本发明属于配向膜印刷的技术领域，具体涉及一种印刷版及印刷版异常的查找方法。
技术背景
目前在tft-lcd(薄膜晶体管液晶显示器，thinfilmtransistor-liquidcrystaldisplay)液晶显示技术领域，配向膜印刷有两种方式：喷涂式、印刷式。印刷式是将配向膜液体先存储在配向膜印刷版的版孔中，通过配向膜印刷版转印到基板上。若印刷版上出现异常，在基板印刷配向膜时对应位置将出现不良。
针对印刷式导致的不良查找，有以下缺点：
1)人员需要量测基板异常点位，然后去机台量测配向膜印刷版点位，配向膜印刷版是包裹在滚轮上，量测时不能接触印刷版，点位精度容易出现偏差，导致基板点位坐标与印刷版点位坐标不符。
2)人员长时间进入机台量测或者观察，容易带入异物、容易刮伤印刷版。
3)人员量测坐标点位效率低，导致产能下降，异常处理时间延长。
技术实现要素：
为解决上述技术问题，本发明提供一种印刷版及印刷版异常的查找方法，通过在印刷版的非显示区域上增加坐标，并将坐标转印在基板上，使印刷版治具和印刷后的基板都有坐标，达到快速匹配的效果，提高异常处理效率。
本发明提供的技术方案如下：
一种印刷版异常的查找方法，用于基板的配向膜印刷，所述查找方法包括：
s1、印刷版上设置对比坐标；
s2、所述印刷版上涂布配向膜液，通过所述印刷版将配向膜液印刷到基板上，所述对比坐标在基板上形成转印坐标；
s3、查找所述基板表面是否存在异常位置；
s4、若存在异常位置，则进行步骤s5；若不存在异常位置，则查找结束；
s5、根据基板上异常位置的坐标，确定印刷版上的异常位置并修复印刷版。
优选地，所述步骤s2具体为：在所述印刷版上涂布配向膜液，对比坐标的表面无配向膜液，印刷时所述对比坐标与基板直接接触，配向膜上形成镂空的转印坐标，将对比坐标的刻度及数值显现在基板上。
优选地，所述步骤s5具体为：
s51、根据转印坐标，确定基板上异常位置的坐标；
s52、在印刷版的对比坐标上匹配上述坐标；
s53、确定印刷版上的异常位置并修复印刷版。
一种印刷版，用于上述查找方法，所述印刷版的非显示区域设有对比坐标。
优选地，所述对比坐标包括第一刻度尺和第二刻度尺，所述第一刻度尺和第二刻度尺分别垂直设于印刷版的相邻两边。
优选地，所述对比坐标凸设在印刷版上，且高度不大于印刷版上配向膜液的厚度。
优选地，所述印刷版将配向膜液印刷到基板上形成配向膜，所述转印坐标位于基板的非显示区，且所述转印坐标与对比坐标的数值及刻度一一对应。
一种基板，所述基板包括配向膜，所述配向膜由上述印刷版制成，所述配向膜上设有转印坐标，所述转印坐标匹配印刷版上的对比坐标。
优选地，所述转印坐标为镂空的坐标。
优选地，所述转印坐标还用于匹配掩膜版上的坐标。
与现有技术相比，本发明的印刷版及印刷版异常的查找方法具有以下有点：
1)提高点位坐标准确性。
2)简化人员查找异常点位流程，不需要手动测量坐标。
3)节省异常处理时间，防止长时间处理，带来其他异常(如异物携入、刮伤印刷版等)。
附图说明
下面将以明确易懂的方式，结合附图说明优选实施方式，对本发明予以进一步说明。
图1所示为本发明的印刷版示意图；
图2所示为本发明的基板示意图；
图3所示为本发明的查找方法流程图。
具体实施方式
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对照附图说明本发明的具体实施方式。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，并获得其他的实施方式。
为使图面简洁，各图中只示意性地表示出了与本发明相关的部分，它们并不代表其作为产品的实际结构。另外，以使图面简洁便于理解，在有些图中具有相同结构或功能的部件，仅示意性地绘示了其中的一个，或仅标出了其中的一个。在本文中，“一个”不仅表示“仅此一个”，也可以表示“多于一个”的情形。
下面以具体实施例详细介绍本发明的技术方案。
本发明提供一种印刷版异常的查找方法，如图1-图2所示，该印刷版1用于基板2上配向膜的印刷。在印刷版1的非显示区域21上设置有对比坐标(图未示)，对比坐标用于快速定位印刷版1上的异常位置。对比坐标包括刻度和数值，印刷版1将对比坐标转印到基板2上，形成转印坐标3，转印坐标3与对比坐标的数值及刻度均一一对应。若印刷版1上出现异常，当使用该异常印刷版1进行配向膜印刷时，必然会在基板2上出现异常点，由于转印坐标3与对比坐标是相对应的，因此通过转印坐标3确定基板2上异常点的坐标后，将转印坐标3与对比坐标进行对比，相应地在印刷版1上确定该位置点坐标，从而快速定位异常点位置。
优选地，对比坐标和转印坐标3均包括x方向的第一刻度尺和y方向的第二刻度尺，且第一刻度尺和第二刻度尺相互垂直地分设于印刷版1与基板2的相邻两边上。
优选地，对比坐标凸设在印刷版1上，对比坐标在印刷版1上的凸出高度不大于配向膜液的厚度。当印刷版1在基板2上印刷配向膜时，由于对比坐标是凸出的，对比坐标的表面无配向膜液，对比坐标与基板2直接接触，二者之间没有配向膜，而对比坐标四周形成配向膜，因此，整面的配向膜只有在对比坐标的位置处是镂空的，在基板2上形成转印坐标3，从而将对比坐标的刻度及数值显现在基板2上。
优选地，印刷版1将配向膜液印刷到基板2上，从而形成配向膜。为了不影响显示面板的透过率，转印坐标3位于基板2的非显示区域21。
优选地，转印坐标3不仅用于匹配印刷版1上的对比坐标，快速确定印刷版1上的异常位置，还用于匹配掩膜版上的坐标，从而可以准确的确定掩膜版位置，减少工艺误差，还能够节省工艺流程。
如图3所示，本发明的查找方法的具体步骤包括：
s1、印刷版1上设置对比坐标；
s2、印刷版1上涂布配向膜液，通过印刷版1将配向膜液印刷到基板2上，对比坐标在基板2上形成转印坐标3；
s3、查找基板2表面是否存在异常位置；
s4、若存在异常位置，则进行步骤s5；若不存在异常位置，则查找结束；
s5、根据基板2上异常位置的坐标，确定印刷版1上的异常位置并修复印刷版1。
其中，异常指的是在印刷版1具有异物、瑕疵等不良，对基板2进行配向膜印刷时，基板2的对应位置必然会出现异常，通过转印坐标3确定基板2上异常位置的坐标，再匹配对比坐标，从而确定印刷版1上的异常位置，快速精准的修复印刷版1。
其中，步骤s2可以具体为：在印刷版1上涂布配向膜液，此时印刷版1的对比坐标表面无配向膜液，印刷时对比坐标与基板2直接接触，对比坐标的四周都是整面的配向膜，从而配向膜上会形成镂空的转印坐标3，将对比坐标的刻度及数值显现在基板2上。
其中，步骤s5具体为：
s51、根据转印坐标3，确定基板2上异常位置的坐标；
s52、在印刷版1的对比坐标上匹配上述坐标；
s53、确定印刷版1上的异常位置并修复印刷版1。
其中，对基板2上异常位置的查找，可以采用人工目视、图片扫描等常用的手段。
具体地，使用印刷版1将配向膜转印到基板2以后，先对基板2进行检查，例如在基板2的转印坐标3x＝10，y＝10位置处出现异常，由于基板2上转印了转印坐标3，因此可以快速的通过转印坐标3的刻度及数值锁定异常位置的坐标。由于该异常位置出现在印刷配向膜的工艺后，因此在相同位置的印刷版1上必然出现异常。由于基板2上的转印坐标3与印刷版1上的对比坐标是一一对应的，可以使用转印坐标3匹配对比坐标，从而在印刷版1相应的x＝10，y＝10位置处，发现异常，从而对印刷版1进行修复。
本发明还提供一种印刷版1，在印刷版1的非显示区域21上设有对比坐标，且对比坐标的高度不小于印刷版1上配向膜液的厚度。其中对比坐标包括x方向上的第一刻度尺(图未示)和y方向上的第二刻度尺(图未示)，第一刻度尺和第二刻度尺分别垂直设于印刷版1的相邻两边。
优选地，对比坐标凸设在印刷版1上，且高度不大于印刷版1上配向膜液的厚度。印刷版1将配向膜液印刷到基板上形成配向膜，转印坐标3位于基板的非显示区21，且转印坐标3与对比坐标相匹配吗，其数值及刻度一一对应。
本发明还提供一种基板2，基板2包括配向膜(图未示)，配向膜由印刷版1制成，配向膜上设有转印坐标3，转印坐标3匹配印刷版1上的对比坐标，并且转印坐标3位于基板2的非显示区域。优选地，转印坐标3为镂空的坐标。
本发明通过在印刷版的非显示区域上增加对比坐标，并将对比坐标转印在基板上，使印刷版治具和印刷后的基板都有坐标，通过快速匹配来提高异常处理效率，提高了点位坐标准确性，简化了人员查找异常点位流程，不需要手动测量坐标，节省了异常处理时间，防止长时间处理，带来其他异常，如异物携入、刮伤印刷版等。
应当说明的是，上述实施例均可根据需要自由组合。以上所述仅是本发明的优选实施方式，但是本发明并不限于上述实施方式中的具体细节，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在本发明的技术构思范围内，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，对本发明的技术方案进行多种等同变换，这些改进、润饰和等同变换也应视为本发明的保护范围。