显示装置的制作方法

本公开涉及一种显示装置。

背景技术：

以往，提出了各种带有触摸面板的显示装置。近年来，为了实现显示装置整体的薄型化，提出了一种将触摸面板的功能嵌入到显示面板的内部的带有所谓内嵌型(in-cell)的触摸检测功能的显示装置。上述显示装置例如在专利文献1中被公开。另外，在专利文献1中公开了如下一种所谓自电容方式的触摸检测：在手指接近了显示面板时，探测在共用电极与手指之间产生的静电电容。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：美国专利申请公开第2016/0188063号说明书

技术实现要素：

发明要解决的问题

然而，在如上述专利文献1所公开那样的带有内嵌型的触摸检测功能且具有自电容方式的触摸检测功能的显示装置中，没有实现对用于检测触摸位置的多个共用电极间的电连接不良进行探测的结构。

本公开是鉴于这些问题而完成的，其目的在于在具有内嵌型且自电容方式的触摸检测功能的显示装置中实现对用于检测触摸位置的多个共用电极间的电连接不良进行探测的结构。

用于解决问题的方案

为了解决上述问题，本公开的显示装置包括：多条源极线，所述多条源极线沿第1方向延伸；多条栅极线，所述多条栅极线沿与所述第1方向交叉的第2方向延伸；多个像素电极，所述多个像素电极沿所述第1方向和所述第2方向排列；多个共用电极，所述多个共用电极与沿所述第1方向及所述第2方向排列的多个触摸区域分别对应地配置，且与所述多个像素电极相向地配置；多条传感器电极线，所述多条传感器电极线与所述多个共用电极的各个共用电极电连接；多条检查用信号线，所述多条检查用信号线经由多个检查用薄膜晶体管与所述多个共用电极的各个共用电极电连接；以及检查用栅极线，其与所述多个检查用薄膜晶体管的栅电极连接。

发明的效果

根据本公开所涉及的结构，能够在具有内嵌型且自电容方式的触摸检测功能的显示装置中实现对多个共用电极间的电连接不良进行探测的结构。

附图说明

图1是示出本公开的第1实施方式所涉及的显示装置的概要结构的示意性的俯视图。

图2是示出本公开的第1实施方式所涉及的显示面板的一个结构例的示意性的俯视图。

图3是示出本公开的第1实施方式所涉及的公共传感器驱动器的一个结构例的框图。

图4是示出本公开的第1实施方式的显示面板中的图2的a-a’截面的示意图。

图5是示出本公开的第1实施方式所涉及的检查电路的结构例的示意性的俯视图。

图6是示出本公开的第1实施方式所涉及的与检查电路连接的共用电极的配置例的示意性的俯视图。

图7是示出本公开的第1实施方式所涉及的与检查电路连接的共用电极的其它配置例的示意性的俯视图。

图8是示出本公开的第1实施方式所涉及的检查电路的其它结构例的示意性的俯视图。

图9是示出本公开的第1实施方式所涉及的与检查电路连接的共用电极的其它配置例的示意性的俯视图。

附图标记说明

100：显示装置；10：显示面板；11：源极线；12：传感器电极线；13：栅极线；14：薄膜晶体管；15：像素；16：像素电极；17：共用电极；18：通孔；cxy：共用电极；20：第1驱动电路；21：源极驱动器；22：公共传感器驱动器；221：共用电压生成部；222：传感器用电压生成部；223：定时控制部；224：监视器部；225：位置检测部；30：第2驱动电路；31：栅极驱动器；40：控制电路；50：检查电路；51：检查用信号线；52：检查用栅极线；53：检查用薄膜晶体管；200：薄膜晶体管基板；201：玻璃基板；202：第1绝缘膜；203：第2绝缘膜；204：第3绝缘膜；205：第4绝缘膜；206：第5绝缘膜；300：滤色器基板；301：玻璃基板；302：黑矩阵；400：液晶层。

具体实施方式

以下，使用附图来说明本公开的第1实施方式。图1是示出本公开的第1实施方式所涉及的显示装置100的概要结构的示意性的俯视图。显示装置100具备显示面板10、第1驱动电路20、第2驱动电路30、控制电路40、检查电路50、电源部(未图示)以及背光装置(未图示)。第1驱动电路20和第2驱动电路30也可以包括在显示面板10中。

在显示面板10中设置有沿第1方向延伸的多条源极线11、沿第1方向延伸的多条传感器电极线12以及沿与第1方向交叉的第2方向延伸的多条栅极线13。多条源极线11在第2方向上大致等间隔地配置，多条传感器电极线12在第2方向上大致等间隔地配置，多条栅极线13在第1方向上大致等间隔地配置。在各源极线11与各栅极线13的各交叉部设置有薄膜晶体管14。

第1驱动电路20包括向各源极线11输出数据信号(显示电压)的源极驱动器21以及向各传感器电极线12输出共用电压和传感器用电压的公共传感器驱动器22。源极驱动器21和公共传感器驱动器22既可以由1个ic(integratedcircuit：集成电路)构成，也可以由相互独立的2个ic构成。第2驱动电路30包括向各栅极线13输出栅极信号(扫描信号)的栅极驱动器31。

在显示面板10中，同各源极线11与各栅极线13的各交叉部对应地，沿第1方向和第2方向排列有多个像素15。详细情况后面描述，显示面板10包括薄膜晶体管基板、滤色器基板以及夹持在两基板之间的液晶层。在薄膜晶体管基板上，与各像素15对应地设置有像素电极16。即，像素电极16以沿第1方向和第2方向排列的方式配置。另外，在薄膜晶体管基板上，以对每多个像素15配置1个的比例，与多个像素电极16相向地配置有共用电极17。各共用电极17具有作为用于显示图像的电极的功能和作为用于检测触摸位置的电极(传感器电极)的功能。即，显示面板10具有图像显示功能和触摸检测功能。另外，共用电极17以与沿第1方向及第2方向排列的多个触摸区域分别对应的方式配置。

图2是示出第1实施方式所涉及的显示面板10的一个结构例的示意性的俯视图。在图2中，为了方便，省略了源极线11和源极驱动器21。在图2所示的例子中，以对在第1方向上包括4个像素15并在第2方向上包括4个像素15的共计16个像素15的每个集合配置1个的比例设置有多个共用电极17。此外，实际上也可以是例如以对每几百个像素15的集合配置1个的比例来设置共用电极17的结构，但为了便于图示，在图2中设为以对每16个像素15的集合配置1个的比例来设置共用电极17的结构。多个共用电极17分别具有大致相同的形状，且规则地排列。在俯视图中，各共用电极17与多条传感器电极线12重叠，经由通孔18与多条传感器电极线12中的1条传感器电极线12电连接。在图2所示的结构中，共用电极17a与3条传感器电极线12a、12b、12c重叠，经由通孔18a与其中的1条传感器电极线12a电连接。另外，共用电极17b与3条传感器电极线12a、12b、12c重叠，经由通孔18b与其中的1条传感器电极线12b电连接。

图3是示出第1实施方式所涉及的公共传感器驱动器22的一个结构例的框图。公共传感器驱动器22包括共用电压生成部221、传感器用电压生成部222、定时控制部223、监视器部224以及位置检测部225。公共传感器驱动器22的结构不限定于此，能够采用公知的结构。

共用电压生成部221生成图像显示用的共用电压(基准电压)。公共传感器驱动器22在向像素电极16提供数据信号(显示电压)的写入期间，经由传感器电极线12向共用电极17提供上述生成的共用电压。传感器用电压生成部222生成用于检测触摸位置的传感器用电压。公共传感器驱动器22在上述写入期间之后的非写入期间，将上述生成的传感器用电压经由传感器电极线12提供给共用电极17。定时控制部223基于从控制电路40接收的定时信号(水平同步信号、垂直同步信号)，来控制公共传感器驱动器22输出上述共用电压和上述传感器用电压的定时。监视器部224监视(测定)向共用电极17提供传感器用电压时的电流(电荷)。位置检测部225基于监视器部224的测定结果来检测触摸位置的坐标。此外，在图3中，位置检测部225设置在公共传感器驱动器22的内部，但也可以设置在控制电路40的内部。

在此，对触摸位置的检测方法的一例进行说明。显示装置100通过静电电容方式的自电容方式来进行触摸位置的检测。具体而言，当手指靠近显示面板10的表面时，在共用电极(传感器电极)17与手指之间产生静电电容。当产生静电电容时，共用电极17中的寄生电容增加，向共用电极17提供传感器用电压时的电流(电荷)增加。公共传感器驱动器22基于该电流(电荷)的变动量来检测向显示面板10接触的位置、即坐标。此外，通过自电容方式进行的触摸位置的检测方法能够应用公知的方法。另外，也可以在非显示期间进行触摸位置的检测。

接着，使用图4对显示面板10的截面构造的一例进行说明。显示面板10能够应用各种截面构造。此外，在本实施方式中，列举共用电极(传感器电极)17配置在像素电极16的下层(背面侧)的构造为例来进行说明，但也可以是共用电极(传感器电极)17配置在像素电极16的上层(显示面侧)的构造。

图4是示出第1实施方式所涉及的显示面板10中的、图2的a-a’截面的示意图。显示面板10包括薄膜晶体管基板200、滤色器基板300以及夹持在两基板之间的液晶层400。

在薄膜晶体管基板200中，在玻璃基板201上形成多条栅极线13(未图示)，以覆盖多条栅极线13的方式形成第1绝缘膜202，在第1绝缘膜202上形成多条源极线11，以覆盖多条源极线11的方式形成第2绝缘膜203，在第2绝缘膜203上形成第3绝缘膜204。第3绝缘膜204例如由以丙烯酸为主要成分的感光性的有机材料构成。在第3绝缘膜204上形成多个共用电极17，以覆盖多个共用电极17的方式形成第4绝缘膜205，在第4绝缘膜205的局部形成通孔18。在相邻的共用电极17之间配置有第4绝缘膜205，因此相邻的共用电极17彼此无法相互进行电连接。在第4绝缘膜205上以及通孔18内形成多条传感器电极线12，以覆盖多条传感器电极线12的方式形成第5绝缘膜206，在第5绝缘膜206上形成多个像素电极16。传感器电极线12形成在俯视时与源极线11重叠的位置。此外，传感器电极线12也可以形成在俯视时不与源极线11重叠的位置。例如，在俯视时，传感器电极线12既可以与源极线11横向地并排配置，也可以与源极线12局部重叠地配置。另外，在俯视时，薄膜晶体管基板200也可以混合地具有与源极线12重叠的传感器电极线12以及不与源极线12重叠的传感器电极线12。传感器电极线12经由通孔18与共用电极17电连接。由于在传感器电极线12与共用电极17之间配置有第4绝缘膜205，因此传感器电极线12无法与除经由通孔18同该传感器电极线12电连接的共用电极17以外的共用电极17进行电连接。在像素电极16中形成有狭缝。此外，虽然未图示，但在像素电极16上形成取向膜，在玻璃基板201的外侧形成偏振板。在像素电极16与共用电极17之间形成液晶电容。

在滤色器基板300中，在玻璃基板301上形成黑矩阵302。虽然未图示，但在玻璃基板301上形成滤色器，以覆盖该滤色器的方式形成外敷膜，在外敷膜上形成取向膜。在滤色器基板300的外侧形成偏振板。

显示装置100对液晶层400施加在像素电极16与共用电极17之间产生的电场以使液晶驱动，由此调整通过液晶层400的光的量来进行图像显示。

如使用图1在上面叙述的那样，本公开的显示装置100具备检查电路50，能够使用该检查电路50对上述的用于触摸检测的多个共用电极17间的电连接不良进行探测。

图5是示出本公开的第1实施方式所涉及的检查电路50的结构例的示意性的俯视图。另外，图6是示出第1实施方式所涉及的与检查电路50连接的共用电极17(共用电极c11～共用电极c56)的配置例的示意性的俯视图。

如图5所示，在检查电路50中包括多条检查用信号线51(检查用信号线51a～检查用信号线51f)、多条检查用栅极线52(检查用栅极线52a～检查用栅极线52e)以及多个检查用薄膜晶体管53。多条检查用信号线51经由多个检查用薄膜晶体管53以及沿第1方向延伸的多条传感器电极线12与多个共用电极17(共用电极c11～共用电极c56)电连接。图5中的共用电极17(共用电极c11～共用电极c56)的编号与图6中的共用电极17(共用电极c11～共用电极c56)的编号存在对应关系。多条检查用栅极线52与多个检查用薄膜晶体管53的栅电极连接，来控制检查用薄膜晶体管53的导通/截止。在本实施方式中，设为各检查用栅极线52分别与6个检查用薄膜晶体管53的栅电极连接的结构。此外，也可以设为多条检查用信号线51经由多条不同于传感器电极线12的布线与多个共用电极17连接的结构，但通过设为多条检查用信号线51经由多条传感器电极线12与多个共用电极17连接的结构，能够减少在显示面板10内延伸的布线的数量，因此是优选的。另外，通过设为多条检查用信号线51经由多条传感器电极线12与多个共用电极17连接的结构，能够检测由多条传感器电极线12的断线等引起的电连接不良。

在此，各共用电极cxy中的x的数字意味着该共用电极cxy与哪条检查用栅极线52连接。例如在x为1的情况下，意味着该共用电极cxy与检查用栅极线52a连接。在x为2的情况下，意味着该共用电极cxy与检查用栅极线52b连接。在x为3的情况下，意味着该共用电极cxy与检查用栅极线52c连接。在x为4的情况下，意味着该共用电极cxy与检查用栅极线52d连接。在x为5的情况下，意味着该共用电极cxy与检查用栅极线52e连接。

另外，各共用电极cxy中的y的数字意味着该共用电极cxy与哪条检查用信号线51连接。例如在y为1的情况下，意味着该共用电极cxy与检查用信号线51a连接。在y为2的情况下，意味着该共用电极cxy与检查用信号线51b连接。在y为3的情况下，意味着该共用电极cxy与检查用信号线51c连接。在y为4的情况下，意味着该共用电极cxy与检查用信号线51d连接。在y为5的情况下，意味着该共用电极cxy与检查用信号线51e连接。在y为6的情况下，意味着该共用电极cxy与检查用信号线51f连接。

如图6所示，多个共用电极17包括沿第1方向排列的多个共用电极17。在图6所示的例子中，作为第1列，多个共用电极17(共用电极c11～共用电极c55)沿第1方向排列，作为第2列，多个共用电极17(共用电极c12～共用电极c56)沿第1方向排列。另外，在图6所示的例子中，设为该第1列和第2列在显示面板10内在第2方向上重复配置的结构。

另外，如图6所示，多个共用电极17包括沿第2方向排列的多个共用电极17。在图6所示的例子中，例如2个共用电极17(共用电极c11和共用电极c12)以重复配置的方式沿第2方向排列。

如图5所示，多个检查用薄膜晶体管53经由沿第1方向延伸的多条传感器电极线12与多个共用电极17连接。图5所示的从左起第1条至第15条传感器电极线12与图6示出的第1列的多个共用电极17(共用电极c11～共用电极c55)连接，图5所示的从左起第16条至第30条传感器电极线12与图6示出的第2列的多个共用电极17(共用电极c12～共用电极c56)连接。图5所示的从左起第1条至第15条传感器电极线12以俯视时与图6所示的第1列的多个共用电极17(共用电极c11～共用电极c55)重叠的方式沿第1方向延伸，例如，图5所示的从左起第1条传感器电极线12与图6所示的共用电极c11连接，图5所示的从左起第15条传感器电极线12与图6所示的共用电极c55连接。同样地，图5所示的从左起第16条至第30条传感器电极线12以俯视时与图6所示的第2列的多个共用电极17(共用电极c12～共用电极c56)重叠的方式沿第1方向延伸，例如，图5所示的从左起第16条传感器电极线12与图6所示的共用电极c12连接，图5所示的从左起第30条传感器电极线12与图6所示的共用电极c56连接。

如图5所示，沿第1方向排列的多个共用电极17(例如，共用电极c11～共用电极c55)分别与不同的检查用薄膜晶体管53连接。另外，如图5所示，在第2方向上相邻的多个共用电极17(例如共用电极c11、共用电极c12)分别与不同的检查用薄膜晶体管53连接。

并且，在第1方向上相邻的2个共用电极17(例如，共用电极c11和共用电极c13)分别与不同的检查用信号线51连接。例如图6所示的共用电极c11与共用电极c13处于在第1方向上彼此相邻的关系，如图5所示，共用电极c11与检查用信号线51a连接，共用电极c13与检查用信号线51c连接。不仅共用电极c11与共用电极c13之间满足该关系，而且沿第1方向排列的多个共用电极17(例如共用电极c11～共用电极c55)全部满足该关系。

另外，在第2方向上相邻的2个共用电极17(例如共用电极c11和共用电极c12)分别与不同的检查用信号线51连接。例如，图6所示的共用电极c11与共用电极c12处于在第2方向上彼此相邻的关系，如图5所示，共用电极c11与检查用信号线51a连接，共用电极c12与检查用信号线51b连接。不仅共用电极c11与共用电极c12之间满足该关系，而且沿第2方向排列的多个共用电极17全部满足该关系。

并且，在本实施方式中设为以下结构：对多个共用电极17中包括的第1共用电极(例如共用电极c14)连接了检查用信号线51中的与连接于在该第1共用电极(例如共用电极c14)的周围相邻地配置的其它共用电极17的检查用信号线51不同的检查用信号线51。例如，在将共用电极c14设为第1共用电极的情况下，作为在共用电极c14的周围相邻地配置的共用电极17，包括合计8个共用电极(2个共用电极c11、1个共用电极c12、2个共用电极c13、2个共用电极c15、1个共用电极c16)。作为第1共用电极的共用电极c14如图5所示那样经由检查用薄膜晶体管53与检查用信号线51d连接。与此相对地，共用电极c11经由检查用薄膜晶体管53与检查用信号线51a连接，共用电极c12经由检查用薄膜晶体管53与检查用信号线51b连接，共用电极c13经由检查用薄膜晶体管53与检查用信号线51c连接，共用电极c15经由检查用薄膜晶体管53与检查用信号线51e连接，共用电极c16经由检查用薄膜晶体管53与检查用信号线51f连接。即，设为以下结构：在将共用电极c14设为第1共用电极的情况下，对在共用电极c14的周围相邻地配置的共用电极17连接除共用电极c14经由检查用薄膜晶体管53连接的检查用信号线51a以外的检查用信号线51。

此外，在本实施方式中，设为对检查用信号线51a、51d、51e施加相同极性的信号的结构。另外，设为对检查用信号线51b、51c、51f施加相同极性的信号的结构，并且，设为对检查用信号线51a和检查用信号线51b施加相反极性的信号的结构。作为具体例，设为以下结构：在对检查用信号线51a、51d、51e施加+5v的信号时，对检查用信号线51b、51c、51f施加-5v的信号。

而且，设为使经由多条检查用信号线51对在第1方向上相邻的2个共用电极17(例如共用电极c11和共用电极c13)施加的信号的极性互不相同的结构。例如，共用电极c11经由检查用薄膜晶体管53与检查用布线51a连接。而且，如图6所示，在第1方向上与共用电极c11相邻的共用电极c13经由检查用薄膜晶体管53与检查用布线51c连接。如上所述，由于是对检查用布线51a和检查用布线51c施加相反极性的信号的结构，因此对在第1方向上相邻的共用电极c11和共用电极c13施加相反极性的信号。

另外，设为使经由多条检查用信号线51对在第2方向上相邻的2个共用电极17(例如共用电极c11和共用电极c12)施加的信号的极性互不相同的结构。例如，共用电极c11经由检查用薄膜晶体管53与检查用布线51a连接。而且，如图6所示，在第2方向上与共用电极c11相邻的共用电极c12经由检查用薄膜晶体管53与检查用布线51b连接。如上所述，由于是对检查用布线51a和检查用布线51b施加相反极性的信号的结构，因此对在第2方向上相邻的共用电极c11和共用电极c12施加相反极性的信号。

此外，在本实施方式中设为以下结构：与沿第1方向排列的多个共用电极17(例如共用电极c11～共用电极c55)中包括的第1共用电极连接的检查用栅极线52和检查用信号线51的组合不同于与沿第1方向排列的多个共用电极17中包括的其它共用电极17连接的检查用栅极线52和检查用信号线51的组合。例如设为以下结构：虽然共用电极c11与检查用栅极线52a及检查用信号线51a连接，但在图6示出的第1列所包括的其它共用电极17中不存在与检查用栅极线52a及检查用信号线51a这两方连接的共用电极17。如上所述，各共用电极cxy中的x的数字意味着该共用电极cxy与哪条检查用栅极线52连接，各共用电极cxy中的y的数字意味着该共用电极cxy与哪条检查用信号线51连接。因而，设为以下结构：在图6示出的第1列中不存在各共用电极cxy中的x的数字和y的数字这两方相同的共用电极。

通过设为这样的结构，能够高精度地探测沿第1方向排列的多个共用电极17间的电连接不良。例如，对于第1列中包括的多个共用电极17而言，在所连接的检查用栅极线52和检查用信号线51的组合相同的共用电极17为2个以上的情况下，以相同的定时对这2个以上的共用电极17输入相同的检查用信号，但如果是本实施方式的结构，则对于沿第1方向排列的多个共用电极17，不会以相同的定时输入相同的检查用信号。其结果，能够高精度地探测第1方向上的多个共用电极17间的电连接不良。

另外，在本实施方式中设为以下结构：与在第2方向上相邻的2个共用电极17(例如共用电极c11和共用电极c12)中的一方(例如共用电极c11)连接的检查用栅极线52和检查用信号线51的组合不同于与在第2方向上相邻的2个共用电极17(例如共用电极c11和共用电极c12)中的另一方(例如共用电极c12)连接的检查用栅极线52和检查用信号线51的组合。即，在图6中设为以下结构：对于在第2方向上相邻的2个共用电极cxy而言，各共用电极cxy中的x的数字和y的数字中的至少任一方不同。

接着，关于具有上述检查电路50的显示装置100，以下说明对用于触摸检测的多个共用电极17间的电连接不良进行探测的方法。

首先，作为第1步骤，向图5示出的检查用栅极线52a输入用于使检查用薄膜晶体管53成为导通状态的晶体管控制信号。由此，以介于检查用栅极线52a与共用电极c11、c12、c13、c14、c15、c16之间的方式连接的检查用薄膜晶体管53成为导通状态。

接着，作为第2步骤，向各检查用信号线51输入检查用信号。如上所述，在本实施方式中，设为对检查用信号线51a、51d、51e施加相同极性的信号的结构。另外，设为对检查用信号线51b、51c、51f施加相同极性的信号的结构，并且设为对检查用信号线51a和检查用信号线51b施加相反极性的信号的结构。因此，在对检查用信号线51a、51d、51e施加+5v的信号时，对检查用信号线51b、51c、51f施加-5v的信号。

在该第2步骤中，与共用电极17相向地配置的多个像素电极16的电位例如预先成为0v的状态。因而，随着上述检查用信号的输入，在各共用电极17与像素电极16之间产生电位差，在用各共用电极17定义的触摸区域中驱动液晶，由此液晶层400的光的量发生变化从而显示图像。通过检查该图像的显示状态，能够探测多个共用电极17间的电连接不良。

例如，在由于在各种布线(例如传感器电极线12)与共用电极17之间存在灰尘等原因而导致在共用电极c11与共用电极c13之间发生短路的情况下，对共用电极c11施加的信号与对共用电极c13施加的信号由于极性相反而相互抵消，从而共用电极c11的电位与共用电极c13的电位互为0v。因此，在共用电极c11与多个像素电极16之间以及在共用电极c13与多个像素电极16之间不会产生电位差，液晶未被驱动。因此，液晶层400的光的量不变化，不显示期望的图像。这样，能够探测多个共用电极17之间的电连接不良。

接着，作为第3步骤，向检查用栅极线52a输入用于使检查用薄膜晶体管53成为截止状态的晶体管控制信号。由此，以介于检查用栅极线52a与共用电极c11、c12、c13、c14、c15、c16之间的方式连接的检查用薄膜晶体管53成为截止状态。

然后，作为第4步骤，向检查用栅极线52b输入用于使检查用薄膜晶体管53成为导通状态的晶体管控制信号。由此，以介于检查用栅极线52b与共用电极c21、c22、c23、c24、c25、c26之间的方式连接的检查用薄膜晶体管53成为导通状态。

接着，与上述第2步骤同样地，作为第5步骤，向各检查用信号线51输入检查用信号。在该第5步骤中，与共用电极17相向地配置的多个像素电极16的电位例如预先成为0v的状态。因而，随着上述检查用信号的输入，在各共用电极17与像素电极16之间产生电位差，在用各共用电极17定义的触摸区域中驱动液晶，由此液晶层400的光的量发生变化，从而显示图像。通过检查该图像的显示状态，能够探测多个共用电极17间的电连接不良。

例如，在由于在各种布线(例如传感器电极线12)与共用电极17之间存在灰尘等原因而导致在共用电极c22与共用电极c21之间发生短路的情况下，对共用电极c22施加的信号与对共用电极c21施加的信号由于极性相反而相互抵消，共用电极c22的电位和共用电极c21的电位互为0v。因此，在共用电极c22与多个像素电极16之间以及在共用电极c21与多个像素电极16之间不产生电位差，液晶未被驱动。因此，液晶层400的光的量不变化，不显示期望的图像。这样，能够探测多个共用电极17之间的电连接不良。

之后，作为第6步骤，向检查用栅极线52b输入用于使检查用薄膜晶体管53成为截止状态的晶体管控制信号。由此，以介于检查用栅极线52b与共用电极c21、c22、c23、c24、c25、c26之间的方式连接的检查用薄膜晶体管53成为截止状态。

这样，通过重复进行向检查用栅极线52输入用于使检查用薄膜晶体管53成为导通状态的晶体管控制信号的步骤、向检查用信号线51输入检查用信号的步骤以及向检查用栅极线52输入用于使检查用薄膜晶体管53成为截止状态的晶体管控制信号的步骤，能够探测所有触摸区域中的多个共用电极17间的电连接不良。

此外，在重复进行上述的步骤时，期望将向检查用信号线51输入的检查用信号的极性设为与上次施加的检查用信号的极性相反的极性。例如，在上述的第2步骤中，在对检查用信号线51a、51d、51e施加+5v的信号而对检查用信号线51b、51c、51f施加-5v的信号的情况下，在接着向检查用信号线51输入检查用信号时，期望对检查用信号线51a、51d、51e施加-5v的信号，对检查用信号线51b、51c、51f施加+5v的信号。通过设为这样的方法，能够抑制液晶层400中包含的液晶分子的劣化。

此外，在本实施方式中设为以下结构：检查电路50包括多条检查用栅极线52，多个检查用薄膜晶体管53的栅电极与多条检查用栅极线52中的任一条检查用栅极线52连接，但也可以如图8所示那样设为以下结构：检查电路50仅包括一条检查用栅极线52。

但是，为了高精度地探测第1列中包括的多个共用电极17间的电连接不良，期望使与第1列中包括的多个共用电极17连接的检查用信号线51全部不同。因此，在检查电路50仅包括一条检查用栅极线52、在第1列中包括的多个共用电极17例如存在15个的情况下，期望如图8所示那样设置15条检查用信号线51。

在图8所示的结构中，对从上数第奇数个配置的检查用信号线51施加例如+5v的检查用信号，对从上数第偶数个配置的检查用信号线51施加例如-5v的检查用信号。

而且，如图9所示那样设为以下结构：在配置在第1列的第1行的共用电极17是与从上数第奇数个(例如第1个)配置的检查用信号线51(例如检查用信号线51a)连接的共用电极c101的情况下，在第1方向上与共用电极c101相邻的共用电极c102连接于从上数第偶数个(例如第2个)配置的检查用信号线51(例如检查用信号线51b)。通过设为这样的结构，能够使对在第1方向上相邻的2个共用电极17(例如共用电极c101和共用电极c102)施加的检查用信号的极性相反。

而且，如图9所示那样设为以下结构：在配置在第1列的共用电极17是与从上数第奇数个(例如第1个)配置的检查用信号线51(例如检查用信号线51a)连接的共用电极c101的情况下，配置在第2列且在第2方向上与共用电极c101相邻的共用电极c104连接于从上数第偶数个(例如第4个)配置的检查用信号线51(例如检查用信号线51d)。通过设为这样的结构，能够使对在第2方向上相邻的2个共用电极17(例如共用电极c101和共用电极c104)施加的检查用信号的极性相反。

另外，在图8、图9示出的实施例中也能够设为以下结构：与沿第1方向排列的多个共用电极17(例如共用电极c101～共用电极c115)中包括的第1共用电极(例如共用电极c101)连接的检查用栅极线52和检查用信号线51的组合不同于与沿第1方向排列的多个共用电极17(例如共用电极c101～共用电极c115)中包括的其它共用电极17连接的检查用栅极线52和检查用信号线51的组合。例如设为以下结构：共用电极c101与图8所示的配置在最上面的检查用信号线51a连接，但在图9示出的第1列中包括的其它共用电极17中不存在与检查用信号线51a连接的共用电极17。即，在图8、图9所示的结构中设为以下结构：由于仅存在1条检查用栅极线52，因此对于沿第1方向排列的多个共用电极17而言，所连接的检查用信号线51完全不同。

另外，在图8、图9所示的实施例中也能够设为以下结构：与在第2方向上相邻的2个共用电极17(例如共用电极c101和共用电极c104)中的一方(共用电极c101)连接的检查用栅极线52和检查用信号线51的组合不同于与在第2方向上相邻的2个共用电极(例如共用电极c101和共用电极c104)中的另一方(共用电极c104)连接的检查用栅极线52和检查用信号线51的组合。即，在图8、图9所示的结构中设为以下结构：由于仅存在一条检查用栅极线52，因此对于在第2方向上相邻的2个共用电极17而言，所连接的检查用信号线51不同。即，在图9中设为以下结构：对于在第2方向上相邻的2个共用电极cxy而言，各共用电极cxy中的y的数字不同。此外，在图9中，用1位数表示x，用两位数表示y。

但是，如上所述，在图8所示的结构中，在第1列中包括的多个共用电极17例如存在15个的情况下，如图8所示，期望设置15条检查用信号线51。因此，检查用信号线51和检查用栅极线52的总条数为16条，检查电路50的小面积化以及显示面板中的边框区域的小面积化变得困难。

与此相对地，如图5所示，检查电路50包括多条检查用栅极线52，通过设为多个检查用薄膜晶体管53的栅电极与多条检查用栅极线52中的任一条检查用栅极线52连接的结构，能够减少检查用信号线51和检查用栅极线52的总条数。即，为了探测第1列中包括的多个共用电极17之间的电连接不良而使与各共用电极17连接的检查用信号线51和检查用栅极线52的组合不同，因此检查用信号线51的数量与检查用栅极线52的数量之积为第1列中包括的共用电极17的数量以上即可。因而，在第1列中包括的共用电极17的数量为15个的本实施方式中，例如如果检查用栅极线52为3条、检查用信号线51为5条，则它们的积为15，能够探测第1列中包括的多个共用电极17间的电连接不良。即，如果是检查用信号线51和检查用栅极线52的总条数为最小限度的结构，则只要是8条即可。此外，在第1列中包括的共用电极17的数量为n个的情况下，如果准备接近n(1/2)的整数条的检查用信号线51以及为接近n(1/2)的整数且与检查用信号线51的条数之积为n的条数的检查用栅极线52，则能够使检查用信号线51和检查用栅极线52的总条数为较小的值。

但是，在本实施方式中，为了设为使包括检查用信号线51a在内的被输入与检查用信号线51a相同极性的检查用信号的检查用信号线51的数量等同于被输入与检查用信号线51a相反极性的检查用信号的检查用信号线51的数量的结构，构成为设置6条检查用信号线51以使检查用信号线51的数量为偶数条，且对2列共用电极17输入检查用信号。这样，通过设为使被输入其中一个极性的检查用信号的检查用信号线51的数量与被输入另一个极性的检查用信号的检查用信号线51的数量相同的结构，即使向各检查用信号线51输入检查用信号而产生了电荷，也能够设为使在显示面板10内产生的电荷整体上抵消的结构，从而能够抑制显示不均。

此外，在图6所示的结构中示出了以下结构：作为第1列，沿第1方向排列多个共用电极17(共用电极c11～共用电极c55)，作为第2列，沿第1方向排列多个共用电极17(共用电极c12～共用电极c56)，该第1列和第2列在显示面板10内在第2方向上重复配置，但本公开不限定于这种结构。

例如，在图7所示的结构中设为以下结构：作为第1列，沿第2方向排列多个共用电极17(共用电极c11～共用电极c55)，作为第2列，沿第2方向排列多个共用电极17(共用电极c12～共用电极c56)。而且，设为该第1列和第2列在显示面板10内在第1方向上重复配置的结构。

在这样的图7所示的结构中，设为以下结构即可：与沿第2方向排列的多个共用电极17(例如共用电极c11～共用电极c55)中包括的第1共用电极连接的检查用栅极线52和检查用信号线51的组合不同于与沿第2方向排列的多个共用电极17中包括的其它共用电极17连接的检查用栅极线52和检查用信号线51的组合。例如设为以下结构：共用电极c11与检查用栅极线52a及检查用信号线51a连接，但在图7示出的沿第2方向排列的第1列中包括的其它共用电极17中，不存在与检查用栅极线52a及检查用信号线51a这两方连接的共用电极17。如上所述，各共用电极cxy中的x的数字意味着该共用电极cxy与哪条检查用栅极线52连接，各共用电极cxy中的y的数字意味着该共用电极cxy与哪条检查用信号线51连接。因而设为以下结构即可：在图7示出的第1列中不存在各共用电极cxy中的x的数字和y的数字这两方相同的共用电极。

以上，对本发明的实施方式进行了说明，但本发明不限定于上述各实施方式，在不脱离本发明的主旨的范围内，本领域技术人员根据上述各实施方式适当地变更所得到的方式也包含在本发明的保护范围内，这是不言而喻的。