本发明涉及真空镀膜,具体而言,涉及一种银金属蒸发真空镀膜的方法。
背景技术:
1、目前,常采用蒸发真空镀膜技术在晶圆表面形成焊接ag金属膜,在此过程中一般采用蒸发设备自带的紫铜金属坩埚。在蒸发过程中将金属直接放在紫铜坩埚中蒸发。这种方法的缺点是:
2、(1)因为紫铜坩埚下面有水冷系统,热传导较快,蒸发源材料不易熔化,因此蒸发需要的功率较大。在蒸发过程中容易导致源材料中心熔化,连续蒸发几次后金属下面出现变形空缺,不能与紫铜坩埚很好接触。
3、(2)另外紫铜坩埚在高温下容易氧化,氧化层容易与金属源材料形成黑色杂质层。
4、由于ag金属膜制备过程存在以上缺陷,使镀膜需要加大功率来熔化金属源材料,由于变形金属与紫铜坩埚之间的气体受热不易散发,在不断升温的条件下,空气与金属源材料受热不一致,聚集热量难于散发,容易造成金属溅源。溅源后,轻则晶圆表面溅射金属点,重则晶圆被溅射出的金属打碎,造成严重的损失。
5、鉴于此,特提出本发明。
技术实现思路
1、本发明的目的在于提供一种银金属蒸发真空镀膜的方法,旨在有效降低镀膜功率,避免出现金属源溅射问题。
2、本发明是这样实现的:
3、第一方面,本发明提供一种银金属蒸发真空镀膜的方法,包括:将钼坩埚置于蒸发设备自带的坩埚中,以钼坩埚作为银金属材料蒸发镀膜的容器,通过蒸发真空镀膜的方法在基材上形成金属膜层;
4、蒸发真空镀膜的过程包括依次进行的预热阶段、预熔阶段、蒸发源熔化阶段和稳定蒸发阶段;
5、其中,预热阶段、预熔阶段、蒸发源熔化阶段和稳定蒸发阶段所施加的电压均为9kv-11kv,自预热阶段至蒸发源熔化阶段所施加的电流逐渐增加;
6、在稳定蒸发阶段,先施加48ma-52ma的电流,施加时间为20s-40s,待蒸发源材料完全熔化之后打开挡板开始蒸发过程,降低电流至10ma-20ma,控制银金属蒸发速率稳定在20å/s-40å/s。
7、在可选的实施方式中,在预热阶段,控制施加电流为8ma-12ma,电流施加时间为20s-40s。
8、在可选的实施方式中,在预熔阶段,控制施加电流为28ma-32ma,电流施加时间为20s-40s。
9、在可选的实施方式中,在蒸发源熔化阶段,控制施加电流为38ma-42ma,电流施加时间为20s-40s。
10、在可选的实施方式中,蒸发真空镀膜的过程中控制真空度为(1-3)×10-6torr。
11、在可选的实施方式中,钼坩埚的纯度大于99.9%,密度为10.0g/cm3-10.5g/cm3,熔点为2610℃-2630℃;
12、优选地,银金属材料的纯度大于99.99%,密度为10.3g/cm3-10.7g/cm3,熔点为951℃-971℃。
13、在可选的实施方式中,蒸发设备自带的坩埚为紫铜坩埚。
14、在可选的实施方式中,基材为晶圆。
15、本发明具有以下有益效果:通过在蒸发设备自带的坩埚中放置钼坩埚,以钼坩埚作为银金属材料蒸发镀膜的容器,银的熔点远小于钼的熔点,熔源过程不会导致钼坩埚被熔化或变形;增加钼坩埚后热量不容易散发,降低了熔源功率,金属在钼坩埚中完全熔化,金属材料与钼坩埚紧密接触,金属中没有空气与杂质,蒸发过程金属源溅源的频率显著降低。本发明将蒸发真空镀膜的过程分为依次进行的预热阶段、预熔阶段、蒸发源熔化阶段和稳定蒸发阶段,缓慢升温,有利于进一步避免出现金属源溅源。
1.一种银金属蒸发真空镀膜的方法,其特征在于,包括:将钼坩埚置于蒸发设备自带的坩埚中,以钼坩埚作为银金属材料蒸发镀膜的容器,通过蒸发真空镀膜的方法在基材上形成金属膜层;
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述预热阶段,控制施加电流为8ma-12ma,电流施加时间为20s-40s。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述预熔阶段,控制施加电流为28ma-32ma,电流施加时间为20s-40s。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述蒸发源熔化阶段,控制施加电流为38ma-42ma,电流施加时间为20s-40s。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述蒸发真空镀膜的过程中控制真空度为(1-3)×10-6torr。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,钼坩埚的纯度大于99.9%,密度为10.0g/cm3-10.5g/cm3,熔点为2610℃-2630℃。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,银金属材料的纯度大于99.99%,密度为10.3g/cm3-10.7g/cm3,熔点为951℃-971℃。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,蒸发设备自带的坩埚为紫铜坩埚。
9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基材为晶圆。