静电潜像显影用调色剂、静电潜像显影剂、调色剂盒、处理盒、图像形成装置及方法与流程

本公开涉及一种静电潜像显影用调色剂、静电潜像显影剂、调色剂盒、处理盒、图像形成装置及图像形成方法。

背景技术：

1、在日本特开2005-338750号公报中，公开了一种具有未经过烧结工序的钛酸锶微粉体的调色剂。

2、在日本特开2019-028235号公报中，公开了一种包含调色剂粒子、二氧化硅粒子及掺杂有镧的钛酸锶粒子的静电潜像显影用调色剂。

3、在日本特开2021-151944号公报中，公开了一种用季铵盐进行了表面处理的二氧化硅粒子。

技术实现思路

1、本公开的课题在于，提供一种静电潜像显影用调色剂，在外添于调色剂粒子中且具有含有钼元素的含氮元素化合物的二氧化硅粒子中，相较于通过荧光x射线分析测定的钼元素的net强度nmo与硅元素的net强度nsi之比nmo/nsi小于0.035或超过0.45的情况，不易引起图像浓度的变动。

2、根据本公开的第一方案，提供一种静电潜像显影用调色剂，其包含：调色剂粒子；外添于所述调色剂粒子中的钙钛矿型化合物粒子；及外添于所述调色剂粒子中的二氧化硅粒子(s)，其包含含有钼元素的含氮元素化合物且通过荧光x射线分析测定的钼元素的net强度nmo与硅元素的net强度nsi之比nmo/nsi为0.035以上且0.45以下。

3、根据本公开的第二方案，在基于所述第一方案的所述静电潜像显影用调色剂中，所述二氧化硅粒子(s)的所述比nmo/nsi为0.05以上且0.30以下。

4、根据本公开的第三方案，在基于所述第一或第二方案的所述静电潜像显影用调色剂中，所述钙钛矿型化合物粒子和所述二氧化硅粒子(s)的合计含量相对于所述调色剂粒子100质量份为0.5质量份以上且5.0质量份以下。

5、根据本公开的第四方案，在基于所述第一～第三方案中的任一个的所述静电潜像显影用调色剂中，所述二氧化硅粒子(s)在所述钙钛矿型化合物粒子和所述二氧化硅粒子(s)的合计量中所占的质量比例为40质量％以上且60质量％以下。

6、根据本公开的第五方案，在基于所述第一～第四方案中的任一个的所述静电潜像显影用调色剂中，所述钙钛矿型化合物粒子的平均一次粒径d1与所述二氧化硅粒子(s)的平均一次粒径d2之比d2/d1为0.50以上且1.70以下。

7、根据本公开的第六方案，在基于所述第一～第五方案中的任一个的所述静电潜像显影用调色剂中，所述二氧化硅粒子(s)的平均一次粒径为30nm以上且100nm以下。

8、根据本公开的第七方案，在基于所述第一～第六方案中的任一个的所述静电潜像显影用调色剂中，所述二氧化硅粒子(s)的平均圆度为0.85以上。

9、根据本公开的第八方案，在基于所述第一～第七方案中的任一个的所述静电潜像显影用调色剂中，所述钙钛矿型化合物粒子为掺杂有镧的钛酸锶粒子。

10、根据本公开的第九方案，在基于所述第一～第八方案中的任一个的所述静电潜像显影用调色剂中，所述含有钼元素的含氮元素化合物为选自由包含钼元素的季铵盐及季铵盐与包含钼元素的金属氧化物的混合物组成的组中的至少一种。

11、根据本公开的第十方案，在基于所述第一～第九方案中的任一个的所述静电潜像显影用调色剂中，所述二氧化硅粒子(s)为具有由硅烷偶联剂的反应产物构成的包覆结构和附着于所述包覆结构的所述含有钼元素的含氮元素化合物的二氧化硅粒子。

12、根据本公开的第十一方案，在基于所述第十方案的所述静电潜像显影用调色剂中，所述硅烷偶联剂包含烷基三烷氧基硅烷。

13、根据本公开的第十二方案，提供一种静电潜像显影剂，其包含基于所述第一～第十一方案中的任一个的所述静电潜像显影用调色剂。

14、根据本公开的第十三方案，提供一种调色剂盒，其容纳基于所述第一～第十一方案中的任一个的所述静电潜像显影用调色剂，所述调色剂盒装卸于图像形成装置。

15、根据本公开的第十四方案，提供一种处理盒，其具备显影构件，所述显影构件容纳基于所述第十二方案的所述静电潜像显影剂，并且通过所述静电潜像显影剂将形成于图像保持体的表面上的静电潜像显影为调色剂图像，所述处理盒装卸于图像形成装置。

16、根据本公开的第十五方案，提供一种图像形成装置，其具备：图像保持体；充电构件，其使所述图像保持体的表面带电；静电潜像形成构件，其在带电的所述图像保持体的表面上形成静电潜像；显影构件，其容纳基于所述第十二方案的所述静电潜像显影剂，并且通过所述静电潜像显影剂将形成于所述图像保持体的表面上的静电潜像显影为调色剂图像；转印构件，其将形成于所述图像保持体的表面上的调色剂图像转印到记录介质的表面上；及定影构件，其对转印到所述记录介质的表面上的调色剂图像进行定影。

17、根据本公开的第十六方案，提供一种图像形成方法，其包括：充电工序，使图像保持体的表面带电；静电潜像形成工序，在带电的所述图像保持体的表面上形成静电潜像；显影工序，通过基于所述第十二方案的所述静电潜像显影剂将形成于所述图像保持体的表面上的静电潜像显影为调色剂图像；转印工序，将形成于所述图像保持体的表面上的调色剂图像转印到记录介质的表面上；及定影工序，对转印到所述记录介质的表面上的调色剂图像进行定影。

18、(效果)

19、根据所述第一、第八、第九、第十或第十一方案，提供一种静电潜像显影用调色剂，在外添于调色剂粒子中且具有含有钼元素的含氮元素化合物的二氧化硅粒子中，相较于通过荧光x射线分析测定的钼元素的net强度nmo与硅元素的net强度nsi之比nmo/nsi小于0.035或超过0.45的情况，不易引起图像浓度的变动。

20、根据所述第二方案，提供一种静电潜像显影用调色剂，在外添于调色剂粒子中且具有含有钼元素的含氮元素化合物的二氧化硅粒子中，相较于通过荧光x射线分析测定的钼元素的net强度nmo与硅元素的net强度nsi之比nmo/nsi小于0.05或超过0.30的情况，不易引起图像浓度的变动。

21、根据所述第三方案，提供一种静电潜像显影用调色剂，其相较于钙钛矿型化合物粒子和二氧化硅粒子(s)的合计含量相对于调色剂粒子100质量份小于0.5质量份或超过5.0质量份的静电潜像显影用调色剂，不易引起图像浓度的变动。

22、根据所述第四方案，提供一种静电潜像显影用调色剂，其相较于二氧化硅粒子(s)在钙钛矿型化合物粒子和二氧化硅粒子(s)的合计量中所占的质量比例小于40质量％或超过60质量％的静电潜像显影用调色剂，不易引起图像浓度的变动。

23、根据所述第五方案，提供一种静电潜像显影用调色剂，其相较于钙钛矿型化合物粒子的平均一次粒径d1与二氧化硅粒子(s)的平均一次粒径d2之比d2/d1小于0.50或超过1.70的静电潜像显影用调色剂，不易引起图像浓度的变动。

24、根据所述第六方案，提供一种静电潜像显影用调色剂，其相较于二氧化硅粒子(s)的平均一次粒径小于30nm或超过100nm的静电潜像显影用调色剂，不易引起图像浓度的变动。

25、根据所述第七方案，提供一种静电潜像显影用调色剂，其相较于二氧化硅粒子(s)的平均圆度小于0.85的静电潜像显影用调色剂，不易引起图像浓度的变动。

26、根据所述第十二方案，提供一种静电潜像显影剂，在外添于调色剂粒子中且具有含有钼元素的含氮元素化合物的二氧化硅粒子中，相较于通过荧光x射线分析测定的钼元素的net强度nmo与硅元素的net强度nsi之比nmo/nsi小于0.035或超过0.45的情况，不易引起图像浓度的变动。

27、根据所述第十三方案，提供一种调色剂盒，在外添于调色剂粒子中且具有含有钼元素的含氮元素化合物的二氧化硅粒子中，相较于通过荧光x射线分析测定的钼元素的net强度nmo与硅元素的net强度nsi之比nmo/nsi小于0.035或超过0.45的情况，不易引起图像浓度的变动。

28、根据所述第十四方案，提供一种处理盒，在外添于调色剂粒子中且具有含有钼元素的含氮元素化合物的二氧化硅粒子中，相较于适用通过荧光x射线分析测定的钼元素的net强度nmo与硅元素的net强度nsi之比nmo/nsi小于0.035或超过0.45的静电潜像显影剂的情况，不易引起图像浓度的变动。

29、根据所述第十五方案，提供一种图像形成装置，在外添于调色剂粒子中且具有含有钼元素的含氮元素化合物的二氧化硅粒子中，相较于适用通过荧光x射线分析测定的钼元素的net强度nmo与硅元素的net强度nsi之比nmo/nsi小于0.035或超过0.45的静电潜像显影剂的情况，不易引起图像浓度的变动。

30、根据所述第十六方案，提供一种图像形成方法，在外添于调色剂粒子中且具有含有钼元素的含氮元素化合物的二氧化硅粒子中，相较于适用通过荧光x射线分析测定的钼元素的net强度nmo与硅元素的net强度nsi之比nmo/nsi小于0.035或超过0.45的静电潜像显影剂的情况，不易引起图像浓度的变动。