专利名称：熔接设备和熔接方法
技术领域：
本发明涉及通过放电加热之类对通信光纤的端部进行熔接的设备和方法，更具体地说，涉及通过自动确定光纤的类型，在适用于所述光纤类型的熔接条件下熔接光纤的设备和方法。
背景技术：
近些年来，随着光纤通信的扩展和多样化，用于各种用途的多种类型的光纤得到了发展和利用。提供了多种类型的光纤，包括单模光纤(此后称为SM光纤)，多模光纤(此后称为MM光纤)，色散位移光纤(此后称为DS光纤)，以及掺饵光纤(此后称为ED光纤)。当这些光纤利用熔接机熔接时，需要在适合于每种光纤的熔接条件(放电电流、放电时间等)下进行熔接。不过，光纤的类型可能被弄错，此时，由于熔接条件不适合所述光纤，因而具有发生熔接失败的危险。
光纤的熔接不一定在亮的工作环境下进行，而可以例如在检修孔内的暗的环境下进行。在这种情况下，光纤的涂覆材料可以被着色，以便识别光纤的类型，但是在识别时可能出错。如果使用高清晰度和高放大倍数的图像观察装置作为熔接机的图像监视器，可以观察到3-10微米的微小的纤芯部分，但是轮廓相似的光纤可能被误识别。
如果光纤不在对光纤类型合适的熔接条件下熔接，则很可能接合失败，因而必须从头再次进行光纤接合。为了进行再次接合，必须从头进行一系列的操作，包括除去假接合的部分，除去光纤端部的涂层以及切掉光纤的端部，从而使工作效率降低，并使操作者神经紧张。
一种解决上述问题的常规技术是公知的，其中通过图像处理识别光纤的类型，以在最佳的熔接条件下进行光纤熔接，如JP-A-8-21923所述。这种常规技术涉及通过图像处理识别在熔接部分观察到的光纤的亮度值分布。然后，事先存储每种不同类型的光纤的亮度值分布(下文称为亮度分布图)。此后，通过和要被熔接的光纤的亮度分布图关联来指定光纤的类型。通过指定光纤的类型，并从存储的每种类型的光纤的熔接条件当中选择最佳的熔接条件，对光纤进行熔接。
不过，当通过从观察到的光纤的图像获得亮度分布图来估算光纤的类型时，取决于聚焦或者所观察的图像的光学特性，具有多种复杂的因素，使得亮度分布图可被改变，或者使在相同类型的光纤之间的亮度分布图不同。常规技术的一个例子是用于带形光纤的熔接机，其中，一般具有低放大倍数和长的焦深的图像观察装置具有0.1或更小的数值孔径。因而，不能获得足够的分辨率，从而难于由亮度分布图获得详细信息。
即使使用高放大倍数和高清晰度的图像观察装置观察图像，例如DS光纤和ED光纤它们都具有4微米的芯径，因而实际上难于从亮度分布图之间的比较进行识别。在常规技术中，使用在光纤轴线的中心附近的位移点之间的间隔进行亮度分布图之间的比较。因而，虽然根据光纤的类型当亮度分布图明显不同时这种技术是有效的，但是难于识别所有类型的光纤。
本发明是根据上述情况作出的，因而本发明的目的在于提供一种在适合于各种光纤的熔接条件下熔接光纤的设备和方法，其中可以充分地识别光纤的类型。
发明概述本发明提供一种用于通过对接放电熔接光纤端部的熔接设备，其特征在于所述设备包括一图像观察机构，用于观察光纤的端部；一图像处理部分，用于由拾取的图像测量光纤横截面内亮度分布波形的参数数据；一模糊操作部分，用于由预先记录在数据记录部分中的模糊操作数据获得被测量的参数数据的归属程度，并通过模糊操作识别光纤的类型；一校对部分，用于利用在熔接条件记录部分中预先记录的每种类型光纤的熔接条件，校对被识别的光纤的类型；一显示单元，用于显示校对结果；一熔接机构；以及一控制部分。
此外，本发明还提供一种用于通过对接放电熔接光纤端部的熔接方法，其特征在于包括以下步骤在图像观察机构中观察所述光纤的端部；在图像处理部分中由拾取的图像测量光纤横截面内亮度分布波形的参数数据；在模糊操作部分中通过模糊操作由预先记录的模糊操作数据获得所述被测量的参数数据的归属程度，并识别光纤的类型；在校对部分中利用预先记录的每种类型光纤的熔接条件校对被识别的光纤的类型；显示校对的结果，以及在熔接机构中熔接所述光纤。
图1是用于说明本发明实施例的方块图；图2表示拾取图像的视图；图3为说明亮度分布波形的曲线图；图4为说明亮度分布波形的微分波形的曲线图；图5为说明隶属关系函数的曲线图；图6为表示隶属关系函数特定例子的曲线图；图7为说明亮度分布波形偏移的曲线图；图8为显示光纤类型识别结果的视图；以及图9是表示本发明实施例的流程图。
在这些图中，标号1表示图像观察机构，标号2表示图像处理部分，标号3表示数据记录部分，标号4表示模糊操作部分，标号5表示熔接条件记录部分，标号6表示校对部分，标号7表示监视器显示单元，标号8表示控制部分，标号9表示熔接机构，标号11表示光纤，标号12表示显微镜，标号13表示光源，标号14表示反射镜，标号15表示聚焦驱动部分。
实施本发明的最好方式图1是用于说明本发明的实施例的方块图。在图1中，标号1表示图像观察机构，标号2表示图像处理部分，标号3表示数据记录部分，标号4表示模糊操作部分，标号5表示熔接条件记录部分，标号6表示校对部分，标号7表示监视器显示单元，标号8表示控制部分，标号9表示熔接机构，标号11表示光纤，标号12表示显微镜，标号13表示光源，标号14表示反射镜，标号15表示聚焦驱动部分。
图像观察机构1利用彼此垂直设置的带有CCD摄像机的显微镜12拾取从两个方向被对接的并被熔接机构(未示出，未详细描述)夹持的一对光纤11的图像。设置用于照明以便拾取图像的光源13，用于通过反射镜14从背景一侧对光纤11照明。高放大倍数和高清晰度的显微镜12带有聚焦驱动部分15，用于调节焦点，其被具有微处理器的控制部分8控制。
由显微镜12观察到的光纤的图像被测量，从而在图像处理部分2中由亮度分布波形获得光纤的预定数据。在模糊操作部分4中，对于测量的数据，通过参考在数据记录部分3中预先记录的模糊数据存储器的数据，计算归属程度。比较并计算多个类型光纤的每个类型的归属程度，从而选择一候选的光纤类型，校验该候选光纤类型的有效性，并确定光纤的类型。
如果光纤类型被确定，则校对部分6校对光纤的类型和在熔接条件记录部分5中预先记录的所述类型的熔接条件。如果所述熔接条件和设置的熔接条件匹配，则使用熔接机构9在所述设置的熔接条件下进行光纤的熔接。如果熔接条件和设置的条件不匹配，则发出重试或者接合的指令。校对部分6的校正结果被在监视器显示单元7上显示。通过用控制部分8中的微处理器控制熔接机构9，在记录的熔接条件下进行熔接操作。每个部分的细节说明如下。
首先，图像处理部分2包括图像获取装置2a，用于获取由图像观察机构1拾取的光纤的图像；波形检测装置2b，用于检测作为亮度分布波形(下文称为亮度分布图)的图像；以及数据测量装置2c，用于由亮度分布图测量数据。
图2为表示要由图像获取装置2a获得的光纤的图像拾取屏幕。在图2中，在进行熔接之前，要被熔接的一对光纤的端部被对接。因为光纤作为棒形透镜，故通过光纤的光被会聚，并具有一个亮度分布，其中光被在中心会聚。因此，透射光被会聚在相对背景光的光亮为阴影的暗的部分中。
在图像拾取屏幕上显示一带状图像，其由亮的部分21和暗的部分22构成，亮的部分由在中心部分水平出现的透射光形成，暗的部分则作为出现在亮的部分21的上下两侧上的阴影。由于具有不同折射率的纤芯部分存在，故在亮度部分的中心出现更亮的部分23。拾取的这个图像沿着采样线24被提取，并利用算术方法进行处理，以便获得亮度分布图。在几个点(4到5个点)上进行采样，借以获得平均值数据。
图3为表示对于图2的图像的光纤的横截面内亮度分布的曲线，其中沿纵轴表示光纤的亮度，沿横轴表示沿直径方向的位置。这个亮度分布图包括在中心部分的亮的部分25，在亮的部分两侧的暗的部分26，以及在其外侧的表示背景光亮的亮的部分。在中心部分的亮的部分25于其中心具有一突出的峰值27，以及在其左右两侧的峰值28。峰值的数量、间隔和高度可以根据光纤的类型而不同。中心峰值27表示纤芯部分，并可被相当容易地识别其几乎位于光纤的中心。在中心峰值27的两侧的凹槽30也能够被容易地识别。
对图3的亮度分布图微分，获得如图4所示的微分值波形。微分值等于0的位置和数量根据峰值的数量而不同，但是容易获得纤芯部分的峰值27的顶点位置29。跨过微分值是0的作为中心的顶点位置29的最大微分值之间的距离，被定义为纤芯直径A；在顶点位置29的两侧的0微分值之间的距离，被定义为纤芯直径B。如图3所示，纤芯直径A表示在纤芯部分中的峰值27的中腹部的可变的密度边界的距离(宽度)，纤芯直径B表示凹槽30之间的距离。此外，峰值的数量等于在有角波形(angular waveform)中的峰的数量，并且作为数据测量和获得为在纤芯部分中峰值27的顶点位置29和凹槽30之间的亮度差(或者纤芯高度)。此外，峰值27的高度可以由来自暗的部分26而不是来自凹槽30的亮度值表示，或者可以作为数据获得对比度。
通常，SM光纤的波形具有3个峰值，如图3所示，其中中心峰值表示纤芯部分。DS光纤和ED光纤实际上具有小的纤芯直径，并且在纤芯和包层的折射率之间具有大的差异，因而纤芯部分的中心峰值27较为细长并较高。此外，因为折射率分布是凸形的，所以光的会聚是如此复杂，以致于使峰值的底部展宽，或者使峰值的数量增加。另一方面，MM光纤(GI型)具有逐渐改变的折射率，峰值的高度趋于显著地减少。
按这种方式，光纤的亮度分布图依光纤的类型而不同，并且由数据测量装置2c测量。借助于模糊操作部分4，由归属程度代替来自亮度分布图的测量数据。由获得的归属程度识别光纤的类型。在进行模糊操作处理时，需要准备隶属关系函数。返回到图1，下面说明数据记录部分3。
数据记录部分3预先存储用于识别待熔接的光纤的类型的数据。数据记录部分3包括数据处理装置3a和模糊数据存储器3b。数据处理装置3a通过由图像处理部分测量的数据计算平均值和标准偏差值，产生隶属关系函数数据。此外，其获得新测量的数据作为附加的数据，并更新所述数据。模糊数据存储器3b积累由数据处理装置进行过模糊操作的光纤类型数据，并用于计算新测量的光纤的归属程度。
图5是在本发明的模糊操作中有用的隶属关系函数的一个典型例子，其中隶属关系函数是凸形的。这个函数表示分布宽度中的数据的模糊度，并在中心值上具有归属程度是1的几率。不过，也可以使用其它的形式或一般的模糊理论，只要由函数表示数据的分布即可。图5的隶属关系函数用一个三角形表示，其具有位于中心值的顶点和作为底边的分布宽度，其中纵轴表示归属程度，横轴表示参数数据。中心值是数据的平均值，分布宽度是标准偏差值。通过使分布宽度等于标准偏差值的若干倍(例如在一侧为5倍)，可以使隶属关系函数如此合理，以致于使得在宽的范围内测量值不偏离平均值并且不为0。
图6表示来自实际测量数据的隶属关系函数的例子。图6A是对于纤芯直径A的隶属关系函数，图6B是对于纤芯直径B的隶属关系函数，图6C是对于纤芯高度的隶属关系函数，图6D是对于峰值的数的隶属关系函数。由这些图可见，当包括标准偏差时，在纤芯直径B(图2中凹槽30之间的距离)中，SM光纤和MM光纤之间没有鲜明的不同，并且在DS光纤(DS1表示普通的色散位移光纤，DS2表示纤芯扩展型的色散位移光纤)和ED光纤之间也没有明显的不同。在产生隶属关系函数时，应用范围可被错误地判断为窄的范围。
图7为表示当SM光纤的聚焦位置(3个位置)改变时亮度分布图的改变。如图5所示，即使对于完全相同的光纤，为拾取图像而改变聚焦位置时也会引起亮度分布图的改变。因而，需要通过特意地使分布图发散，从而包括在焦点调定位置的前、后位置测量的值，来扩展隶属关系函数的分布宽度，以便增加适应性。
需要由已知的数据或者由数据记录预先产生隶属关系函数。不过，当通过新识别光纤的类型进行熔接时，可以把用于识别的测量数据新附加到已经存在的隶属关系函数上。此外，可以通过添加由用户连续确定的新的光纤并且查明所述新光纤来进一步识别光纤的类型。通过连续增加数据，可以增加用于识别的数据库的数量，因而可以更快、更精确地识别光纤的类型。
增加的数据可以按照下式进行管理AVn+1＝(n·AVn+Dn+1)/(n+1) (1)σn+12＝[(n-1)·σn2+n·AVn2+Dn+12-(n+1)·AVn+12]/n (2)其中n是数据的数量，AVn是平均值，σn是标准偏差值，Dn+1是添加的数据。
其中，如果数n、平均值和标准偏差值是已知的，则由于添加数据可以进行优化。因为通过改变数n来改变添加数据中的加权，所以可以设置适应的程度或查明的速度(添加的数量)。
返回到图1，下面说明用于识别光纤类型的模糊操作部分4。模糊操作部分4包括模糊操作装置4a、比较计算装置4b、候选者校核装置4c和光纤类型确定装置4d。模糊操作装置用归属程度代替由图像处理部分2测量的数据。由存储在模糊数据存储器3b中的图6的隶属关系函数进行归属程度对作为光纤类型的测量数据的代替。
表1列出计算归属程度的一个例子。表1的数值仅仅是用于说明而举的例子，其和实际的值不同。
表1
下面说明表1的计算。假定亮的部分的测量的峰值数是3，则由图6D的隶属关系函数将发现，SM光纤、MM光纤、DS1光纤和ED光纤的归属程度分别为0.8，0.9，0.9，和0.5。类似地，假定纤芯直径B是9微米，并且纤芯高度是60阶(step)，则这些光纤具有表1所示的光纤类型的归属程度，这是对图6的每个参数由隶属关系函数计算出的。
由比较计算装置4b利用模糊操作装置4a计算出的数值来选择所测量的数据的光纤类型的候选者。利用最小/最大方法进行这种候选者的选择。所述最小/最大方法涉及首先选择每类光纤的最小的归属程度。在表1中，SM光纤对于纤芯直径B是0.5，MM光纤对于纤芯高度是0.3，DS1光纤对于纤芯直径B是0.8，ED光纤对于纤芯直径B是0。然后，从每类光纤的最小归属程度当中选择最大的归属程度。即，因为DS1光纤的最大归属程度是0.8，所以判断光纤的候选类型是DS1光纤。
用下面的方式表示最小/最大的算术表达式。其中，F是具有该归属程度的数值的可信度，m是隶属关系函数，“I，j，k，l，...”是参数，t是光纤类型。
F＝max[min(mi，t，mj，t，mk，t，ml，t，..)]t用上述方式确定的光纤类型由候选者校验装置4c校核。因为对候选者选择的归属程度是可信度，故当被确定为候选者的光纤类型的归属程度小时，候选者的校核是不确定的。因而，如果对归属程度设置一个门限，当候选者具有小于所述门限的归属程度时，候选者的识别可能是不清楚的。在利用最大归属程度选择候选者时，具有相同的最大归属程度或者在第一和第二候选者之间具有小于某个值的归属程度的差的两个候选者，如果有的话，则被显示。在这种情况下，可以通过再次进行测量或者根据首位的(ranking)确定光纤的类型。
作为由候选者校验装置4c校核的光纤类型的结果，如果校核是正确的，则由光纤类型确定装置4d确定候选者。下面的表2列出了采样测试的结果，这个结果差不多是令人满意的。通过添加并积累数据，可以进一步提高识别的精度，如前所述。
表2
在监视器显示单元7上和光纤图像一道显示确定光纤类型的结果，如图8所示。对左右的每个光纤单独确定其类型。显示左、右的每个光纤的类型，其中可以显示接合条件。在此显示期间通过使操作中断一次，提示操作者进行熔接操作或者重试。在确定光纤的类型后，光纤的类型和测量数据被添加到数据记录部分3上。
如果确定了光纤的类型，则光纤的类型便被熔接条件记录部分5和校对部分6校对。熔接条件记录部分5包括用于输入熔接条件的设置装置5a，和用于存储熔接条件的存储器5b。熔接条件例如包括预热时间、端面间隔、放电电流，以及对于每种类型光纤的放电时间。
在由校对部分6校对光纤类型和熔接条件之后，熔接被自动地或者通过操作者的确认进行。如果校对结果和光纤类型以及在熔接之前由操作者预先选择的熔接条件相匹配，则不中断地自动地进行熔接。在这种情况下，不在监视器显示单元7上显示结果，借以减轻操作者的劳动。只有当校对结果和光纤类型以及熔接条件不相匹配时，结果才在监视器显示单元7上显示，以便提示操作者按照显示内容进行熔接或者重试。熔接本身利用公知的方法和机构进行，即在具有微处理器的控制部分8的控制下，根据上述熔接条件驱动熔接机构9(未详细示出)。
下面将参照图9的流程图说明本发明的熔接方法。在图9中，画虚线的框内示出了自动处理，框外示出了手动处理。在流程图的左侧示出了光纤记录的流程，以产生用于确定光纤类型的光纤数据，且在右侧示出了熔接的流程。
下面首先说明左侧的光纤记录的流程。其中，在熔接设备中设置一对具有已知光纤类型的光纤，如同在熔接的情况下那样。首先，设置所述光纤。然后，在步骤D1，选择并输入光纤的类型(如果已知，则选择一种类型，如果未知，则选择其名称)。接着的步骤D2-D5涉及光纤的图像处理。
在步骤D2，利用图像观察机构(图1)进行调光，使得光纤的被观察拾取的图像处于最佳状态。然后，在步骤D3，调节对接位置，使得光纤的拾取位置位于屏幕的中心，以便容易观察。此后，在步骤D4进行聚焦，以便把所观察的图像的焦点设置在预定的聚焦位置。
在步骤D5，测量光纤的数据。通过在光纤的对接屏幕(图2)上采样几个点，并通过图像处理产生光纤的亮度分布图(图3)进行所述数据测量。根据亮度分布图进行微分处理(图4)，从而获得参数数据，包括纤芯直径、纤芯高度和峰值数量。
在步骤D6，处理所测量的数据。此数据处理涉及根据测量的数据产生隶属关系函数(图5和图6)，其中把所产生的数据作为光纤数据记录在数据库中。此后，在步骤D7，从熔接设备中取出光纤。
下面说明右侧的熔接流程。其中，光纤类型可以是已知但是不确定的，或者是完全未知的。要被熔接的一对光纤被设置在熔接设备内，如同光纤记录的情况下那样。在光纤被设置之后，首先在步骤S1，选择并输入熔接条件。可以按照光纤类型选择和该光纤类型相关的熔接条件。如果预先估计光纤类型，则根据假定的光纤类型从在数据库中记录的熔接条件数据段当中选择熔接条件。如果光纤类型是完全未知的，则可以选择在选择菜单上提供的“自动选择”项目。
如上所述，在图像处理中，涉及在步骤S2的调光，在步骤S3的对接，在步骤S4的聚焦，以及在步骤S5的光纤测量，其流程完全和光纤记录的流程相同，此处不再说明。在需要时，可以把步骤S5在光纤测量中测得的数据添加到数据库中，或者可以在步骤D6中并行地进行光纤记录的处理。
在确定光纤的类型和进行熔接条件的接合校对时，涉及步骤S6到S8。在步骤S6，识别被设置的光纤的类型。通过参考数据库中的模糊操作数据(图6)对在步骤S5测量的数据计算归属程度，并利用最小最大方法识别光纤的类型，来进行光纤类型的识别。
在步骤S6识别光纤的类型之后，校对在数据库中记录的每种类型的光纤的熔接条件。如果它们和在步骤S1选择的熔接条件相匹配，则进行下一步的熔接处理。如果和在步骤S1选择的熔接条件不相匹配，则在步骤S8于显示单元上显示校对结果。如果由显示的数据确定进行接合不合适，则操作返回步骤S1，再次设置熔接条件。如果确定虽然显示的数据不匹配，但可以进行熔接，则进行下一步的熔接处理。
下面的步骤S9-S13涉及利用公知方法进行光纤的熔接。首先，在步骤S9测量光纤的端面之后，测量光纤之间的端面间隔、光纤的端面形状和灰尘的附着情况。在步骤S10，如果检查到端面形状是错误的，则光纤从设备中被取出，并重新进行切割。如果光纤的端面正常，则在步骤S11使光纤的轴线对准。接着，在步骤S12，在熔接条件中设置的放电电流和放电时间下，使光纤进行熔接。在步骤S12进行熔接之后的检查中，检查对接部分的厚薄度外观、灰尘和气泡的混合物、纤芯部分的倾斜以及未对准。此后在步骤S14，从熔接设备中取出光纤。
以上对单芯光纤进行了说明，但是本发明也适用于带状光纤，此时使用具有高放大倍数的图像观察机构。在这种情况下，如果带状光纤在外观上由同一种光纤构成，则可以对带状光纤中的一个光纤进行识别处理。
虽然上面结合特定实施例对本发明进行了说明，但是本领域技术人员应当理解，不脱离本发明的范围和构思，可以作出许多改变和改型。
本申请基于2000年12月5日提出的JP-A-2000-369681专利申请，其内容被包括在此作为参考。
工业应用性如由上面的说明可以清楚地看出的，利用本发明，通过正确地识别所有类型的光纤，并选择适合于该光纤类型的熔接条件，可以对光纤进行合适的熔接。此外，能够补充用于识别的数据库，从而提高识别的精度。
权利要求
1.一种用于通过对接放电熔接光纤端部的熔接设备，其特征在于所述设备包括一图像观察机构，用于观察光纤的端部；一图像处理部分，用于由拾取的图像测量光纤横截面内亮度分布波形的参数数据；一模糊操作部分，用于由预先记录在数据记录部分中的模糊操作数据获得被测量的参数数据的归属程度，并通过模糊操作识别光纤的类型；一校对部分，用于利用在熔接条件记录部分中预先记录的每种类型光纤的熔接条件，校对被识别的光纤的类型；一显示单元，用于显示校对结果；一熔接机构；以及一控制部分。
2.如权利要求1所述的熔接设备，其特征在于所述参数数据至少包括所述亮度分布波形的峰值数量、纤芯直径和纤芯高度。
3.如权利要求2所述的熔接设备，其特征在于所述数据记录部分包括数据处理装置，用于检索(retrieve)所述参数数据，并产生模糊操作数据。
4.如权利要求1-3中任何一个所述的熔接设备，其特征在于被预先记录的模糊操作数据，是光纤的横截面内亮度分布波形的参数数据的平均值和标准偏差的隶属关系函数。
5.一种用于通过对接放电熔接光纤端部的熔接方法，其特征在于包括以下步骤在图像观察机构中观察所述光纤的端部；在图像处理部分中由拾取的图像测量光纤横截面内亮度分布波形的参数数据；在模糊操作部分中通过模糊操作由预先记录的模糊操作数据获得所述被测量的参数数据的归属程度，并识别光纤的类型；在校对部分中利用预先记录的每种类型光纤的熔接条件校对被识别的光纤的类型；显示校对结果；以及在熔接机构中熔接所述光纤。
6.如权利要求5所述的熔接方法，其特征在于所述参数数据至少包括所述亮度分布波形的峰值数量、纤芯直径和纤芯高度。
7.如权利要求5或6所述的熔接方法，其特征在于被预先记录的模糊操作数据，是光纤的横截面内亮度分布波形的参数数据的平均值和标准偏差的隶属关系函数。
8.如权利要求7所述的熔接方法，其特征在于所述隶属关系函数涉及这样的参数数据，其中所述亮度分布波形具有一用于拾取从一设定位置移位的光纤图像的焦点。
9.如权利要求7或8所述的熔接方法，其特征在于，所述隶属关系函数还具有要被新熔接的光纤的所述测量的参数数据。
10.如权利要求5-7中任何一个所述的熔接方法，其特征在于还包括以下步骤对于光纤的多个类型中的每个类型，获得所述测量的参数数据的多个数据段中的每个数据段的归属程度，以便进行模糊操作；对于光纤的每个类型，选择所述归属程度的最小值；在所述选择的最小值当中，选择一个最大值；以及把指示所述选择的最大值的光纤的类型识别为被测量的光纤的类型。
11.如权利要求5所述的熔接方法，其特征在于，如果对所识别的光纤类型的熔接条件的校对结果和预设的熔接条件相匹配，则不显示校对结果进行熔接。
全文摘要
本发明的目的在于提供一种在适合于各种光纤的熔接条件下熔接光纤的设备和方法，其中可以充分地识别光纤的类型。本发明提供一种用于通过对接放电熔接光纤端部的设备，所述设备包括一图像观察机构(1)，用于观察光纤的端部；一图像处理部分(2)，用于由拾取的图像测量光纤的横截面中亮度分布波形的参数数据；一模糊操作部分(4)，用于由预先记录在数据记录部分(3)中的模糊操作数据获得被测量的参数数据的归属程度，并通过模糊操作识别光纤的类型；一校对部分(6)，用于利用在熔接条件记录部分(5)中预先记录的每种类型光纤的熔接条件，校对被识别的光纤的类型；一显示单元(7)，用于显示校对结果；一熔接机构(9)，以及一控制部分(8)。
文档编号G02B6/38GK1531661SQ0182011
公开日2004年9月22日 申请日期2001年12月4日 优先权日2000年12月5日
发明者服部一成 申请人:住友电气工业株式会社