技术特征：
技术总结
一种适用于非对称视场的拼接式相机的实验室检校方法，首先使用二维转台测量像高值和角度值，并对中心成像相机观测值赋权，采用精密测角法解算中心成像相机，进而计算中心不成像相机的观测值，然后对中心不成像相机观测值赋权，采用精密测角法解算中心不成像相机，最后通过得到的中心成像相机、中心不成像相机的内方位元素计算得到拼接式相机的整体内方位元素，完成适用于非对称视场的拼接式相机的实验室检校。
技术研发人员：钟灿;刘秀;李重阳;尚志鸣;文高进;李辰;王洪民
受保护的技术使用者：北京空间机电研究所
技术研发日：2018.10.17
技术公布日：2019.01.11