图像形成装置的制作方法

本发明涉及一种电子照相型的图像形成装置，例如，复印机、打印机或传真机。

背景技术：

在电子照相型的图像形成装置中，作为用于对感光构件(电子照相感光构件)进行电力充电的充电部件，已经广泛使用电晕充电器(以下也简称为“充电器”)。在使用电晕充电器的结构中，为了满足图像形成的加速，日本特开(jp-a)2005-84688号公报提出了使用多个电晕充电器和多个栅电极的技术。

在使用电晕充电器的结构的情况下，当相对于与感光构件的表面的移动方向大致垂直的方向存在感光构件的静电容量、充电器与感光构件之间的距离等的斜率(slope)时，在某些情况下产生感光构件相对于该方向的充电电位的斜率。在下文中，与感光构件的表面的移动方向大致垂直的方向(鼓式感光构件的旋转轴线方向)也称为“推力方向”。此外，“斜率”不仅简单地指斜率(倾斜度)，而且是包括相对于推力方向的多个位置之间的“差”的概念。

已经提出了抑制相对于推力方向的充电电位的斜率的方法和调整充电电位斜率的方法。例如，jp-a2007-212849号公报提出了如下方法：调整充电器的位置，以便调整感光构件与充电器的栅电极之间的距离相对于推力方向的斜率。此外，日本专利第5317546号公报提出了如下方法：以形成的充电电位区域被显影以便精确地调整充电电位的斜率的方式进行操作。

然而，在通过由具有不同充电性能的充电器形成的充电电位的叠加形成组合表面电位来对感光构件进行充电的结构的情况下，结果发现以下问题。

随便提及，“充电性能”是指形成组合表面电位时各个充电器形成的充电电位的绝对值的差异，并且，绝对值相对较大的充电器的充电性能“高于”绝对值相对较小的充电器的充电性能。

也就是说，在这种结构的情况下，具有相对较高的充电性能的充电器的充电电位对组合表面电位的斜率具有较大的影响，因此精确地调整具有相对较高的充电性能的充电器的充电电位尤其重要。然而，在常规方法中，通过单独掌握各个充电器的充电电位的斜率(特别是具有相对较高的充电性能的充电器的充电电位的斜率)，无法进行充电电位的适当调整。

技术实现要素：

根据本发明的一个方面，提供一种图像形成装置，所述图像形成装置包括：可移动感光构件；第一电晕充电器和第二电晕充电器，第一电晕充电器和第二电晕充电器中的各个在与所述感光构件相对的位置处沿着与所述感光构件的移动方向交叉的宽度方向延伸，并且第一电晕充电器和第二电晕充电器中的各个被构造为对所述感光构件的表面进行电力充电，其中，所述第二电晕充电器相对于移动方向设置在所述第一电晕充电器的下游；调整机构，其配设在所述第一电晕充电器和所述第二电晕充电器中的各个中，并且能够由操作者调整所述感光构件相对于宽度方向的充电电位的斜率；显影设备，其相对于移动方向配设在所述第二电晕充电器的下游，并且被构造为在显影位置处，利用沉积在所述感光构件上的静电图像上的调色剂，来将该静电图像显影成调色剂图像；检测构件，其相对于移动方向配设在所述第二电晕充电器的下游且在所述显影位置的上游，并且被构造为在关于所述感光构件的宽度方向的多个位置处，检测所述感光构件的表面电位；输入部，向其输入操作者的指令；以及显示部，在其上显示信息，其中，根据对所述输入部的指令的输入，所述检测构件检测三个表面电位中的至少两个表面电位，所述三个表面电位包括在被所述第一电晕充电器和所述第二电晕充电器充电之后的所述感光构件的表面电位、在被所述第一电晕充电器充电之后的所述感光构件的表面电位、以及在被所述第二电晕充电器充电之后的所述感光构件的表面电位，并且其中，所述检测构件的检测结果被显示在所述显示部上。

根据本发明的一个方面，提供一种图像形成装置，所述图像形成装置包括：可移动感光构件；第一电晕充电器和第二电晕充电器，第一电晕充电器和第二电晕充电器中的各个在与所述感光构件相对的位置处沿着与所述感光构件的移动方向交叉的宽度方向延伸，并且第一电晕充电器和第二电晕充电器中的各个被构造为对所述感光构件的表面进行电力充电，其中，所述第二电晕充电器相对于移动方向设置在所述第一电晕充电器的下游；调整机构，其配设在所述第一电晕充电器和所述第二电晕充电器中的各个中，并且能够由操作者调整所述感光构件相对于宽度方向的充电电位的斜率；显影设备，其相对于移动方向配设在所述第二电晕充电器的下游，并且被构造为利用沉积在所述感光构件上的静电图像上的调色剂，来将该静电图像显影成调色剂图像；输入部，向其输入操作者的指令；显示部，在其上显示信息；测试图像形成部，其被构造为根据对所述输入部的指令的输入，通过将调色剂沉积在被充电的感光构件上来形成测试图像，将测试图像转印到记录材料上并将测试图像定影在记录材料上，其中，所述测试图像形成部形成三个测试图像中的至少两个测试图像，所述三个测试图像包括通过将调色剂沉积在被所述第一电晕充电器和所述第二电晕充电器充电的所述感光构件上而形成的第一测试图像、通过将调色剂沉积在仅被所述第一电晕充电器充电的所述感光构件上而形成的第二测试图像、以及通过将调色剂沉积在仅被所述第二电晕充电器充电的所述感光构件上而形成的第三测试图像；光学检测构件，其被构造为检测发射到记录材料的多个位置的光；以及控制器，其被构造为使所述显示部显示由操作者操作以检测测试图像的所述光学检测构件的检测结果。

根据下面参照附图对示例性实施例的描述，本发明的另外的特征将变得清楚。

附图说明

图1是图像形成装置的示意性截面图。

图2是充电设备的示意性截面图。

图3是示出电晕充电器的栅电极的布置的示意性截面图。

图4是示出图像形成装置的主要部分的控制模式的框图。

图5是示出上游充电器的充电电压与感光构件的充电电位之间的关系的曲线图。

图6是示出下游充电器的充电电压与感光构件的充电电位之间的关系的曲线图。

图7是示出上游充电器和下游充电器中的各个对感光构件的充电电位的曲线图。

图8是示出充电电位的斜率的调整机构的示例的示意图。

图9是示出线高度与感光构件的充电电位之间的关系的曲线图。

图10是示出充电电位的斜率的调整机构的另一个示例的示意图。

图11是示出格栅间隙与感光构件的充电电位之间的关系的曲线图。

图12是示出充电电位的斜率的调整机构的又一个示例的示意图。

图13是进行充电模式等的选择的设置画面的示意图。

在图14中，(a)和(b)是第一充电模式中的操作的时序图。

在图15中，(a)和(b)是第二充电模式中的操作的时序图。

在图16中，(a)和(b)是第三充电模式中的操作的时序图。

在图17中，(a)至(c)是示出充电电位的斜率的调整过程的示例的流程图。

在图18中，(a)至(c)是示出充电电位的斜率的调整过程的另一个示例的流程图。

在图19中，(a)至(c)是示出充电电位的斜率的调整过程的另一个示例的流程图。

在图20中，(a)和(b)是示出充电电位的斜率的调整过程的又一个示例的流程图。

图21是用于调整充电电位的斜率的测试图像的示意图。

图22是显示测试图像的测量结果等的结果画面的示意图。

图23是示出图像浓度的斜率与线高度的调整量之间的关系的曲线图。

图24是示出能够用于测量充电电位的斜率的电位传感器的示例的示意图。

具体实施方式

将参照附图具体地描述根据本发明的图像形成装置。

[实施例1]

<1.图像形成装置>

<1-1.图像形成装置的一般结构和操作>

图1是本实施例中的图像形成装置100的示意性截面图。关于图像形成装置100及其元件，图1的图纸的前侧是指“前侧”，并且，图1的图纸的后侧是指“后侧”。连接前侧和后侧的方向大致平行于与稍后描述的感光构件1的表面移动方向大致垂直的方向(推力方向)。

图像形成装置100包括作为图像承载构件的感光构件1。感光构件1以预定的圆周速度(处理速度)沿图1中的箭头r1方向(顺时针方向)被旋转地驱动。旋转的感光构件1的表面被作为充电部件的充电设备3电力充电至预定极性(本实施例中的负)和预定电位。也就是说，充电设备3在感光构件1的表面上形成充电电位(非曝光部电位)。被充电的感光构件1的表面根据图像信息通过作为曝光部件的显示设备10经受扫描曝光，并且在感光构件1上形成静电图像(静电潜像)。在本实施例中，从曝光设备10发射的光的波长为670nm，并且，曝光设备10在感光构件1的表面上的曝光量可以在0.1至0.5μj/cm2的范围内变化。曝光设备10根据显影条件调整曝光量，使得可以在感光构件1的表面上形成预定的曝光部电位。

通过作为显影部件的显影设备6，利用作为显影剂的调色剂对形成在感光构件1的表面上的静电图像进行显影(可视化)，使得在感光构件1上形成调色剂图像。在该实施例中，感光构件表面在充电之后被曝光，因此感光构件1的充电电位的绝对值在感光构件1的曝光部处降低，使得在曝光部上，调色剂充电到与感光构件1的充电极性(在本实施例中为负)相同的极性(反向显影)。

图像形成装置100包括作为用于检测感光构件1的表面电位的电位检测部件的电位传感器5。电位传感器5被设置为能够在曝光设备10对感光构件1的曝光位置s与显影设备6的显影位置g之间的检测位置(传感器位置)d处，检测感光构件1的表面电位。稍后将描述使用电位传感器5的控制。

作为记录材料承载构件的转印带8设置成与感光构件1相对。转印带8由多个拉伸辊(支撑辊)卷绕和拉伸，并且这些拉伸辊的驱动力由驱动辊9传递，使得转印带8以与感光构件1的圆周速度相同的圆周速度沿着图1中的箭头r2方向旋转(循环移动)。在转印带8的内周面侧，在与感光构件1相对的位置处设置有作为转印部件的辊式转印构件的转印辊7。转印辊7朝向感光构件1压靠转印带7，从而形成感光构件1与转印带7彼此接触的转印部n。如上所述，形成在感光构件1上的调色剂图像在转印部n处转印到由转印带8给送并承载的诸如纸张的记录材料p上。在转印步骤期间，从转印电压源(高电压源电路)s6(图4)向转印辊7施加与显影期间调色剂的电荷极性相反的极性(在本实施例中为正)的转印电压(转印偏压)。

在其上转印有调色剂图像的记录材料p被给送到作为定影部件的定影设备50，并被定影设备50加热和加压，使得调色剂图像被定影(熔融定影)在记录材料p的表面上，然后将记录材料p排出(输出)到图像形成装置100的装置主组件110的外部。

另一方面，通过作为清洁部件的清洁设备20从感光构件1的表面去除并收集在转印步骤之后残留在感光构件1上的调色剂(转印残留调色剂)。由清洁设备20清洁后的感光构件1的表面由作为放电部件的光(光学)放电设备40用光(放电光)照射，使得至少一部分残留电荷被去除。在本实施例中，光放电设备40包括作为光源的led芯片阵列。在本实施例中，从光放电设备40发射的光的波长为635nm，并且，光放电设备40对感光构件1的表面的曝光量可以在1.0至7.0μj/cm2的范围内变化。在本实施例中，光放电设备40的曝光量的初始值设置为4.0μj/cm2。

图像形成装置100的各部分的操作由设置在装置主组件110中的作为控制器(执行部)的cpu200进行综合控制。图像形成装置100包括操作部300，操作部300具有作为用于输入关于打印操作和设备调整操作的各种指令和设置的输入部的功能、和作为用于显示各种信息的显示部的功能。在本实施例中，操作部300由触摸操作屏幕(触摸面板)构成。图像形成装置100还包括读取部250(光学检测构件)，读取部250用于光学读取诸如纸张的媒介上的图像并且用于在将读取的图像转换成电信号之后允许到cpu200中的输入。

<1-2.感光构件>

在该实施例中，感光构件1是包括由铝等形成的导电基板1a和形成在基板1a的外周表面上的光电导层(感光层)1b的圆柱形电子照相感光构件(感光鼓)。感光构件1由作为驱动部件的驱动电机(未示出)旋转驱动。在本实施例中，感光构件1的电荷极性为负。在该实施例中，感光构件1是外径为84mm的非晶硅感光构件，并且，感光层的厚度为40μm，介电常数为10。

感光构件1不限于本实施例中的感光构件1，例如，也可以是opc(有机光电导体)。此外，其电荷极性也可以与本实施例中的电荷极性不同。

<1-3.充电设备>

图2和图3是本实施例中的充电设备3的示意性截面图。在本实施例中，充电设备3设置在感光构件1的上方。

充电设备3包括作为多个电晕充电器的相对于感光构件1的表面移动方向设置在上游侧的上游(侧)充电器(第一充电器)31和相对于表面移动方向设置在下游侧的下游(侧)充电器(第二充电器)32。上游充电器31和下游充电器32沿着感光构件1的表面移动方向彼此相邻设置。上游充电器31和下游充电器32是栅控式充电器(scorotroncharger)，并且被构造成使得施加到其上的充电电压(充电偏压，高充电电压)被独立地控制。在本实施例中，上游充电器31是主充电侧充电器，使得充电性能被设置成上游充电器31的充电性能比下游充电器32的充电性能高。在本实施例中，下游充电器32是电位会聚侧充电器，使得充电性能被设置成下游充电器32的充电性能比上游充电器31的充电性能低。在下文中，在某些情况下通过添加前缀“上游”和“下游”来区分与上游充电器31和下游充电器32相关的元件。

上游充电器31和下游充电器32分别包括作为放电电极的线电极(放电线，放电线)31a和32a，作为控制电极的栅电极31b和32b，以及作为屏蔽构件(壳体)的屏蔽电极31c和32c。此外，在上游充电器31和下游充电器32之间，由电绝缘材料形成作为绝缘构件的绝缘板33。结果，当向上游屏蔽电极31c和下游屏蔽电极32c施加不同的电压时，防止在上游屏蔽电极31c和下游屏蔽电极32c之间产生泄漏。绝缘板33在相对于上游屏蔽电极31c与下游屏蔽电极32c之间的相邻方向(感光构件1的表面移动方向)由厚度为约2mm的板状构件构成。

充电设备3相对于感光构件1的表面移动方向的放电区域(可以产生用于允许感光构件1的电荷的放电的区域)的宽度为44mm，并且放电区域相对于推力方向的长度为340mm。上游充电器31和下游充电器32中的各个的放电区域相对于感光构件1的表面移动方向的宽度为20mm，即，相同。

上游线电极31a和下游线电极32a中的各个是由氧化钨丝构成的线电极。作为线电极的材料，采用线直径(直径)为60ìm且通常用于电子照相型的图像形成装置中的材料。上游线电极31a和下游线电极32a中的各个被设置成使得其轴向方向大致平行于推力方向，即感光构件1的旋转轴线方向。

上游栅电极31b和下游栅电极32b中的各个是大致平板状的栅电极，其设置有通过蚀刻形成的网状开口，并且具有沿一个方向延长的大致矩形形状。作为栅电极的材料，采用通过在sus(不锈钢)上形成耐蚀层(例如镀镍层)而制备并通常用于电子照相型的图像形成装置中的材料。上游栅电极31b和下游栅电极32b中的各个被设置成使得其纵向方向大致平行于推力方向，即感光构件1的旋转轴线方向。此外，如图3所示，上游栅电极31b和下游栅电极32b中的各个通过改变布置角度(倾斜角度)使得其平面方向沿着感光构件1的曲面延伸来设置。上游栅电极31b和下游栅电极32b中的各个的布置角度大致垂直于将上游栅电极31b和下游栅电极32b中的相关的一个与感光构件1的旋转中心连接的直线。此外，感光构件1与上游栅电极31b之间以及感光构件1与下游栅电极32b之间的最近距离(以下称为“格栅间隙”)gap(u)和gap(l)中的各个分别设置在1.3±0.2mm的范围中。此外，上游线电极31a与上游栅电极31b之间以及下游线电极32a与下游栅电极32b之间的距离(以下分别称为“线高度”hpg(u)和hpg(l))中的各个设置在8.0±1mm的范围中。此外，上游栅电极31b和下游栅电极32b的开口率分别设置为90％和80％。开口率的值不限于本实施例中的值，而是可以根据例如感光构件1的种类、旋转速度、充电条件等而适当地改变。

上游屏蔽电极31c和下游屏蔽电极32c中的各个是由导电材料形成的大致呈盒状的构件，并且在与感光构件1相对的位置处设置有开口。上游栅电极31b和下游侧栅电极32b分别设置在上游屏蔽电极31c和下游屏蔽电极32c的开口处。

<1-4.充电电压>

如图2所示，上游线电极31a和下游线电极32a分别与作为直流电压源(高电压源电路)的上游线电压源s1和下游线电压源s2连接。结果，可以独立地控制施加到上游线电极31a和下游线电极32a的电压。此外，上游栅电极31b和下游栅电极32b分别与作为直流电压源(高电压源电路)的上游栅电压源s3和下游栅电压源s4连接。结果，可以独立地控制施加到上游栅电极31b和下游栅电极32b的电压。在下文中，上游线电压源s1、下游线电压源s2、上游栅电压源s3和下游栅电压源s4在某些情况下统称为“充电电压源”。充电电压源s1至s4是用于分别对上游充电器31和下游充电器32施加可以独立地控制的电压的电压施加部件的示例。

上游屏蔽电极31c和下游屏蔽电极32c分别与上游栅电压源s3和下游栅电压源s4连接，因此分别具有与上游栅电极31b和下游栅电极32b相同的电位。

上游屏蔽电极31c和下游屏蔽电极32c分别不限于具有与上游栅电极31b和下游栅电极32b相同的电位的上游屏蔽电极31c和下游屏蔽电极32c，而且也可以通过与装置主组件110的接地电极连接而进行电接地。可以仅需要采用能够独立地控制由上游充电器31和下游充电器32在感光构件1的表面上形成的充电电位的结构。

图4是示出图像形成装置100的主要部分的示意控制模式的框图。读取部250、操作部300、定时器400、环境传感器500、表面电位测量部700、高压输出控制器800、存储部600等连接到cpu200。定时器400测量时间。环境传感器500测量装置主组件110的内部和外部中的至少一个的温度和湿度中的至少一个。表面电位测量部700是用于在cpu200的控制下控制电位传感器5的操作的控制电路。高电压输出控制器800是用于在cpu200的控制下控制充电电压源s1至s4以及稍后描述的显影电压源s5和转印电压源s6的操作的控制电路。存储部600是作为用于存储程序和各种检测部件的检测结果的存储部件的存储器，并且存储例如充电电压的控制数据和感光构件1的表面电位的测量结果。cpu200基于环境传感器500的测量结果和存储在存储部600中的信息进行处理，并向高压输出控制器800提供指令，从而控制充电电压源s1至s4。

对施加到上游线电极31a和下游线电极32a的直流电压(以下称为“线电压”)进行恒流控制，使得流过上游线电极31a和下游线电极32a的电流(以下称为“线电流”)的值大致恒定为目标电流值。在本实施例中，线电流(初级电流)的目标电流值可以在-2000至0μa的范围内变化。此外，对施加到上游栅电极31b和下游栅电极32b的直流电压(以下称为“栅电压”)进行恒压控制，使得电压(以下称为“栅电压”)的值大致恒定为目标电压值。在本实施例中，栅电压的目标电压值可以在-1300至0v的范围内变化。

<1-5.显影设备>

在本实施例中，显影设备6是双组分磁刷型的显影设备。显影设备6包括作为显影剂承载构件的中空圆柱形显影套筒6a。显影套筒6a由作为驱动部件的驱动电机(未示出)旋转驱动。在显影套筒6a内，即在显影套筒6a的中空部分，设置有作为磁场产生部件的磁辊6b。显影套筒6a通过由磁辊6b产生的磁力承载含有调色剂(非磁性调色剂颗粒)和载体(磁性载体颗粒)的双组分显影剂，并通过被旋转驱动将显影剂给送到与感光构件1相对的部分(显影位置)g。在显影操作期间，从显影电压源(高电压源电路)s5(图4)向显影套筒6a施加预定的显影电压(显影偏压)。cpu200基于电位传感器5的检测结果，通过控制显影电压源s5控制感光构件1的充电电位(非曝光部电位)和曝光部电位中的各个。在本实施例中，显影电压源s5的直流电压输出可以在-1000至0v的范围内变化。

cpu200能够根据图像形成条件控制显影电压源s5，使得通过将调色剂沉积在具有曝光部电位的部分或具有充电电位(非曝光部电位)的部分上而形成在感光构件1的表面上的调色剂图像。在正常图像形成期间，cpu200控制显影电压源s5，使得调色剂在具有曝光部电位的部分处沉积在感光构件1的表面上。此外，在如后所述形成用于调整充电电位的斜率(倾斜度)的测试图像的情况下(实施例4)，cpu200控制显影电压源s5，使得调色剂在具有充电电位的部分处沉积在感光构件1的表面上。

显影设备6可能仅需要调色剂可以在具有曝光部电位的部分和具有充电电位的部分处沉积在感光构件1的表面上(实施例4)。显影类型、显影剂的电荷极性以及与感光构件1的电荷极性的关系等不限于本实施例中的那些。此外，在本实施例中，显影电压为直流电压，但是也可以使用直流电压(dc分量)和交流电压(ac分量)叠加的形式的振荡电压。

<2.充电电位的控制>

在本实施例中，通过叠加通过独立地控制施加到上游充电器31和下游充电器32的充电电压而形成的充电电位，形成组合的表面电位，使感光构件1充电。在下文中，将进一步描述充电设备3的充电处理。

关于表示电位、电压、电流、构件、尺寸等的符号或数字，在某些情况下通过分别将“u”加到与上游充电器31相关的符号并将“l”加到与下游充电器32相关的符号来区分这些符号。此外，关于表示电位的符号，在某些情况下通过相对于感光构件1的旋转方向分别将“sens”加到与传感器位置d相关的符号并将“dev”加到与显影位置g相关的符号，来将电位彼此区分开。

<2-1.上游充电器的充电电位>

首先，将描述作为由上游充电器31在感光构件1的表面上形成的充电电位的第一充电电位(以下也称为“上游充电电位”)vd(u)。

以下述方式控制上游充电电位vd(u)。在上游线电压源s1向上游线电极31a施加上游线电压并由此供给预定的上游线电流ip(u)的状态下，由上游栅电压源s3向上游栅电极31b施加上游栅电压vg(u)。

图5示出在感光构件1的圆周速度为700mm/sec的情况下上游栅电压vg(u)与分别在传感器位置d和显影位置g处的上游充电电压vd(u)sens和vd(u)dev的关系。如图5所示，上游充电电位vd(u)根据上游栅电压vg(u)而变化。例如，在上游线电流ip(u)为-1600μa的情况下，当上游栅电压vg(u)为-750v时，传感器位置d处的上游充电电位vd(u)sens为-480v，并且显影位置g处的上游充电电位vd(u)dev为-450v。关于上游栅电压vg(u)，为了在显影位置g处的上游充电电位vd(u)dev为目标电位，在考虑感光构件1的暗衰减量的情况下控制传感器位置d处的上游充电电位vd(u)sens。在该实施例中，控制上游栅电压vd(u)，使得当感光构件1被上游充电器31单独充电时，显影位置g处的上游充电电位vd(u)dev落在目标电位的±10v内。

<2-2.下游充电器的充电电位>

接下来，将描述作为由下游充电器32在感光构件1的表面上形成的充电电位的第二充电电位(以下也称为“下游充电电位”)vd(l)。

以下述方式控制下游充电电位vd(l)。在下游线电压源s2向下游线电极32a施加下游线电压并由此供给预定的下游线电流ip(l)的状态下，由下游栅电压源s4向下游栅电极32b施加下游栅电压vg(l)。结果，下游充电器32在感光构件1的表面上形成与下游充电电位vd(l)叠加的上游充电电位vd(u)的形式的组合表面电位vd(u+l)。

图6示出在上游充电电位vd(u)与下游充电电位vd(l)叠加的情况下下游栅电压vg(l)与传感器位置d和显影位置g处的组合表面电位vd(u+l)之间的关系。例如，在显影位置g处的上游充电电位vd(u)dev为-460v的情况下，当下游线电流ip(l)为-1600μa并且下游栅电压vg(l)为-620v时，显影位置g处的组合表面电位vd(u+l)dev为-500v。

<2-3.组合表面电位>

接下来，将描述上游充电电位vd(u)、下游充电电位vd(l)和组合表面电位vd(u+l)之间的关系。

图7是示出当感光构件1的表面在特定位置处被上游充电器31和下游充电器32充电时，在该特定位置处的感光构件1的表面电位从到达上游充电器31的位置(放电区域)到显影位置g的变化的示意模型图。在图7中，虚线表示在仅由上游充电器31对感光构件表面充电的情况下的表面电位。在图7中，实线表示与下游充电电位vd(l)叠加的上游充电电位vd(u)的形式的组合表面电位vd(u+l)。

如图7中的虚线所示，在感光构件1单独被上游充电器31充电的情况下，上游充电电位vd(u)在感光构件1的特定位置经过上游充电器31之后立即开始衰减(衰退)，并且显影位置g处的上游充电电位vd(u)dev例如为-450v。此外，如图7中的实线所示，由下游充电器32形成的组合表面电位vd(u+l)在感光构件1的特定位置经过下游充电器32之后立即开始衰减(衰退)，并且显影位置g处的下游充电电位vd(u+l)dev例如为-500v。顺便提及，在图7中，“vd(u)o”是在上游充电器31充电结束时的充电电位，并且“vd(u+l)o”是在下游充电器32充电结束时的充电电位。

如图7所示，在本实施例中，上游充电器31和下游充电器32的充电性能不同，并且，上游充电器31的充电性能高于下游充电器32的充电性能。

<3.充电电位的斜率的调整方法>

接下来，将描述由下游充电器32形成的相对于推力方向的感光构件1充电电位的斜率的调整方法。

在产生感光构件1的充电电位的斜率的情况下，可以通过调整线高度hpg和栅格间隙gap中的一个或两者来调整(校正)斜率。

为了便于说明，作为充电电位斜率调整方法的示例，第一调整方法、第二调整方法和第三调整方法被描述，但是，如后所述，在本实施例中，采用这些方法中的第一方法。

<3-1.第一调整方法>

在第一调整方法中，调整线高度hpg。图9是用于实现第一调整方法的调整机构2的示意性侧视图。调整机构2是用于调整通过由上游充电器31和下游充电器32对感光构件1充电而形成的感光构件1的充电电位相对于大致垂直于感光构件1的移动方向的推力方向的斜率的调整部件的示例。本实施例中的调整机构2分别独立地调整上游充电器31和下游充电器32中的线高度hpg(u)和hpg(l)。在本实施例中，用于上游充电器31的调整机构2和用于下游充电器32的调整机构2大致相同，因此将描述用于上游充电器31的调整机构2作为示例。

上游充电器31包括后(侧)块34r和前(侧)块34f，其作为用于相对于推力方向在两端部支撑上游线电极31a、上游栅电极31b和上游屏蔽电极31c(图2)的支撑构件。上游线电极31a在通过施力部件相对于其轴向方向在两端部向后块34r和前块34f施加张力的状态下被支撑。此外，在后块34r和前块34f与感光构件1相对的位置处，设置用于支撑上游栅电极31b的支撑部35，使得上游栅电极31b在纵向端部分别固定于支撑部35。

构成调整机构2的用于调整线高度hpg(u)的调整部60设置在后块34r和前块34f中的各个中。调整部60能够根据充电电位斜率方向，通过在后侧和前侧独立地调整上游线电极31a相对于轴向方向的线高度hpg(u)来调整相对推力方向的线高度hpg(u)。后侧和前侧中的调整部60中的各个包括调整螺钉61和定位构件62。上游线电极31a通过从下方接触后(侧)和前(侧)定位构件62而沿轴向方向拉伸。通过旋转调整螺钉61，定位构件62沿着图8中的箭头z所示的朝着和远离感光构件1的方向移动，使得可以调整线高度hpg(u)。

如上所述，上游栅电极31b被支撑部35支撑，因此即使调整线高度hpg(u)，格栅间隙gap(u)也不变。

在该实施例中，后块34r和前块34f也可以是用于上游充电器31和下游充电器32的整体(公共)构件。

图9是示出线高度hpg(u)和感光构件1的充电电位之间的关系的曲线图。在图9中，横轴表示线高度hpg(mm)，并且，纵轴表示感光构件1的充电电位。在图9中，实线示出上游充电器31中的线高度hpg(u)与上游充电电位vd(u)之间的关系。此外，在图9中，虚线示出下游充电器32中的线高度hpg(l)与下游充电电位vd(v+l)之间的关系。

如图9所示，上游充电器31中的上游充电电位vd(u)与线高度hpg(u)的斜率为25v/mm。此外，作为上游充电电位vd(u)与下游充电电位vd(l)的叠加的组合表面电位vd(u+l)与下游充电器32中的线高度hpg(l)的斜率为10v/cm。因此，组合表面电位vd(u+l)与线高度hpg(l)的斜率小于上游充电电位vd(u)与线高度hpg(u)的斜率的原因在于，上游充电器31的充电性能相对较高，并且下游充电器32的充电性能相对较低。

在第一调整方法中，在上游充电电位vd(u)和组合表面电位vd(u+l)中的各个中产生斜率的情况下，基于图9所示的关系，可以独立地调整上游充电器31和下游充电器32中的线高度hpg(u)和hpg(l)。结果，可以独立地调整上游充电电位vd(u)的斜率和下游充电电位vd(l)的斜率。

上游充电器31和下游充电器32中的线高度hpg(u)和hpg(l)被独立调整的结构不限于本实施例中的结构。可能只需要该结构能够在将上游充电器31和下游充电器32中的格栅间隙gap(u)和gap(l)分别保持在特定值的同时独立地调整线高度hpg(u)和hpg(l)。

<3-2.第二调整方法>

在第二调整方法中，调整格栅间隙gap。图10是作为调整部件的另一示例的用于实现第二调整方法的调整机构2的示意性侧视图。在该实施例中，调整机构2同时调整上游充电器31和下游充电器32中的格栅间隙gap(u)和gap(l)。

在该实施例中，后块34r和前块34f是用于上游充电器31和下游充电器32的整体(公共)构件。图10示出从侧面侧观看到的上游充电器31的状态。

充电设备3的后侧通过设置在后块34r上的后(侧)定位部36与装置主组件110的后(侧)侧板70r的接合而定位。在前块34f上设置有构成调整机构2的用于调整格栅间隙gap的前(侧)定位部65。前定位部65被构造为从上方接触(安装于)安装到装置主组件110的前(侧)侧板70f的调整构件66。调整构件66设置有螺钉部，并且可以通过旋转螺钉部而沿着如图10中的箭头x所示的推力方向朝向后侧或前侧移动。当调整构件66沿箭头x方向移动时，如图10中的箭头y所示，前定位部65沿着朝向和远离感光构件1的方向移动。结果，通过由调整构件66移动前定位部65，前块34f沿图10中的箭头y方向移动，使得可以同时调整上游充电器31和下游充电器32(与感光构件1相距)的格栅间隙gap(u)和gap(l)。

在本实施例中，类似于上述第一调整方法，上游线电极31a和下游线电极32a由后块34r和前块34f支撑。此外，即使调整格栅间隙gap(u)和gap(l)，线高度hpg(u)和hpg(l)也不变。

图11是示出格栅间隙gap和感光构件1的充电电位之间的关系的曲线图。在图11中，横轴表示格栅间隙gap，并且，纵轴表示感光构件1的充电电位。在图11中，实线示出上游充电器31中的格栅间隙gap(u)与上游充电电位vd(u)之间的关系。此外，在图11中，虚线示出下游充电器32中的格栅间隙gap(l)与下游充电电位vd(v+l)之间的关系。

如图11所示，上游充电器31中的上游充电电位vd(u)与格栅间隙gap(u)的斜率为150v/mm。此外，作为上游充电电位vd(u)与下游充电电位vd(l)的叠加的组合表面电位vd(u+l)与下游充电器32中的格栅间隙gap(l)的斜率为75v/cm。因此，组合表面电位vd(u+l)与格栅间隙gap(l)的斜率小于上游充电电位vd(u)与格栅间隙gap(u)的斜率的原因在于，上游充电器31的充电性能相对较高，并且下游充电器32的充电性能相对较低。

在第二调整方法中，在上游充电电位vd(u)和组合表面电位vd(u+l)中的各个中产生斜率的情况下，基于图11所示的关系，可以同时调整上游充电器31中的格栅间隙gap(u)和下游充电器32中的格栅间隙gap(l)。结果，可以同时调整上游充电电位vd(u)的斜率和下游充电电位vd(l)的斜率。

上游充电器31的格栅间隙gap(u)和下游充电器32中的格栅间隙gap(l)被同时调整的结构不限于本实施例中的结构。可能只需要该结构能够在将上游充电器31中的线高度hpg(u)和下游充电器32中的线高度hpg(l)分别保持在特定值的同时，同时调整格栅间隙gap(u)和gap(l)。

<3-3.第三调整方法>

在第三调整方法中，与第二调整方法类似地调整格栅间隙gap，但是上游充电器31中的格栅间隙gap(u)和下游充电器32中的格栅间隙gap(l)被独立调整。图12是作为调整部件的又一示例的用于实现第三调整方法的调整机构2的示意性侧视图。在该实施例中，后块34r和前块34f被分割用于上游充电器31和下游充电器32。在本实施例中，调整机构2独立地调整上游充电器31的前块34f(l)的位置和下游充电器32的前块34f(l)的位置，并且因此独立地调整上游充电器31中的格栅间隙gap(u)和下游充电器32中的格栅间隙gap(l)。在本实施例中，用于上游充电器31和下游充电器32的调整机构2大致相同，因此将描述用于上游充电器31的调整机构2作为示例。

上游充电器的后侧通过设置在后块34r(u)上的后(侧)定位部36(u)与装置主组件110的后(侧)侧板70r的接合而定位。在上游充电器31的前块34f(u)上设置有构成调整机构2的用于调整格栅间隙gap的前(侧)定位部65(u)。前定位部65(u)被构造为从上方接触(安装于)安装到装置主组件110的前(侧)侧板70f的调整构件66(u)。前显影部65(u)和调整构件66(u)具有与上面参照图10所述的结构和功能相同的结构和功能，并且使调整构件66(u)沿箭头x方向移动，使得前定位部65(u)可以沿箭头y方向移动。结果，可以独立地调整上游充电器31和下游充电器32(与感光构件1相距)的格栅间隙gap(u)和gap(l)。

在本实施例中，类似于上述第一调整方法，上游线电极31a和下游线电极32a由后块34r和前块34f支撑。此外，即使调整格栅间隙gap(u)和gap(l)，线高度hpg(u)和hpg(l)也不变。

上游充电器31中的格栅间隙gap(u)和下游充电器32中的格栅间隙gap(l)被独立调整的结构不限于本实施例中的结构。可能只需要该结构能够在将上游充电器31中的线高度hpg(u)和下游充电器32中的线高度hpg(l)分别保持在特定值的同时独立调整格栅间隙gap(u)和gap(l)。

<4.用于测量充电电位的斜率的充电模式>

将描述在用于调整通过上游充电器31和下游充电器32的充电电位的斜率的测量模式的操作中进行的感光构件1的充电处理。在本实施例中，作为测量模式的操作中的充电处理的模式，将描述用于独立地测量通过上游充电器31和下游充电器32中的各个的充电电位的斜率和组合表面电位的斜率的充电模式。

为了便于说明，作为充电模式的示例，将描述第一充电模式、第二充电模式和第三充电模式，但是，如后所述，在本实施例中，使用这三种充电模式的第一充电模式和第二充电模式。

<4-1.充电模式的设置>

首先，将描述在测量模式的操作中的充电模式的设置方法。在本实施例中，图像形成装置100根据操作者的指示来执行测量模式中的操作。当执行测量模式中的操作时，操作者通过操作部300选择充电模式，从而执行感光构件1的充电处理。如图4所示，操作部200与cpu200连接，并且，cpu200根据操作者通过操作部300设置的条件，在各个充电模式下执行感光构件1的充电处理。

图13是示出在测量模式的操作中在操作部300处的用于选择和执行充电模式的充电处理的显示(以下也称为“设置画面”)的示例的示意图。操作者操作操作部300，并且使得操作部300显示如图13所示的设置画面。操作者参考在操作部300处显示的充电模式列表303，并将要在充电处理中执行的充电模式的编号(“1”，“2”和“3”)输入到充电模式选择框302，然后按下开始按钮301。结果，cpu200使得充电设备3在所选择的充电模式中执行感光构件1的充电处理。

为了便于说明，在图13中，示出在通过在各充电模式中形成有充电电位的部分上沉积调色剂而形成测试图像的情况(实施例4)中使用的图像形成选择框304，但是在实施例1至3中不使用该框304，因此可以将其去除。

此外，显示部300的显示内容和画面的构成不限于上述的那些，而且也可以被改变为其它实施例中的那些。

<4-2.第一充电模式>

第一充电模式是这样的充电模式，其中，首先由上游充电器31形成充电电位vd(u)，然后由上游充电器31和下游充电器32形成组合表面电位vd(u+l)。

在图14中，(a)和(b)是充电模式中的充电处理的时序图。在如上所述选择第一充电模式的情况下，cpu200使得充电设备3根据图14的(a)和(b)的时序图执行感光构件1的充电处理。在图14中，(a)是在测量模式的操作中使用设置在显影位置g处的用于调整的静电计(稍后描述)测量感光构件1的充电电位的情况下的时序图(实施例1至3)。在图14中，(b)是在测量模式的操作中形成测试图像的情况下的时序图(实施例4)。在本实施例中，参照图14的(a)，将描述第一充电模式。

首先，在时刻t0，开始感光构件1的驱动。在该时刻，与感光构件1的驱动开始同步，也开始光放电设备40的接通。然后，在时刻t1，以预定的间隔(未图示)开始向上游充电器31施加上游栅电压和向上游充电器31供给上游线电流。此后，在感光构件1的充电电位稳定的从时刻t2到时刻t4的用于测量充电电位的预定时间δt期间，由上游充电器31形成充电电位vd(u)。然后，在时刻t4，以预定的间隔(未图示)开始向下游充电器32施加下游栅电压和向下游充电器32供给下游线电流。此后，在感光构件1的充电电位稳定的从时刻t5到时刻t6的用于测量充电电位的预定时间δt期间，由上游充电器31和下游充电器32形成组合表面电位vd(u+l)。此后，在时刻t7，停止对上游充电器31和下游充电器32施加充电电压，并且在时刻t8，停止感光构件1的驱动。

因此，在第一充电模式的充电处理中，独立地形成上游充电电位vd(u)和组合表面电位vd(u+l)，从而可以测量各个电位。

<4-3.第二充电模式>

第二充电模式是这样的充电模式，其中，首先，由上游充电器31单独形成充电电位vd(u)。

在图15中，(a)和(b)是充电模式中的充电处理的时序图。在如上所述选择第二充电模式的情况下，cpu200使得充电设备3根据图15的(a)和(b)的时序图执行感光构件1的充电处理。类似于图14的情况，在图15中，(a)是实施例1至3中的时序图，并且(b)是实施例4中的时序图。在本实施例中，参照图15的(a)，将描述第二充电模式。

首先，在时刻t0，开始感光构件1的驱动。在该时刻，与感光构件1的驱动开始同步，也开始光放电设备40的接通。然后，在时刻t1，以预定的间隔(未图示)开始向上游充电器31施加上游栅电压和向上游充电器31供给上游线电流。此后，在感光构件1的充电电位稳定的从时刻t2到时刻t4的用于测量充电电位的预定时间δt期间，由上游充电器31形成充电电位vd(u)。此后，在时刻t5，停止对上游充电器31施加充电电压，并且在时刻t8，停止感光构件1的驱动。

因此，在第二充电模式的充电处理中，独立地形成上游充电电位vd(u)，从而可以测量电位。

<4-4.第三充电模式>

第三充电模式是这样的充电模式，其中，首先，由下游充电器32单独形成充电电位vd(l)。

在图16中，(a)和(b)是充电模式中的充电处理的时序图。在如上所述选择第三充电模式的情况下，cpu200使得充电设备3根据图16的(a)和(b)的时序图执行感光构件1的充电处理。类似于图14的情况，在图16中，(a)是实施例1至3中的时序图，并且(b)是实施例4中的时序图。在本实施例中，参照图16的(a)，将描述第三充电模式。

首先，在时刻t0，开始感光构件1的驱动。在该时刻，与感光构件1的驱动开始同步，也开始光放电设备40的接通。然后，在时刻t4，以预定的间隔(未图示)开始向下游充电器32施加下游栅电压和向下游充电器32供给下游线电流。此后，在感光构件1的充电电位稳定的从时刻t5到时刻t6的用于测量充电电位的预定时间δt期间，由下游充电器32形成充电电位vd(l)。此后，在时刻t7，停止对下游充电器32施加充电电压，并且在时刻t8，停止感光构件1的驱动。

因此，在第三充电模式的充电处理中，独立地形成下游充电电位vd(l)，从而可以测量电位。

<4-5.测量时间和充电模式的种类>

用于测量各充电模式中的充电电位的上述预定时间(测量时间)δt可以根据充电电位的所需的测量精度被任意设置。例如，在通过在显影位置g处设置用于调整的静电计量来测量充电电位的情况下，从测量精度等的观点来看，测量时间δt可以被期望地设置为感光构件1的一转以上的时间。此外，在图13所示的操作部300中，也可以采用能够调整预定时间δt的结构。

此外，充电模式的种类不限于上述三种，而且也可以根据充电器的数量和图像形成装置100的结构等而增加和减少。然而，期望包括这样的充电模式，其中，多个充电器中的至少对充电电位的斜率具有最大影响并可以独立测量最高充电性能的充电器的充电电位被倾斜。此外，期望还包括这样的充电模式，其中，可以独立地测量具有相对较低充电性能的充电器的充电电位或所有充电器的组合表面电位。

<5.充电电位的斜率的调整过程>

接下来，将描述在本实施例中通过执行测量模式中的操作来调整感光构件1的充电电位的斜率的过程。在本实施例中，作为测量模式中的操作中的充电模式，使用上面参照图14的(a)和图15的(a)所述的第一充电模式和第二充电模式。此外，在本实施例中，作为充电电位的斜率的调整过程(方法)，使用上面参照图8所述的第一调整方法。

在图17中，(a)至(c)是示出本实施例中的调整充电电位的斜率的过程的流程图。在调整充电电位斜率的情况下，操作者根据图17的(a)至(c)所示的过程连续地进行充电电位斜率的测量和充电电位斜率的调整。

首先，操作者在图17的(a)的过程中选择在操作部300处显示的充电模式选择框302中的第一充电模式，然后按下开始按钮301，使得执行第一充电模式中的感光构件1的充电处理(s101)。然后，操作者测量上游充电电位vd(u)的斜率和组合表面电位vd(u+l)的斜率中的各个(s102，s103)。

操作者通过使用预先设置在显影位置g处的作为电位检测部件的静电计进行调整来测量充电电位的斜率。静电计可能仅需要能够测量充电电位斜率，并且可以具体使用能够在相对于推力方向的图像形成区域(可以承载调色剂图像的区域)的多个位置处检测感光构件1的表面电位的静电计。作为静电计，例如，可以使用这样的电位测量夹具，其代替显影设备6被安装在装置主组件110中，其被构造为能够检测感光构件1在显影位置g处的表面电位。静电计可以是包括用于检测在相对于推力方向的多个检测位置处的表面电位的检测部的静电计，或者，也可以是将单个检测部移动到推力方向上的多个检测位置的静电计。多个检测位置的数量是任意的，但是为了以足够的精度测量充电电位斜率，检测位置的数量可以期望地为在关于推力方向的相对于图像形成区域的中心侧的后侧和前侧的两个或更多个位置。在该实施例中，静电计在关于推力方向的相对于中心侧的后侧和前侧的两个位置处检测感光构件1的表面电位。检测结果以与下面将要描述的实施例4的图22所示的相同的方式显示在操作部300上，尽管浓度应该读取表面电位。

操作者检查上游充电电位vd(u)的斜率(具体是关于推力方向的相对于中心侧的前侧和后侧之间的充电电位的差(fr差))是否不大于预定阈值(在该实施例中不超过10v)(s104)。在上游充电电位vd(u)的斜率不大于预定阈值的情况下，操作者使得操作进入s105的过程，并且，在上游充电电位vd(u)的斜率大于预定阈值时，操作者使得操作进入图17的(b)所示的sub-a的过程(s106，s201)。sub-a的过程是通过上面参照图8描述的第一调整方法来调整上游充电器31中的线高度hpg(u)的过程。

在操作进入图17的(b)所示的sub-a的过程之后，操作者基于图9所示的上游充电器31中的线高度hpg(u)和上游充电电位vd(u)的斜率之间的关系调整上游充电器31中的线高度hpg(u)(s202)。此后，操作者选择在操作部300处显示的充电模式选择框302中的第二充电模式，然后0按下开始按钮301，使得执行第二充电模式中的感光构件1的充电处理(s203)。然后，操作者检查上游充电电位vd(u)的斜率(fr差)是否不大于阈值(s204)。操作者重复s202至s204的过程，直到在s204中上游充电电位vd(u)的斜率不大于阈值，并且，在斜率不大于阈值的情况下，操作者结束sub-a的过程，并且操作返回到s101的过程(s205)。

此后，操作者执行s101至s103的过程，并且，当在s104中上游充电电位vd(u)的斜率不大于阈值的情况下，操作者检查组合表面电位vd(u+l)的斜率(fr差)是否不大于预定阈值(在本实施例中不大于5v)(s105)。在组合表面电位vd(u+l)的斜率不大于预定阈值的情况下，操作者结束调整充电电位斜率的过程(s108)。另一方面，在组合表面电位vd(u+l)的斜率大于预定阈值的情况下，操作者使得操作进入图17的(c)所示的sub-b的过程(s107，s301)。sub-b的过程是通过上面参照图8描述的第一调整方法来调整下游充电器32中的线高度hpg(l)的过程。

在操作进入图17的(c)所示的sub-b的过程之后，操作者基于图9所示的下游充电器32中的线高度hpg(l)和组合表面电位vd(u+l)的斜率之间的关系调整下游充电器32中的线高度hpg(l)(s302)。

此后，操作者选择在操作部300处显示的充电模式选择框302中的第一充电模式，然后按下开始按钮301，使得执行第一充电模式中的感光构件1的充电处理(s303)。然后，操作者检查组合表面电位vd(u+l)的斜率(fr差)是否不大于阈值(s304)。操作者重复s302至s304的过程，直到组合表面电位vd(u+l)的斜率不大于阈值，并且在斜率不大于阈值的情况下，操作者结束sub-b的过程，并且操作返回到s105的过程(s305)。

在操作返回到图17的(a)的s105的过程之后，操作者检查组合表面电位vd(u+l)的斜率(fr差)是否不大于预定阈值，并且在斜率(fr差)不大于预定阈值的情况下，操作者结束调整充电电位斜率的过程(s108)。

可以通过调整机构2进行调整，使得例如将充电电位的绝对值中较小的电位改变为充电电位的绝对值较大的电位或者将充电电位的绝对值较大的电位改变为充电电位的绝对值较小的电位。在这两种情况的任一种情况下，基于图9所示的关系，可以获得调整机构2的适当的调整量。

在本实施例中，通过使用第一充电模式和第二充电模式，可以独立地测量由主充电侧的上游充电器31形成的上游充电电位vd(u)的斜率和由上游充电器31和下游充电器32形成的组合表面电位vd(u+l)的斜率。此外，在本实施例中，通过使用充电电位斜率的第一调整方法，独立地调整由上游充电器31形成的充电电位vd(u)，使得可相对于推力方向大致均匀地调整该电位。此外，通过在电位会聚侧独立地调整由下游充电器32形成的充电电位vd(l)，可相对于推力方向大致均匀地调整最终形成的组合表面电位vd(u+l)。

在本实施例中，通过使用第一充电模式和第二充电模式，测量上游充电电位vd(u)的斜率和组合表面电位vd(u+l)的斜率。然后，不仅调整上游充电器31的线高度hpg(u)使得上游充电电位vd(u)落在预定范围内，还调整下游充电器32的线高度hpg(l)使得组合表面电位vd(u+l)落在预定范围内。另一方面，通过使用第二充电模式和第三充电模式，也可以独立地测量上游充电电位vd(u)的斜率和下游充电电位vd(l)的斜率。在这种情况下，不仅可以独立地调整上游充电器31的线高度hpg(u)使得上游充电电位vd(u)落在预定范围内，还可以独立地调整下游充电器32的线高度hpg(l)使得下游充电电位vd(l)落在预定范围内。因此，结果，可以调整由上游充电电位vd(u)和下游充电电位vd(l)叠加而形成的组合表面电位vd(u+l)的斜率。

如上所述，根据本实施例，在通过使用充电性能不同的电晕充电器31和32形成组合表面电位来进行感光构件1的充电处理的结构，可以提高感光构件1的充电电位的斜率的调整精度。

[实施例2]

接下来将描述本发明的另一个实施例。本实施例中的图像形成装置的基本结构和基本操作与实施例1中的相同。因此，具有与实施例1相同或相应的功能或结构的元件由相同的附图标记或符号表示，并将在详细描述中省略。

在本实施例中，作为充电电位的斜率的调整过程(方法)，使用上面参照图12所述的第三调整方法。

在图18中，(a)至(c)是示出本实施例中的调整充电电位的斜率的过程的流程图。在调整充电电位斜率的情况下，操作者根据图18的(a)至(c)所示的过程连续地进行充电电位斜率的测量和充电电位斜率的调整。

图18的(a)的s111至s118的过程分别与实施例1的图17的(a)的s101至s108的过程相同。此外，图18的(b)的过程s211至s215分别与实施例1的图17的(b)的s201至s205的过程相似。然而，在本实施例中，s212中的上游充电电位vd(u)的斜率的调整方法与s202中的不同。此外，图18的(c)的s311至s315的过程分别与实施例1的图17的(c)的s301至s305的过程相似。然而，在本实施例中，在s312中的通过调整下游充电电位vd(l)的斜率的组合表面电位vd(u+l)的斜率的调整方法与实施例1中的s302中的不同。

在本实施例中，在图18的(b)的s212中，基于图11所示的上游充电器31的格栅间隙gap(u)与上游充电电位vd(u)之间的关系，操作者调整上游充电器31的格栅间隙gap(u)。结果，调整上游充电电位vd(u)的斜率。

此外，在图18的(c)的s312中，基于图11所示的下游充电器32的格栅间隙gap(l)与组合表面电位vd(u+l)之间的关系，操作者调整下游充电器32的格栅间隙gap(l)。结果，调整组合表面电位vd(u+l)的斜率。

在本实施例中，通过使用第一充电模式和第二充电模式，可以独立地测量由主充电侧的上游充电器31形成的上游充电电位vd(u)的斜率和由上游充电器31和下游充电器32形成的组合表面电位vd(u+l)的斜率。此外，在本实施例中，通过使用充电电位斜率的第三调整方法，独立地调整由上游充电器31形成的充电电位vd(u)，使得可相对于推力方向大致均匀地调整该电位。此外，通过在电位会聚侧独立地调整由下游充电器32形成的充电电位vd(l)，可相对于推力方向大致均匀地调整最终形成的组合表面电位vd(u+l)。

此外，在如本实施例中使用第三调整方法的情况下，与上述实施例1类似，通过使用第二充电模式和第三充电模式，可以独立测量和调整上游充电电位vd(u)的斜率和下游充电电位vd(l)的斜率。

[实施例3]

接下来将描述本发明的另一个实施例。本实施例中的图像形成装置的基本结构和基本操作与实施例1中的相同。因此，具有与实施例1相同或相应的功能或结构的元件由相同的附图标记或符号表示，并将在详细描述中省略。

在本实施例中，作为上游充电电位vd(u)的斜率的调整过程(方法)，使用上面参照图10所述的第二调整方法。此外，在本实施例中，作为通过调整下游充电电位vd(l)的斜率的组合表面电位vd(u+l)的斜率的调整过程(方法)，使用上面参照图8描述的第一调整方法。

在图19中，(a)至(c)是示出本实施例中的调整充电电位的斜率的过程的流程图。在调整充电电位斜率的情况下，操作者根据图19的(a)至(c)所示的过程连续地进行充电电位斜率的测量和充电电位斜率的调整。

图19的(a)的s121至s128的过程分别与实施例1的图17的(a)的s101至s108的过程相同。此外，图19的(b)的过程s221至s225分别与实施例1的图17的(b)的s201至s205的过程相似。然而，在本实施例中，s222中的上游充电电位vd(u)的斜率的调整方法与s202中的不同。此外，图19的(c)的s321至s325的过程分别与实施例1的图17的(c)的s301至s305的过程相同。

在本实施例中，在图19的(b)的s222中，基于图11所示的gap(u)与vd(u)之间的关系，操作者同时调整上游充电器31的格栅间隙gap(u)和下游充电器32的格栅间隙gap(l)。结果，调整上游充电电位vd(u)的斜率。

此外，在图19的(c)的s322中，与s302的过程类似，操作者调整下游充电器32的线高度hpg(l)。

在本实施例中，通过使用第一充电模式和第二充电模式，可以独立地测量由主充电侧的上游充电器31形成的上游充电电位vd(u)的斜率和由上游充电器31和下游充电器32形成的组合表面电位vd(u+l)的斜率。此外，在本实施例中，通过使用第二调整方法作为上游充电电位vd(u)的斜率的调整方法，独立地调整由上游充电器31形成的充电电位vd(u)，使得可相对于推力方向大致均匀地调整该电位。此外，在调整上游充电电位vd(u)的期间，可以同时进行组合表面电位vd(u+l)的微调，从而可以缩短调整充电电位的斜率所需的时间。此外，通过使用第一调整方法作为下游充电电位vd(l)的斜率的调整方法，独立地调整在电位会聚侧由下游充电器32形成的充电电位vd(l)，使得可以相对于推力方向大致均匀地调整最终形成的组合表面电位vd(u+l)。

此外，在如本实施例中使用第一调整方法和第二调整方法的情况下，与上述实施例1类似，通过使用第二充电模式和第三充电模式，可以独立测量和调整上游充电电位vd(u)的斜率和下游充电电位vd(l)的斜率。

在本实施例中使用的第三调整方法中，同时调整上游充电器31和下游充电器32的栅格间隙gap(u)和gap(l)，但是，代替此方法，也可以将线高度hpg(u)和hpg(l)构造为能够被同时调整。此外，在第三调整方法中同时调整栅格间隙gap(u)和gap(l)的情况下，为了调整下游充电电位vd(l)，可以使格栅间隙gap(l)为可独立调整的。例如，可以通过在调整充电设备3的整体的斜率的同时独立地移动下游充电器32的块34来独立地调整下游充电器32的格栅间隙gap(l)。

[实施例4]

接下来将描述本发明的另一个实施例。本实施例中的图像形成装置的基本结构和基本操作与实施例1中的相同。因此，具有与实施例1相同或相应的功能或结构的元件由相同的附图标记或符号表示，并将在详细描述中省略。

<1.本实施例的概要>

在实施例1至3中，将用于检测感光构件1的表面距离的静电计安装在显影位置g处，并测量充电电位的斜率。另一方面，在本实施例中，在测量模式中的操作中，通过在感光构件1上形成有充电电位的部分上沉积调色剂来形成测试图像，并且，对测试图像进行图像浓度的测量，然后基于图像浓度，获取充电电位的斜率。特别地，在本实施例中，使用图像形成装置100的读取部250测量测试图像的图像浓度，使得图像浓度(充电电位)的斜率、调整机构2的调整部(位置)(前侧或后侧的显示)和调整机构的调整量可以被显示在操作部300处。结果，在本实施例中，简化了对充电电位的斜率的信息的获取，从而可以实现调整充电电位的斜率所需的时间的缩短。读取部250是用于在相对于推力方向的多个位置处检测发射到测试图像的光的光学检测构件的示例。

在本实施例中，使用第一充电模式作为充电模式，并且使用第一调整方法作为充电电位的斜率的调整方法。然而，在使用任一种充电模式和任一种充电电位斜率的调整方法的情况下，也可以采用通过图像浓度获取关于充电电位的斜率的信息的方法。

<2.测试图像信息的设置>

首先，将描述在测量模式的操作中的测试图像信息的设置方法。在本实施例中，与实施例1至3类似，图像形成装置100根据操作者的指示来执行测量模式中的操作。当执行测量模式中的操作时，操作者通过操作部300选择充电模式，从而根据选择的充电模式形成测试图像。

在测量模式下的操作中形成测试图像的情况下，操作者将图13所示的设置画面的图像形成选择框304从“否”切换到“是”。在图像形成选择框304的“否”的情况下，可以执行与实施例1至3类似的测量模式中的操作。操作者在充电模式选择框302中选择充电模式。充电模式的选择方法与实施例1至3中的相似。然后，操作者通过按下开始按钮301使得图像形成装置根据选择的充电模式进行测试图像的形成。在本实施例中，将测试图像打印(转印和定影)在记录材料p上并输出。

<3.测试图像>

图21是示出在第一充电模式下的操作中形成的测试图像的示例的示意图。该测试图像形成在尺寸为13英寸×19英寸的单张记录材料上。

在本实施例中，作为测试图像，通过模拟显影形成半色调(ht)图像，其中，显影电压(负)的绝对值被设置为比上游充电电位vd(u)和组合表面电位vd(u+l)中的各个大50v的值。模拟显影是这样的类型，其中，调色剂通过感光构件1的表面电位与显影电压之间的电位差(显影对比度)沉积在感光构件1上而不进行曝光设备10的曝光。

如图21所示，在第一充电模式的操作中，在记录材料p的相对于记录材料p的给送方向的前半部分(前端侧)中，形成通过对上游充电电位vd(u)的区域进行显影而获得的ht图像(第一测试图像)。此外，在记录材料p相对于给送方向的后半部分(后端侧)中，形成通过对组合表面电位vd(u+l)的区域进行显影而获得的ht图像(第二测试图像)。

在本实施例中，显影对比度被设置为50v，但是，当充电电位的斜率处于可识别为图像浓度的浓度区域中时，可以根据图像形成装置100的结构等任意设置显影对比度。在本实施例中，将显影对比度设置为使得图像浓度为d＝反射浓度水平的约0.5的ht图像浓度。

在第二充电模式和第三充电模式中的操作中，对于上游充电电位vd(u)和下游充电电位vd(l)中的各个，例如，类似于图21的情况，通过将显影对比度设置为50v的模拟显影沉积调色剂而形成测试图像。

<4.测量图像浓度的斜率和显示调整量>

在本实施例中，当在上述的设置画面(图13)中选择充电模式中的操作并且进行测试图像形成时，通过cpu200，将操作部300处的显示自动切换到图22所示的结果画面。在结果画面中，在充电模式框305中显示所执行的充电模式的编号(“1”，“2”或“3”)。操作者将输出的测试图像设置在读取部250上，并且通过按下结果画面的读取开始按钮306来使得读取部250测量测试图像的图像浓度。

读取部250在相对于推力方向的多个位置处检测测试图像的图像浓度。多个位置的数量是任意的，但是为了以足够的精度测量充电电位斜率，检测位置的数量可以期望地为在关于推力方向的相对于测试图像的中心侧的后侧和前侧的两个或更多个位置。在该实施例中，读取部250在关于推力方向的相对于中心侧的后侧和前侧的两个位置处检测测试图像的图像浓度。

当如上所述执行由读取部250对测试图像的读取时，cpu200基于检测到的测试图像的图像浓度获取的测量结果被显示在测量结果框307中。在本实施例中，在测量结果框307中，显示在充电模式的操作中的各个中形成的测试图像的图像浓度的测量值、图像浓度的斜率(即，关于推力方向的相对于中心侧的后侧和前侧之间的图像浓度差δd)、调整机构2的调整部(位置)和调整机构2的调整量。

将进一步描述测量结果框307。在“上游侧”的行中，显示通过对上游充电电位vd(u)的区域进行显影而形成的前侧(f侧)和后侧(r侧)的测试图像的图像浓度、图像浓度差δd、调整部和上游充电器31中的线高度hpg(u)的调整量(引导(测量))。在“组合表面电位”行中，显示通过对组合表面电位vd(u+l)的区域进行显影而形成的前侧(f侧)和后侧(r侧)的测试图像的图像浓度、图像浓度差δd和调整机构2的调整部。在“下游侧”的行中，显示在“上游侧”行中显示的图像浓度差d与“组合表面电位”行中显示的图像浓度差δd之间的差异作为浓度差，并且，显示下游充电器32中的线高度hpg(l)的调整量(引导(测量))作为调整机构2的调整量。

图22示出进行第一充电模式中的操作的情况的示例，但是，在进行第三充电模式的操作的情况下，没有将测量结果显示在“组合表面电位”行中，因此，例如，以与“上游侧”行相同的方式显示图像浓度、图像浓度差、调整部和调整量。

操作部300的显示内容和画面的结构并不限于上述内容和画面，也可以被改变为其它结构。可能只需要显示关于充电电位的斜率的信息和关于调整机构2的调整量的信息中的至少一个。然而，期望至少显示图像浓度、图像浓度差、调整部和斜率的调整量。

<5.调整量>

接下来，将描述测试图像的图像浓度的斜率与调整机构2的调整量(本实施例中线高度hpg的调整量)之间的关系。

图23是示出前侧(f侧)和后侧(辊侧)的试验图像之间的线高度hpg的调整量与图像浓度差δd(f-r)之间的关系的曲线图。在图23中，x轴表示图像浓度差δ(f-r)，并且，在正值的情况下，前侧的图像浓度高于后侧的图像浓度，并且，在负值的情况下，前侧的图像浓度低于后侧的图像浓度。在图23中，y轴表示线高hpg的调整量，在正侧，线高度hpg升高，而在负侧，线高度hpg下降。在图23中，实线表示上游充电器31中的线高度hpg(u)的调整量与通过对上游充电电位vd(u)的区域进行显影而得到的测试图像中的图像浓度差δd之间的关系。在图23中，虚线表示下游充电器32中的线高度hpg(l)的调整量与通过对组合表面电位vd(u+l)的区域进行显影而得到的测试图像中的图像浓度差δd之间的关系。

基于由读取部250读取的测试图像的图像浓度，cpu200通过使用图23的关系计算图像浓度的斜率方向、调整部(前侧或后侧)和调整量。然后，cpu200使得操作部300在图22所示的结果画面上的测量结果框307中显示计算结果。在本实施例中，显示用于将提供更高图像浓度的电位调整为与提供较低图像浓度的电位一致的调整量。

基于显示在图22所示的结果画面上的测量结果，分别调整上游充电器31和下游充电器32的线高度hpg(u)和hpg(l)，使得可以相对于推力方向大致均匀地调整感光构件1的充电电位。

<6.充电电位的斜率的调整过程>

接下来，将描述在本实施例中通过执行测量模式中的操作来调整感光构件1的充电电位的斜率的过程。如上所述，在本实施例中，使用第一充电模式作为充电模式，并且使用第一调整方法作为充电电位的斜率的调整过程(方法)。在图20中，(a)和(b)是示出本实施例中的调整充电电位的斜率的过程的流程图。在调整充电电位斜率的情况下，操作者根据图20的(a)和(b)所示的过程连续地进行充电电位斜率的测量和充电电位斜率的调整。

首先，在图20的(a)的过程中，操作者在操作部300的设置画面(图13)上的充电模式选择框302中选择第一充电模式，然后将图像形成选择框304切换到“是”，从而进行测试图像的形成(s401，s402)。结果，当输出测试图像时，操作部300的显示被切换到图22的结果画面。

此后，操作者将输出的测试图像设置在读取部250上并按下读取开始按钮306，并使得读取部250开始读取测试图像(s403)。结果，读取部250读取测试图像，并且当读取结束时，测量结果被显示在如上所述的结果画面的测量结果框307上。此后，操作者检查测量结果(s404)，并判断是否需要调整充电电位的斜率(s405)。在本实施例中，在“组合表面电位”中的图像浓度差δd不大于0.05的情况下，不需要校正充电电位的斜率，因此结束该过程(s407)。另一方面，图像浓度差δd大于0.05，该过程进入图20的(b)的sub-c(s406，s410)。

在该过程进入图20的(b)的sub-c之后，操作者根据测量结果框307中的调整部和调整量的显示分别对上游充电器31和下游充电器32的线高度hpg(u)和hpg(l)进行调整(s411)。此后，操作者将该过程返回到图20的(a)的s401的过程(s412)。

在本实施例中，作为图像浓度的斜率的调整方法，以使用第一调整方法的情况为例进行了描述，但是，也可以使用上述的第二调整方法和第三调整方法。此外，在使用任一调整方法的情况下，与调整方法相应地获取调整部和调整量，从而可以按照与上述过程相同的过程调整充电电位的斜率。

<7.测试图像的信息>

接下来，参照图14的(b)、图15的(b)和图16的(b)的时序图，对形成测试图像的情况下的各充电模式中的操作进行描述。顺便提及，将省略与上面参照图14(a)、图15(a)和图16的(a)描述的充电处理相关的内容的描述。

<7-1.第一充电模式>

在图14中，(b)是在第一充电模式的操作中形成测试图像的情况下的时序图。

如图14的(b)所示，在时刻t1，与向上游充电器31施加充电电压同步地开始施加显影电压dc(u)，以便对上游充电电位vd(u)的区域进行显影，并且，也与充电电压施加同步地开始显影设备6的驱动。此后，在上游充电电位vd(u)和显影电压稳定的从时刻t2到时刻t4的预定时间δt期间继续施加显影电压dc(u)。此外，在调色剂图像到达转印位置(转印部)n时的时刻t3，开始施加转印电压。此时，将13英寸×19英寸的记录材料p给送到转印位置n(未示出)。

然后，在时刻t4，为了对组合表面电位vd(u+l)的区域进行显影，与向下游充电器32施加充电电压同步地将显影电压切换为dc(u+l)。此时，如图14的(b)所示，逐渐(逐步)从显影电压dc(u)切换为显影电压dc(u+l)。

此后，在组合表面电位vd(u+l)和显影电压稳定的、从时刻t5到时刻t6的预定时间δt期间，继续施加显影电压dc(u+l)，并且，在时刻t6，停止显影设备6的驱动。此后，在时刻t7，停止对上游充电器31和下游充电器32施加充电电压以及显影电压的施加和转印电压的施加，并且在时刻t8，停止感光构件1的驱动。

在本实施例中，形成上游充电电位vd(u)和组合表面电位vd(u+l)的预定时间δt中的各个被设置为300ms。结果，在13英寸×19英寸的单个记录材料p上，可以形成通过对上游充电电位vd(u)和组合表面电位vd(u+l)的区域进行显影而获得的测试图像。

因此，通过形成测试图像，可以在不使用电位测量夹具的情况下测量上游充电电位vd(u)和组合表面电位vd(u+l)的斜率作为测试图像的图像浓度的斜率，从而可以实现调整充电电位斜率所需的时间的缩短。

<7-2.第二充电模式和第三充电模式>

在第二模式和第三模式的操作中形成测试图像的情况下的时序图分别示于图15的(b)和图16的(b)中。如图15的(b)和图16的(b)所示，在第二充电模式和第三充电模式的操作中形成测试图像的情况下，控制显影电压的施加和显影设备6的驱动，以便分别对上游充电电位vd(u)和下游充电电位vd(l)的区域进行显影。此外，如图15的(b)和图16的(b)所示，在第二充电模式和第三充电模式中形成测试图像的情况下，控制转印电压以便将所形成的测试图像(调色剂图像)转印到记录材料p上。图15的(b)和图16的(b)中的各部分的操作与第一充电模式的情况中的相似，因此省略详细描述。在第三充电模式的操作中，如图16(b)所示，使用设置为对下游充电电位vd(l)的区域进行显影的显影电压dc(l)。

在第二充电模式和第三充电模式的操作中形成测试图像的情况下，可以单独测量上游充电电位和下游充电电位的斜率中的各个作为测试图像的图像浓度的斜率，使得可以独立调整各个电位。

在根据图15的(b)的第二充电模式的操作中形成测试图像的情况下，输出图21中所示的测试图像中的仅包括上游充电电位vd(u)的部分的测试图像。此外，在根据图16的(b)的第三充电模式的操作中形成测试图像的情况下，输出图21中所示的测试图像中的仅包括替代组合表面电位vd(u+l)的部分的下游充电电位vd(l)的部分的测试图像。

<8.变形例>

将描述本实施例的变形例。

在本实施例中，描述了测量充电电位斜率作为图像浓度斜率的方法。此外，图像浓度斜率被描述为由图像形成装置的读取部250测量。然而，在图像形成装置100不包括读取部250的情况下，可以进行以下测量。例如，可以使用单独准备的图像浓度测量设备测量输出的测试图像的图像浓度。然后，基于图像浓度的斜率，例如，可以使用图23所示的关系来调整充电电位的斜率。

此外，设置在图像形成装置100中的图像浓度检测部件不限于读取部250。例如，图像浓度检测部件也可以是用于检测记录材料上、用于将从感光构件一次转印的调色剂图像二次转印到记录材料上的中间转印部件上、记录材料承载构件上或在从图像形成装置输出之前的记录材料上的测试图像的图像浓度的部件。

此外，在本实施例中，描述了在不使用电位测量夹具的情况下仅仅调整充电电位的斜率的方法。特别地，在本实施例中，通过图像形成装置100的图像读取部250测量充电电位斜率作为测试图像的图像浓度。作为另一个实施例，也可以使用设置在图像形成装置100中的电位传感器来测量充电电位斜率，即，不将电位测量夹具单独地安装在图像形成装置100中。例如，如图24所示，在装置主组件110的内部，可以设置多个(图24的实施例中为两个)电位传感器5f和5r，使得可以在相对于推力方向的多个位置处检测感光构件1的表面电位。电位传感器5f和5r是用于在相对于推力方向的多个位置处检测感光构件1的表面电位的电位检测部件的示例。然后，在测量模式下的操作中，不形成测试图像，并且通过电位传感器5f和5r中的各个测量取决于充电模式的感光构件1的表面电位，并且显示充电电位斜率、调整部和调整量，从而也可以使充电电位斜率为可调的。在这种情况下，难以将电位传感器5f和5r相对于感光构件1的旋转方向设置在显影位置g处。因此，例如，电位传感器5f和5r设置在实施例1中所述的传感器位置d处，并且，可能只需要实现考虑到从传感器位置d到显影位置g的暗衰减量的控制。也可以使用能够通过相对于推力方向将单个检测部移动到多个位置来检测感光构件1的表面电位的电位传感器5。因此，在使用任一种充电模式和充电电位斜率调整方法的情况下，可以采用通过在图像形成装置中设置的电位传感器获取关于充电电位斜率的信息的方法。

[其它实施例]

在上文中，基于上述具体实施例描述了本发明，但是，本发明不限于上述实施例。

在上述实施例中，图像形成装置包括两个充电器，但是，也可以包括三个或更多个充电器。在这种情况下，也可以采用这样的结构，其中，可以独立地测量多个充电器中的具有最高充电性能的充电器的充电电位，并且，可以独立地测量具有比该充电器的最高充电性能相对低的充电性能的充电电位，或者可以测量所有充电器的组合表面电位。例如，独立地测量具有最高充电性能的充电器的充电电位。然后，调整该充电器的充电电位的斜率，而不改变其它充电器的充电电位的斜率(第一调整方法和第三调整方法等)，或者，另外，同时调整其它充电器的充电电位的斜率(第二调整方法等)。此外，独立地测量比具有最高充电性能的充电器相对低的充电性能的多个充电器的充电电位。然后，调整具有相对较低的充电性能的这些充电器的充电电位的斜率中的各个，而不改变其它充电器的充电电位的斜率(第一调整方法和第三调整方法等)。此外，例如，在上述实施例中具有最高充电性能的充电器被认为是第一充电器，具有比具有最高充电性能的充电器相对低的充电性能的多个充电器被认为是第二充电器，并且，关于第二充电器，也可以同时(一体地)进行充电电位的测量和斜率的调整。在这些情况中的任一种情况下，可以基于电位的检测和图像浓度的检测中的任一个来调整充电电位斜率。

在实施例4中，描述了关于充电电位斜率(电位斜率，图像浓度斜率)的信息以及关于图像形成装置的操作部处的调整部件的调整量的信息的显示。另一方面，用于显示信息的显示部件也可以由与图像形成装置可通信地连接的诸如计算机的外部设备的显示部构成。

此外，在实施例4中，基于关于由图像形成装置中的图像浓度检测部件或电位检测部件获取的充电电位斜率(电位斜率，图像浓度)的信息，描述了操作者以手动方式进行的调整部件对充电电位斜率的调整。另一方面，基于在图像形成装置中获取的信息，也可以采用在图像形成装置中自动调整充电电位斜率的结构。在这种情况下，例如，具有与上述实施例中描述的功能或结构相似的功能或结构的调整机构由设置在图像形成装置中的驱动部件驱动。然后，基于与实施例4中所述的类似地获取的调整量，控制部件可能仅需要控制驱动部件对调整机构的驱动。

虽然针对示例性实施例描述了本发明，但是，应该理解，本发明不限于公开的示例性实施例。下述权利要求的范围应当被赋予最宽的解释，以便涵盖所有这类修改以及等同的结构和功能。