一种可调磁偏角复测校核装置的制作方法

文档序号:17409429发布日期:2019-04-16 22:24阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种可调磁偏角复测校核装置,包括由底座(1)、调平螺杆(2)组成的基座,其特征在于:所述基座上部布设一根限位螺杆支架(3),限位螺杆支架(3)搭接定位槽(5),定位槽(5)外立面刻印磁偏角基准线(4)。

2.根据权利要求1所述一种可调磁偏角复测校核装置,其特征在于:所述限位螺杆支架(3)上设有用于定位的锁定螺母(6),锁定螺母(6)顶部与定位槽(5)形成限位卡扣。

3.根据权利要求1所述一种可调磁偏角复测校核装置,其特征在于:所述底座(1)中部安装气泡调平仪(7),通过调平螺杆(2)使底座(1)水平。

4.根据权利要求1所述一种可调磁偏角复测校核装置,其特征在于:所述底座(1)与限位螺杆支架(3)形成固定角度,定位槽(5)中部设有限位插孔(8)。

5.根据权利要求1所述一种可调磁偏角复测校核装置,其特征在于:所述底座(1)与定位槽(5)及限位螺杆支架(3)连接部位设置环形活动铰接(9)。

6.根据权利要求1或3或4或5所述一种可调磁偏角复测校核装置,其特征在于:所述底座(1)采用木质硬板。

7.根据权利要求1或2或4所述一种可调磁偏角复测校核装置,其特征在于:所述定位槽(5)采用成品铝合金槽。

8.根据权利要求1所述一种可调磁偏角复测校核装置,其特征在于:所述调平螺杆(2)、限位螺杆支架(3)均采用非铁质高强螺杆及配套螺母制作而成。

9.根据权利要求5所述一种可调磁偏角复测校核装置,其特征在于:所述环形活动铰接(9)为中轴柱体铝合金外套非铁质螺母制作而成。

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