技术总结
本发明公开了一种STED超分辨显微技术中损耗光斑的高质量重建方法。不加载样品光束经过均一相位空间光调制后被物镜聚焦，在焦平面得理想损耗光斑；加载样品光束经过均一相位空间光调制后被物镜聚焦，在位于样品内部的焦平面得畸变损耗光斑；将空间光调制器的像素点分区，各分区加载不同的相位值，得到一系列需校正损耗光斑，接着与理想损耗光斑进行互相关计算和处理，得到各分区的相位加载最佳值；各分区经过多次迭代处理后完成样品内部损耗光斑的高质量重建。本发明能重建有损耗空心光斑，能在大深度下得到完整而良好的损耗光斑，扩展了受激辐射淬灭显微技术的应用范围，提高了系统成像深度，提升了系统分辨率与信噪比并优化成像质量。
技术研发人员：龚薇;斯科;吴晨雪
受保护的技术使用者：浙江大学
文档号码：201610813505
技术研发日：2016.09.11
技术公布日：2017.01.04