专利名称：全息存储再现方法以及装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种全息存储再现方法以及装置。
背景技术：
例如，在JP特开2003-85768号公报中公开有一种光信息记录装置以及方法通过检测出配置在信息记录区域内的至少一个锁定凹坑(Lock-up Pit)和光学头的位置偏差，而进行在光信息记录介质的移动方向上的伺服控制，从而，在全息图的记录过程中，通过使信息光以及记录用参照光不发生位置偏差地正确持续照射信息记录位置，将全息图记录在光信息记录介质上。
此时，配置在信息记录区域内的锁定凹坑是不能够进行全息记录的区域。
如上所述，在JP特开2003-85768号公报中记载的光信息记录装置以及方法中存在这样的问题，即，由于伺服控制基准的锁定凹坑是不能够进行全息记录的区域，所以记录介质的数据容量会降低与上述锁定凹坑的区域相对应的量，另外，会增加用于形成锁定凹坑的制造各工序或者会增大对数据光的干扰。
发明的公开本发明是鉴于上述问题点而提出的，其目的在于，提供一种使数据容量降低、且不需要进行锁定凹坑等伺服层的特别加工的全息存储再现方法以及装置。
本发明者专心研究的结果，终于发现对形成在全息记录介质的记录层上的干涉条纹，照射波长、入射角度、入射方向中的至少一个不同于再现光、且满足布拉格条件的伺服光，而能够进行再现位置伺服。
即，根据以下的发明，能够达成上述目的。
(1)一种全息存储再现方法，其特征在于，对在全息记录介质的记录层上由物体光与参照光的照射而形成的干涉条纹，通过再现光的照射而在记录层上产生衍射光，并基于该衍射光再现信息时，向上述干涉条纹照射波长、入射角度、入射方向中的至少一个相对上述再现光不同、且相对上述干涉条纹满足布拉格条件的伺服光，并基于通过该伺服光照射而产生的衍射光来进行对全息记录介质的再现位置伺服。
(2)如(1)所述的全息存储再现方法，其特征在于，沿着上述物体光的照射光轴，从与该物体光相反的方向照射上述伺服光。
(3)如(1)所述的全息存储再现方法，其特征在于，沿着上述物体光的照射光轴，从与该物体光相同的方向照射上述伺服光。
(4)如(1)所述的全息存储再现方法，其特征在于，沿着上述参照光的照射光轴，从与该参照光相同的方向照射上述伺服光。
(5)如(1)所述的全息存储再现方法，其特征在于，沿着上述参照光的照射光轴，从与该参照光相反的方向照射上述伺服光。
(6)如(1)～(5)中任意一项所述的全息存储再现方法，其特征在于，将上述伺服光设定成光束直径为上述物体光、参照光以及再现光中任意一个的光束直径的1/100～1/10的平面波。
(7)如(6)所述的全息存储再现方法，其特征在于，上述物体光以及参照光中的至少一方是非准直光，而上述干涉条纹是通过球面波来形成的。
(8)如(1)～(7)中任意一项所述的全息存储再现方法，其特征在于，从与上述再现光不同的光源照射上述伺服光。
(9)如(1)～(7)中任意一项所述的全息存储再现方法，其特征在于，使上述再现光的一部分进行分束而照射上述伺服光。
(10)如(1)～(9)中任意一项所述的全息存储再现方法，其特征在于，对上述全息记录介质进行二维移位多重记录，并且基于通过伺服光照射而产生的衍射光来进行对全息记录介质的二维再现位置伺服。
(11)一种全息存储再现装置，对在全息记录介质的记录层上由物体光与参照光的照射而形成的干涉条纹，通过再现光的照射而在全息记录层上产生衍射光，并基于该衍射光再现信息，其特征在于，具有伺服光学系统，该伺服光学系统照射波长、入射角度、入射方向中的至少一个相对上述再现光不同、且相对上述干涉条纹满足布拉格条件的伺服光，并基于通过该伺服光照射而产生的衍射光来进行对全息记录介质的再现位置伺服。
(12)如(11)所述的全息存储再现装置，其特征在于，上述伺服光学系统沿着上述物体光的照射光轴，从与该物体光相反的方向照射上述伺服光。
(13)如(11)所述的全息存储再现装置，其特征在于，上述伺服光学系统沿着上述物体光的照射光轴，从与该物体光相同的方向照射上述伺服光。
(14)如(11)所述的全息存储再现装置，其特征在于，上述伺服光学系统沿着上述参照光的照射光轴，从与该参照光相同的方向照射上述伺服光。
(15)如(11)所述的全息存储再现装置，其特征在于，上述伺服光学系统沿着上述参照光的照射光轴，从与该参照光相反的方向照射上述伺服光。
(16)如(11)～(15)中任意一项所述的全息存储再现装置，其特征在于，上述伺服光学系统将上述伺服光设定成光束直径为上述物体光、参照光以及再现光中任意一个的光束直径的1/100～1/10的平面波。
(17)如(11)～(16)中任意一项所述的全息存储再现装置，其特征在于，对上述全息记录介质进行二维移位多重记录，并且上述伺服光学系统基于通过伺服光照射而产生的衍射光来进行对全息记录介质的二维再现位置伺服。
(18)如(11)～(17)中任意一项所述的全息存储再现装置，其特征在于，上述伺服光学系统具有伺服光源，该伺服光源出射与上述再现光不同的上述伺服光。
(19)如(11)～(17)中任意一项所述的全息存储再现装置，其特征在于，上述伺服光学系统具有再现光分束装置，该再现光分束装置使上述再现光的一部分进行分束并作为伺服光。
附图的简要说明
图1是表示本发明的第一实施例中的全息记录再现装置的光学系统图。
图2是放大表示上述第一实施例中的伺服光学系统的一部分的光学系统图。
图3是表示上述第一实施例中的伺服光照射位置与伺服光的衍射效率之间的关系的曲线图。
图4是表示上述第一实施例中的伺服光的照射位置与、干涉条纹以及衍射光之间的关系的线图。
图5是表示光束直径粗的伺服光与衍射光之间的关系的线图。
图6是表示伺服光的光束直径与伺服光的照射位置以及伺服光的衍射效率之间的关系的曲线图。
图7是表示本发明的第二实施例中的全息记录再现装置的光学系统图。
图8是表示本发明的第三实施例中的全息记录再现装置的光学系统图。
图9是示意性地表示本发明的第四实施例中的全息记录介质与伺服光以及衍射光之间的关系的放大剖面图。
图10是示意性地表示本发明的第五实施例中的全息记录介质与伺服光以及衍射光之间的关系的放大剖面图。
图11是示意性地表示本发明的第六实施例中的全息记录介质与伺服光以及衍射光之间的关系的放大剖面图。
图12是示意性地表示对进行了移位多重记录的全息图在X轴方向以及Y轴方向进行再现位置伺服的第七实施例中的方法的平面图。
图13是表示上述第七实施例中的全息记录介质的移动方向、和记录光点在X轴方向以及Y轴方向的中心、和衍射效率之间的关系的曲线图。
图14是利用在对X轴方向以及Y轴方向执行再现位置伺服的第八实施例中所使用的四分割检测器与记录光点的关系来表示衍射光的衍射效率的曲线图。
实施发明的最佳方式由反射镜来反射照射到全息记录介质上的再现光中透过该全息记录介质的透过光，而照射到全息记录介质上，并将其衍射光作为伺服光来提取，然后通过检测伺服光来进行再现位置伺服。
第一实施例下面，参照图1、图2并对第一实施例进行说明。
第一实施例中的全息记录再现装置10具有激光光源12；光束扩展器14，其用于放大从该激光光源12出射的激光的光束直径；偏振光束分离器16，其将通过该光束扩展器14放大了光束直径的激光分束为p偏振光以及s偏振光；参照光学系统20，其将透过了该偏振光束分离器16的p偏振光作为参照光，而导入到全息记录介质18中；物体光学系统22，其将由偏振光束分离器16反射了的s偏振光作为物体光，而导入到上述全息记录介质18中；成像光学系统24，其设置在经过该物体光学系统22而照射到全息记录介质18上的物体光的光轴上的、全息记录介质18的相反侧；伺服光学系统26，其将伺服光照射到上述全息记录介质18上，同时接收该衍射光并进行再现位置伺服。
上述参照光学系统20是从上述偏振光束分离器16侧依次具有反射镜20A、物镜20B而构成的。
另外，上述物体光学系统22是从上述偏振光束分离器16侧依次具有1/2波片22A、空间光调制器22B、反射镜22C、傅立叶透镜22D而构成的。
上述成像光学系统24从上述全息记录介质18侧起，具有成像透镜24A、以及来自上述全息记录介质18的衍射光由该成像透镜24A来成像在其上的拍摄元件24B而构成。
另外，上述伺服光学系统26具有凹面反射镜26A，其设置在来自上述参照光学系统20的参照光的光轴的、超过上述全息记录介质18的延长线上；偏振光束分离器26B，其设置在上述物体光学系统22中的傅立叶透镜22D与上述全息记录介质18之间的物体光的光轴上；光电检测器(Photodetector)26C，其设置在从上述全息记录介质18沿着物体光的光轴向偏振光束分离器26B传播的光线由该偏振光束分离器26B直角反射了的反射光轴上。上述偏振光束分离器26B透过p偏振光，而反射s偏振光。
另外，当与参照光同样地、再现光入射到全息记录介质18上时，上述凹面反射镜26A将该透过光沿着再现光的光轴向反方向反射，此时，将反射光设定为，相对通过上述光束扩展器14被放大了的参照光(也可以是物体光或者再现光)光束直径的1/100～1/10。
首先，针对通过上述全息记录再现装置10将信息记录在全息记录介质18上的过程进行说明。
来自激光光源12的激光，由光束扩展器14被放大其光束直径，并由偏振光束分离器16分束为作为透过光的p偏振光、以及作为反射光的s偏振光，然后分别入射到参照光学系统20以及物体光学系统22。
在参照光学系统20中，参照光由反射镜20A反射过之后，经过物镜20B而被转换成球面波，然后照射到全息记录介质18上。
另一方面，在物体光学系统22中，作为物体光的s偏振光在1/2波片22A中发生相位偏移而成为p偏振光，进而，在空间光调制器22B中被付与要记录的数据，并由反射镜22C反射之后，由傅立叶透镜22D转换成球面波，然后照射到全息记录介质18上。
照射到全息记录介质18上的参照光以及物体光都是p偏振光，并都通过记录层18A的相同区域，从而形成光学干涉条纹。由此，上述所付与的数据被记录到全息记录介质18上。
当对全息记录介质18的信息(数据)进行再现时，由空间光调制器22B遮断物体光，并将参照光作为再现光来照射全息记录介质18。
照射到全息记录介质18的记录层18A上的再现光根据这里的干涉条纹产生衍射光，该衍射光由成像透镜24A成像在拍摄元件24B上，并基于由拍摄元件24B获得的信息来再现上述数据。
上述再现光的大部分在全息记录介质18上不发生衍射，而作为透过光入射到上述伺服光学系统26的凹面反射镜26A上。上述再现光透过全息记录介质18，通过焦点之后作为发散的球面波而照射到凹面反射镜26A上，并作为被准直了的平面波而面向全息记录介质18向反方向反射。
此时，反射光的光束直径变小，并与再现光反方向照射到全息记录介质18上，在此发生与上述物体光反方向的衍射光即伺服光。
该伺服光在上述偏振光束分离器26B中被反射，并入射到光电检测器26C中。
此外，由于上述伺服光学系统26的偏振光束分离器26B可透过p偏振光，所以物体光不会被该偏振光束分离器26B反射。
如图3所示，上述凹面反射镜26A上的反射光(伺服光)在上述记录层18A上的衍射效率，根据伺服光的照射位置而大幅度变化，其峰值的间距变得等于进行移位多重记录而形成的干涉条纹的移位量间距(相邻的全息图中心的距离)P。
这是因为，如图4所示，若干涉条纹是通过球面波形成的，则当全息记录介质18相对光束直径细的伺服光、向图4中的横向进行平移(相对性移动)时，如实线所示，只在伺服光与参照光轴Res重合的一瞬间、即只在满足布拉格条件的一瞬间发生衍射光，而如单点划线以及双点划线所示，当伺服光与参照光的光轴发生错位时，由于与伺服光通过的区域的干涉条纹所对应的参照光相比入射角不同(没有满足布拉格条件)，从而不发生衍射光。
因此，通过光电检测器26C只要检测出如上所述地只在伺服光与参照光轴重合的一瞬间发生的衍射光，就可以在该输出信号的峰值的位置进行再现位置伺服。
与上述相对，例如如图5所示，当照射光束直径比全息图的移位选择性更大直径的伺服光Seb时，即使伺服光Seb与参照光轴Res重合，也只是在伺服光的光轴附近的光束发生衍射，而远离光轴(移位选择性程度以上)的部分光被透过。
因此，衍射效率的峰值变得比光束直径小的伺服光低，另外，即使伺服光与参照光的光轴发生若干偏差，由于与参照光重合的部分附近的光束发生衍射，所以对于伺服光(从参照光的)的位置偏差的容许幅度也会变大。
如果将其表示在图上，则如图6所示。在图6中，实线表示伺服光的光束直径小的情况，而虚线表示伺服光的光束直径大的情况。
由图6可知，若使伺服光的光束直径大，则很难分离检测出全息记录，而与其相反，若变得过细，则该光学系统会变得复杂。伺服光的光束直径的最佳值，优选为相对再现光的光束直径的1/100～1/10。
第二实施例在上述第一实施例中，所谓伺服光是将再现光的透过光作为伺服光，所以再现光与伺服光波长相同，但是，当使用与再现光同波长的光作为伺服光时，并不仅限于第一实施例，而也可以使用与激光光源12分别单独设置的伺服光源。
图7所示的第二实施例中的全息记录再现装置30的伺服光学系统32具有激光二极管(伺服光源)32A，其设置在图1的全息记录再现装置10中的参照光的光轴的、超过全息记录介质18的延长线上；准直透镜32B，其对来自该激光二极管32A的激光进行光束整形；偏振光束分离器26B，其与设置在上述第一实施例中的全息记录再现装置10的伺服光学系统中的偏振光束分离器26B相同；光电检测器26C，其与设置在上述第一实施例中的全息记录再现装置10的伺服光学系统中的光电检测器26C相同。
作为上述伺服光源的激光二极管32A，可出射与激光光源12相同波长的激光。
由于全息记录再现装置30的其它结构与第一实施例中的全息记录再现装置10的机构相同，所以附以与使用于图1的各结构的符号相同的符号，并省略说明。
在该第二实施例中，从激光二极管32A出射的激光，作为伺服光而由准直透镜32B进行光束整形之后照射到全息记录介质18上，这里，在物体光的光轴上发生作为伺服光的衍射光，并由偏振光束分离器26B反射，而被光电检测器26C接收。
在上述第一实施例以及第二实施例中，当向全息记录介质18上记录信息时，由于不需要上述伺服光学系统26以及32中的偏振光束分离器26B，所以，当进行记录时，也可以将偏振光束分离器26B从物体光学系统22退避到系统外，而在进行再现时插入到物体光路上。
这样，就可以不必使用偏振光束分离器，而能够使用通常的光束分离器。另外，由于进行再现时物体光学系统22是被遮断的，所以也可以使用全反射镜。
第三实施例在上述第一实施例以及2中的伺服光学系统，使伺服光采用与再现光相同波长，并且在再现光的光轴上，从其相反侧照射全息记录介质，但本发明并不仅限于此，伺服光只要是与再现光相比在波长、入射角度、入射方向中至少一个不同、且对于干涉条纹满足布拉格条件即可。
图8的第三实施例表示使用与再现光不同波长的伺服光的情况。该第三实施例中的全息记录再现装置40是，设置有从相对再现光(参照光)相反侧、且从与再现光的光轴不同的方向照射伺服光的伺服光学系统42的装置。该全息记录再现装置40的其它结构，除了没有设置有1/2波片22A的这一点以外，与第一实施例的全息记录再现装置10的结构相同，所以附以使用于图1中的各结构的符号相同的符号，而省略说明。
上述伺服光学系统42设有伺服光源42A，其用与再现光不同波长的伺服光，以与再现光不同的入射角照射全息记录介质18；光电检测器42B，其接受由该照射来发生的衍射光；以及准直透镜42C。
从上述伺服光源42A出射的激光的波长与向全息记录介质18的入射角的关系，被设定成满足在记录层18A上的干涉条纹处的布拉格条件。
在该第三实施例中，伺服光与再现光、参照光、物体光中任何一个都不同轴，所以能够抑制同轴光相互间发生不理想的干涉的不良，例如伺服光通过由透镜等的多重反射而给再现图像带来噪音，或者入射到记录再现用激光中而引起光源噪音或对激光光源的损伤等。
此外，当再现光与伺服光的波长相差很大时，最佳的光学部件的色散和反射防止涂层等可能会不能两全，或者为了使波长不同的光源并存而可能会发生稍微的高成本，从而最好考虑上述的特性和成本而决定再现光与伺服光的波长差。
第四实施例第四～六实施例表示沿着参照光或者物体光的光轴而向与物体光或者参照光相同的方向或者相反方向照射伺服光的情况。
此外，这些第四～六实施例放大表示了全息记录介质18与其周围的再现光与衍射光的关系，并省略了其它结构。
在图9的第四实施例中，沿着进行记录时的物体光轴Obs，伺服光SE从物体光的相反方向入射到全息记录介质18，从而得到沿着参照光轴Res与再现光反方向的衍射光RE。
第五实施例在图10的第五实施例中，伺服光SE沿着再现光(参照光)轴Res向与其相同的方向入射，从而在物体光轴Obs的延长线上得到其衍射光RE。
第六实施例在图11的第六实施例中，伺服光SE向与物体光相同的方向沿着物体光轴Obs入射，从而在参照光轴Res的延长线上得到衍射光RE。
第七实施例接着，如图12所示，针对对二维(X轴方向以及Y轴方向)移位多重记录的全息记录介质50进行X轴方向与Y轴方向的再现时进行伺服的情况，进行说明。
为了说明方便，将全息记录介质50的记录面与、物体光以及参照光的入射面相交的交线定义为X轴、并将包含于记录面上、且与X轴垂直的方向定义为Y轴。
根据移位多重记录的原理，与X轴方向相比，Y轴方向的选择性较低。即，如图12所示，若能够分离相邻的一个单位的记录光点Ms的最小间距设为ΔX以及ΔY，则ΔX＜ΔY。
上述间距的绝对值虽然依存于所用的光学系统和记录介质的厚度，但例如在厚度为1mm的记录介质的情况下，ΔX为1～10μm，ΔY为几十～几百μm。但是，当如偏振光共线方式的反射全息图那样对X以及Y轴无法定义(变成等价)时，可以将ΔX、ΔY都设定为1～10μm程度的选择性。
这里，如果以与参照光轴相同的入射角照射细(光束直径小)到可使选择性发挥功能的程度的伺服光，同时使全息记录介质50向X轴方向平移，则只在该伺服光与进行记录时的参照光轴大致一致时出现衍射光、或者增强，因此能够实现X轴方向的再现位置伺服，与此同时，由于选择性对于Y轴方向的位置偏差也同样发挥功能，所以也能够实现Y轴方向的位置伺服(相当于光盘上的跟踪动作))。
第八实施例实施在第七实施例的方法中的X轴方向与Y轴方向的再现位置伺服的装置，例如如图14所示的第八实施例那样，使用四分割检测器60。该四分割检测器60，由1/4圆状分割检测区域62A～62D构成图14中所示的伺服光检出区域，而检测出各伺服光，并且，基于检测出的光强信号，在运算装置64中进行运算，从而能够决定X、Y轴方向的再现点(Point)。
这里，将对上述分割检测区域62A～62D的检测光强设为A～D时，若根据以下(1)式～(3)式的运算，则在(RF-sum)为最大、且(PP-X)为零的瞬间，分割检测区域62A～62D的X轴方向的中心与记录光点Ms的中心一致，因此相对X轴方向的平移的位置伺服将其作为再现点就可。
(RF-sum)＝A+B+C+D…(1)(PP-X)＝(B+C)-(A+D) …(2)(PP-Y)＝(C+D)-(A+B) …(3)
另外，对于Y轴方向的位置偏差，只要当(PP-Y)为负时，将全息记录介质50移动到图14中的下方，还有当其为正时移动到上方就可。
在该第八实施例中存在这样的优点，即，当得不到伺服光(衍射光)时，可知该伺服光从记录光点Ms的中心向哪个方向错位。
此外，在上述各实施例中，虽然针对使用了向全息记录介质进行全息记录、且对所记录的信息(存储Memory)进行再现的装置的情况进行了说明，但本发明是适用于这些全息记录再现装置的再现部分的发明，因此当然也适用于只进行再现的全息存储再现方法以及装置。
工业上的可利用性在本发明中，对形成有干涉条纹的记录层照射与再现光可分离的伺服光而进行再现位置伺服，所以不需要设置用于再现位置伺服的锁定凹坑区域等，从而能够增大记录介质的数据容量、缩短制造工序、以及降低对再现光的噪音。
权利要求
1.一种全息存储再现方法，其特征在于，对在全息记录介质的记录层上由物体光与参照光的照射而形成的干涉条纹，通过再现光的照射而在记录层上产生衍射光，并基于该衍射光再现信息时，向上述干涉条纹照射波长、入射角度、入射方向中的至少一个相对上述再现光不同、且相对上述干涉条纹满足布拉格条件的伺服光，并基于通过该伺服光照射而产生的衍射光来进行对全息记录介质的再现位置伺服。
2.如权利要求1所述的全息存储再现方法，其特征在于，沿着上述物体光的照射光轴，从与该物体光相反的方向照射上述伺服光。
3.如权利要求1所述的全息存储再现方法，其特征在于，沿着上述物体光的照射光轴，从与该物体光相同的方向照射上述伺服光。
4.如权利要求1所述的全息存储再现方法，其特征在于，沿着上述参照光的照射光轴，从与该参照光相同的方向照射上述伺服光。
5.如权利要求1所述的全息存储再现方法，其特征在于，沿着上述参照光的照射光轴，从与该参照光相反的方向照射上述伺服光。
6.如权利要求1～5中任意一项所述的全息存储再现方法，其特征在于，将上述伺服光设定成光束直径为上述物体光、参照光以及再现光中任意一个的光束直径的1/100～1/10的平面波。
7.如权利要求6所述的全息存储再现方法，其特征在于，上述物体光以及参照光中的至少一方是非准直光，而上述干涉条纹是通过球面波来形成的。
8.如权利要求1～5中任意一项所述的全息存储再现方法，其特征在于，从与上述再现光不同的光源照射上述伺服光。
9.如权利要求6所述的全息存储再现方法，其特征在于，从与上述再现光不同的光源照射上述伺服光。
10.如权利要求7所述的全息存储再现方法，其特征在于，从与上述再现光不同的光源照射上述伺服光。
11.如权利要求1～5中任意一项所述的全息存储再现方法，其特征在于，使上述再现光的一部分进行分束而照射上述伺服光。
12.如权利要求6所述的全息存储再现方法，其特征在于，使上述再现光的一部分进行分束而照射上述伺服光。
13.如权利要求7所述的全息存储再现方法，其特征在于，使上述再现光的一部分进行分束而照射上述伺服光。
14.如权利要求1～5中任意一项所述的全息存储再现方法，其特征在于，对上述全息记录介质进行二维移位多重记录，并且基于通过伺服光照射而产生的衍射光来进行对全息记录介质的二维再现位置伺服。
15.如权利要求6所述的全息存储再现方法，其特征在于，对上述全息记录介质进行二维移位多重记录，并且基于通过伺服光照射而产生的衍射光来进行对全息记录介质的二维再现位置伺服。
16.如权利要求7所述的全息存储再现方法，其特征在于，对上述全息记录介质进行二维移位多重记录，并且基于通过伺服光照射而产生的衍射光来进行对全息记录介质的二维再现位置伺服。
17.如权利要求8所述的全息存储再现方法，其特征在于，对上述全息记录介质进行二维移位多重记录，并且基于通过伺服光照射而产生的衍射光来进行对全息记录介质的二维再现位置伺服。
18.如权利要求11所述的全息存储再现方法，其特征在于，对上述全息记录介质进行二维移位多重记录，并且基于通过伺服光照射而产生的衍射光来进行对全息记录介质的二维再现位置伺服。
19.一种全息存储再现装置，对在全息记录介质的记录层上由物体光与参照光的照射而形成的干涉条纹，通过再现光的照射而在记录层上产生衍射光，并基于该衍射光再现信息，其特征在于，具有伺服光学系统，该伺服光学系统照射波长、入射角度、入射方向中的至少一个相对上述再现光不同、且相对上述干涉条纹满足布拉格条件的伺服光，并基于通过该伺服光照射而产生的衍射光来进行对全息记录介质的再现位置伺服。
20.如权利要求19所述的全息存储再现装置，其特征在于，上述伺服光学系统沿着上述物体光的照射光轴，从与该物体光相反的方向照射上述伺服光。
21.如权利要求19所述的全息存储再现装置，其特征在于，上述伺服光学系统沿着上述物体光的照射光轴，从与该物体光相同的方向照射上述伺服光。
22.如权利要求19所述的全息存储再现装置，其特征在于，上述伺服光学系统沿着上述参照光的照射光轴，从与该参照光相同的方向照射上述伺服光。
23.如权利要求19所述的全息存储再现装置，其特征在于，上述伺服光学系统沿着上述参照光的照射光轴，从与该参照光相反的方向照射上述伺服光。
24.如权利要求19～23中任意一项所述的全息存储再现装置，其特征在于，上述伺服光学系统将上述伺服光设定成光束直径为上述物体光、参照光以及再现光中任意一个的光束直径的1/100～1/10的平面波。
25.如权利要求19～23中任意一项所述的全息存储再现装置，其特征在于，对上述全息记录介质进行二维移位多重记录，并且上述伺服光学系统基于通过伺服光照射而产生的衍射光来进行对全息记录介质的二维再现位置伺服。
26.如权利要求24所述的全息存储再现装置，其特征在于，对上述全息记录介质进行二维移位多重记录，并且上述伺服光学系统基于通过伺服光照射而产生的衍射光来进行对全息记录介质的二维再现位置伺服。
27.如权利要求19～23中任意一项所述的全息存储再现装置，其特征在于，上述伺服光学系统具有伺服光源，该伺服光源出射与上述再现光不同的上述伺服光。
28.如权利要求24所述的全息存储再现装置，其特征在于，上述伺服光学系统具有伺服光源，该伺服光源出射与上述再现光不同的上述伺服光。
29.如权利要求25所述的全息存储再现装置，其特征在于，上述伺服光学系统具有伺服光源，该伺服光源出射与上述再现光不同的上述伺服光。
30.如权利要求19～23中任意一项所述的全息存储再现装置，其特征在于，上述伺服光学系统具有再现光分束装置，该再现光分束装置使上述再现光的一部分进行分束并作为伺服光。
31.如权利要求24所述的全息存储再现装置，其特征在于，上述伺服光学系统具有再现光分束装置，该再现光分束装置使上述再现光的一部分进行分束并作为伺服光。
32.如权利要求25所述的全息存储再现装置，其特征在于，上述伺服光学系统具有再现光分束装置，该再现光分束装置使上述再现光的一部分进行分束并作为伺服光。
33.如权利要求26所述的全息存储再现装置，其特征在于，上述伺服光学系统具有再现光分束装置，该再现光分束装置使上述再现光的一部分进行分束并作为伺服光。
全文摘要
本发明提供一种不会使全息记录介质的记录容量降低、而进行再现位置伺服的方法以及装置。当对全息记录介质18进行再现时，将再现光的一部分作为伺服光，从再现光(参照光)的相反侧，在其同一光轴上对全息记录介质18的记录层18A进行照射，并经由偏振光束分离器26B而由光电检测器26C检测出其衍射光。
文档编号G03H1/22GK1886785SQ20048003458
公开日2006年12月27日 申请日期2004年11月10日 优先权日2003年11月28日
发明者塚越拓哉, 吉成次郎, 三浦荣明, 水岛哲郎 申请人:Tdk股份有限公司