测试分选机的制作方法

本技术涉及产品检测领域，尤其是涉及一种测试分选机。

背景技术：

1、测试分选机用于检测产品的质量是否合格，且测试分选机可以将不良品从合格的产品中分离，当产品为电子元件时，通过检测电子元件的外观及电特性，可以确定电子元件的质量是否合格。

2、相关技术中，现有的测试分选机功能单一，一些测试分选机仅能检测电子元件的外观是否合格，当存在外观不合格的不良品时，测试分选机可以将不良品从良品中分离。并且，一些测试分选机仅能检测电子元件的电特性是否合格，当存在性能不合格的不良品时，测试分选机可以将不良品从良品中分离。多种测试分选机需要串联使用，会导致电子元件的分选流程繁琐，从而影响了电子元件的生产效率。

技术实现思路

1、为了简化电子元件的分选流程，提高电子元件的生产效率，本技术提供一种测试分选机。

2、本技术提供的一种测试分选机采用如下的技术方案：

3、一种测试分选机，包括：夹取装置，所述夹取装置具有多个适于夹取电子元件的夹取机构，多个所述夹取机构沿所述夹取装置的周向方向依次排布，所述夹取装置适于驱动多个所述夹取机构均绕所述夹取装置的中心轴线转动；沿所述夹取装置的周向方向间隔开的上料装置、检测装置、测试装置、第一存储装置和第二存储装置，每个所述夹取机构均适于夹取所述上料装置上待检测的电子元件，所述检测装置适于检测所述夹取机构夹取的所述电子元件是否存在外观缺陷，所述测试装置适于检测所述夹取机构夹取的所述电子元件是否存在性能缺陷；所述测试分选机被构造为当所述电子元件不存在缺陷时控制所述夹取机构将对应的所述电子元件存储于所述第一存储装置，以及当所述电子元件存在缺陷时控制所述夹取机构将对应的所述电子元件存储于所述第二存储装置。

4、通过采用上述技术方案，测试分选机可以通过检测装置和测试装置分别检测夹取机构夹取的电子元件，然后将不良品的电子元件从良品的电子元件中分离，与现有技术相比，分选电子元件所需的测试分选机数量更少，从而可以简化电子元件的分选流程，进而可以提高电子元件的生产效率。

5、优选的，所述夹取装置设有固定座和驱动件，所述夹取机构固定于所述固定座，多个所述夹取机构沿所述固定座的周向方向依次间隔开，所述驱动件与所述固定座传动连接，所述驱动件适于驱动所述固定座绕所述固定座的中心轴线转动以带动所述多个所述夹取机构均绕所述夹取装置的中心轴线转动，所述夹取机构适于分别转动至与所述上料装置、所述检测装置、所述测试装置、所述第一存储装置和所述第二存储装置相对。

6、通过采用上述技术方案，通过驱动件驱动固定座带动夹取机构转动至与测试分选机的多个装置相对，在同一时刻下与多个装置一一对应且相对设置的多个夹取机构可以同时将电子元件装入对应的装置内，以使测试分选机的多个装置执行对应的操作，从而可以实现测试分选机同时对电子元件实现多种测试和分选功能，提高了测试分选机的功能性，减少了电子元件分选时所需的分选步骤。

7、优选的，所述上料装置、所述检测装置、所述测试装置、所述第一存储装置和所述第二存储装置中的至少两个适于在同一时刻下分别与所述夹取机构相对。

8、通过采用上述技术方案，在同一时刻下与多个装置分别相对的夹取机构可以同时将电子元件装入对应的装置内，多个装置能够同时对电子元件进行处理，可以减少测试分选机中各装置的等待装入电子元件所需时间，从而可以进一步地提高测试分选机的分选效率。

9、优选的，所述夹取机构具有固定件、运动组件和夹取件，所述夹取件适于夹取所述电子元件，所述固定件与固定座固定连接，所述夹取件与所述运动组件固定连接，通过所述运动组件带动所述夹取件靠近或远离所述固定件运动，使所述夹取件沿所述固定座的轴向方向运动以带动所述电子元件靠近或远离所述上料装置、所述检测装置、所述测试装置、所述第一存储装置和所述第二存储装置运动。

10、通过采用上述技术方案，通过使夹取件适于靠近或远离测试分选机的各装置运动，可以便于夹取件将电子元件装入或移出测试分选机的各装置，也可以确保夹取件及夹取件夹取的电子元件不与测试分选机的各装置发生干涉，从而可以使测试分选机能够流畅运行。

11、优选的，所述检测装置和所述测试装置均设有至少一个，至少一个所述测试装置与相邻的所述检测装置间设有校准装置，所述校准装置适于与所述夹取机构相对，所述校准装置适于将所述电子元件在所述夹取机构上的夹取位置和夹取角度校准至预设夹取位置和预设夹取角度。

12、通过采用上述技术方案，在夹取机构将电子元件转运至相邻设置的测试装置与检测装置中位于下游侧的一个之前，通过校准装置对电子元件的角度和位置进行校准，可以使调节后的电子元件能够与测试装置的测试位或检测装置的测试位相对，从而可以便于夹取机构将电子元件转入测试装置或检测装置内，可以避免电子元件转入测试装置或检测装置内时卡滞。

13、优选的，所述校准装置包括卡盘和多个卡爪，多个所述卡爪均设于所述卡盘且沿所述卡盘的周向方向间隔开，所述电子元件适于放置于所述卡盘的上表面的中心处，多个所述卡爪均适于沿所述卡盘的径向方向朝向所述卡盘中心处运动，以推动所述电子元件相对所述夹取机构运动至预设夹取位置和预设夹取角度。

14、通过采用上述技术方案，通过调整卡盘上多个卡爪的位置和每个卡爪的运动距离，可以调节电子元件的预设夹取位置和预设夹取角度，从而可以使电子元件相对夹取机构的位置更适宜，进而便于夹取机构将电子元件装入位于校准装置的下游侧的测试装置内。

15、优选的，所述上料装置包括：振动件、方向调整件和导轨，所述导轨的一端与所述振动件连接配合，所述导轨的另一端适于位于所述夹取机构的正下方；所述振动件适于存储待检测的所述电子元件，且所述振动件振动时适于驱动所述电子元件沿所述导轨朝向靠近所述夹取机构的方向运动；所述方向调节件设于所述导轨且适于将所述电子元件的预设夹取面调节至与所述夹取机构相对。

16、通过采用上述技术方案，导轨可以将振动件上的多个电子元件依次排序后向导轨的远离振动件的一端输送，方向调节件可以根据电子元件的特征结构的位置调整电子元件的预设夹取面的朝向，通过振动件、方向调整件和导轨配合，可以使测试分选机实现使用夹取机构自动夹取待检测的电子元件的技术效果，从而可以提高测试分选机的检测效率。

17、优选的，所述第一存储装置包括：承载座、置物盘和位置检测件，所述置物盘具有多个置物格且可拆地安装于所述承载座，所述位置检测件适于检测第一位置数据，所述第一位置数据为未置物的所述置物格的位置数据，所述承载座适于根据所述第一位置数据带动所述置物盘运动，以使未置物的所述置物格与所述夹取机构相对。

18、通过采用上述技术方案，控制器可以根据第一位置数据控制驱动电机驱动承载座本体带动置物盘运动，以使未置物的置物格与夹取机构相对，夹取结构夹取的良品的电子元件可以放置于未置物的置物格内，以使未置物的置物格转变为已置物的置物格，用户可以回收置物盘以转移良品的电子元件。

19、优选的，所述第一存储装置还设有存放件，所述存放件限定出多个存放空间，每个所述存放空间内均适于放置置物盘；所述位置检测件还适于检测第二位置数据，所述第二位置数据为已置物的所述置物格的位置数据，所述承载座被构造为根据所述第二位置数据确定已置物的所述置物格的数量达到预设置物数量时，将对应的已置物的所述置物盘存放于所述存放空间内，且将未置物的所述置物盘从所述存放空间内取出。

20、通过采用上述技术方案，通过承载座自动卸载置物数量达到预设置物数量的置物盘、且自动装载未置物的置物盘，可以减少人工操作测试分选机的频率，从而可以提高测试分选机的自动化程度，有助于进一步地提高电子元件的分选效率。

21、优选的，所述检测装置构造为3d5s多角度检测相机；所述测试装置构造为低压电特性检测装置。

22、通过采用上述技术方案，相机本体能够通过多个反射棱镜采集电子元件的多个平面的外观图片，3d5s多角度检测相机能够同时对电子元件的多个平面进行视觉检测，从而可以提高检测装置的检测效率，低压电特性检测装置可以向电子元件通电，低压电特性检测装置可以通过电子元件的实际电流数值和电压数值等判断电子元件是否有短路、短路等性能缺陷，从而测试分选机可以根据电子元件的电特性确定对应的电子元件是否为良品。

23、综上所述，本技术包括以下至少一种有益技术效果：

24、1.测试分选机可以通过检测装置和测试装置分别检测夹取机构夹取的电子元件，然后将不良品的电子元件从良品的电子元件中分离，与现有技术相比，分选电子元件所需的测试分选机数量更少，从而可以简化电子元件的分选流程，进而可以提高电子元件的生产效率；

25、2.通过驱动件驱动固定座带动夹取机构转动至与测试分选机的多个装置相对，在同一时刻下与多个装置一一对应且相对设置的多个夹取机构可以同时将电子元件装入对应的装置内，以使测试分选机的多个装置执行对应的操作，从而可以实现测试分选机同时对电子元件实现多种测试和分选功能，提高了测试分选机的功能性，减少了电子元件分选时所需的分选步骤；

26、3.通过承载座自动卸载置物数量达到预设置物数量的置物盘、且自动装载未置物的置物盘，可以减少人工操作测试分选机的频率，从而可以提高测试分选机的自动化程度，有助于进一步地提高电子元件的分选效率。