专利名称：一种用于检测阵列绕线的母基板及其检测方法
一种用于检测阵列绕线的母基板及其检测方法
技术领域：
本发明涉及一种母基板及检测其上液晶面板中阵列绕线组(Wire On Array，TOA) 的方法，特别是一种将液晶面板中阵列绕线组引出至周边布置的测试线组(shorting bar) 的母基板及其利用一种观测性强的检测系统对阵列绕线组做检测的方法。
背景技术：
在液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)技术日益成熟的大环境下，全球各地的液晶面板厂商为提升自身在该领域里的竞争力，在研发出更多更新的显示技术的同时，无疑要保证最基本的面板良率。在液晶面板的制程中，一般是在一块大的玻璃基板，亦称母基板(mother substrate)，上制作出多个液晶面板(Unit Cell)，该些液晶面板呈阵列分布。之后通过后期的切裂制程(Cutting Process)进行分割，得到多个独立的液晶面板。从一块母基板上所得到的液晶面板数目通常与母基板的尺寸有关，随着现代液晶面板生产代数的提升，母基板的尺寸已越做越大，一次性所做的液晶面板数目也就增多了。从而，液晶面板的成本相对降低，使得液晶显示技术更多地走进人们的日常生活。另外液晶面板的应用也多元化，目前的液晶显示器、手机显示屏上的运用已是家喻户晓。请参照图1，图1是现有技术的母基板的俯视图。母基板10上设置有一液晶面板阵列11、一测试区12。该液晶面板阵列11中设置有多个液晶面板110，且该些显示面板110 按m行和η列分布，故数目为mXn个。该测试区12中设置有多个测试垫组120，且每个测试垫组120进一步包括测试垫120a、测试垫120b、测试垫120c、测试垫120d和测试垫120e。 多个测试线组13贯穿于液晶面板阵列11与测试区12和液晶面板阵列110内的多个液晶面板之间，并且分别与测试垫组120电性连接。具体请参照图Ia所示。在图Ia中，图Ia是图1中单个液晶面板的放大图。在液晶面板110中设置有显示区111、栅极驱动区121、源极驱动区131和阵列绕线组141。在液晶面板110的外围，测试线组130包括有测试线130a、测试线130b、测试线130c、测试线130d和测试线130e。为使整个母基板10通过多个测试垫组130外接上电压，于是有测试线130a电性连接于测试垫120a、测试线130b电性连接于测试垫120b、测试线130c电性连接于测试垫120c、测试线 130c电性连接于测试垫120d，以及测试线130e电性连接于测试垫120e。在常见的液晶面板中，主要分布有三类工作区，即周边线路区、驱动电路区和显示区。其中，周边线路区包括多个位置的线路，如驱动电路区与像素区之间的走线、多个驱动电路之间的走线以及一些软性电路板(Flexible Printed Circuit，FPC)。该些工作区存在必然的联系首先FPC连接外接端口，并将外接信号电压传输至驱动电路，然后驱动电路再通过其与显示区之间的走线控制显示区进行所需图像的显示。因此，此三类工作区在液晶面板的正常工作中，相互依赖，缺一不可，因此对其进行严格线路检测是必要的。在一个液晶面板的整个制程中，依现在的检测手段，对显示区的检测相对周边线路更成熟。周边线路中的FPC是在模组阶段才被贴附到相应的驱动电路区，所以在切裂制程(Cutting Process)之前，更多的是对直接做在基板上的线路做检测。然而在这方面线路的检测中，更多的是在模组制程(Module Process)中，将相关的芯片安置在对应驱动区后， 才进行检测。这样的检测存在难以预料的后果，就是若此时才检测到周边线路存在问题，则会使得之前安置上的驱动芯片报废，造成了成本浪费。如果想通过后期对问题周边线路进行相应的镭射修补，同样会增加制造成本。所以若果能在面板制作的前期对周边线路进行检测，会达到更好的效果。
发明内容本发明提供一种母基板，其有效利用测试线组，额外增加引出线组将液晶面板中阵列绕线组引出至周边测试线组，再透过观测性强的检测系统，比如Wiototronics，对阵列绕线组做精确的可靠性检测，避免后期采用镭射修补，减少不必要的成本浪费并相应提高
生产良率。本发明提出一种用于检测液晶面板中阵列绕线之母基板，包括一液晶面板阵列、 一测试区和一引出线组。液晶面板阵列进一步由包括一显示区、一栅极驱动区、一源极驱动区和一阵列绕线组的液晶面板所构成。测试区设置于液晶面板阵列的周边，其进一步包括彼此电性连接的测试线组和测试垫组，并且测试线组贯穿于测试区与液晶面板阵列间的区域或液晶面板阵列之液晶面板间的区域。测试线组包括多条测试线，测试垫组包括多个测试垫。引出线组设置于液晶面板的阵列绕线组与测试线组之间，一端与阵列绕线组电性连接，另一端与测试线组电性连接。引出线组包括多条引出线。本发明之一的实施例中，上述液晶面板阵列中的测试线组电性连接至测试区中的测试垫组。本发明之一的实施例中，上述阵列绕线各自电性连接至引出线的一端，其中阵列绕线连接至不同的引出线且不重复。本发明之一的实施例中，上述引出线的另一端各自电性连接于测试线组中的测试线，其中引出线连接至多条测试线且不重复。本发明之一的实施例中，上述引出线的另一端各自电性连接于测试线组中的测试线，其中引出线连接至多条测试线且部分重复。本发明之一的实施例中，上述引出线的另一端各自电性连接于测试线组中的测试线，其中引出线连接至同一条测试线。本发明之一的实施例中，上述液晶面板阵列中，一组测试线组电性连接至一组测
试垫组。本发明之一的是实例中，上述液晶面板阵列中，多组测试线组电性连接至同一组测试垫组。本发明另提供一种检测母基板之液晶面板中阵列绕线组的方法，包括首先，提供上述母基板及检测系统；其次，将检测系统的探针框电性贴压于母基板上的测试垫组，并打开显示器；然后选择性开启测试垫组上的电压；又，开启调节器上的电压；再，开启检测系统的探测器的光源，搭配调节器对液晶面板进行扫描，最后透过检测系统的显示器，分析并判断液晶面板中阵列绕线组的状况。根据以上所述，检测员能直接通过检测系统观测到母基板之液晶面板中阵列绕线组的状况，更可针对阵列绕线的短路状态或是开路状态做检测。更重要的优点是，通过此检测方法，检测员可以精确找出阵列绕线存在异常的位置。 为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附图式作详细说明如下。
图1是现有技术的母基板的俯视图Ia是单个液晶面板的放大图2是本发明的母基板的俯视图2a是本发明的引出线连接结构的第--实施例的示意图
图2b是本发明的引出线连接结构的第二二实施例的示意图
图2c是本发明的引出线连接结构的第三Ξ实施例的示意图
图3是本发明用所需检测系统进行检测的侧视图4是本发明检测方法的流程示意图5是本发明检测方法的第一实施例的示意图6是本发明检测方法的第二实施例的示意图。
具体实施方式
本说明书内容并不限制本发明范围。首先具有mXn结构的液晶面板阵列中的m、 η是可以取任意值的，因为在实际生产中，m、n在一定取值条件下是可以相互转换的；接着， 在说明书中提及的“依序” 一词，并不限制于是按本实施例中相同字母编号所做的电性连接，更可指依照一定规律的顺序所做的电性连接；其次，本说明书中涉及到的测试垫组包括的测试垫数目、测试线组包括的测试线数目、阵列绕线组包括的阵列绕线数目和引出线组包括的引出线数目，并不限制于附图所示数目，其根据实际生产所需而定。第一实施例首先请参照图2，并同时参照图2a，图2是本发明母基板的俯视示意图，图加是本发明的引出线与测试线连接结构的第一实施例的示意图，同时可视作母基板上单个液晶面板的放大图。在图2中，母基板20上设置有一液晶面板阵列21、一测试区22。该液晶面板阵列21中设置有多个液晶面板210，而该些液晶面板210在该液晶面板阵列21中按m行η 列分布，故数目为mXn个。该测试区22中设置有多个测试垫组220，且每个测试垫组220 进一步包括测试垫220a、测试垫220b、测试垫220c、测试垫220d和测试垫220e。多个测试线组230贯穿于液晶面板210与测试区22之间的区域，或是液晶面板阵列21中的多个液晶面板210之间的区域，并且与测试垫组220是电性连接的。具体请参照图加所示。图加中，在液晶面板210外有测试线组230，测试线组230包括测试线230a、测试线230b、测试线230c、测试线230d和测试线230e，同时为达到使母基板20通过测试垫组220外接上电压，有测试线组230与测试垫组220电性连接，具体地有测试线230a电性连接于测试垫220a、测试线230b电性连接于测试垫220b、测试线230c电性连接于测试垫 220c、测试线230d电性连接于测试垫220d，以及测试线230e电性连接于测试垫220e。在液晶面板210内有显示区211、栅极驱动区221、源极驱动区231和作为周边线路的阵列绕线组。如图加所示意的阵列绕线组250，其电性连接于栅极驱动区221和源极驱动区231。 为检测图加所示阵列绕线组250，本发明在该母基板20上设计有一引出线组M0，其一端与阵列绕线组250电性连接，另一端与测试线组230电性连接。其中，该引出线组240包括引出线240a、引出线240b、引出线240c、引出线240d和引出线240e。在图2a中，绘示出了一种引出线的连接结构，与测试线组230电性连接的引出线组240 —端具有如下的连接结构有阵列绕线250a通过引出线MOa电性引出至测试线230a ；阵列绕线250b通过引出线 240b电性引出至测试线230b ；阵列绕线250c通过引出线240c电性引出至测试线230c ；阵列绕线250d通过引出线MOd电性引出至测试线230d ；阵列绕线250e通过引出线MOe电性引出至测试线230e。当然，出于本实施例的相同构思，也就是说引出线是按一对一的关系与测试线电性连接的，均是在本发明的范围内。接着本发明需借助一检测系统Wiototronics对液晶面板内的阵列绕线组进行检测，请参照图3，图3是本发明用所需检测系统进行检测的侧视图。图3中，该检测系统30 由下而上的功能组件包括有一探针框31 (Probe Frame)、一调节器32 (Modulator)、一探测器33 (Detector)和一显示器(未示出)。另外，调节器32中进一步包括有一反射层321和一液晶层322 ；探测器33也进一步包括一光源(未示出)和一接收单元(未示出)；另有一显示器(未示出)信号连接于探测器330。借用图2所示的母基板，在此简单说明检测系统 30的工作机理其是通过选择性开启母基板20上测试垫组220的电压(如图3所示由测试垫220a、测试垫220b、测试垫220c、测试垫220d和测试垫220e组成的测试垫组220)，为被检测液晶面板210提供电压，利用被测液晶面板210与调节器32之间的电压差，驱使调节器32中的液晶层321发生偏转，之后从探测器33的光源打出来的光有经调节器32上的反射层322反射，此反射光经穿过偏转了的液晶层322，再由探测器33的接收单元所接受， 最后通过显示器进行图像显示。此检测系统30在做线路检测时具有一优点，即只需在线路上提供电压，无需使线路形成电流回路，便可通过该检测系统30相应地呈现出对应线路的图像，所以检测员可以更直观地，更精准地找到异常电路的位置。再请参照图4，图4是本发明检测方法的流程示意图。首先，执行S41，将探针框31 电性贴压于围绕母基板20周边的测试垫组220，打开显示器；接着按检测需求执行S42，通过探针框31选择性地开启测试垫组220，此时外接电压便先后通过测试垫组220、测试线组 230和引出线组M0，最终送至液晶面板210中的阵列绕线组上214 ；然后执行步骤S43，开启调节器32上的电压，此时被测的液晶面板210与调节器32之间存在电压差，调节器32 中的液晶层321便会在电压差的驱动下发生偏转；最后，通过步骤S44，打开探测器33上的探测光源对调节器32进行扫描，显示器上随之会显示出所测液晶面板210中阵列绕线的线路图像，此时，检测员便可直接观察影像，并做分析S45。通过如上步骤，便完成对一个液晶面板的检测，再通过步骤S46，对下一个待测液晶面板210做检测，直到最终检测完毕。第二实施例再次请参照图2，此实施例不同之处在于引出线与测试线的连接结构，请参考图 2b。图2b是本发明的引出线与测试线连接结构的第二实施例的示意图。在图2b中，在液晶面板210外有测试线组230，测试线组230包括测试线230a、测试线230b、测试线230c、 测试线230d和测试线230e。同时为达到使母基板20通过测试垫组220外接上电压，有测试线组230与测试线组220电性连接，具体地有测试线230a电性连接于测试垫220a、测试线230b电性连接于测试垫220b、测试线230c电性连接于测试垫220c、测试线230d电性连接于测试垫220d，以及测试线230e电性连接于测试垫220e。在液晶面板210内有阵列绕线组250、栅极驱动区221和源极驱动区231和作为周边线路的阵列绕选组。如图2b所示意的阵列绕线组250，其电性连接于栅极驱动区221和源极驱动区231。为检测图2b所示阵列绕线组250，本发明在该母基板20上设计有一引出线组340，其一端与阵列绕线组250 电性连接，另一端与测试线组230电性连接。其中，该引出线组340包括引出线340a、引出线340b、引出线340c、引出线340d和引出线340e。在图2b中，绘示出了另一种引出线与测试线的连接结构，与测试线组230电性连接的引出线组340—端具有如下的连接结构有阵列绕线250a通过引出线340a电性引出至测试线230c ；阵列绕线250b通过引出线340b电性引出至测试线230d ；阵列绕线250c通过引出线340c电性引出至测试线230e ；阵列绕线 250d通过引出线340d电性引出至测试线230e ；阵列绕线250e通过引出线340e电性连接于测试线230e。当然，出于本实施例的相同构思，也就是说部分引出线按多对一的关系与测试线电性连接的，部分引出线按一对一的关系与测试线电性连接的，均是在本发明的范围内。之后在检测图2b所示结构的液晶面板210时，搭配图3所示检测系统30，并按图 4所示步骤进行检测即可，其描述与第一实施例相同，所以可参照第一实施例实施，在此不再赘述。第三实施例再次请参照图2，此实施例不同之处在于引出线与测试线的连接结构，请参考图 2c。图2c是本发明的引出线与测试线连接结构的第三实施例的示意图。在图2c中， 在液晶面板210外有测试线组230，该测试线组230均包括测试线230a、测试线230b、测试线230c、测试线230d和测试线230e。同时为达到使整个母基板20通过测试垫组214外接上电压，有测试线230a电性连接于测试垫220a、测试线230b电性连接于测试垫220b、测试线230c电性连接于测试垫220c、测试线230d电性连接于测试垫220d，以及测试线230e电性连接于测试垫220e。在液晶面板210内有阵列绕线组250、栅极驱动区221、源极驱动区 231和作为周边线路的阵列绕线组。如图2c所示意的阵列绕线组250，其电性连接于栅极驱动区221和源极驱动区231。为检测图2c所示阵列绕线组250，本发明在该母基板20上设计有一引出线组440，其一端与阵列绕线组250电性连接，另一端与测试线组230电性连接。其中，该引出线组440包括引出线440a、引出线440b、引出线440c、引出线440d和引出线440e。在图2c中，绘示出了另一种引出线与测试线的连接结构，与测试线组230电性连接的引出线组440 —端具有如下的连接结构有阵列绕线250a通过引出线440a电性引出至测试线230e ；阵列绕线250b通过引出线440b电性引出至测试线230e ；阵列绕线250c通过引出线440c电性引出至测试线230e ；阵列绕线250d通过引出线440d电性引出至测试线 230e ；阵列绕线250e通过引出线440e电性引出至测试线230e。当然，出于本实施例的相同构思，也就是说引出线是按多对一的关系与测试线电性连接的，均是在本发明的范围内。之后在检测图2c所示结构的液晶面板210时，搭配图3所示检测系统30，并按图 4所示步骤进行检测即可，其描述与第一实施例相同，所以可参照第一实施例实施，在此不再赘述。
在本发明中，另提供高效率的检测方法，进一步示范几种可做高效率检测的方法。如图2所示的母基板20，其上的液晶面板210按m行和η列分布，其中，m、η均为正整数。为达到更高的检测效率，我们对母基板20实施分行检测，具体请参照图5，图5是本发明检测方法的第一实施例的示意图。图5中，母基板20上的每个测试线组230单独电性连接于一个测试垫组220，并将其中一个测试线组230对应的一行液晶面板210按前述三种引出线与测试线的连接结构之一做电性连接。于是，我们可以通过控制探测框31来选择性开启一个测试垫组220上的电压，便实现了在母基板20上实施一次检测一行液晶面板210的目的。当然，出于上述检测方式的考量，我们也可以选择性同时开启多个测试垫组 220上的电压，对多行液晶面板210进行检测。此外，如图2所示母基板20，测试线组230与测试垫组220还有另一种连接结构， 请参照图6，图6是本发明检测方法的第二实施例的示意图。在母基板设计初期，我们可将一测试垫组220同时与两个测试线组230做电性连接，并将各自测试线组230对应的所在行液晶面板210按前述三种引出线与测试线的连接结构之一做电性连接，这样可利用一半的测试垫组220来检测整个液晶面板阵列21中的所有液晶面板210。当然，出于类似的考量，可依实际检测需要，将一测试垫组220同时与三个及三个以上的测试线组23做电性连接，这样便实现开启较少的测试垫组220上的电压，达到更多行液晶面板210检测的目的， 也起到节能的作用。最后值得一提的是，本发明的母基板上设计的引出线组，会在检测步骤完成后的切裂制程中被切断，不再作为他用，对后续的制程和产品运用中不会产生影响。本发明之最佳实施例已揭露如上，然并非用以限定本发明，任何熟悉此项技艺者， 在不脱离本发明之精神和范围内，当可做些许更动与润饰，因此本发明之保护范围当视权利要求书范围所界定者为准。
权利要求
1.一种用于检测液晶面板中阵列绕线组之母基板，该母基板包括 一液晶面板阵列，其由多个液晶面板所构成，该液晶面板包括一显示区、一栅极驱动区、一源极驱动区和一阵列绕线组，其中阵列绕线组由多条阵列绕线所构成；一测试区，其设置于该液晶面板阵列的周边，该测试区包括一测试线组及一测试垫组，其中该测试线组与该测试垫组彼此电性连接，并该测试线组贯穿于该测试区与该液晶面板阵列间的区域或液晶面板阵列之液晶面板间的区域，又该测试线组由多条测试线所构成，该测试垫组由多个测试垫所构成；以及一引出线组，其设置于该液晶面板的阵列绕线组与该测试线组之间，并该引出线组一端与该阵列绕线组电性连接，另一端与该测试线组电性连接，其中该引出线组由多条引出线所构成。
2.如权利要求1所述用于检测液晶面板中阵列绕线组之母基板，其特征在于该些阵列绕线各自电性连接至该些引出线一端，其中该些阵列绕线连接至不同的引出线且不重Μ. ο
3.如权利要求1所述用于检测液晶面板中阵列绕线组之母基板，其特征在于该些引出线另一端各自电性连接于该测试线组中的测试线，其中该些引出线连接至多条测试线且不重复。
4.如权利要求3所述用于检测液晶面板中阵列绕线组之母基板，其特征在于该些引出线的另一端电性连接至该些测试线的顺序为依序连接。
5.如权利要求1所述用于检测液晶面板中阵列绕线组之母基板，其特征在于该些引出线另一端各自电性连接于该测试线组中的测试线，其中该些引出线连接至同一条测试线。
6.如权利要求1所述用于检测液晶面板中阵列绕线组之母基板，其特征在于该些引出线另一端各自电性连接于该测试线组中的测试线，其中该些引出线连接至多条测试线且部分重复。
7.如权利要求1所述用于检测液晶面板中阵列绕线组之母基板，其特征在于在该液晶面板阵列中，与各行液晶面板分别对应的各组测试线组分别电性连接至一测试垫组。
8.如权利要求1所述用于检测液晶面板中阵列绕线组之母基板，其特征在于在该液晶面板阵列中，与各行液晶面板分别对应的多组测试线组电性连接至同一测试垫组。
9.一种用于检测母基板之液晶面板中阵列绕线组的方法，其包括以下步骤 提供一母基板及一检测系统；将该检测系统的探针框电性贴压于该母基板上的该测试垫组，并打开显示器； 通过探测框选择性开启测试垫组上的电压； 开启调节器上的电压；开启该检测系统的探测器的光源，搭配调节器对液晶面板进行扫描； 透过该检测系统的显示器，分析并判断液晶面板中阵列绕线组的状况。
10.如权利要求9所述用于检测母基板之液晶面板中阵列绕线组的方法，其特征在于 该母基板中同一行的液晶面板的测试线组电性连接至同一组测试垫至同一组测试垫组，得以同时测试同一行液晶面板的阵列绕线状况。
11.如权利要求9所述用于检测母基板之液晶面板中阵列绕线组的方法，其特征在于 该母基板中多行的液晶面板的测试线组电性连接至同一组测试垫组，得以同时测试多行的液晶面板的阵列绕线状况。
全文摘要
本发明提供一种可用于检测液晶面板中阵列绕线组之母基板及其检测方法。该母基板包括一由m行和n列液晶面板所构成的液晶面板阵列和一测试区。其中在该液晶面板中的栅极驱动区与源极驱动区之间存在有一阵列绕线组，该测试区还进一步包括一测试垫组和一测试线组，且彼此电性连接。又该测试线组贯穿于液晶面板阵列和测试垫区所在的区域。为检测液晶面板中阵列绕线组，则通过一引出线组将该阵列绕线组和该测试线组电性连接，其一端电性连接至该液晶面板的阵列绕线组，另一端电性连接至该测试线组。检测方法更是借助该引出线组，再透过一观测性强的检测系统来检测该阵列绕线组的状况。
文档编号G02F1/13GK102331633SQ20111028192
公开日2012年1月25日 申请日期2011年9月21日 优先权日2011年9月21日
发明者王明宗 申请人:深超光电(深圳)有限公司