一种用于防伪的双层标签的底层标签的制作方法

本发明涉及防伪商标技术，尤其涉及一种用于防伪的双层标签的底层标签。

背景技术：

目前，防伪已经是商品流通、销售等不可缺少的技术。当前的商品防伪技术方法主要有二维码，激光全息技术，荧光材料，水印纸等。二维码的语义信息易于解读但也易于被复制；激光全息技术，荧光材料，水印纸等方法将主要精力放在防伪材料和复杂的纹理上面，生产成本高、技术复杂且不利于大规模推广。

对于解决此问题而出现的双层标签，需要一种设计简单而特殊，成本低廉且可靠性好的底层标签，解决了纯粹依靠复杂材料和复杂纹理来进行防伪的高成本问题。

技术实现要素：

本发明要解决的技术问题在于针对现有技术中的缺陷，提供一种用于防伪的双层标签的底层标签。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种用于防伪的双层标签的底层标签，该底层标签为随机纹理标签，其生成方法如下：

1）对底层标签的随机底纹，采用伪随机数发生器，在任意一个像素位置，随机产生空白或灰色、或指定的颜色，无需事先指定各个像素位置的像素值；

2）对生成的底纹随机纹理，采用SIFT特征检测，若检测出至少300个显著局部奇异性的SIFT特征点，则保存，转入步骤3）；否则丢弃该生成的底纹，转入步骤1）；

3）在印制到商品包装物之上的时候，对该随机纹理的长宽尺寸进行精确控制, 所述下层标签的面积大于等于上层标签面积的3倍。

本发明的工作原理：在下层标签之上，手工或机械张贴商品防伪标签，获得双层防伪标签。对此双层防伪标签采用SIFT特征检测，提取并保存适当比例的SIFT特征点。在商品检验真伪阶段，通过手机App直接拍照验证防伪标签的语义信息，获得商品的信息，也可获得商品的产地、制造商等信息。通过对真实商品和待检验商品的标签进行拍摄成像，分别计算两幅图片中防伪标签相对于下层底纹的相对位移。由于下层标签具有丰富的SIFT特征，可以用来进行底纹的精确配准，在此配准基础上计算的上层标签相对下层标签的位移信息可以精确到0.05mm量级。

即便下层纹理标签和上层标签都被伪造者精确复制，在机械操作或手工操作的条件下，极难复制真实商品防伪标签相对下层标签的位移信息。

本发明产生的有益效果是：底纹简单特殊而不复杂，可快速的根据此底纹实现下层标签的配准。

附图说明

下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明，附图中：

图1是本发明实施例的防伪下层灰色随机标签图；

图2是灰色随机底纹上张贴过上层防伪标志标签的效果示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

一种用于防伪的双层标签的底层标签，该底层标签为随机纹理标签，其生成方法如下：

1）对底层标签的随机底纹，采用伪随机数发生器，在任意一个像素位置，随机产生空白或灰色、或指定的颜色；

2）对生成的底纹随机纹理，采用SIFT特征检测，若检测出至少300个的显著局部奇异性SIFT特征点，则保存，转入步骤3）；否则丢弃该生成的底纹，转入步骤1）；

3）在印制到商品包装物之上的时候，对该随机纹理的长宽尺寸 进行精确控制。

图1为本发明所提供的底层标签；而图2为下层随机纹理标签之上覆盖了特定防伪标签的效果示意图。

本发明所涉及双层标签如下，包括：

上层标签和下层标签；

所述上层标签整体边界处在下层标签的边界范围内；

所述下层标签的纹理信息为用于SIFT特征提取的纹理信息。

其中，所述上层标签的纹理信息为包括商品信息的纹理信息。

常用的，所述上层标签为二维码标签，上层标签中包括的商品信息包括商品名称、商品产地和制造商。

上层标签的纹理信息包括丰富的灰度梯度特征信息。下层标签的面积大于等于上层标签面积的3倍。

应当理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，而所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。