用于校准至少一个处理元件的方法与流程

文档序号:11282654阅读:来源:国知局

技术特征:

技术总结
本发明涉及一种用于校准处理塑料预成型件的处理站中至少一个处理元件,特别是至少一个温度传感器,的方法,其中,首先提供测量预成型件;其中,在处理站进行处理之前,由至少一个测量元件,测量所述测量预成型件的至少一个第一测量值,以及在处理站进行处理之前或之后,由所述测量元件或其他测量元件,测量所述测量预成型件的第二测量值,并且所述测量元件使用至少这两个测量值来记录数学温度曲线,特别是数学温度线,其中至少一个校准装置确定测量曲线与数学标准温度曲线的偏差,并且通过适配处理站的处理参数,至少部分地消除所述偏差。

技术研发人员:马丁·卡莫尔;康拉德·塞恩
受保护的技术使用者:克隆尼斯股份有限公司
技术研发日:2016.02.08
技术公布日:2017.09.26
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