熔接系统、熔接装置以及劣化判定方法与流程

1.本公开涉及熔接系统、熔接装置以及劣化判定方法。
2.本技术主张基于2020年4月30日申请的日本技术第2020－080375号的优先权，并援引记载于所述日本技术的全部记载内容。


背景技术：

3.在专利文献1中记载了熔接装置和熔接机的保养管理方法。熔接装置具备：熔接机，用于将光纤彼此熔接；以及数据管理终端机，经由i/o(input/output：输入/输出)电缆连接于熔接机。熔接机具备进行光纤的熔合的放电部。放电部具有对置配置于载置作为熔合对象的两根光纤的载台的一对电极，通过在一对电极之间施加电压而致使放电来将这两根光纤熔合。
4.现有技术文献
5.专利文献
6.专利文献1：日本特开2003－287643号公报


技术实现要素：

7.一个实施方式的熔接系统具备：熔接装置，具有通过放电来进行光纤的熔接的第一电极和第二电极以及向第一电极输出控制信号并且从第二电极接收控制信号的反馈信号的放电电路；以及劣化判定部，根据反馈信号的状态来判定第一电极和第二电极是否已劣化。
8.一个实施方式的熔接装置具备：第一电极和第二电极，通过放电来进行光纤的熔接；放电电路，向第一电极输出控制信号，并且从第二电极接收控制信号的反馈信号；以及信号监视器，监控反馈信号，并且根据反馈信号的状态来判定第一电极和第二电极是否已劣化。
9.一个实施方式的劣化判定方法是判定通过放电来进行光纤的熔接的第一电极和第二电极有无劣化的劣化判定方法，具备以下过程：向第一电极输出控制信号；从第二电极接收控制信号的反馈信号；以及根据反馈信号的状态来判定第一电极和第二电极是否已劣化。
附图说明
10.图1是表示一个实施方式的熔接装置的立体图。
11.图2是表示图1的熔接装置的防风罩被打开的状态的立体图。
12.图3是表示图1的熔接装置的一对电极棒、放电电路以及信号监视器的图。
13.图4是示意性地表示由信号监视器监控到的控制信号和正常的反馈信号的图。
14.图5是示意性地表示由信号监视器监控到的控制信号和异常的反馈信号的图。
15.图6是表示一个实施方式的熔接系统的构成的框图。
16.图7是表示一个实施方式的劣化判定方法的过程的例子的流程图。
17.图8是表示变形例的熔接系统的构成的框图。
18.图9是表示变形例的熔接系统的构成的框图。
具体实施方式
19.再者，对于熔接装置的一对电极，当长期地持续使用时，有时会劣化。例如，当反复进行熔合放电时，由于电极的污垢等，放电会变得不稳定。作为对熔接装置的电极的劣化进行判断的方法，可列举出电极的使用次数。然而，在通过电极的使用次数来进行电极的劣化判定的情况下，有时会无法高精度地进行电极的劣化判定。因此，在电极的劣化状态的判定精度的方面有改进的空间。
20.本公开的目的在于提供能高精度地判定电极的劣化状态的熔接系统、熔接装置以及劣化判定方法。
21.根据本公开，能高精度地判定电极的劣化状态。
22.[实施方式的说明]
[0023]
首先，列举本公开的实施方式来进行说明。一个实施方式的熔接系统具备：熔接装置，具有通过放电来进行光纤的熔接的第一电极和第二电极以及向第一电极输出控制信号并且从第二电极接收控制信号的反馈信号的放电电路；以及劣化判定部，根据反馈信号的状态来判定第一电极和第二电极是否已劣化。
[0024]
一个实施方式的熔接装置具备：第一电极和第二电极，通过放电来进行光纤的熔接；放电电路，向第一电极输出控制信号，并且从第二电极接收控制信号的反馈信号；以及信号监视器，监控反馈信号，并且根据反馈信号的状态来判定第一电极和第二电极是否已劣化。
[0025]
一个实施方式的劣化判定方法是判定通过放电来进行光纤的熔接的第一电极和第二电极有无劣化的劣化判定方法，具备以下过程：向第一电极输出控制信号；从第二电极接收控制信号的反馈信号；以及根据反馈信号的状态来判定第一电极和第二电极是否已劣化。
[0026]
在前述的熔接系统、熔接装置以及劣化判定方法中，向第一电极输出控制信号，从第二电极输出该控制信号的反馈信号。然后，根据反馈信号的状态来判定第一电极和第二电极是否已劣化。因此，能将控制信号的反馈信号有效利用于第一电极和第二电极的劣化的判定。在第一电极和第二电极中的至少任一个产生了劣化时，伴随控制信号的输出而得到的反馈信号不追随该控制信号。“追随控制信号”例如表示反馈信号所表示的值成为与控制信号所表示的值对应的值。例如，在第一电极和第二电极未劣化时，反馈信号的值成为使控制信号的值的正负相反后的值，反馈信号追随控制信号。即，反馈信号的值成为与控制信号的值对应的值(作为一个例子，反馈信号的值成为使控制信号的值的正负反转后的值)。此时，例如，反馈信号的波形被显示为使控制信号的波形反转后的波形。“不追随”表示反馈信号的值成为不与控制信号的值对应的值。此时，例如，反馈信号的波形被显示为使控制信号的波形反转后的波形以外的波形。在前述的熔接系统、熔接装置以及劣化判定方法中，利用该反馈信号的特性来进行电极的劣化判定，因此能容易且高精度地进行电极的劣化判定。
[0027]
也可以是，劣化判定部根据控制信号的状态和反馈信号的状态这双方来判定第一电极和第二电极是否已劣化。在该情况下，能与控制信号的状态对比地判定反馈信号的状态，因此能容易且更高精度地进行反馈信号的状态判定。“信号的状态”表示信号所表示的值的转变。在如上述那样根据控制信号的状态和反馈信号的状态这双方来进行第一电极和第二电极的劣化判定的情况下，能更高精度地进行电极的劣化判定。
[0028]
在前述的熔接系统、熔接装置以及劣化判定方法中，也可以具备对多个反馈信号的每一个判定是否异常的信号判定部。也可以是，劣化判定部基于被信号判定部判定为异常的反馈信号的数量来判定第一电极和第二电极是否已劣化。在该情况下，基于被信号判定部判定为异常的反馈信号的数量来进行电极的劣化判定，因此能容易地进行电极的劣化判定。此外，使用信号判定部对多个反馈信号判定有无异常的结果来进行电极的劣化判定，由此能更加高精度地进行电极的劣化判定。
[0029]
也可以是，劣化判定部根据反馈信号的电压值的状态来判定第一电极和第二电极是否已劣化。在该情况下，能使用在进行信号处理时易于处理的电压信号来进行反馈信号的状态判定。由此，能更容易地进行反馈信号的判定和电极的劣化判定。
[0030]
[实施方式的详情]
[0031]
对本公开的实施方式的熔接系统、熔接装置以及劣化判定方法的具体例进行说明。在附图的说明中，对相同或相应的要素标注相同的附图标记，适当省略重复的说明。此外，对于附图，为了容易理解，有时将一部分简化或夸张，尺寸比率等不限定于附图所记载的内容。
[0032]
图1是表示本公开的一个实施方式的熔接装置1的立体图。图2是表示熔接装置1的防风罩6被敞开的状态的立体图。熔接装置1是将光纤彼此熔接的装置，具备箱状的壳体2。在壳体2的上部设有：熔合部3，将光纤彼此熔合；以及加热器4，使包覆在通过熔合部3熔合后的光纤的熔接部的纤维加强套管加热收缩。熔接装置1具备监视器5，该监视器5显示由配置于壳体2的内部的摄像机拍摄到的光纤彼此的熔接的状态。而且，熔接装置1具备防止风进入熔合部3的防风罩6。
[0033]
熔合部3具备：保持器载置部，能载置一对光纤保持器3a；一对纤维定位部3b；以及第一电极3c1和第二电极3c2，进行放电。第一电极3c1和第二电极3c2分别也被称为电极棒。作为熔合对象的光纤分别被光纤保持器3a保持，各光纤保持器3a被载置并固定于保持器载置部。纤维定位部3b配置于光纤保持器3a彼此之间，对固定于各光纤保持器3a的光纤的顶端部进行定位。第一电极3c1和第二电极3c2配置于纤维定位部3b彼此之间。第一电极3c1和第二电极3c2分别是用于通过电弧放电来将光纤的顶端彼此熔合的电极。
[0034]
防风罩6以开闭自如地覆盖熔合部3的方式连结于壳体2。防风罩6具有一对侧面6a。在防风罩6的各侧面6a形成有用于向熔合部3导入光纤的导入口6b。从导入口6b导入的光纤到达熔合部3的光纤保持器3a，并被光纤保持器3a保持。
[0035]
图3是示意性地表示针对第一电极3c1和第二电极3c2的信号电路的图。如图3所示，熔合部3还具有：放电电路3d，进行向第一电极3c1和第二电极3c2的放电；高压单元3f；以及信号监视器3g，监测针对第一电极3c1和第二电极3c2的信号。对于放电电路3d，当接收到进行光纤的熔合的意思的控制信号s1时，经由高压单元3f向第一电极3c1施加高电压。通过向第一电极3c1施加高电压，在第一电极3c1与第二电极3c2之间产生电弧放电。伴随向第
一电极3c1施加高电压和电弧放电，产生从第二电极3c2朝向放电电路3d的反馈信号s2(点火信号)。信号监视器3g监控反馈信号s2和向放电电路3d的控制信号s1。
[0036]
图4是示意性地表示由信号监视器3g监控到的控制信号s1和反馈信号s2的图。如图4所举例说明的那样，信号监视器3g例如包括作为信号显示装置的示波器3h，控制信号s1和反馈信号s2显示于示波器3h。在第一电极3c1和第二电极3c2的状态正常的情况下，伴随控制信号s1的输出，反馈信号s2迅速地追随控制信号s1，在信号监视器3g中得到稳定的反馈信号s2的波形。此时，反馈信号s2所表示的值成为与控制信号s1所表示的值对应的值(作为一个例子，反馈信号s2所表示的值成为使控制信号s1所表示的值的正负相反后的值)。
[0037]
与之相对，如图5所举例说明的那样，在第一电极3c1和第二电极3c2中的至少任一个产生了劣化的情况下，伴随控制信号s1的输出，反馈信号s2不立即追随控制信号s1。例如，反馈信号s2所表示的值不成为使控制信号s1所表示的值的正负相反后的值。作为具体例，在第一电极3c1和第二电极3c2中的至少任一个产生了劣化的情况下，产生反馈信号s2相对于控制信号s1的延迟时间d。此外，在第一电极3c1和第二电极3c2中的至少任一个产生了劣化的情况下，反馈信号s2不稳定。例如，反馈信号s2所表示的值暂时成为不与控制信号s1所表示的值对应的值。作为具体例，在反馈信号s2产生波动e(也被称为抖动)。
[0038]“电极的劣化”例如表示第一电极3c1或第二电极3c2的经年劣化。例如，当反复进行熔合放电从而第一电极3c1和第二电极3c2中的至少任一个劣化时，电弧放电会变得不稳定。此外，“电极的劣化”例如表示在反复进行放电之后，作为光纤的成分的二氧化硅沉积于第一电极3c1和第二电极3c2中的至少任一个的顶端。当第一电极3c1和第二电极3c2中的至少任一个劣化时，在第一电极3c1与第二电极3c2之间难以产生绝缘击穿从而放电变得不稳定。其结果是，有时反馈信号s2会不再追随控制信号s1。
[0039]
在本实施方式的熔接装置1、熔接系统10以及劣化判定方法中，通过监控反馈信号s2来进行第一电极3c1和第二电极3c2的劣化判定。以下，参照图6对示例性的熔接系统10的构成进行说明。图6是概略性地表示熔接系统10的构成的图。熔接系统10具备前述的熔接装置1、信息终端11以及服务器20。
[0040]
熔接装置1被构成为能通过无线通信与信息终端11通信。信息终端11例如是使用熔接装置1的工程项目的管理者所持有的终端。信息终端11既可以是智能手机或平板电脑等便携终端，也可以是个人计算机等固定终端。服务器20例如是统括多个工程项目的管理服务器，是能经由互联网等信息通信网30与熔接装置1和信息终端11通信的计算机。熔接装置1和信息终端11例如存在于与服务器20不同的场所。
[0041]
熔接装置1也可以具备包括cpu(central processing unit：中央处理器)、ram(random access memory：随机存取存储器)、rom(read only memory：只读存储器)、输入装置、无线通信模块、辅助存储装置以及输出装置等硬件的计算机。这些构成要素通过程序等进行工作，由此实现熔接装置1的各功能。熔接装置1例如将前述的控制信号s1和反馈信号s2的数据发送至服务器20。控制信号s1和反馈信号s2的数据例如表示通过信号监视器3g转换为电压值的控制信号s1和反馈信号s2的数据。
[0042]
服务器20被构成为包括cpu、ram、rom、通信模块以及辅助存储装置等硬件的计算机。这些构成要素通过程序等进行工作，由此实现服务器20的各功能。服务器20在功能上具备信号获取部21、信号判定部22以及劣化判定部23。
[0043]
以下，对服务器20包括信号判定部22和劣化判定部23的例子进行说明。然而，也可以是熔接装置1具备信号判定部和劣化判定部来代替服务器20的信号判定部22和劣化判定部23。也可以通过熔接装置1的信号监视器3g代替劣化判定部23来进行第一电极3c1和第二电极3c2的劣化判定。
[0044]
信号获取部21从熔接装置1获取控制信号s1和反馈信号s2的数据(电压值)。信号判定部22判定信号获取部21获取到的反馈信号s2有无异常。例如，信号判定部22判定反馈信号s2的值是否成为与控制信号s1的值对应的值。作为具体例，信号判定部22可以判定在反馈信号s2是否产生了波动e。此外，信号判定部22也可以判定反馈信号s2相对于控制信号s1的延迟时间d是否为一定值以上。在该情况下，信号判定部22可以在延迟时间d为一定值以上的情况下将反馈信号s2判定为异常，在延迟时间d不为一定值以上的情况下将反馈信号s2判定为正常。
[0045]
劣化判定部23根据反馈信号s2的状态来判定第一电极3c1和第二电极3c2中的至少任一个是否已劣化。例如，在被信号判定部22判定为反馈信号s2正常时，劣化判定部23判定为第一电极3c1和第二电极3c2未劣化。在被信号判定部22判定为反馈信号s2异常时，劣化判定部23判定为第一电极3c1和第二电极3c2中的至少任一个已劣化。劣化判定部23将第一电极3c1和第二电极3c2有无劣化的判定的结果发送至熔接装置1和信息终端11中的至少任一个。然后，劣化判定部23的判定结果例如显示于熔接装置1的监视器5或信息终端11的显示器。
[0046]
接着，参照图7所示的流程图对本实施方式的劣化判定方法进行说明。图7是表示本实施方式的劣化判定方法的过程的例子的流程图。首先，在一对光纤分别被光纤保持器3a保持，并且各光纤被纤维定位部3b进行了定位的状态下向第一电极3c1输出控制信号s1。然后，进行电弧放电和光纤的熔接(步骤t1)。
[0047]
此时，信号监视器3g监测控制信号s1和反馈信号s2，控制信号s1和反馈信号s2的数据被发送至服务器20。然后，信号获取部21获取控制信号s1和反馈信号s2的数据，信号判定部22判定该反馈信号s2有无异常。作为具体例，信号判定部22判定反馈信号s2有无波动e(抖动)，在有波动e的情况下判定为反馈信号s2异常(步骤t2)。
[0048]
信号判定部22在判定为反馈信号s2有波动的情况下，对有波动的次数(判定为异常的反馈信号s2的数量)加1(步骤t3)。另一方面，在信号判定部22判定为反馈信号s2无波动的情况下，移至步骤t4。在步骤t4中，通过劣化判定部23判定放电次数是否达到了n次(n为自然数)。在判定为放电次数达到了n次的情况下，移至步骤t5，在判定为放电次数未达到n次的情况下，返回至步骤t1，再次进行放电等。
[0049]
在步骤t5中，通过劣化判定部23判定被信号判定部22判定为异常的反馈信号s2的数量。作为具体例，通过劣化判定部23判定反馈信号s2有波动的次数是否为m次(m为n以下的自然数)以上。例如，劣化判定部23在判定为有波动的次数为m次以上的情况下，判定为第一电极3c1和第二电极3c2中的至少任一个已劣化(步骤t6)。另一方面，劣化判定部23在判定为有波动的次数不为m次以上的情况下，判定为第一电极3c1和第二电极3c2未劣化(步骤t7)。
[0050]
在进行以上的判定之后，例如，向信息终端11和熔接装置1中的任一个发送判定结果，并在信息终端11和熔接装置1中的任一个中显示判定结果。之后，一连串的过程完成。需
要说明的是，作为一个例子，m的值为4，n的值为10。在该情况下，在所得到的10个反馈信号s2中的异常的反馈信号s2的数量为4以上的情况下，判定为第一电极3c1和第二电极3c2已劣化。作为具体例，在10次放电中4次以上在反馈信号s2产生了波动e的情况下，判定为第一电极3c1和第二电极3c2中的至少任一个已劣化。然而，m的值和n的值不限于上述的例子而可以适当变更。
[0051]
在此，对反馈信号s2的数量的计数方法进行举例说明。通常，在规定时间连续地进行放电，在此期间，连续地产生具有预先设定的规定的模式(pattern)的控制信号s1。将这样的从放电开始(发出用于放电的控制信号s1)起至放电结束为止的一连串的时段内的反馈信号s2汇总并计数为1个反馈信号s2。将其他定时的从放电开始起至放电结束为止的一连串的时段内的其他反馈信号s2汇总并计数为与上述不同的1个反馈信号s2。需要说明的是，在该情况下，反馈信号s2的数量与放电次数相同。
[0052]
接着，对本实施方式的熔接系统10、熔接装置1以及劣化判定方法的作用效果进行说明。在本实施方式的熔接系统10、熔接装置1以及劣化判定方法中，向第一电极3c1输出控制信号s1，从第二电极3c2输出控制信号s1的反馈信号s2。然后，根据反馈信号s2的状态来判定第一电极3c1和第二电极3c2中的至少任一个是否已劣化。
[0053]
因此，能将控制信号s1的反馈信号s2有效利用于第一电极3c1和第二电极3c2的劣化的判定。在第一电极3c1和第二电极3c2中的至少任一个产生了劣化时，伴随控制信号s1的输出，反馈信号s2不追随控制信号s1。在本实施方式的熔接系统10、熔接装置1以及劣化判定方法中，利用反馈信号s2的特性来进行第一电极3c1和第二电极3c2的劣化判定，因此能容易且高精度地进行第一电极3c1和第二电极3c2的劣化判定。
[0054]
如前述那样，也可以是，劣化判定部23根据控制信号s1的状态和反馈信号s2的状态这双方来判定第一电极3c1和第二电极3c2是否已劣化。在该情况下，能与控制信号s1的状态对比地判定反馈信号s2的状态，因此能容易且更高精度地进行反馈信号s2的状态判定。因此，能更高精度地进行第一电极3c1和第二电极3c2的劣化判定。
[0055]
在实施方式的熔接系统10、熔接装置1以及劣化判定方法中，也可以具备对多个反馈信号s2的每一个判定是否异常的信号判定部22。也可以是，劣化判定部23基于被信号判定部22判定为异常的反馈信号s2的数量来判定第一电极3c1和第二电极3c2是否已劣化。在该情况下，基于被信号判定部22判定为异常的反馈信号s2的数量来进行电极的劣化判定，因此能容易地进行电极的劣化判定。此外，使用信号判定部22对多个反馈信号s2判定有无异常的结果来进行电极的劣化判定，由此能更加高精度地进行电极的劣化判定。
[0056]
也可以是，劣化判定部23根据反馈信号s2的电压值的状态来判定第一电极3c1和第二电极3c2是否已劣化。在该情况下，能使用在进行信号处理时易于处理的电压信号来进行反馈信号s2的状态判定，因此能更容易地进行反馈信号s2的判定和电极的劣化判定。
[0057]
以上，对本公开的熔接系统10、熔接装置1以及劣化判定方法的实施方式进行了说明。然而，本发明不限定于前述的实施方式。即，本领域技术人员容易认识到本发明在权利要求书所记载的主旨的范围内可以进行各种变形和变更。例如，熔接系统和熔接装置的各部分的构成可以适当变更，劣化判定方法的各过程的内容和顺序也不限于前述的实施方式而可以适当变更。
[0058]
例如，在前述的实施方式中，对服务器20具备信号获取部21、信号判定部22以及劣
化判定部23，并且服务器20的劣化判定部23进行第一电极3c1和第二电极3c2的劣化判定的例子进行了说明。然而，如图8所示，也可以是劣化判定部43与熔接装置41分开设置的熔接系统40。此外，如图9所示，也可以是熔接装置51具备劣化判定部53的熔接系统50。而且，也可以是如前述那样熔接装置1具备信号判定部和劣化判定部，也可以是信息终端11具备信号判定部和劣化判定部。如此，信号判定部和劣化判定部的场所可以适当变更。例如，在熔接装置1具备信号判定部和劣化判定部的情况下，能不需要信息终端11和服务器20。
[0059]
在前述的实施方式中，对根据反馈信号s2的电压值的状态来进行第一电极3c1和第二电极3c2的劣化判定的例子进行了说明。然而，也可以根据反馈信号s2的电流值来进行第一电极3c1和第二电极3c2的劣化判定。即，也可以是，信号监视器3g监控控制信号s1的电流值和反馈信号s2的电流值，并基于这些电流值来进行第一电极3c1和第二电极3c2的劣化判定。电流值具有与电压值相比更易于捕捉微小的变化这一优点。
[0060]
在前述的实施方式中，对显示由劣化判定部23得到的第一电极3c1和第二电极3c2的判定结果的例子进行了说明。然而，也可以在判定为第一电极3c1和第二电极3c2中的至少任一个已劣化之后，增强对第一电极3c1和第二电极3c2的放电功率。在该情况下，能通过对第一电极3c1和第二电极3c2的强的放电功率来清除附着于第一电极3c1或第二电极3c2的二氧化硅等(使附着于第一电极3c1或第二电极3c2的二氧化硅等蒸发)，因此有助于劣化的加剧的抑制。
[0061]
在前述的实施方式中，对基于反馈信号s2有无波动e来判定第一电极3c1和第二电极3c2的劣化的例子进行了说明。然而，例如也可以基于反馈信号s2相对于控制信号s1的延迟时间d来进行第一电极3c1和第二电极3c2的劣化判定。此外，也可以在反馈信号s2产生了多次波动e时判定为第一电极3c1和第二电极3c2已劣化。如此，根据反馈信号s2来判定第一电极3c1和第二电极3c2的劣化的方法不限于前述的实施方式而可以适当变更。
[0062]
在前述的实施方式中，将从放电开始起至放电结束为止的一连串的时段内的反馈信号s2汇总，将其数量计数为1，但也可以按规定的时间间隔对从放电开始起至放电结束为止的一连串的时段进行划分，并分别按每个划分时段进行汇总来将反馈信号s2计数为1。例如，可以是，放电时间为10秒钟，将时间间隔设为2秒，将从放电开始起至经过2秒为止的第一时段内的反馈信号s2计数为1，将从放电开始2秒后起至4秒后为止的第二时段内的反馈信号s2计数为另外的1。在该情况下，在1次放电中，划分时段数为5，反馈信号s2的数量为5。而且，也可以使前述的计数方法与上述的计数方法混合存在。例如，也可以将时间间隔设为t，在从放电开始起至放电结束为止的一连串的时间为t以下的情况下，将从放电开始起至放电结束为止的反馈信号s2汇总并计数为1，在从放电开始起至放电结束为止的一连串的时间比t大的情况下，将按时间间隔t划分出的时段内的反馈信号s2分别计数为1。
[0063]
在前述的实施方式中，基于实际进行光纤的熔接时的放电状态来进行第一电极3c1和第二电极3c2的劣化判定，但也可以在无光纤状态下的放电、即进行所谓的放电测试时进行劣化判定，无论是怎样的状态，只要是进行了放电的情况，就可以将其包括在判定对象中。
[0064]
附图标记说明
[0065]
1：熔接装置
[0066]
2：壳体
[0067]
3：熔合部
[0068]
3a：光纤保持器
[0069]
3b：纤维定位部
[0070]
3c1：第一电极
[0071]
3c2：第二电极
[0072]
3d：放电电路
[0073]
3f：高压单元
[0074]
3g：信号监视器
[0075]
3h：示波器
[0076]
4：加热器
[0077]
5：监视器
[0078]
6：防风罩
[0079]
6a：侧面
[0080]
6b：导入口
[0081]
10：熔接系统
[0082]
11：信息终端
[0083]
20：服务器
[0084]
21：信号获取部
[0085]
22：信号判定部
[0086]
23：劣化判定部
[0087]
30：信息通信网
[0088]
d：延迟时间
[0089]
e：波动。