显示面板及其制备方法、显示装置与流程

本发明属于显示面板技术领域，尤其涉及一种显示面板及其制备方法、显示装置。

背景技术：

随着显示技术在智能穿戴以及其他便携式电子设备中的应用，对电子产品的设计方面不断的追求用户流畅的使用体验，同时，也越来越追求用户的感官体验，例如：广视角、高分辨率、窄边框、高屏占比等性能成为各电子产品的卖点。

为了制作窄边框的显示面板，目前的方法是缩小显示面板的台阶区，然而台阶区缩小将给线路设计带来困难，因此改变显示面板的线路设计成为一种制作窄边框显示面板的需求。

技术实现要素：

本发明实施例提供一种显示面板及其制备方法、显示装置，能够减少用于在vt(visualtest)测试时控制多路分配单元开关的控制焊盘的数量，从而可以减小台阶区的宽度，进而使得显示面板边框可以变得更窄。

第一方面，本发明实施例提供一种显示面板，其包括：

数据信号线，多条所述数据信号线间隔布置；

显示测试电路，包括多个测试开关、多个测试信号线和至少一个测试控制线，所述测试开关的控制端与所述测试控制线电连接，所述测试开关的第一端与所述数据信号线电连接，所述测试开关的第二端与对应的所述测试信号线电连接；

显示控制电路，包括多个多路分配单元、多个显示信号线和多个显示控制线，所述多路分配单元包括多个显示开关，所述显示开关的控制端与所述显示控制线电连接，所述显示开关的第一端与所述显示信号线电连接，所述显示开关的第二端与所述数据信号线电连接；

第一控制焊盘和单向电路，同一所述多路分配单元的至少两个所述显示开关的控制端通过所述单向电路与同一所述第一控制焊盘连接。

第二方面，本发明实施例提供了一种显示面板，其包括：

数据信号线，多条所述数据信号线间隔布置；

显示测试电路，包括多个测试开关、多个测试信号线和至少一个测试控制线，所述测试开关的控制端与所述测试控制线电连接，所述测试开关的第一端与所述数据信号线电连接，所述测试开关的第二端与对应的所述测试信号线电连接；

显示控制电路，包括多个多路分配单元、多个显示信号线和多个显示控制线，所述多路分配单元包括多个显示开关，所述显示开关的控制端与所述显示控制线电连接，所述显示开关的第一端与所述显示信号线电连接，所述显示开关的第二端与所述数据信号线电连接；

第二控制焊盘，用于控制单向电路截止；

至少两个所述显示开关的控制端通过所述单向电路与所述第二控制焊盘连接。

第三方面，本发明实施例提供了一种显示面板的制备方法，其包括：

提供显示面板，所述显示面板包括数据信号线，多条所述数据信号线间隔布置；

显示测试电路，包括多个测试开关、多个测试信号线和至少一个测试控制线，所述测试开关的控制端与所述测试控制线电连接，所述测试开关的第一端与所述数据信号线电连接，所述测试开关的第二端与对应的所述测试信号线电连接；

显示控制电路，包括多个多路分配单元、多个显示信号线和多个显示控制线，所述多路分配单元包括多个显示开关，所述显示开关的控制端与所述显示控制线电连接，所述显示开关的第一端与所述显示信号线电连接，所述显示开关的第二端与所述数据信号线电连接；

第一控制焊盘；

单向电路，同一所述多路分配单元的至少两个所述显示开关的控制端通过所述单向电路与同一所述第一控制焊盘连接；

对所述显示面板进行显示检测。

第四方面，本发明实施例提供了一种显示装置，其包括根据本发明第一方面或第二方面的显示面板。

本发明实施例的显示面板及其制备方法、显示装置，通过增加单向电路来连接多路分配单元和用于在vt测试时控制多路分配单元开关的控制焊盘，这样便可以在vt测试时使用更少数量的控制焊盘实现对多路分配单元的开关控制，而控制焊盘数量的减少使得台阶区的宽度可以减小，从而使得显示面板边框可以变得更窄。换言之本发明实施例可以为窄边框的显示面板提供更多的线路设计空间。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对本发明实施例中所需要使用的附图作简单的介绍，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是目前一种显示面板的电路的结构示意图；

图2是本发明一个实施例提供的显示面板的电路的结构示意图；

图3是本发明一个实施例提供的显示面板的电路的结构示意图；

图4是本发明一个实施例提供的显示面板的电路的结构示意图；

图5是是本发明一个实施例提供的显示面板的结构示意图；

图6是本发明一个实施例提供的显示面板的电路的结构示意图；

图7是本发明一个实施例提供显示面板的制备方法的流程示意图。

具体实施方式

下面将详细描述本发明的各个方面的特征和示例性实施例，为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施例，对本发明进行进一步详细描述。应理解，此处所描述的具体实施例仅意在解释本发明，而不是限定本发明。对于本领域技术人员来说，本发明可以在不需要这些具体细节中的一些细节的情况下实施。下面对实施例的描述仅仅是为了通过示出本发明的示例来提供对本发明更好的理解。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、显示面板、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、显示面板、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、显示面板、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

为了更好地理解本发明，先结合图1对目前一种显示面板的电路结构进行说明。

图1是目前一种显示面板的电路的结构示意图。如图1所示，显示面板100包括数据信号线101、显示测试电路102和显示控制电路103。

其中，多条数据信号线101间隔布置，每条数据信号线与对应的像素连接，用于为对应的像素提供数据信号。

显示测试电路102包括多个测试开关t1，多个测试信号线(例如图1中的测试信号线r1、g1、b1)和至少一个测试控制线sw。测试开关t1的控制端与测试控制线sw电连接。测试开关t1的第一端与对应的测试信号线电连接，例如与红色像素连接的测试开关的第一端与红色测试信号线r1连接。测试开关t1的第二端与数据信号线连接。

显示控制电路103包括多个多路分配单元104(图1中仅示意出一个)、多个显示信号线105(图1中仅示意出一个)和多个显示控制线106、多个显示信号焊盘107和多个显示控制焊盘108。多路分配单元104包括多个显示开关t2。显示开关t2的控制端与显示控制线106电连接，显示开关t2第一端与显示信号线105电连接，显示开关t2的第二端与数据信号线101电连接。显示信号线105的一端与对应的显示开关t2连接，另一端与对应的显示信号焊盘107连接。显示控制线106一端与对应的显示开关t2连接，另一端与对应的显示控制焊盘108连接。

如图1所示，显示面板100还包括多个第一控制焊盘109，每个第一控制焊盘109与对应的显示开关t2的控制端连接。在进行vt测试时，由于显示信号焊盘107和显示控制焊盘108还未与驱动芯片连接，无法施加相应的信号，因此显示开关t2的控制端和一端悬空，处于浮动电位，这会对显示测试电路102的测试过程造成影响，因此通过第一控制焊盘109向显示开关t2施加控制信号，以关闭多路分配单元104。然而，在目前的线路设计中，第一控制焊盘109的数量与多路分配单元104设计有关。如果多路分配单元104为1:6设计(即包括6个显示开关t2)，则第一控制焊盘109的数量也至少需要6个。而如果多路分配单元104为1:12设计(即包括12个显示开关t2)，则第一控制焊盘109的数量也至少需要12个。这种线路设计会占用显示面板100较多的面积，给窄边框设计增加了难度。

为了解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种显示面板及其制备方法、显示装置，其提供一种新的线路设计，更利于实现窄边框设计，降低了窄边框显示面板的线路布置难度。下面首先对本发明实施例所提供的显示面板进行介绍。

图2是本发明一个实施例提供的显示面板的电路的结构示意图；图3是本发明一个实施例提供的显示面板的电路的结构示意图；图4是本发明一个实施例提供的显示面板的电路的结构示意图。

如图2-图4所示，显示面板200包括数据信号线201、显示测试电路202、显示控制电路203、第一控制焊盘209和单向电路211。

其中，多条数据信号线201间隔布置，每条数据信号线201与对应的像素连接，用于为对应的像素提供数据信号。示例性地，在本发明一些实施例中，像素采用rgb排列方式，每个像素由对应的数据信号线201提供数据信号来进行显示。在本发明一些实施例中，像素也可以采用其他设计，例如rgbw排列，或r/b、g、r/b排列。应当理解，像素的排列方式不影响本发明提供的电路的使用，只要相应调整部分电路即可，例如调整显示测试电路202和显示控制电路203的结构。

显示测试电路202包括多个测试开关t1，多个测试信号线(例如图2中的测试信号线r1、g1、b1)和至少一个测试控制线sw。测试开关t1的控制端与测试控制线sw电连接。测试开关t1的第一端与对应的测试信号线电连接，例如与红色像素连接的测试开关的第一端与红色测试信号线r1连接。测试开关t1的第二端与数据信号线连接。在进行vt测试，通过向测试控制线sw施加相应的信号来打开测试开关t1，然后通过相应的测试信号线将测试信号提供至对应的数据信号线，从而进行vt测试。

显示控制电路203包括多个多路分配单元204(图2中仅示意出一个)、多个显示信号线205和多个显示控制线206。多路分配单元204包括多个显示开关t2。显示开关t2的控制端与显示控制线206电连接，显示开关t2第一端与显示信号线205电连接，显示开关t2的第二端与数据信号线201电连接。示例性地，在本发明实施例中，多路分配单元204采用1:6设计，每条显示信号线205通过多路分配单元204连接至6条数据信号线201，并通过多路分配单元204为每条数据信号线201分配数据信号，这样便可以减小显示信号线205的数量，实现窄边框，同时降低显示驱动芯片的引脚需求。应当理解，本发明提供的显示面板的电路结构，多路分配单元204不限于1:6设计，也可以根据需要采用其他设计，例如1:3或1:12。显示控制线206提供显示控制信号ckh1至ckh6，通过显示控制信号ckh1至ckh6来打开或关闭显示开关t2，从而将显示信号线205上的数据信号提供至对应的数据信号线201，进而提供至对应的像素单元。

第一控制焊盘209和单向电路211用于在vt测试关闭多路分配单元204。具体地，在本发明一些实施例中，同一所述多路分配单元204的至少两个显示开关t2的控制端通过单向电路211与同一第一控制焊盘209连接。如图2和图3所示，在本发明一些实施例中，同一所述多路分配单元204的全部显示开关t2的控制端通过单向电路211与同一第一控制焊盘209连接。当然，在本发明一些实施例中，同一所述多路分配单元204的显示开关t2的控制端也可以不是全部都通过单向电路211与同一第一控制焊盘209连接，例如可以为2-3个显示开关t2的控制端通过单向电路211与同一第一控制焊盘209连接，此时第一控制焊盘209的数量也根据连接方式相应增加。

在本发明一些实施例中，不同多路分配单元204的至少两个显示开关t2的控制端通过单向电路211与同一第一控制焊盘209连接。如图4所示，两个多路分配单元204的全部显示开关t2的控制端通过单向电路211与同一第一控制焊盘209连接。应当理解，在其他实施例中，还可以2个或更多个多路分配单元204的全部显示开关t2的控制端通过单向电路211与同一第一控制焊盘209连接。或者，两个或更多个多路分配单元204的部分显示开关t2(例如一个或两个显示开关t2)的控制端通过单向电路211与同一第一控制焊盘209连接。

采用本发明实施例提供的显示面板200，在进行vt测试，通过第一控制焊盘209施加相应的控制信号来关闭多路分配单元204，从而避免多路分配单元204对vt测试的影响。作为一个示例，显示开关t2为p型晶体管，在vt测试时，通过向第一控制焊盘209施加高电平信号即可关闭多路分配单元204。

在本发明实施例中，由于通过单向电路来将多路分配单元的显示开关的控制端与第一控制焊盘连接，因此通过较少数量的第一控制焊盘即可关闭多路分配单元的全部显示开关。与图1所示的电路结构相比，第一控制焊盘的数量大大减少，这使得显示面板的边框所需面积可以减小，从而可以减小显示面板台阶的宽度。换言之，采用本发明实施例提供的显示面板的电路结构，更有利于实现窄边框设计，也即降低窄边框设计的难度。

在本发明实施例中，单向电路211的作用在于只允许信号从第一控制焊盘209传输至对应的显示开关t2的控制端，而不允许信号从显示开关t2的控制端传输至第一控制焊盘209。示例性地，如图2至图4所示，单向电路211包括二极管器件，二极管器件的负极对应的显示开关t2的控制端电连接，与同一第一控制焊盘209电连接的二极管器件的正极彼此电连接。示例性地，所述二极管器件包括薄膜晶体管，所述薄膜晶体管的栅极与第一极或第二极短接。

请参阅图3至图4，在本发明一些实施例中，显示面板200还包括第二控制焊盘210。第二控制焊盘210用于控制单向电路211的截止。第二控制焊盘210与多路分配单元的连接方式参见第一控制焊盘209的描述。即，在至少两个显示开关t2的控制端通过单向电路211与第二控制焊盘210连接。当显示面板完成测试进行显示时，显示驱动芯片通过多路分配单元204、显示信号线205和显示控制线206向数据信号线201提供数据信号。此时，需要使单元电路211截止，以避免显示控制线206短路，进而导致信号混乱。示例性，在本发明实施例中，显示开关t2为p型晶体管，当进行显示时，可以通过向第二控制焊盘210施加低电平信号来使单向电路211截止，从而避免显示控制线206短路。

请参阅图2至图4，在本发明一些实施例中，显示面板200还包括多个显示信号焊盘207和多个显示控制焊盘208。显示信号焊盘207对应的显示信号线205连接，显示控制焊盘208与对应的显示控制线206连接。也即，显示信号线105的一端与对应的显示开关t2连接，另一端与对应的显示信号焊盘107连接。显示控制线106一端与对应的显示开关t2连接，另一端与对应的显示控制焊盘108连接。显示信号焊盘207和显示控制焊盘208用于与显示驱动芯片进行连接。显示驱动芯片通过显示信号焊盘207和显示控制焊盘208向对应的显示信号线205和显示控制线206施加相应的信号。

在本发明一些实施例中，显示面板200还包括多个测试信号焊盘和至少一个测试控制焊盘。测试信号焊盘与对应的测试信号线(例如r1、g1、b1)连接，所述测试控制焊盘与对应的测试控制信号线sw连接。

图5是是本发明一个实施例提供的显示面板的结构示意图。

如图5所示，本发明实施例提供的显示面板200包括显示区10和包围显示区10的非显示区20。数据信号线201设置在显示区10中。显示测试电路(例如显示测试电路202)、显示控制电路(例如显示控制电路203)、单向电路(例如单向电路211)、第一控制焊盘(例如，第一控制焊盘209)、第二控制焊盘(例如第二控制焊盘210)设置在非显示区20中。

如图5所示，非显示区20包括测试焊盘区30和显示焊盘区40。第一控制焊盘(例如，第一控制焊盘209)、测试信号焊盘、测试控制焊盘设置在测试焊盘区30中。显示信号焊盘(例如显示信号焊盘207)、显示控制焊盘(例如显示控制焊盘208)设置在显示焊盘区40中。

进一步地，在本发明一些实施例中，显示测试电路(例如显示测试电路202)位于所述显示区10和显示控制电路(例如显示控制电路203)之间，或者，所述显示控制电路(例如显示控制电路203)位于所述显示区10和显示测试电路(例如显示测试电路202)之间。

图6是本发明一个实施例提供的显示面板的电路的结构示意图。

如图6所示，本发明实施提供的显示面板300包括数据信号线301、显示测试电路302、显示控制电路303、第二控制焊盘310和单向电路311。显示控制电路303包括多路分配单元304、显示信号线305、显示控制线306、显示信号焊盘307和显示控制焊盘308。数据信号线301、显示测试电路302、显示控制电路303、第二控制焊盘310和单向电路311的设置与作用前述实施例描述的类似，在此不再赘述。本发明实施提供的显示面板300为前述实施例提供的显示面板200完成vt测试等测试后，将后续不再使用的例如第一控制焊盘209等结构切除后的显示面板。

本发明实施例提供的显示面板由于设置第二控制焊盘，在进行显示时(例如mod点屏)通过向第二控制焊盘施加相应的信号来使单向电路截止，从而避免显示控制线短路。

本发明实施例提供的显示面板，由于在制作过程中减少了第一控制焊盘的数量，因此可以减小显示面板的台阶宽度，或者说为显示面板的线路设计提供了更多空间，降低了窄边框设计的难度。采用这种线路设计的显示面板可以具有更小的显示面板的台阶宽度，且利于实现窄边框设计。

本发明实施例还提供一种显示装置，其包括本发明实施例提供的显示面板。具有类似的有益效果。

图7是本发明一个实施例提供显示面板的制备方法的流程示意图。

如图7所示，本发明实施例提供的显示面板的制备方法400，包括：

步骤401，提供显示面板。

步骤402，对显示面板进行显示检测。

具体地，在步骤401中，所述显示面板包括数据信号线，多条所述数据信号线间隔布置；

显示测试电路，包括多个测试开关、多个测试信号线和至少一个测试控制线，所述测试开关的控制端与所述测试控制线电连接，所述测试开关的第一端与所述数据信号线电连接，所述测试开关的第二端与对应的所述测试信号线电连接；

显示控制电路，包括多个多路分配单元、多个显示信号线和多个显示控制线，所述多路分配单元包括多个显示开关，所述显示开关的控制端与所述显示控制线电连接，所述显示开关的第一端与所述显示信号线电连接，所述显示开关的第二端与所述数据信号线电连接；

第一控制焊盘；

单向电路，同一所述多路分配单元的至少两个所述显示开关的控制端通过所述单向电路与同一所述第一控制焊盘连接。

显示面板的结构可以参考前述结合图2-至图4的描述，在此不再赘述。

在步骤402中，对所述显示面板进行显示检测的方法包括：

向所述测试控制线提供使所述测试开关导通的信号；

同时，向所述第一控制焊盘提供使所述单向电路导通的信号，且该信号使所述显示开关截止。

示例性地，例如测试开关t1为p性晶体管，在步骤402中可以向测试控制线sw提供低电平信号，使测试开关t1导通。

示例性地，例如显示开关t2为p性晶体管，在步骤402中可以向第一控制焊盘提供高电平信号，来使单向电路导通，并关断显示开关t2。

在本发明一些实施例中，方法400还包括：在显示检测结束后，向所述测试控制线提供使所述测试开关截止的信号。示例性地，例如测试开关t1为p性晶体管，在显示检测结束后，可以向测试控制线sw提供高电平信号，使测试开关t1关断。

在本发明一些实施例中，在步骤401中提供的显示面板还包括第二控制焊盘，至少两个所述显示开关的控制端通过所述单向电路与所述第二控制焊盘连接；

如图7所示，方法400还包括：

步骤403，在显示测试结束后，将所述第一控制焊盘与所述单向电路分离。例如将第一控制焊盘从显示面板中切除。

步骤404，将所述第二控制焊盘与所述单向电路连接，控制所述单向电路截止。示例性地，例如显示开关t2为p性晶体管，在步骤404中可以向第二控制焊盘提供低电平信号，来使单向电路截止。

本发明实施例的显示面板及其制备方法、显示装置，通过增加单向电路来连接多路分配单元和用于在vt测试时控制多路分配单元开关的控制焊盘，这样便可以在vt测试时使用更少数量的控制焊盘实现对多路分配单元的开关控制，而控制焊盘数量的减少使得台阶区的宽度可以减小，从而使得显示面板边框可以变得更窄。换言之本发明实施例可以为窄边框的显示面板提供更多的线路设计空间。

以上所述，仅为本发明的具体实施方式，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，上述描述的系统、模块和单元的具体工作过程，可以参考前述显示面板实施例中的对应过程，在此不再赘述。应理解，本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到各种等效的修改或替换，这些修改或替换都应涵盖在本发明的保护范围之内。