1.一种阵列基板的检测方法，其特征在于，所述阵列基板包括多个亚像素，每个所述亚像素包括像素电路，所述像素电路包括第一子像素电路、第二子像素电路以及发光器件；所述第一子像素电路与第一电源线、第一扫描信号线、数据信号线以及所述发光器件的阳极电连接；所述第二子像素电路与第二电源线、第二扫描信号线以及所述发光器件的阳极电连接；
所述阵列基板的检测方法，包括：
在写入阶段，向所述第一电源线输入直流电压，向所述第一扫描信号线输入选通信号，所述第一子像素电路打开，以使所述第一电源线的直流电压向所述发光器件的阳极输入；向所述第二电源线输入交流电压，向所述第二扫描信号线输入选通信号，所述第二子像素电路打开，以使所述第二电源线的交流电压向所述发光器件的阳极输入；
在检测阶段，检测所述亚像素中所述发光器件的所述阳极的电压值，并判断所述阳极的电压值与所述直流电压的差值的绝对值是否大于预设电压值，若所述阳极的电压值与所述直流电压的差值的绝对值大于预设电压值，则该所述亚像素中所述第一子像素电路与所述第一电源线断开；
其中，所述直流电压和所述交流电压在所述写入阶段的电压的差值的绝对值大于所述预设电压值。
2.根据权利要求1所述的阵列基板的检测方法，其特征在于，所述直流电压为正电压，所述交流电压在所述写入阶段的电压为负电压；
或者，所述直流电压为负电压，所述交流电压在所述写入阶段的电压为正电压。
3.根据权利要求1所述的阵列基板的检测方法，其特征在于，在所述写入阶段之前设置有重置阶段，所述的阵列基板的检测方法，还包括：
在所述重置阶段，向所述第一电源线、所述第二电源线以及所述数据信号线均输入接地电压；向所述第一扫描信号线输入选通信号，以使所述第一子像素电路打开，所述数据信号线的接地电压向所述发光器件的阳极输入；向所述第二扫描信号线输入选通信号，以使所述第二子像素电路打开，所述第二电源线的接地电压向所述发光器件的阳极输入。
4.根据权利要求3所述的阵列基板的检测方法，其特征在于，
在所述重置阶段之后，在所述写入阶段之前设置有充电阶段，所述阵列基板的检测方法还包括：
在所述充电阶段，向所述第一扫描信号线输入选通信号，以使所述第一子像素电路断开；向所述第二扫描信号线输入选通信号，以使所述第二子像素电路断开；向所述第一电源线输入直流电压，向所述第二电源线输入交流电压。
5.根据权利要求1所述的阵列基板的检测方法，其特征在于，所述第一子像素电路包括驱动子电路和写入子电路；
所述驱动子电路与所述第一电源线、所述写入子电路以及所述发光器件的阳极电连接，用于驱动所述发光器件发光；
所述写入子电路与所述数据信号线和所述第一扫描信号线电连接，用于在所述第一扫描信号线的控制下，将所述数据信号线的电压写入到所述驱动子电路。
6.根据权利要求5所述的阵列基板的检测方法，其特征在于，所述驱动子电路包括驱动晶体管和存储电容；
所述驱动晶体管的栅极与所述写入子电路电连接，第一极与所述第一电源线电连接，第二极与所述发光器件的阳极电连接；
所述存储电容的一端与所述驱动晶体管的栅极电连接，另一端与所述发光器件的阳极电连接。
7.根据权利要求6所述的阵列基板的检测方法，其特征在于，在所述检测所述亚像素中所述发光器件的所述阳极的电压值之前，所述的阵列基板的检测方法还包括：
在所述检测阶段，向所述第一扫描信号线输入选通信号，以使所述第一子像素电路断开；向所述第二扫描信号线输入选通信号，以使所述第二子像素电路断开。
8.根据权利要求1所述的阵列基板的检测方法，其特征在于，所述第二子像素电路包括第一晶体管，所述第一晶体管的栅极与第二扫描信号线电连接，第一极与所述第二电源线电连接，第二极与所述发光器件的阳极电连接。
9.一种检测系统，其特征在于，所述检测系统包括检测设备和阵列基板，所述检测设备与所述阵列基板电连接；
所述检测设备包括：存储器和处理器；所述存储器配置为存储指令；所述处理器，与所述存储器电连接，当所述指令被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如权利要求1-8任一项所述的阵列基板的检测方法。
10.根据权利要求9所述的检测系统，其特征在于，所述检测设备还包括显示屏；
所述显示屏包括多个区域，每个所述区域对应所述阵列基板的一个亚像素；若所述阵列基板的亚像素中阳极的电压值与直流电压的差值的绝对值大于预设电压值，则所述显示屏中与该所述亚像素对应的区域显示第一颜色；若所述阵列基板的亚像素中所述阳极的电压值与所述直流电压的差值的绝对值小于或等于预设电压值，则所述显示屏中与该所述亚像素对应的区域显示第二颜色。