一种基于双探测器的激光发射光轴校正装置的制作方法

本发明涉及光电系统中的精密光轴调节技术领域，更具体的说是涉及一种基于双探测器的激光发射光轴校正装置。

背景技术：

在当前光电技术领域中，需要对观测目标进行激光照明和激光干扰，这需要将激光发射光轴校正到被观测目标同轴，在射击等场合以提高对准精度。现有的同轴检测一般基于图像识别，譬如申请号为201621252195.x的“一种新型测距瞄准镜光轴校正仪”，其包括球面反射镜、光管组件、靶标、ccd相机等，球面反射镜将被校产品发射的光聚到靶面上，光管组件可移动，ccd相机接收靶标十字线的像，将十字线的像调至ccd图像采集窗口的中央，实现矫正。采用该方式，其结构复杂，且基于ccd相机进行矫正，其成本高。

技术实现要素：

本发明为了解决上述技术问题提供一种基于双探测器的激光发射光轴校正装置。

本发明通过下述技术方案实现：

一种基于双探测器的激光发射光轴校正装置，包括光斑探测模块和目标观测模块，

所述光斑探测模块包括依次同轴设置光源、聚光镜、分划板、准直物镜，所述光斑探测模块还包括将分划板的部分光线汇聚至光斑探测器上的分光器件；

所述目标观测模块包括激光器、将激光器部分光源分至准直物镜光源路线中的第二分光镜和依次与准直物镜同轴设置的第二成像物镜、物体探测器，所述激光器安装在位置角度调整装置上。

本方案基于双探测器，分划板作为基准目标，光源、聚光镜、分划板、准直物镜、第二成像物镜、物体探测器同轴，通过调整激光器的光源在光斑探测器上的位置与光源在光斑探测器上的位置重合，即可实现同轴矫正，即激光器指向位置为目标位置，整个装置采用光学元件构成，其成本低，可调精度高。

本发明与现有技术相比，具有如下的优点和有益效果：

1、本发明基于双探测器，分划板作为基准，通过调整激光器的光源在光斑探测器上的位置与光源在光斑探测器上的位置重合，即可实现同轴矫正，整个装置采用光学元件构成，其成本低，可调精度高。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明实施例的进一步理解，构成

本技术：
的一部分，并不构成对本发明实施例的限定。

图1为本发明的结构示意图。

图中附图标记的名称分别为：

1、光源；2、聚光镜；3、第一分光镜；4、第一成像物镜；5、分划板；6、准直物镜；7、第二分光镜；8、第二成像物镜；9、光斑探测器；10、物体探测器；11、激光器。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施例和附图，对本发明作进一步的详细说明，本发明的示意性实施方式及其说明仅用于解释本发明，并不作为对本发明的限定。

实施例1

如图1所示的一种基于双探测器的激光发射光轴校正装置，包括光斑探测模块和目标观测模块。

光斑探测模块包括依次设置的光源1、聚光镜2、分光器件、分划板5、准直物镜6；目标观测模块包括激光器11、第二成像物镜8、物体探测器10、第二分光镜7，第二分光镜7、第二成像物镜8、物体探测器10依次设置；其中，光源1、聚光镜2、分划板5、准直物镜6、第二成像物镜8、物体探测器10同轴设置。第二分光镜7置于准直物镜6、第二成像物镜8之间，将激光器11部分光线分至准直物镜6。激光器11安装在位置角度调整装置上。

分光器件可采用第一分光镜3、第一成像物镜4，分光器件将分划板5的部分光线汇聚至光斑探测器9上。具体的，第一分光镜3可采用半反半透镜。

具体的，整个装置的矫正原理如下：

如图1所示，被观测目标和激光器分别置于光源、物体探测器10所在直线两侧。光源发出的光线经聚光镜汇聚后照射在分划板5上，分划板成为光斑探测模块的基准物。由于光源1、聚光镜2、分划板5、准直物镜6、第二成像物镜8、物体探测器10同轴设置，分划板发出的光线经准直物镜6准直后经第二成像物镜8聚焦至物体探测器10上，分划板反射的部分光线经第一分光镜3、第一成像物镜4汇聚后在光斑探测器9上成像。

激光器发出激光，经第二分光镜7后部分光照射至目标位置即被观测目标，另一部分光被分至准直物镜6，再依次经分划板5、第一分光镜3、第一成像物镜4后在光斑探测器9上成像，调整位置角度调整装置，使激光器在光斑探测器9上的成像与光源在光斑探测器9上的成像重合，此时，激光器指向位置即为目标位置。

以上所述的具体实施方式，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施方式而已，并不用于限定本发明的保护范围，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

技术特征：

1.一种基于双探测器的激光发射光轴校正装置，其特征在于，包括光斑探测模块和目标观测模块，

所述光斑探测模块包括依次同轴设置光源（1）、聚光镜（2）、分划板（5）、准直物镜（6），所述光斑探测模块还包括将分划板（5）的部分光线汇聚至光斑探测器（9）上的分光器件；

所述目标观测模块包括激光器（11）、将激光器（11）部分光源分至准直物镜（6）光源路线中的第二分光镜（7）和依次与准直物镜（6）同轴设置的第二成像物镜（8）、物体探测器（10），所述激光器（11）安装在位置角度调整装置上。

2.根据权利要求1所述的一种基于双探测器的激光发射光轴校正装置，其特征在于，所述分光器件包括置于聚光镜（2）和分划板（5）之间的第一分光镜（3）、将第一分光镜（3）分出的光线汇聚到光斑探测器（9）的第一成像物镜（4）。

3.根据权利要求2所述的一种基于双探测器的激光发射光轴校正装置，其特征在于，所述第一分光镜（3）为半反半透镜。

技术总结
本发明公开了一种基于双探测器的激光发射光轴校正装置，包括光斑探测模块和目标观测模块，光斑探测模块包括依次同轴设置光源、聚光镜、分划板、准直物镜，光斑探测模块还包括将分划板的部分光线汇聚至光斑探测器上的分光器件，光斑探测器的中心光轴与聚光镜的轴垂直；目标观测模块包括激光器、将激光器部分光源分至准直物镜光源路线中的第二分光镜和依次与准直物镜同轴设置的第二成像物镜、物体探测器，所述激光器安装在位置角度调整装置上。该装置基于双探测器，分划板作为基准，通过调整激光器的光源在光斑探测器上的位置与光源在光斑探测器上的位置重合，即可实现同轴矫正，整个装置采用光学元件构成，其成本低，可调精度高。

技术研发人员：杨博;宋伟红;高大华
受保护的技术使用者：四川中科朗星光电科技有限公司
技术研发日：2020.03.17
技术公布日：2020.05.08