本技术属于测试机,具体涉及一种分选测试机的分选结构。
背景技术:
1、测试机即工程测试机,是指在机器设备正常发售之前生产出的,用于分发公司内部员工、经销商、合作伙伴,在该用户群使用过程中发现问题来进行优化、订正的测试用样机。
2、授权公开号“cn 218079055 u”记载了“一种芯片测试分选机。该芯片测试分选机具有用以测试磁性芯片的测试区。该芯片测试分选机包括运载机构、取放机构及压测机构。运载机构用以运载芯片;取放机构用以转运测试区和运载机构上的芯片。压测机构与测试区对应设置,并能够对测试区上的芯片进行下压测试。其中,压测机构至少包括磁性单元,磁性单元能够在芯片的测试过程中提供变化的磁场。本实用新型的优点在于:本申请中的芯片测试分选机自动化程度高,测试效率较高”
3、上述专利可以有效的显著出提高测试效果,但现有集中在对芯片进行分选测试时,易造成芯片对设备的卡顿,从而造成芯片磨损和掉落,影响芯片测试效果的问题。
技术实现思路
1、本实用新型的目的在于提供一种分选测试机的分选结构,旨在解决现有技术中的对芯片进行分选测试时,易造成芯片对设备的卡顿,从而造成芯片磨损和掉落,影响芯片测试效果的问题。
2、为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:
3、一种分选测试机的分选结构,包括:
4、安装柱;
5、固定盘,固定连接于所述安装柱的上端;
6、三个三角支撑杆,固定连接于所述固定盘的上端;
7、三个导出管,分别固定连接于三个所述三角支撑杆的上端,三个导出管滑倒分别成宽、中、窄;
8、滑杆,固定连接于三个所述导出管的上端;以及
9、导料管,固定连接于三个所述导出管的上端。
10、作为本实用新型一种优选的方案,所述安装柱的下端固定连接有圆形板,所述圆形板的上端固定连接有挡架。
11、作为本实用新型一种优选的方案,所述挡架的圆周表面开设有两个条形槽,两个所述条形槽的下内壁均固定连接有透明壳。
12、作为本实用新型一种优选的方案,所述圆形板的下端开设有通孔,所述圆形板的一侧内壁转动连接有转板。
13、作为本实用新型一种优选的方案,所述圆形板的下端固定连接有支撑柱,所述支撑柱的下端固定连接有固定板,所述固定板的上端开设有四个定位槽。
14、作为本实用新型一种优选的方案,所述圆形板的下端固定连接有三个导管,所述固定板的下端固定连接有防护垫。
15、与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
16、1、本方案,通过将芯片导入导料管内,使得芯片接触滑杆后通过缝隙,掉落在其中一个对于大小的导出管内,从而达到对芯片的分选,从而减少芯片掉落时卡住的效果。
17、2、本方案,通过设置在挡架表面的透明壳,可从而显示出挡架内芯片掉落的效果,通过设置在圆形板下的导管,可将分选后的芯片导出的效果,通过设置在支撑柱下的固定板,可将设备进行固定安装的效果。
1.一种分选测试机的分选结构,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的一种分选测试机的分选结构,其特征在于:所述安装柱(16)的下端固定连接有圆形板(7),所述圆形板(7)的上端固定连接有挡架(1)。
3.根据权利要求2所述的一种分选测试机的分选结构,其特征在于:所述挡架(1)的圆周表面开设有两个条形槽(6),两个所述条形槽(6)的下内壁均固定连接有透明壳(2)。
4.根据权利要求3所述的一种分选测试机的分选结构,其特征在于:所述圆形板(7)的下端开设有通孔,所述圆形板(7)的一侧内壁转动连接有转板(8)。
5.根据权利要求4所述的一种分选测试机的分选结构,其特征在于:所述圆形板(7)的下端固定连接有支撑柱(11),所述支撑柱(11)的下端固定连接有固定板(5),所述固定板(5)的上端开设有四个定位槽(10)。
6.根据权利要求5所述的一种分选测试机的分选结构,其特征在于:所述圆形板(7)的下端固定连接有三个导管(4),所述固定板(5)的下端固定连接有防护垫(9)。