像素并且被分成多个像素簇，所述方法包括在第一阶段中扫描至少一些所 述簇直至满足第一标准。所述扫描包括:测量根据像素扫描顺序被扫描的所述簇中的目标 像素的特性；将测量出的所述特性与参考特性进行比较以生成所述目标像素的状态，所述 状态表明所述目标像素是处于老化状态、弛豫状态还是既不老化又不弛豫状态；响应于与 所述目标像素的先前状态不同的所述目标像素的状态，判定所述第一标准得到满足；和响 应于被扫描的所述簇中的目标像素的预定数量，判定所述第一标准得到满足。响应于被满 足的所述第一标准，所述方法进一步扫描至少一个所述簇。所述进一步扫描包括:将用于 扫描额外像素的优先级确定为被扫描的所述簇的老化或弛豫程度的函数；测量被扫描的所 述簇中的一些额外目标像素的所述特性，其中所述额外目标像素的数量是所述优先级的函 数；和响应于与被扫描的所述簇中的大部分其它像素的状态相同的所述目标像素的所述状 态，调整与所述目标像素的邻近像素相关联的对应的老化值，每个所述老化值代表着像素 的老化或弛豫状态并且每个所述老化值被存储在存储器中。[0027]根据参照附图(接下来提供附图的简要说明)做出的对本发明各种实施例和/或 各方面的详细说明，本发明的前述和附加的方面以及实施例对于本领域的普通技术人员而 言将是显而易见的。【专利附图】

【附图说明】[0028]在阅读下面的详细说明和参照附图之后，本发明的前述和其它优势将变得明显。[0029]图1A图示了具有有源矩阵区域或像素阵列的电子显示系统或面板，其中，像素的 阵列是以行列构造布置的；[0030]图1B是由三个增强集成电路(EIC)控制的像素阵列示例的功能性框图，其中，每 个EIC控制由像素阵列中的列构成的块；[0031]图1C图示了用于各像素以跟踪该像素是否是处于老化或弛豫的状态的状态机示 例；[0032]图1D是示出了像素簇如何组成区的功能方框图，其中，像素簇由像素组成，像素 可以由多个子像素组成；[0033]图2是根据本发明的方面的用于估计老化/弛豫严重的区域的估计系统示例的 功能性框图；[0034]图3是根据本发明的方面的估计算法的流程图；[0035]图4A和图4B是根据本发明的方面的测量和更新算法的流程图，测量和更新算法 在图3的估计算法的阶段I或阶段II期间内被调用；[0036]图5是根据本发明的方面用于找出要被扫描的额外像素的数量的算法的流程图， 该算法在图3的估计算法的阶段II期间内被调用；和[0037]图6是由图4B的测量和更新算法调用的邻域更新算法的流程图。[0038]虽然本发明可以具有各种变形和替代形式，但在附图中以示例的方式示出了具体 的实施例和实施形式，并将在本文中对这些实施例和实施形式进行详细说明。然而，应当理 解，本发明不限于本文所披露的特定形式，而是覆盖了落入所附权利要求限定的发明精神 和范围内的所有变形、等同物和替代物。【具体实施方式】[0039]应当注意，本发明旨在识别像素阵列的区域以补偿诸如由老化或弛豫、温度变化 或加工不均匀等现象造成的像素特性变化。由于不良现象造成的特性变化可以通过适当 的测量电路或算法进行测量并且能够借助任意参考值进行跟踪，这些参考值诸如表明像素 (具体地，像素的驱动晶体管)正在老化或弛豫的参考值，或表明像素的亮度性能或颜色偏 移或与实现期望的亮度所需的预期驱动电流值的电流偏离的参考值等。识别出像素的这些 区域后如何补偿(诸如补偿老化或弛豫等)像素的这些区域不是本发明的重点。用于补偿 显示器中的像素老化或弛豫的示例性的公开是已知的。在2010年11月30号提交的题为 “System and Methods For Aging Compensation in AMOLED Displays (用于AMOLED显不器 中的老化补偿的系统和方法)”的共同转让且共同待审的美国专利申请N0.12 / 956842(代 理人案号 N0.058161-39USPT)和在 2011 年 2 月 3 日提交的题为“System and Methods For Extracting Correlation Curves For an Organic Light Emitting Device (用于提取有 机发光器件的相关曲线的系统和方法)”的共同转让且共同待审的美国专利申请N0.13 / 020252(代理人案号N0.058161-42USPT)中能够找到示例。本发明涉及补偿由显示中的 像素(要么是发光器件，要么是驱动流向发光器件的电流的驱动TFT晶体管)的老化和弛 豫(但不是同时地，因为像素要么处于老化状态，要么处于弛豫状态，要么处于既不老化又 不弛豫的正常的“健康”状态)、温度变化、加工偏差导致的非均匀性等现象，这些术语能够 被本发明所属的【技术领域】的普通技术人员理解，并且广泛地涉及补偿由如下任何现象导致 的像素电路的可测量特性的任何变化，上述现象诸如施加于像素的发光器件的驱动电流、 发光器件的亮度(例如，通常能够通过光敏元件或其它传感器电路测量出亮度输出)、发光器件的颜色偏移、或者诸如与像素中的发光器件两端的电压相对应的Vmd等与像素电路中 的电子器件相关联的电压的偏移等。在本发明中，虽然将偶尔地使用“老化/弛豫”或“老 化的/弛豫的”或诸如此类的连接词，但是应当理解，与老化有关的任何论述同样适用于弛 豫，且反之亦然；并且对导致与像素或像素电路的可测量的特性的参考状态不同的其它现 象也是如此。可以使用术语“恢复”、“弛豫中”或“过补偿”来代替“弛豫”，且正如在本文中 所使用的那样，这些术语是可互换的且互为同义词。为了避免在整个本发明中的“老化/ 弛豫”的不当记载，本发明可能偶尔只涉及老化或弛豫，但是应当理解，本文中所公开的概 念和方面对这两种现象起同等作用。诸如正在老化、老化的、弛豫的、弛豫中或弛豫等动词 “老化”或“弛豫”的各种语法变体在本文中能够互换地使用。本文中的示例假设被补偿的 现象是像素的驱动晶体管的老化或弛豫，但是应当强调的是，本发明不限于仅对老化或弛 豫的现象的快速补偿，而是同样适用于通过测量像素/像素电路的特性并且将测量出的特 性与之前测量出的值或参考值进行比较来判断像素/像素电路是否正在受到现象(例如， 老化、过补偿、颜色偏移、温度或加工偏差、或者驱动电流或相对于参考电流或电压的 的偏差)的影响，对像素或与像素相关联的像素电路的任何变化现象的补偿。[0040]为了方便起见，用于识别变化(诸如老化或弛豫等)的区域的系统和方法将被简 称为估计算法。如结合附图在下面所论述的那样，该估计算法自适应地控制在具有高的变 化(例如，老化/弛豫)可能性的那些区域中的像素的测量，这使得用于补偿的估计速度变 快。能够通过所述估计算法快速地辨别显示面板的新近变化的(例如，老化的或弛豫的) 区域，而不需要所有像素的全面板扫描。就变化而言，意味着像素或与像素相关联的像素电 路的特性的变化。如上所述，所述特性可以是例如驱动TFT电流、Vmd、像素亮度或颜色强 度。这些变化可能是由于包括像素的老化或过补偿、环境温度变化的一个或多个现象，或者 由于半导体制造工艺中固有的、导致基板上的像素间或像素簇间的性能差异的材料非均匀 性而出现的。[0041]图1A是具有有源矩阵区域或像素阵列102的电子显示系统100，其中，有源像素 104a至104d的阵列是以行和列配置设置的。为了便于说明，只示出了两行两列。在作为像 素阵列102的有源矩阵区域的外部是外围区域106，外围区域106布置有用于驱动和控制像 素阵列102区域的外围电路。外围电路包括栅极或地址驱动器电路108、源极或数据驱动器 电路110、控制器112和可选的电源电压(例如，Vdd)驱动器114。控制器112控制栅极驱 动器108、源极驱动器110和电源电压驱动器114。栅极驱动器108在控制器112的控制下 对地址或选择线SEL[i]、SEL[i+l]等等进行操作，像素阵列102中的像素104的每一行设 置有一条地址或选择线。在像素共用构造中，栅极或地址驱动器电路108也能够可选择地 对全局选择线GSEL[j]和/ GSEL[j]进行操作，全局数据线对像素阵列102中的像素104a 至104d的多行(诸如像素104a至104d的每两行)进行操作。源极驱动器电路110在控 制器112的控制下对电压数据线Vdata[k]、Vdata[k+Ι]等等进行操作，像素阵列102中的 像素104a至104d的每一列设置有一条电压数据线。电压数据线将表明像素104中的每个 发光器件或元件的亮度的电压编程信息输送至每个像素104。在每个像素104中，存储元件 (诸如电容器等)存储电压编程信息直至发射或驱动周期开启发光器件。可选的电源电压 控制器114在控制器112的控制下控制电源电压(EL_Vdd)线，像素阵列102中的像素104a 至104d的每一行设置有一条电源电压线。[0042]显示系统100还可以包括电流源电路，电流源电路将固定电流供给到电流偏置线 上。在一些构造中，能够将参考电流供给至电流源电路。在这样的构造中，电流源控制器控 制电流偏置线上的偏置电流的施加时序。在不对电流源电路施加参考电流的构造中，电流 源地址驱动器控制电流偏置线上的偏置电流的施加时序。[0043]众所知之，需要使用表明在像素104a至104d中的发光器件亮度的信息对显示系 统100中的每个像素104a至104d进行编程。“帧”限定了包括编程周期或阶段以及驱动或 发射周期或阶段的时间段；在编程周期或阶段期间，使用表明亮度的编程电压对显示系统 100中的每个像素进行编程；在驱动或发射周期或阶段期间，每个像素中的各发光器件被 开启以使各发光器件以与存储在存储元件中的编程电压相对应的亮度发光。因此，帧是组 成显示在显示系统100上的完整的动态图像的许多静态图像中的一个静态图像。存在至少 两种用于对像素进行编程和驱动的方案:逐行或逐帧。在逐行编程中，对像素的行进行编程 并且随后进行驱动，然后，再对像素的下一行进行编程并且随后进行驱动。在逐帧编程中， 首先对显示系统100中的像素的所有行进行编程，然后逐行驱动所有帧。上述任一方案都 能够在每一帧的开始或结束时采用短暂的垂直消隐时间，在垂直消隐时间期间既不对像素 编程也不驱动像素。[0044]位于像素阵列102外部的组件可以被布置在像素阵列102周围的外围区域106 内，并且像素阵列102与外围区域106布置在同一个物理基板上。这些组件包括栅极驱动 器108、源极驱动器110和可选的电源电压控制器114。可替换地，可以将外围区域中的一 些组件布置在与像素阵列102相同的基板上，而将其它的组件布置在不同的基板上；或者 可以将外围区域中的所有组件都布置在与设置有像素阵列102的基板不同的基板上。栅极 驱动器108、源极驱动器110和电源电压控制器114 一起组成显示驱动器电路。一些构造中 的显示驱动器电路可以包括栅极驱动器108和源极驱动器110但是不包括电源电压控制器 114。[0045]显示系统100还包括电流供给和读出电路120，电流供给和读出电路120从数据输 出线VD[k]、VD[k+l]等等读取输出数据，像素阵列102中的诸如像素104a、104c的列等各 列设置有一条数据输出线。一组列参考像素130组装在像素阵列102的边缘且位于诸如像 素104a和104c的列等各列的端部处。列参考像素130也能够接收来自控制器112的输入 信号且将相应的电流或电压信号输出至电流供给和读出电路120。每个列参考像素130包 括参考驱动晶体管和参考发光器件(诸如OLED等)，但是参考像素不是显示图像的像素阵 列102的一部分。在编程周期的大部分时间内不驱动列参考像素130，因为它们不是用来显 示图像的像素阵列102的一部分，并且因此与像素104a和104c相比，列参考像素130不会 由于编程电压的不断施加而老化。尽管在图1中仅示出一个列参考像素130，但是应理解， 能够存在任意数量的列参考像素，尽管二至五个这样的参考像素可以用于此示例中的像素 的各列。相应地，阵列102中的像素的每一行也包括位于各行像素(诸如像素104a和104b 等)的端部处的行参考像素132。每个行参考像素132包括参考驱动晶体管和参考发光器 件，但是它们不是显示图像的像素阵列102的一部分。行参考像素132为在生产时确定的 像素売度曲线提供参考核对。[0046]以列(k...k+w)将显示面板100的像素阵列102分成如在图1B中所示的列的区或 块，各个块由连接至控制器112的增强集成电路(EIC)140a、140b、140C控制。每个EIC140a、140b、140c控制像素阵列102的各个像素区170a、170b、170c。在帧时间期间，对于确定的列(k...k+w)，在每个EIC140a、140b、140c中选择诸如图1B中的i行和j行等一些行(典型地，参考像素的两行和面板像素的一些行)，且对所选的像素进行测量。测量这些像素的特性(诸如用来驱动每个像素104的发光器件的驱动电流Ip等)且将其与参考特性或参考值(诸如参考电流Ir等)进行比较。能够从参考像素130或132或从固定电流源中获得参考电流。上述比较判断每个像素104是否是过补偿的(在这种情况下，Ip>Ir)或老化的(在这种情况下，Ip<Ir)。图1C中示出的每个像素的状态机跟踪每个像素的后续比较结果以判断上述比较是由于噪声或实际的老化/恢复引起的。[0047]存储器记录每个分簇策略(clustering scheme)中的所有子像素的绝对老化估计 (即，AbsAge[i, j, color, cs])。如果像素处于状态I且Ir^Ir，那么与该像素相对应的存储器的内容递增I。如果该像素处于状态2且Ιρ>Ιρ那么在存储器中的与该像素相关联的绝对老化值递减I。通常能够将存储器安装在控制器112中或者连接至控制器112。绝对老化值是参考值的示例，所述参考值能够用来跟踪像素相对于感兴趣的特性(例如，驱动电流、、亮度、颜色强度)的先前测量是否已经变化以补偿影响像素性能、效率或寿命的现象(例如，驱动TFT或发光器件的老化/弛豫、颜色偏移、温度变化、加工不均匀)。[0048]参照图1D，示出了一个区170a。每个区具有多个像素簇160a、160b、160c (鉴于示例，只示出三个)。簇160a、160b、160c是像素的分组，并且典型地可以是矩形但也可以是任何其它形状。每个簇160a由多个像素140a、140b、140c (鉴于示例，只示出三个)组成。每个像素140a能够由诸如RGB、RGBW、RGB1B2等一个或多个“有色的”子像素150a、150b、150c 组成。子像素150a、150b、150c是能够发光的显示面板100上的物理电子电路。如在本文中使用的术语“像素”也可能是指子像素(即，具有单个发光器件的分立的像素电路)，因为将子像素称作像素是方便的。最后，如在本文中所使用地，分簇策略是将显示面板100分成簇160a、160b、160c的方式。例如，可以使用笛卡尔网格以将面板100分成矩形的簇160a、 160b、160c。能够使用空间转换(spatial shift)作为代替笛卡尔网格方案的变形。在整个补偿处理中，能够使用分簇策略的不同变形或者能够采用单个分簇策略。[0049]在上述【背景技术】部分中所述的示例说明了用于补偿像素的老化/弛豫的强力方法的效率极低的性能。每个EIC区的常规的全面板扫描是非常缓慢的过程。幸运的是，像素的老化/弛豫不是纯粹随机的。由于显示在面板102上的视频内容的空间相关性，存在着朝向老化/弛豫的空间相关性的强烈倾向。换言之，如果像素104正在老化/弛豫、失去它的亮度或正经历着颜色、驱动电流或Vmd的偏移，那么相同的现象正在影响着靠近这个像素的其它像素104(即，邻近像素也正在变化)的可能性就高。根据本发明的估计算法利用这个趋势来实现较高的估计速度以将补偿集中在特性变化最严重的区域。[0050]在本文中公开的估计算法是将较高优先级给予处于连续变化中的扫描区域的基于优先级的局部的扫描方案。假设能够将某区识别为需要补偿(例如，对于老化或弛豫) 的区域，因此，这也涉及:使用来自该区域中的单个像素的单个测量数据作为候选数据来判断其余区是否需要进一步的补偿。该智能是以这样的方式集成和设计的:在测量已经集中在需要高度关注的区域的同时，估计算法快速检测新近变化的区域。[0051 ] 为了利用老化外 形 的位置，将每个EIC的区170a分成8X8像素104 (例如，16X16 子像素150)的簇160a、160b、160c。估计算法包括因此运行在各簇160a、160b、160c上的两个阶段(阶段I和阶段II)。阶段I的主要作用是尽快判定簇160a、160b、160c是否需要在 阶段II中被高度关注。在阶段I中，64个像素104的簇160a、160b、160c的给定颜色(例 如，红色、绿色、蓝色或白色)只需要被扫描到足以确认簇160a、160b、160c是不重要的或者 被扫描直到完全扫描一次簇160a、160b、160c。这样的快速扫描确保了快速地检测到新近出 现的变化(例如，老化的/弛豫的)区域。然而，在阶段II中，根据簇中的先前的测量而被 量化的优先级的概念被用于扩展对于更多像素簇160a、160b、160中的测量，也用来加速老 化/弛豫的绝对值或感兴趣的其它参考值的变化，用来加速噪声过滤，并且用来类似地处 理被测像素的其余邻近像素。[0052]图2是与估计算法200相关联的组件或模块的功能性框图。每个EIC104a、104b、 104c输出与检查中的像素104相对应的被测电流Ipixel, Ipixel表示在发射或驱动周期内例 如由像素中的发光元件提取的电流量。参考电流Im要么被提供至测量和更新区块(阶段 I) 204，要么被测量和更新区块(阶段1)204获知，并且将被测电流与参考电流进行比较以 判断像素是否处在老化或弛豫状态。如果像素的状态相对于之前的测量发生变化，那么更 新它的状态(见图1C)。当感兴趣的特性是与老化或弛豫现象有关的特性之外的特性(诸 如驱动TFT电流、V_D、像素亮度、颜色等等)时，EIC输出表明特性测量的测量信号，该测量 信号和与所述特性相关联的参考值进行比较，以判定感兴趣的特性是否相对于最后的测量 发生了变化。[0053]现在，将说明主要的区块。下面将结合流程图说明关于这些区块中的各者的细节。 测量和更新区块204判断在所有EIC140a、140b、140c中的相同位置(例如，在EICl 140a中 的位置i，k处的像素A、在EIC2140b中的位置i，k处的像素B和在EIC3140c中的位置i， k处的像素C)中的一个或多个像素的状态是否已经翻转(或者，更一般地，参考值相对于像 素特性的先前的测量是否已经变化)，并且如果是这样，那么将估计算法的控制传送至额外 像素扫描区块(阶段II) 208。在阶段II中，如果额外像素扫描区块208判定需要测量额外 像素，那么测量和更新区块204测量该额外像素且更新与任一被测像素(它们的状态相对 于先前的测量发生变化)相对应的状态机逻辑。额外像素扫描区块208能够基于优先级值 对优先级查找表(LUT)212进行询问以确定要被扫描的额外像素的数量，所述优先级值是 根据处于老化或弛豫状态中的簇中的像素的数量确定的。因此，在给定的老化的/弛豫的 簇中的像素越多，该簇就能够被分配有越高的优先级值，并且因此更多的像素被标识以进 行进一步的测量。[0054]测量和更新区块204能够使用可选的邻域更新区块206以与更新被测像素类似的 方式可选地更新邻近像素。因此，如果被测像素的状态处于与它的大部分邻近像素相同的 状态，那么在绝对老化表210中能够调整和更新这些邻近像素的绝对老化/弛豫值，绝对 老化表210存储每个像素的绝对老化/弛豫值，作为如图1C中所确定的它们的状态的函 数。绝对老化表210被提供至补偿区块202或被补偿区块202访问，如上说明地，补偿区块 202可以是用于补偿在老化/弛豫状态中的像素，诸如补偿Vmd偏移(即，像素104中的发 光元件两端的电压的偏移)、TFT老化(即，用于驱动像素104中的发光元件的驱动晶体管 的阈值电压Vt的偏移)或者OLED效率损失(S卩，由于除了 V_偏移之外的现象)或OLED 颜色偏移等的任何适合的方法、电路或算法。补偿区块202输出如下信号来补偿老化/弛 豫，所述信号被提供回像素阵列102用于调整例如编程电压、偏置电流、电源电压和/或时序。[0055]已经参照图2说明了主要的区块，接下来将说明估计算法的高级说明。术语“步 骤”的使用是与术语动作、功能、区块或模块同义的。每个步骤的编号不一定旨在传达顺序 是受时间限制的，而仅是简单地用来将一个步骤与另外一个步骤区分开。[0056]步骤O:选择第一个/下一个分簇策略。如上所限定地，分簇策略确定如何将显示 面板100分成簇。在本示例中，假设采用矩形分簇策略。[0057]步骤1:选择第一种/下一种颜色。如上所说明的，每个像素104能够由多个子像 素150组成，每个子像素发出诸如红色、绿色或蓝色等不同颜色。[0058]步骤2:选择第一个/下一个簇(例如，开始于簇160a)。能够以任何期望的顺序 进行扫描。例如，能够根据从右上到左下的扫描顺序扫描每个簇。[0059]步骤3 (阶段I的开始):在当前簇(例如，簇160a)中，选择要被测量的下一个像 素。对像素104a运行测量和更新区块204以通过如下方式判定像素104a的状态是老化、 弛豫还是既不老化也不弛豫:在比较器中将该像素104a的被测电流与参考电流进行比较， 并且通过使用比较器的输出以根据图1C确定像素的状态。能够为估计算法记录已扫描的 像素104a的坐标以使在本次结束的地方开始下次扫描。[0060]步骤4:对于所有的EIC140a、140b、140c进行步骤3直至比较结果(O或I)至少 翻转一次。然而，如果循环(步骤3至步骤4)重复16次，那么中断循环并转至步骤5。因 此,如果在其中一个EIC区170a中的簇已经是老化的/弛豫的,那么对于所有的十六次测 量(全部的簇扫描)的比较器输出必须保持一样(要么〉要么〈)，否则，比较器的翻转使阶 段I的继续停止。[0061]步骤5 (阶段II的开始):找出被扫描的当前簇的最大优先级P.。最大优先级等 于在所有EIC中的相应簇(可选地，包括邻近像素)的最大优先级。在EIC中的簇的优先 级值是处于状态2 (见图1C)的像素的数量与处于状态I的像素的数量的绝对差。因此，如 果簇已经是老化的(或弛豫的)，那么簇的大部分像素处于状态I (或状态2)。注意，阶段 I保证:如果簇是最近老化的/弛豫的，那么阶段I中的测量周期已经足够长来具有在该簇 中的状态机的更新值。表1:相对于优先级的额外扫描像素的数量Pmx〈11 ~INEx=O10〈Pmx〈15~NEx=4~14〈Pmx〈20~NEx=8~19<Pmx<26~NEx=1825<Pmx<33~NEx=3232<Pmx NEx=48[0062]步骤6:基于在步骤5中确定的最大优先级Pmax,根据LUT212设定在这个簇中需要 被扫描的额外像素的数量(NEx)，在上面的表I中示出了 LUT212的示例。[0063]步骤7:从阶段I中最后测量的像素坐标开始，扫描簇(通常是在所有EIC140a、 140b、140c中)中的额外的NEx个目标像素。在扫描的同时，进行基于在每个EIC中的簇的优先级值的以下工作:[0064]步骤7.1 (邻域更新):如果当前帧中被测量的每个像素104而言，如果它的簇的优先极值P>Thr (例如，Thr=24或Thr=30)并且像素104的状态在测量之后保持不变，当像素104的状态与该簇中的大部分像素的状态相同时，被测像素的八个邻近像素的绝对老化值递增/递减I (在绝对老化表210中)，这八个邻近像素具有与被测像素相同的颜色和相同的状态机值。如果被测像素的状态是I则加1，且如果被测像素的状态是2则减I。在这种情况下，可选地，将被测像素的8个邻近像素的指数移动平均滤波器的系数除以2，这8个邻近像素具有与被测像素相同的颜色和相同的状态机值。这确保了对高优先级簇以更短的延迟完成平均(噪声滤波)。存在着一个限度，超过这个限度，平均滤波器的系数将不再被除。[0065]步骤8:返回步骤I。[0066]已经说明估计算法的高级操作，现在，将在下面的编号的段落中说明额外的考虑。[0067]1.在本发明的各方面的典型实施中，估计老化的绝对值增加/减少一个恒定值 (例如，I或2)。可替代地，能够加速绝对值的变化，使得在高优先级簇中的像素相对于在非高优先级簇中的像素经历绝对老化值的更大变化。[0068]2.要被扫描的像素的列表能够存储在测量队列(MQ)中。为了使像素的测量时间最小化，控制器112能够被设置用来允许每帧进行多行测量。因此，在上面的步骤3和7中， 能够连同目标像素一起测量额外的行。选择这些额外的行，使得每行位于不同的簇中，且它们对应的簇具有沿着EIC的最高累计优先级。它们的本地坐标(行和列)与目标像素相同。 如在本文中使用的，“目标”或“所选像素”是指在测量中或考虑中的特定像素，其与邻近像素或下一个像素(是指考虑中的目标像素或所选像素的邻近像素)相对。[0069]3.每当由于领域效应使绝对老化值(存储在绝对老化表210中)以它的值增加/ 减少I的方式而变化时，也能够更新其它相关的查找表，诸如存储平均老化值和△老化值等的表。[0070]4.举例来说，在估计算法的初始化时，能够将所有的簇优先级设定为0，能够将像素的所有状态机复位至0，并且能够随机地设定簇中的最后被测像素位置或者能够将簇中的最后被测像素位置初始化为簇中的右上像素。[0071]5.能够按期望设定簇中的像素测量的顺序。作为示例，下面的表2示出了对于64像素簇的从右上到左下的顺序。存储簇中最后被测量的像素的坐标；因此，估计算法对该簇的下一次访问能够从上述最后被测量的像素之后的那个像素开始测量。在像素64之后被测量的下一个像素是像素I。表2:簇中的像素测量顺序示例
【权利要求】
1.一种识别偏离了先前状态的区域或偏离了先前测量出的参考值的区域的方法，所述区域是包含像素的显示面板的区域，所述像素被布置成像素簇，所述方法包括:扫描第一簇中的至少一个像素中的各者直至满足第一标准，所述扫描包括:测量在所述第一簇中的所述像素中的一个目标像素的特性；将测量出的所述特性与参考特性进行比较以确定所述目标像素的状态；和如果所述目标像素的状态相对于所述目标像素的先前测量已经改变，那么判定所述第一标准得以满足；以及响应于被满足的所述第一标准，至少基于被扫描的所述像素的状态自动补偿所述显示面板的测量出的所述特性的偏差，以使测量出的所述特性朝向所述参考特性偏移。
2.如权利要求1所述的方法，其中，所述显示的所述像素还被布置成多个区，至少一些所述区中的各者具有多个像素簇，其中，在每个所述区中的至少一个簇中实施所述扫描，其中，所述第一标准响应于每个所述区中的所述至少一个像素中的状态相对于所述至少一个像素的先前测量发生改变而得以满足，其中，所述状态至少表明所述目标像素是否处于表示所述目标像素正在老化的老化状态，并且其中，所述自动补偿对所述第一簇中的至少一个像素的老化或过补偿进行补偿。
3.如权利要求1所述的方法，其中，测量出的所述特性是用来驱动所述目标像素中的发光器件的电流，其中，在所述第一簇中根据在右上像素开始且在左下像素结束的扫描顺序实施所述扫描。
4.如权利要求1所述的方法，其中，在实施所述自动补偿之前，只对所述第一簇中的一些所述像素进行所述测量。
5.如权利要求1所述的方法，还包括:将所述第一簇的优先级确定为所述第一簇中的每个被测像素各自的所述状态的函数， 以生成优先级值。
6.如权利要求5所述的方法，其中，所述状态还表明所述目标像素是否处于过补偿状态，其中，所述函数包括确定所述第一簇中的处在所述过补偿状态中的被测像素的数量与所述第一簇中的处在老化状态中的被测像素的数量的绝对差。
7.如权利要求5所述的方法，还包括:基于所述优先级值确定所述第一簇中要被测量的额外像素的数量，使得越高的所述优先级值表明所述第一簇中要被测量的所述额外像素越多；以及测量每个所述额外像素的特性以确定每个所述额外像素的所述状态。
8.如权利要求7所述的方法，其中，所述状态还表明所述目标像素是否处于过补偿状态，其中，所述函数包括确定所述第一簇中的处于所述过补偿状态中的被测像素的数量与所述第一簇中的处于老化状态中的被测像素的数量的绝对差，并且其中，响应于不超过最小阈值的所述绝对差，所述额外像素的数量是O ，所述最小阈值表明所述第一簇中的所述额外像素是否需要被测量。
9.如权利要求7所述的方法，还包括:响应于超过阈值的所述优先级值，调整与所述被测像素的邻近像素的绝对老化值相关联的对应的绝对老化值，所述邻近像素与所述被测像素具有相同的状态，所述绝对老化值表明所述被测像素老化或过补偿的程度。
10.如权利要求9所述的方法，还包括:对于已经调整了所述绝对老化值的每个所述邻近像素，减小与已经调整了所述绝对老化值的每个所述邻近像素相关联的平均滤波器的系数。
11.如权利要求9所述的方法，其中，所述调整包括:响应于处在老化状态中的所述被测像素的状态，所述绝对老化值递增1，并且响应于处在过补偿状态中的所述被测像素的状态，所述绝对老化值递减I。
12.如权利要求9所述的方法，其中，所述绝对老化值是通过恒定值调整的或者作为所述优先级值的函数，使得较高优先极值相对于较低优先级值而言，所述绝对老化值被调整更大的量。
13.如权利要求2所述的方法，还包括:将每个所述区中的所述至少一个簇的优先级确定为被测量的簇的对应簇中的每个所述被测像素各自的所述状态的函数，以此为每个所述区生成相应的优先级值。
14.如权利要求13所述的方法，其中，所述状态包括所述目标像素是否处于过补偿状态，其中，所述函数包括确定每个所述区中的每个所述至少一个簇中的处于所述过补偿状态的被测像素的数量与每个所述区中的每个所述至少一个簇中的处于所述老化状态的被测像素的数量的绝对差，所述绝对差对应于所述优先级值。
15.如权利要求14所述的方法，还包括:对于每个所述区，基于所述优先级值确定在相应的所述至少一个簇中要被测量的额外像素的数量，使得越高的优先级值表明在相应的所述至少一个簇中要被测量的额外像素越多。
16.如权利要求1所述的方法，其中，所述第一簇中的所述目标像素在所述第一簇中的第一行，所述扫描还包括在帧期间测量所述第一簇中的所述像素中的一个第二目标像素的特性，所述第二目标像素出现在所述第一簇中的不同于所述第一行的第二行。
17.如权利要求7所述的方法，其中，每个所述额外像素在所述第一簇内的连续的或非连续的不同行，在帧期间对处于所述不同行的至少两个所述额外像素实施每个所述额外像素的所述特性的测量。
18.如权利要求1所述的方法，其中，所述状态还表明所述目标像素是处于老化状态还是处于过补偿状态。
19.如权利要求1所述的方法，其中，测量出的所述特性是由所述目标像素中的发光器件提取的电流，并且所述参考特性是参考电流。
20.如权利要求19所述的方法，其中，所述参考电流是由所述显示面板中的参考像素提取的电流。
21.一种为像素的区域确定优先级的方法，所述区域具有偏离显示面板的像素区域的特性的先前测量值或参考值的高可能性，所述方法包括:测量所述显示面板的至少一些所述像素的特性；将每个被测像素的测量出的所述特性与对应的参考特性进行比较以确定每个所述被测像素的相应状态；将所述显示面板的所述区域的优先级`确定为每个所述区域中的所述被测像素的所述状态的函数以生成优先级顺序；和根据所述优先级顺序在所述区域中自动补偿测量出的所述特性与所述参考特性的偏差。
22.如权利要求21所述的方法，还包括:扫描第一簇中的至少一些所述像素中的各者直至满足第一标准，所述扫描包括:将测量出的所述特性与参考特性进行比较以确定所述第一簇中的目标像素的状态，所述状态至少表明所述目标像素是否处于表示所述目标像素正在老化的老化状态；和如果所述目标像素的所述状态相对于所述目标像素的先前测量已经改变，那么判定所述第一标准得以满足，其中，所述自动补偿至少根据被扫描的所述像素的所述状态并且补偿所述区域的老化或过补偿。
23.如权利要求22所述的方法，其中，所述显示的所述像素还被布置成多个区，至少一些所述区中的各者具有多个像素簇，其中，在每个所述区中的至少一个簇中实施所述扫描， 并且其中，所述第一标准响应于每个所述区中的至少一个像素的所述状态相对于所述至少一个像素的先前测量发生改变而得以满足。
24.如权利要求22所述的方法，其中，测量出的所述特性是用来驱动所述目标像素中的发光器件的电流并且所述参考特性是参考电流，其中，在所述第一簇中根据在右上像素开始且在左下像素结束的扫描顺序实施所述扫描。
25.如权利要求22所述的方法，其中，所述状态表明所述目标像素是处于所述老化状态还是处于过补偿状态，其中，所述函数包括确定所述第一簇中的处于所述过补偿状态的被测像素的数量与所述第一簇中的处于所述老化状态的被测像素的数量的绝对差。
26.如权利要求22所述的方法，其中，所述确定优先级包括将所述第一簇的优先级确定为所述第一簇中的每个所述被测像素各自的所述状态的函数以生成优先级值，所述方法还包括:基于所述优先级值确定所述第一簇中要被测量的额外像素的数量，使得越高的优先级值表明所述第一簇中要被测量的所述额外像素越多；和测量每个所述额外像素的特性以确定每个所述额外像素的所述状态。
27.如权利要求26所述的方法，其中，所述状态表明所述目标像素是处于所述老化状态还是处于过补偿状态，其中，所述函数包括确定所述第一簇中的处于所述过补偿状态的被测像素的数量与所述第一簇中的处于所述老化状态的被测像素的数量的绝对差，并且其中，响应于不超过最小阈值的所述绝对差，所述额外像素的数量为O，所述最小阈值表明所述第一簇中所述额外像素是否要被测量。
28.如权利要求26所述的方法，其中，所述状态表明所述目标像素是处于所述老化状态还是处于过补偿状态，所述方法还包括:响应于超过阈值的所述优先级值，调整与所述被测像素的邻近像素的绝对老化值相关联的对应的绝对老化值，所述邻近像素与所述被测像素具有相同的状态，所述绝对老化值对应于表明像素老化或过补偿的程度的值。
29.如权利要求28所述的方法，还包括:对于已经调整了绝对老化值的每个所述邻近像素，减小与已经调整了绝对老化值的每个所述邻近像素相关联的平均滤波器的系数。
30.如权利要求28所述的方法，其中，所述调整包括:响应于处在所述老化状态的所述被测像素的状态，所述绝对老化值递增I ;且响应于处在所述过补偿状态的所述被测像素的状态，所述绝对老化值递减I。
31.如权利要求28所述的方法，其中，所述绝对老化值是通过恒定值调整的或者作为所述优先级值的函数，使得较高优先极值相对于较低优先级值而言，所述绝对老化值被调整更大的量。
32.一种利用像素的已知测量来更新显示面板的邻近像素的估计老化的方法，所述显示面板被布置成像素簇，所述方法包括:测量所述显示面板的所述簇的第一簇中的每个像素的特性；对于在所述簇中的每个像素，将所述像素的测量出的所述特性与参考特性进行比较以确定所述像素的状态，所述状态表明所述像素是处于老化状态、过补偿状态还是既不老化又不过补偿状态；如果所述簇中的所选像素的所述状态相对于所述所选像素的先前测量没有变化并且所述所选像素的所述状态与所述簇中的大部分其它像素的状态相同，那么调整与所述所选像素的邻近像素相关联的对应的老化值，每个所述老化值代表着像素的老化状态或弛豫状态并且被存储在与所述显示面板耦合的存储器中；以及至少部分基于所述邻近像素的所述老化值自动补偿所述显示面板的老化或弛豫。
33.如权利要求32所述的方法，还包括:对于已经调整了老化值的每个所述邻近像素， 减小与已经调整了老化值的每个所述邻近像素相关联的平均滤波器的系数。
34.如权利要求32所述的方法，其中，所述邻近像素紧邻所述所选像素。
35.一种选择性地扫描显示面板的区域的方法，所述显示面板具有像素并且被分为多个像素簇，所述方法包括:在第一阶段中扫描至少一些所述簇直至满足第一标准，所述扫描包括:测量根据像素扫描顺序被扫描的所述簇中的目标像素的特性；将测量出的所述特性与参考特性进行比较以生成所述目标像素的状态，所述状态表明所述目标像素是处于老化状态、弛豫状态还是既不老化又不弛豫状态；响应于与所述目标像素的先前状态不同的所述目标像素的状态，判定所述第一标准得到满足；和响应于被扫描的所述簇中的目标像素的预定数量，判定所述第一标准得到满足；以及响应于被满足的所述第一标准，进一步扫描至少一个所述簇，所述进一步扫描包括: 将用于扫描额外像素的优先级确定为被扫描的所述簇的老化或弛豫程度的函数； 测量被扫描的所述簇中的一些额外目标像素的所述特性，其中，所述额外目标像素的数量是所述优先级的函数；和响应于与被扫描的所述簇中的大部分其它像素的状态相同的所述目标像素的所述状态，调整与所述目标像素的邻近像素相关联的对应的老化值，每个所述老化值代表着像素的老化或弛豫状态并且每个所述老化值被存储在存储器中。
【文档编号】G09G3/20GK103562987SQ201180071167
【公开日】2014年2月5日 申请日期:2011年11月16日 优先权日:2011年5月26日
【发明者】贾维德·贾菲里, 戈尔拉玛瑞扎·恰吉, 阿布多列扎·海达里 申请人:伊格尼斯创新公司