显示模组edid数据读写测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及显示模组测试技术领域，具体地指一种显示模组EDID数据读写测试装置。
【背景技术】
[0002]EDID(Extended Display Identificat1n Data，扩展显示标识数据)是国际视频电子标准协会组织制定的一种广泛使用于显示模组的显示格式规范，它包含着如供应商信息、厂商预设置、最大图像、颜色设置、频率范围以及可支持的分辨率等有关显示器及其性能的参数。EDID数据的主要作用是让图像输出设备能输出合适的图像信号给显示模组，显示模组在出厂前都要经过严格的EDID读写功能测试。
[0003]目前，没有专门的EDID数据读写功能测试设备，显示模组EDID数据读写功能的测试都是通过上位机控制显示模组测试设备来实现的，这种测试方法存在以下缺陷:
[0004]I)显示模组测试设备通常质量重、体积大，不便于移动和携带；
[0005]2)显示模组测试设备需要搭配上位机使用，操作步骤较为繁琐，测试效率较低；
[0006]3)显示模组测试设备以及配套使用的上位机成本较高，尤其对于大批量的显示模组测试，会用到多套测试设备，极大的增加了产线的投入成本。
【实用新型内容】
[0007]本实用新型的目的就是要提供一种显示模组EDID数据读写测试装置，该测试装置能解决现有的测试方案所带来的测试效率低、测试成本较高以及测试设备不便于移动和携带等问题。
[0008]为实现此目的，本实用新型所设计的显示模组EDID数据读写测试装置，其特征在于:它包括MCU(Micro Control Unit，微控制单元)、电源管理模块、显示屏、按键板和输入输出接口，所述电源管理模块分别向MCU、显示屏和按键板供电，所述MCU的显示信号输出端连接显示屏的显示信号输入端，MCU的控制信号输入端连接按键板的信号输出端，所述输入输出接口包括扩展显示标识数据芯片电源对接口、扩展显示标识数据芯片数据线对接口、扩展显示标识数据芯片时钟对接口、扩展显示标识数据芯片写保护引脚供电对接口、时序控制板电源对接口和时序控制板接地对接口，所述扩展显示标识数据芯片数据线对接口和扩展显示标识数据芯片时钟对接口的一端连接MCU的数据通信接口，所述扩展显示标识数据芯片电源对接口和扩展显示标识数据芯片写保护引脚供电对接口的一端均连接MCU的供电接口；
[0009]所述时序控制板电源对接口的一端连接电源管理模块的对应电源信号输出端，时序控制板接地对接口的一端接地。
[0010]本实用新型主要通过MCU实现待测显示模组的EDID测试功能。由MCU的供电接口给待测显示模组的扩展显示标识数据芯片电源对接口 5.1和扩展显示标识数据芯片写保护引脚供电对接口 5.4提供引脚电压，在按键板输入数值后，通过MCU的IIC通道对扩展显示标识数据芯片执行先写入后读取操作，并将读取的数值反馈给显示屏，通过对比输入输出的数值判断扩展显示标识数据的读写结果。
[0011]本实用新型的有益效果:
[0012]I)提高测试效率:本实用新型仅仅包括MCU、电源管理模块、显示屏、按键板和输入输出接口这五个部件，体积较小、操作灵活，通电便可直接使用，无须花费大量人力安装调试；集成按键板和显示屏使测试结果更加简单直观。
[0013]2)降低产线生产测试成本:本实用新型的结构简单、成本低，可有效的降低显示模组产线的生产测试成本。
[0014]3)兼容性强:本实用新型通过设置上述输入输出接口，能适应各种显示模组的EDID检测。
【附图说明】
[0015]图1为本实用新型的使用状态结构框图；
[0016]其中，I一MCU、2—电源管理模块、3—显示屏、4一按键板、5—输入输出接口、5.1—扩展显示标识数据芯片电源对接口、5.2—扩展显示标识数据芯片数据线对接口、5.3—扩展显示标识数据芯片时钟对接口、5.4—扩展显示标识数据芯片写保护引脚供电对接口、5.5—时序控制板电源对接口、5.6—时序控制板接地对接口、6—待测显示模组、7 — IIC总线。
【具体实施方式】
[0017]以下结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步的详细说明:
[0018]如图1所示的显示模组EDID数据读写测试装置，它包括MCUl、电源管理模块2、显示屏3、按键板4和输入输出接口 5，所述电源管理模块2分别向MCUl、显示屏3和按键板4供电，所述MCUl的显示信号输出端连接显示屏3的显示信号输入端，MCUl的控制信号输入端连接按键板4的信号输出端，所述输入输出接口 5包括扩展显示标识数据芯片电源对接口 5.1 (该接口的另一端用于连接待测显示模组6的扩展显示标识数据芯片电源接口)、扩展显示标识数据芯片数据线对接口 5.2 (该接口的另一端用于连接待测显示模组6的扩展显示标识数据芯片数据线接口)、扩展显示标识数据芯片时钟对接口 5.3 (该接口的另一端用于连接待测显示模组6的扩展显示标识数据芯片时钟接口)、扩展显示标识数据芯片写保护引脚供电对接口 5.4 (该接口的另一端用于连接待测显示模组6的扩展显示标识数据芯片写保护引脚供电接口)、时序控制板电源对接口 5.5 (该接口的另一端用于连接待测显示模组6的时序控制板电源接口)和时序控制板接地对接口 5.6 (该接口的另一端用于连接待测显示模组6的时序控制板接地接口)，所述扩展显示标识数据芯片数据线对接口 5.2和扩展显示标识数据芯片时钟对接口 5.3的一端连接MCUl的数据通信接口，所述扩展显示标识数据芯片电源对接口 5.1和扩展显示标识数据芯片写保护引脚供电对接口 5.4的一端均连接MCUl的供电接口 ；
[0019]所述时序控制板电源对接口 5.5的一端连接电源管理模块2的对应电源信号输出端，时序控制板接地对接口 5.6的一端接地。
[0020]上述技术方案中，所述扩展显示标识数据芯片数据线对接口 5.2和扩展显示标识数据芯片时钟对接口 5.3的一端通过IIC总线7 (Inter-1ntegrated Circuit，集成电路总线)连接MCUl的数据通信接口。
[0021]上述技术方案中，所述MCUl的供电电压为3.3V。
[0022]上述电源管理模块2由外部直流电源提供5V的电压，然后电源管理模块2通过内部电压分流同时给MCU1、显示屏3、按键板4供电，并且，通过输入输出接口 5的时序控制板电源对接口 5.5对待测显示模组6的时序控制板供电，其中，供给MCUl的电压经过5V转3.3V芯片NCP1117ST33转换成3.3V，供给待测显示模组6的时序控制板的电压经过5V转12V 芯片 IB05121s-lw 转换成 12V。
[0023]本实用新型中的MCUl通过IIC总线7对扩展显示标识数据芯片下发数据，若数据下发失败则执行再次下发操作，三次下发失败后显示屏提示“EDID写入失败”，若数据下发成功，则继续执行扩展显示标识数据读取/比对操作；若读取值与下发值比对一致则显示屏显示“EDID读写成功”，若读取值与下发值对比不一致则显示屏显示提示“EIDI读写失败”。
[0024]以液晶模组EDID (241cl24芯片)读写测试为例:
[0025]I)将本实用新型装置与待测液晶模组6信号接口相连，确保模组VDD (时序控制板电源接口)、EDID_WP (扩展显示标识数据芯片写保护引脚供电接口)、EDID_VCC (扩展显示标识数据芯片电源接口)、EDID_SDA(扩展显示标识数据芯片数据线接口)、EDID_SCL(扩展显示标识数据芯片时钟对接口)、GND (时序控制板接地接口)六个引脚与输入输出接口
(5)的各个引脚对应；
[0026]2)将本实用新型装置与外接5V直流电源连接，上电；
[0027]3)使用按键板4配置模组芯片类型为“241cl24”、EDID读写方式为“手动“，选择“开始测试”，输入数据“11 12 13 14 15 16 17 18 19 Ia “，选择”写入“按钮;
[0028]4)待显示屏3提示“EDID写入成功“后，选择”读取/比对“按钮；
[0029]6)MCUl自动对比写入值与读取值，如果显示屏3提示“EDID读写成功”
[0030]写入值:“1112 13 14 15 16 17 18 19 Ia “ ；
[0031]读取值:“1112 13 14 15 16 17 18 19 Ia “ ；
[0032]则液晶模组EDID读写功能正常；如果显示屏3提示“EDID读写失败”，则液晶模组EDID读写功能不正常。
[0033]本说明书未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。
【主权项】
1.一种显示模组EDID数据读写测试装置，其特征在于:它包括MCU (I)、电源管理模块(2)、显示屏(3)、按键板(4)和输入输出接口(5)，所述电源管理模块⑵分别向MCU(l)、显示屏(3)和按键板(4)供电，所述MCU(I)的显示信号输出端连接显示屏(3)的显示信号输入端，MCU(I)的控制信号输入端连接按键板(4)的信号输出端，所述输入输出接口(5)包括扩展显示标识数据芯片电源对接口(5.1)、扩展显示标识数据芯片数据线对接口(5.2)、扩展显示标识数据芯片时钟对接口(5.3)、扩展显示标识数据芯片写保护引脚供电对接口(5.4)、时序控制板电源对接口(5.5)和时序控制板接地对接口(5.6)，所述扩展显示标识数据芯片数据线对接口(5.2)和扩展显示标识数据芯片时钟对接口(5.3)的一端连接MCU(I)的数据通信接口，所述扩展显示标识数据芯片电源对接口(5.1)和扩展显示标识数据芯片写保护引脚供电对接口(5.4)的一端均连接MCU(I)的供电接口 ； 所述时序控制板电源对接口(5.5)的一端连接电源管理模块(2)的对应电源信号输出端，时序控制板接地对接口(5.6)的一端接地。
2.根据权利要求1所述的显示模组EDID数据读写测试装置，其特征在于:所述扩展显示标识数据芯片数据线对接口(5.2)和扩展显示标识数据芯片时钟对接口(5.3)的一端通过IIC总线(7)连接MCU⑴的数据通信接口。
3.根据权利要求1或2所述的显示模组EDID数据读写测试装置，其特征在于:所述MCU⑴的供电电压为3.3V。
【专利摘要】本实用新型公开了一种显示模组EDID数据读写测试装置，电源管理模块分别向MCU、显示屏和按键板供电，MCU连接显示屏，MCU连接按键板，输入输出接口包括扩展显示标识数据芯片电源对接口、扩展显示标识数据芯片数据线对接口、扩展显示标识数据芯片时钟对接口、扩展显示标识数据芯片写保护引脚供电对接口、时序控制板电源对接口和时序控制板接地对接口。本实用新型能解决现有的测试方案所带来的测试效率低、测试成本较高以及测试设备不便于移动和携带等问题。
【IPC分类】G09G3-00, G01R31-00
【公开号】CN204480644
【申请号】CN201520003542
【发明人】彭骞, 胡磊, 肖家波, 李迪, 徐梦银, 陈凯, 沈亚非
【申请人】武汉精测电子技术股份有限公司
【公开日】2015年7月15日
【申请日】2015年1月4日