图像信号处理电路、图像信号处理方法以及显示装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本公开涉及一种图像信号处理电路、图像信号处理方法以及显示装置。
【背景技术】
[0002]在显示装置(更具体地说是平板型(平面型)的显示装置)中，关于显示面板的经时亮度劣化，根据从像素信号的信息和显示面板的代表性的劣化特性预测的劣化值(劣化预测值)进行补正。但是，因为每个显示面板的劣化特性会有偏差，所以仅根据代表性的劣化预测值(估算值)不能进行充分的劣化补正。
[0003]作为其对策，提出了如下技术(例如，参照专利文献I):使用伪像素通过亮度传感器测定每个显示面板的亮度实际劣化状态，并且根据该测定结果定期修正劣化预测值(估算值)以使其适合实际劣化状态，来保证补正精度。
[0004]现有技术文献
[0005]专利文献
[0006]专利文献1:日本特开2007-187761号公报
【发明内容】
[0007]发明所要解决的技术问题
[0008]但是，如上述以往的技术那样，在通过亮度传感器进行实际劣化状态的测定中，在低亮度侧很难高精度地检测出对画质劣化影响大的亮度变化、即发光开始点的电压移动(发光开始电压移动/偏移)。
[0009]可是，使用亮度传感器不是不可能高精度地检测发光开始电压移动(阶调劣化)。但是，因为下列因素:需要使用受光灵敏度高的大面积亮度传感器、测定需要很长时间等、作为亮度传感器需要具有与高价的测定器同等的性能，所以导致成本上涨、调整工时的增加，并且给用户使用时的便利性带来限制等的影响变大。
[0010]本公开以提供一种即使不使用高价的亮度传感器等，也可以高精度地补正在低亮度侧对画质劣化影响大的发光开始电压移动的劣化预测值(估算值)的偏差的图像信号处理电路、图像信号处理方法、以及具有该图像信号处理电路的显示装置为目的。
[0011]解决技术问题的手段
[0012]用于达成上述目的的本公开的图像信号处理电路的构造具备:显示面板，具有配置在有效像素区域之外的第I伪像素；电流检测单元，检测第I伪像素的电流变化；修正处理单元，根据电流检测单元检测出的电流的实际劣化量，修正预先决定的劣化预测值；以及补正处理单元，根据由修正处理单元修正后的劣化预测值，补正驱动有效像素的图像信号。
[0013]另外，用于达成上述目的的本公开的图像信号处理方法的构成是:检测配置在显示面板的有效像素区域之外的第I伪像素的电流变化；根据检测出的电流的实际劣化量，修正预先决定的劣化预测值；根据修正后的劣化预测值，补正驱动有效像素的图像信号。
[0014]另外，用于达成上述目的的本公开的显示装置的构造具有图像信号处理电路。该图像信号处理电路具备:显示面板，具有配置在有效像素区域之外的第I伪像素；电流检测单元，检测第I伪像素的电流变化；修正处理单元，根据电流检测单元检测出的电流的实际劣化量，修正预先决定的劣化预测值；以及补正处理单元，根据由修正处理单元修正后的劣化预测值，补正驱动有效像素的图像信号。
[0015]作为显示面板的经时亮度劣化的要素，为有效像素的发光单元的发光效率的降低，再加上驱动发光单元的晶体管的特性的劣化(降低)。在显示面板的有效像素区域之外设置伪像素，并且检测该伪像素的电流的实际劣化量，由此能够检测出驱动发光单元的晶体管的特性的劣化份。于是，对用于对驱动有效像素的图像信号进行补正的预先决定的劣化预测值，根据伪像素的电流的实际劣化量进行修正，并且使用该修正后的劣化预测值进行补正处理，由此能够补正考虑过晶体管特性的劣化份的亮度劣化。
[0016]发明的效果
[0017]根据本公开，因为即使不使用高价的亮度传感器等，也能够高精度地补正在低亮度侧对画质劣化影响大的发光开始电压移动的劣化预测值(估算值)的偏差，所以能够提高显示面板的经时亮度劣化的补正精度。
[0018]此外，本说明书所记载的效果只是例示，并不限于此，另外也可以具有附加效果。
【附图说明】
[0019][图1]图1是表示本公开的实施方式的显示装置的系统构造的方框图。
[0020][图2]图2是有关在补正处理单元执行的烧屏补正的想法的说明图。
[0021][图3]图3A是表示初期处理步骤的处理程序的流程图，图3B是表示通常处理的通常动作模式的处理程序的流程图。
[0022][图4]图4是表示通常处理的测定/LUT修正模式的处理程序的流程图。
[0023][图5]图5A是方格图案结构的检测图案(Pattern)的模式图，图5B是竖条图案结构的检测图案的模式图。
[0024][图6]图6是有关劣化量计算方法的说明图。
[0025][图7]图7A是表示在测定亮度劣化的情况下的初期测定时的V-L特性的图，图7B是表示在测定亮度劣化的情况下的通常测定时的V-L特性的图。
[0026][图8]图8A是表示在测定阶调劣化的情况下的初期测定时的V-L特性的图，图SB是表示在测定阶调劣化的情况下的通常测定时的V-L特性的图。
[0027][图9]图9是表示亮度劣化曲线特性的图。
[0028][图10]图10是表示有效像素的具体的电路构造的一例的电路图。
[0029][图11]图11是表示电流传感器(电流检测电路)的构造的一例的电路图。
[0030][图12]图12是表示用于检测阶调劣化测定用伪像素的电流的电源线的配线引出的一例的配线图。
[0031][图13]图13是表示电流传感器的2个开关的动作例的图。
[0032][图14]图14是表示适用于阶调劣化测定用伪像素、用于检测电流变化的检测图案的一例的图。
[0033][图15]图15是表示适用于阶调劣化测定用伪像素、用于检测电流变化的检测图案的其他例的图。
[0034][图16]图16是表示变形例的伪像素的电路构造的电路图。
【具体实施方式】
[0035]在下文中利用附图对用于实施本公开的技术的方式(在下文中称为“实施方式”)进行详细说明。本公开不限定于实施方式，实施方式的各种数值为例示。在以下的说明中，对同一要素或具有同一功能的要素使用相同的符号，省略重复的说明。再有，说明按以下的顺序进行。
[0036]1.关于本公开的图像信号处理电路、图像信号处理方法以及显示装置、整体的说明
[0037]2.关于实施方式的说明
[0038]3.变形例
[0039]〈关于本公开的图像信号处理电路、图像信号处理方法以及显示装置、整体的说明
>
[0040]本公开的图像信号处理电路或者图像信号处理方法适用于:有助于图像显示的有效像素的发光单元由根据电流的强度(大小)控制发光的电流驱动型发光元件构成的显示装置。作为电流驱动型发光元件，例如能够使用有机电致发光元件(以下记述为“有机EL元件”)，该有机EL元件利用“若向有机薄膜施加电场则发光”的现象。作为电流驱动型发光元件，除了有机EL元件之外，能够列举无机EL元件、LED元件、半导体激光元件等。
[0041]使用有机EL元件作为像素发光单元的有机EL显示装置具有如下优点。也就是说，因为有机EL元件在1V以下的外加电压下能够驱动，所以有机EL显示装置是低耗电。因为有机EL元件是自发光元件，所以有机EL显示装置与同样的平面型显示装置液晶显示装置相比，图像的视认性高，而且因为不需要背照灯等照明构件，所以能够容易地实现轻量化和薄型化。进一步说，因为有机EL元件的应答速度为数微秒(ysec)左右、非常高速，所以有机EL显示装置不发生动画显示时的残像。
[0042]在本公开的图像信号处理电路、图像信号处理方法以及显示装置中，能够将电流检测单元检测出的电流作为流过晶体管的电流，该晶体管驱动第I伪像素的发光单元。因此，能够检测出显示面板的经时亮度劣化的要素之一、即驱动发光单元的晶体管的特性的劣化(降低)。
[0043]在包含上述优选的构造的本公开的图像信号处理电路、图像信号处理方法以及显示装置中，能够采用如下构造:在有效像素区域之外设置第2伪像素，并且具备检测该第2伪像素的亮度变化的亮度检测单元。因此，就能够检测出显示面板的经时亮度劣化的另一个要素、即有效像素的发光单元的发光效率的降低份。这时，修正处理单元能够采用如下构造:根据检测出的电流的实际劣化量及检测出的亮度的实际劣化量，修正预先决定的劣化预测值。
[0044]另外，在包含上述优选的构造的本公开的图像信号处理电路、图像信号处理方法以及显示装置中，能够采用如下构造:第I伪像素及第2伪像素具有与有效像素相同的构造，并且动作条件也与有效像素相同。另外，能够采用如下构造:在有效像素区域之外设置有I行以上的第I伪像素及第2伪像素。在这里，能够采用如下构造:第I伪像素及第2伪像素由共同的像素构成。或者另外，能够采用如下构造:第I伪像素及第2伪像素具有遮光构造。
[0045]另外，在包含上述优选的构造的本公开的图像信号处理电路、图像信号处理方法以及显示装置中，能够采用如下构造:电流检测单元具有检测电阻和检测放大器。在这里，检测电阻连接在驱动第I伪像素的驱动器的输出端与对第I伪像素供给电源电压的电源线之间。检测放大器检测在检测电阻的两端产生的电压值。
[0046]另外，在包含上述优选的构造的本公开的图像信号处理电路、图像信号处理方法以及显示装置中，在从左右两侧对显示面板供给电源电压的构造的情况下，能够采用如下构造:电流检测单元具有在检测出电流变化时，从显示面板的一侧遮断电源电压的供给的开关。另外，能够采用如下构造:电流检测单元具有选择性地使检测电阻的两端之间短路的开关。或者另外，能够采用如下构造:电流检测单元在第I伪像素的发光电流成为脉冲状应答的情况下，与脉冲状应答的发光电流同步检测电流变化。
[0047]另外，在包含上述优选的构造的本公开的图像信号处理电路、图像信号处理方法以及显示装置中，能够采用如下构造:用于检测电流变化的检测图案的I行被分成多个像素块，由亮度条件不同的I种以上的常亮像素块与不亮像素块构成。或者另外，能够采用如下构造:用于检测电流变化的检测图案由I种以上亮度条件的常亮像素与不亮像素的组合构成，并且在I行内周期性地配置多个该检测图案的图块。
[0048]另外，在包含上述优选的构造的本公开的图像信号处理电路、图像信号处理方法以及显示装置中，能够采用如下构造:第I伪像素不具有发光单元。也就是说，采用如下构造:有效像素至少具有发光单元和驱动该发光单元的晶体管，另一方面，第I伪像素不存在发光单元。因此，在配置第I伪像素的区域中不需要遮光构造。
[0049]<关于实施方式的说明>
[0050]图1是表示本公开的实施方式的显示装置的系统构造的方框图。
[0051]在本实施方式中，举例说明:有助于图像显示的有效像素的发光单元由根据电流的强度(大小)控制发光的电流驱动型发光元件(电光元件)、例如有机EL元件构成的有源矩阵型有机EL显示装置。
[0052]有源矩阵型有机EL显示装置是通过与有机EL元件设置在相同像素内的有源元件(例如，绝缘栅型场效应晶体管)来控制流向该有机EL元件的电流的显示装置。作为绝缘栅型场效应晶体管，典型地，能够使用TFT (Thin Film Transistor、薄膜晶体管)。本实施方式的有机EL显示装置I由显示面板模块(有机EL面板模块)10、补正处理单元20以及修正处理单元30构成。
[0053]在显示面板模块10中，构成显示面板的发光元件(在本例中为有机EL元件)具有与其发光量和发光时间成比例地劣化的特性。另一方面，由显示面板显示的图像的内容不一样。因此，特定的显示区域的发光元件的劣化容易发展。于是，劣化发展了的特定的显示区域的发光元件的亮度与其他显示区域的发光元件的亮度相比相对下降。像这样，显示面板部分地发生亮度劣化的现象一般被称为“烧屏”。
[0054]在本实施方式中，成为该显示面板的烧屏