测试分选的制造方法
【专利摘要】本实用新型提供一种测试分选机，包括机架，依次安装于机架上的自动入料机构、测试机构、分选机构及自动收料机构；所述机架设有入料操作台及分选操作台，所述分选操作台由上往下设置，自动入料机构通过减振垫固定在入料操作台上；所述测试机构安装于所述分选操作台上，包括导轨、分离器、测试传感器、测试头，所述导轨与自动入料机构和自动收料机构相连接，所述分离器设于测试头上方；所述分选机构安装于所述分选操作台上，包括分选分料梭、落料管、分选传感器、不良品装置，所述不良品装置远离导轨设置，通过落料管与所述分料梭相连接，所述分选传感器设于所述不良品装置的上方；所述测试机构包括打标装置，所述打标装置设于所述测试头下方。
【专利说明】测试分选机
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及半导体封装领域，尤其涉及一种测试分选机。
【背景技术】
[0002]生产1C及二、三极管等半导体器件的工艺流程包括:粘片——焊线——塑封——老化——打印——冲筋——表面处理——分离——测试——编带——包装——入库。
[0003]目前，测试分选机是晶体管的重要检测设备，可实现晶体管多项技术指标测试及优劣分类的工作，但现有技术的测试分选机，由于结构设计不够合理，致使结构复杂体积大，运行速度慢，自动化程度不高，工作不流畅，生产效率低，并且耗能较高，生产周期较长。
【发明内容】
[0004]本发明的目的在于提供一种自动化程度高，生产周期短，测试分档精度高的测试分选机。
[0005]为实现上述目的，本实用新型提供一种测试分选机，包括机架，依次安装于机架上的自动入料机构、测试机构、分选机构及自动收料机构；所述机架设有入料操作台及分选操作台，所述分选操作台由上往下设置，自动入料机构通过减振垫固定在入料操作台上；所述测试机构安装于所述分选操作台上，包括导轨、分离器、测试传感器、测试头，所述导轨与自动入料机构和自动收料机构相连接，所述分离器设于测试头上方；所述分选机构安装于所述分选操作台上，包括分选分料梭、落料管、分选传感器、不良品装置，所述不良品装置远离导轨设置，通过落料管与所述分料梭相连接，所述分选传感器设于所述不良品装置的上方。
[0006]优选的，所述测试机构包括打标装置，所述打标装置设于所述测试头下方。
[0007]优选的，还包括安装于机架的触摸屏控制装置，所述触摸屏控制装置包括电路板及与电路板电性连接的触摸屏，所述电路板与所述入料机构、测试机构、分选机构及自动收料机构电性连接。
[0008]更优选的，还设置有安装于入料操作台上并电性连接于所述电路板的报警装置。
[0009]本发明的有益效果:本实用新型的测试分选机自动更换上下料管，节约人工成本，减少繁琐的人工操作，高精度测试分档，满足不同的客户，测试打标一体制，根据生产需求灵活调整可单独测试或单独打标，压缩生产周期，高速分选模式，根据生产工艺，操作简单方便，根据不同的产品可调整不同的速度。
[0010]为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制。
【专利附图】
【附图说明】
[0011]下面结合附图，通过对本发明的【具体实施方式】详细描述，将使本发明的技术方案及其它有益效果显而易见。
[0012]附图中，
[0013]图1为本实用新型测试分选机的右视图；
[0014]图2为本实用新型测试分选机的主视图。
【具体实施方式】
[0015]为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果，以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。
[0016]请参阅图1及2，本实用新型提供一种测试分选机，包括机架10，依次安装于机架10上的自动入料机构20、测试机构30、分选机构40及自动收料机构50 ;所述机架10设有入料操作台12及分选操作台14，所述分选操作台14由上往下设置，自动入料机构20通过减振垫(未图示)固定在入料操作台12上；所述测试机构30安装于所述分选操作台14上，包括导轨32、分离器34、测试传感器(未图示)、测试头36，所述导轨32与自动入料机构20和自动收料机构50相连接，所述分离器34设于测试头36上方；所述分选机构40安装于所述分选操作台14上，包括分选分料梭42、落料管(未图示)、分选传感器(未图示)、不良品装置44，所述不良品装置44远离导轨32设置，通过落料管与所述分料梭42相连接，所述分选传感器(未图示)设于所述不良品装置44的上方，所述测试机构30与所述分选机构40电性连接。
[0017]晶体管通过自动入料机构20的震动方式按照一定的方向上料并进入导轨32，当晶体管经过分离器34分离，通过导轨32中的测试传感器下滑到测试头36的位置时，由测试传感器给测试头36 —个信号，测试头36马上对在测试位置的晶体管进行电参数检测，得出检测结果后，所述晶体管到达分选位，所述分选传感器给分料梭42 —个信号开始工作，分料梭42按照所述测试机构30传输过来的检测结果进行分选，所述不合格的晶体管通过落料管落入不良品装置44中，测试合格的晶体管继续沿着导轨32传送到达自动收料机构50，进行自动收料。由于自动入料机构20和自动收料机构50的设置，使得入料和收料可以自动进行。
[0018]如果有需要，还可以在所述测试机构30设置打标装置(未图示)，其设于所述测试头36下方，打标装置可以根据测试结果对晶体管分档，并根据分档对晶体管进行打标。同时可以根据要求选择单独测试或者单独打标。
[0019]还可以包括触摸屏控制装置60，包括电路板(未图示)及与电路板电性连接的触摸屏62，所述电路板与所述入料机构20、测试机构30、分选机构40及自动收料机构50电性连接，通过所述触摸屏62控制各个机构的运行情况。所述触摸屏62控制装置可以通过现有技术进行实现，此处不再赘述。
[0020]为了安全起见，本实施例中还设置有安装于入料操作台上并电性连接于所述电路板的报警装置70，其用于对各个机构运行的特殊状况进行报警。
[0021]综上所述，本实用新型的测试分选机自动更换上下料管，节约人工成本，减少繁琐的人工操作，高精度测试分档，满足不同的客户，测试打标一体制，根据生产需求灵活调整可单独测试或单独打标，压缩生产周期，高速分选模式，根据生产工艺，操作简单方便，根据不同的产品可调整不同的速度。
[0022]以上所述，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形都应属于本发明权利要求的保护范围。
【权利要求】
1.一种测试分选机，其特征在于，包括机架，依次安装于机架上的自动入料机构、测试机构、分选机构及自动收料机构；所述机架设有入料操作台及分选操作台，所述分选操作台由上往下设置，自动入料机构通过减振垫固定在入料操作台上；所述测试机构安装于所述分选操作台上，包括导轨、分离器、测试传感器、测试头，所述导轨与自动入料机构和自动收料机构相连接，所述分离器设于测试头上方；所述分选机构安装于所述分选操作台上，包括分选分料梭、落料管、分选传感器、不良品装置，所述不良品装置远离导轨设置，通过落料管与所述分料梭相连接，所述分选传感器设于所述不良品装置的上方。
2.如权利要求1所述的测试分选机，其特征在于，所述测试机构包括打标装置，所述打标装置设于所述测试头下方。
3.如权利要求1所述的测试分选机，其特征在于，还包括安装于机架的触摸屏控制装置，所述触摸屏控制装置包括电路板及与电路板电性连接的触摸屏，所述电路板与所述入料机构、测试机构、分选机构及自动收料机构电性连接。
4.如权利要求3所述的测试分选机，其特征在于，还设置有安装于入料操作台上并电性连接于所述电路板的报警装置。
【文档编号】B07C5/344GK204052204SQ201420358590
【公开日】2014年12月31日 申请日期:2014年6月30日 优先权日:2014年6月30日
【发明者】刘春荣 申请人:广东华冠半导体有限公司