模造镜片的制造设备及方法与流程

本发明是有关于一种压造成型品的技术，且特别是有关于一种可有效监控品质的模造镜片的制造设备及方法。

背景技术：

由于不同的镜片制程中因不同的模具、镜片、制程间的差异会造成压造曲线仅能辨识出是否有压造，对于压造过程中变异与镜片实际压造深度并无法辨别。现行压造成型曲线仅能辨别是否有进行压造，对于压造过程制程变异与镜片实际压造深度并无法辨别，因而衍生出后续品质控制成本。

技术实现要素：

本发明实施例提供一种模造镜片的制造设备及方法，可在不同的镜片压造制程中识别出品质异常的镜片，进而提高品质。

本发明实施例的模造镜片的制造方法，底材位于第一模仁与第二模仁之间，移动第一模仁，使底材形成一镜片。距离感测器送出移动该第一模仁的多个压造距离参数，多个压造距离参数可形成压造曲线；由处理器和比较器比较压造曲线与参考压造曲线的差异；以及由处理器判断差异是否位于误差范围内。

本发明实施例的模造镜片的制造设备，对底材进行压造制程，制造设备包括：模造腔室，其中第一模仁或第二模仁可在模造腔室内移动，且底材位于第一模仁与第二模仁之间；距离感测器，邻近模造腔室；处理器，耦接距离感测器；气压缸，耦接处理器，可使第一模仁或第二模仁移动；压力调压阀，耦接处理器与气压缸，可调节气压缸的压力；压力表，耦接处理器与气压缸，可显示气压缸的压力；功率表，耦接处理器与气压缸，可量测加热器的功率；加热器，耦接处理器，可加热模造腔室；温度控制器，耦接处理器与加热器，可控制加热器的温度；比较器，耦接处理器，其中距离感测器送出压造制程的多个压造距离参数，多个压造距离参数可形成压造曲线，由处理器和比较器比较压造曲线与参考压造曲线的差异；以及存储装置，其中参考压造曲线资料放置于存储装置。

基于上述，本发明实施例可即时可监控实际压造深度以及压造过程变异，进而剔除不良品，降低后续品质控制成本。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图,详细说明如下。

附图说明

图1是依照本发明一实施例的模造镜片的制造设备的外观示意图。

图2是依照本发明一实施例的模造镜片的制造设备的方块图。

图3是依照本发明一实施例的模造镜片的制造方法的流程图。

图4是依照本发明一实施例的压造曲线的示意图。

图5是依照本发明一实施例的调整后曲线的示意图。

图6是依照本发明一实施例的寻找斜率转折点的流程图。

图7是依照本发明一实施例的寻找斜率转折点的示意图。

图8是依照本发明另一实施例的即时(in-situ)监控品质异常的曲线示意图。

具体实施方式

图1是依照本发明一实施例的模造镜片的制造设备的外观示意图。请参照图1，模造镜片的制造设备包括第一模仁101以及第二模仁102。在第一模仁101与第二模仁102之间的空间形成模造腔室104。在模造腔室104中设置有底材103，以透过第一模仁101以及第二模仁102对底材103进行压造制程。底材103的材质可以是玻璃、或是塑胶等高分子材料。

图2是依照本发明一实施例的模造镜片的制造设备的方块图。请参照图2，模造镜片的制造设备包括处理器210、比较器215、存储装置220、警示器225、距离感测器230、气压缸240、压力调压阀250、压力表260、功率表270、加热器280以及温度控制器290。

处理器210可采用中央处理单元(centralprocessingunit，cpu)、物理处理单元(physicsprocessingunit，ppu)、可程式化之微处理器(microprocessor)、嵌入式控制晶片、数字信号处理器(digitalsignalprocessor，dsp)、特殊应用集成电路(applicationspecificintegratedcircuits，asic)或其他类似装置等来实现。

比较器215可为电压比较器、电流比较器或其他类似装置等来实现。

存储装置220是任意型式的固定式或可移动式随机存取存储器(randomaccessmemory，ram)、唯读存储器(read-onlymemory，rom)、闪速存储器(flashmemory)、安全数字卡(securedigitalmemorycard，sd)、硬盘或其他类似装置或这些装置的组合。存储装置220中储存有由一或多个程式码片段组成的模块，由处理器210执行所述模块，进而实现下述模造镜片的制造方法。

距离感测器230邻近模造腔室104，其耦接处理器210，经配置以感测第一模仁101与第二模仁102之间的距离。气压缸240耦接处理器210，经配置以使第一模仁101或第二模仁102在模造腔室104内移动。压力调压阀250耦接处理器210与气压缸240，经配置以调节气压缸240的压力。压力表260耦接处理器210与气压缸240，经配置以显示气压缸240的压力。功率表270耦处理器210与加热器280，经配置以量测加热器280的功率。加热器280耦接处理器210，经配置以加热模造腔室104。温度控制器290耦接处理器210与加热器280，经配置以控制加热器280的温度。

图3是依照本发明一实施例的模造镜片的制造方法的流程图。请参照图1-图3，在步骤s305中，距离感测器230送出镜片制程的多个压造距离参数，多个压造距离参数可形成压造曲线。接着，在步骤s310中，由处理器210和比较器215比较压造曲线与参考压造曲线的差异。参考压造曲线资料放置于存储装置220。在步骤s315中，由处理器210判断差异是否位于误差范围内。倘若差异位于误差范围内，如步骤s325所示，判定品质无异常。倘若差异不位于误差范围内，如步骤s320所示，透过警示器225发出一警示信号。警示信号例如为音讯信号或视讯信号。例如，可透过扬声器播放警示音效，或是在显示器中显示一警示讯息。

在此，压造曲线资料可由下列步骤形成。处理器210自距离感测器230接收镜片制程对应的多个压造参数而获得多个前期压造曲线。由于不同的模仁、不同的机台或是不同的压造设定参数(温度、压力、速度、扭力)，因而使得压造成型的距离会不尽相同。

压造参数的函数满足下列条件之一：

(1)f(t，p，v)＝f{t(t)，p(w，a)，v(t，g)}；

其中，f代表底材的厚度，t代表模造腔室的温度，p代表气压缸的所压力，v代表第一模仁或第二模仁的移动速度，t代表压造时间，w代表第一模仁或第二模仁对底材的作用力，a代表底材的受力面积，g代表第一模仁与第二模仁之间的间距；以及

(2)f(t，w)＝f{t(t)，w(w，d)}；

其中，f代表底材的厚度，t代表模造腔室的温度，w代表作功，t代表压造时间，w代表第一模仁或第二模仁对底材的作用力，d代表第一模仁或第二模仁的移动距离。

图4是依照本发明一实施例的压造曲线的示意图。图4中列出对应相同镜片制程，但由不同的模仁、不同的机台或是不同的压造设定参数(温度、压力、速度、扭力)所获得的6条压造曲线。以最下方的压造曲线而言，h为镜片压造深度。由原始的压造曲线并无法来辨别出是否存在发生异常的镜片。据此，进一步调整压造曲线，使其压造起点为相同，如此一来便可容易的辨别出是否存在发生异常的镜片。

找出调整前压造曲线中的斜率转折点，并将调整前压造曲线的斜率转折点设定为基准点，以基准点作为压造起点来重新获得压造曲线。处理器210自调整前压造曲线中获得多个斜率，比较器215将所获得的这些斜率逐一与一阈值进行比对，以找出每一条调整前压造曲线中的斜率转折点。在此，所述斜率由相邻两个单位时间的两个压造距离而获得。

而参考压造曲线资料可由下列步骤形成：自距离感测器230接收多个镜片制程对应的多个压造距离参数而获得多个前期压造曲线；找出各前期压造曲线中的斜率转折点，并将每一前期压造曲线的斜率转折点设定为基准点，以基准点作为压造起点来重新获得多个调整后的前期压造曲线；以及由多数前期压造曲线重合而形成参考压造曲线。找出各压造曲线中的斜率转折点的步骤包括：自各前期压造曲线中获得多个斜率，将所获得的斜率逐一与阈值进行比对，以找出各前期压造曲线中的斜率转折点。

图5是依照本发明一实施例的调整后曲线的示意图。在图5中，在自图4的压造曲线中找出斜率转折点之后，将斜率转折点设为基准点，在此，将基准点设定为0，而以基准点作为压造起点来重新获得调整后曲线。

以图5而言，调整后曲线a的终点线段与标准的差距已超出误差范围，表示调整后曲线a对应的镜片制程所压造的镜片品质出现异常。据此，处理器210透过警示器225发出警示信号来通知使用者。

另外，处理器210也可自调整后曲线计算出镜片压造深度。例如，以调整后曲线的压造起点对应的压造距离减去终点线段对应的压造距离，可获得镜片压造深度。

底下再举一例来说明如何找出斜率转折点。图6是依照本发明一实施例的寻找斜率转折点的流程图。请参照图6，在步骤s605中，逐一判断斜率是否小于或等于一阈值。在此，所述斜率由相邻两个单位时间的两个压造距离而获得斜率。当斜率小于或等于阈值时，其对应的压造距离即为斜率转折点，并将其对应的压造距离作为视为是压造起点。

另外，在其他实施例中，也可以利用两个不同的阈值来找出斜率转折点。以图4而言，在一开始极短暂的时间内，压造距离会快速下降，此时可先判断斜率是否大于100(第一阈值)。而在判定斜率大于100之后，再逐一将斜率与第二阈值(例如20)进行比对，以找出斜率突然缩减的点。

图7是依照本发明一实施例的寻找斜率转折点的示意图。如图7所示，压造距离曲线与压造斜率曲线的交叉点b即为斜率转折点。

另外，图8是依照本发明另一实施例的即时(in-situ)监控品质异常的曲线示意图。图8所示为调整后曲线，其即时压造资料与同一模具参考压造曲线做比对，由图8中可以清楚地识别出调整后曲线c发生异常。故，可有效及时监控出异常之压造成品。

综上所述，本发明找出压造起点来作为参考，可分析即时压造资料，以剔除不良品与节省品质控制的人力。

以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明,任何熟悉本专业的技术人员,在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的方法及技术内容作出些许的更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。