专利名称:利用谐振电路侦测待测物的侦测装置制造方法
【专利摘要】一种利用谐振电路侦测待测物的侦测装置，应用在集成电路领域中的一测试系统上，该侦测装置包括一谐振电路及一检知电路，该谐振电路包括一感应件，该感应件设于邻近该测试系统的一测试插座的位置，且在感测到已测试完毕的一待测物还被插接在该测试插座时，能触发该谐振电路产生一特性变化讯号；该检知电路系分别电气连接至该谐振电路及该测试系统的一控制单元，当该检知电路测得该特性变化讯号时，能据以判断是否通知该控制单元关闭对该测试系统的一机器手臂的供电。如此，除可避免在大量测试过程中，因该机器手臂未确实将已测试完毕的待测物移开，而造成的损坏外，亦能避免计算机装置于辨识上的误判，进而有效提高测试的效率及准确性。
【专利说明】利用谐振电路侦测待测物的侦测装置
【技术领域】
[0001] 本实用新型是关于侦测装置，尤其指一种利用谐振电路侦测待测物的侦测装置， 以避免在大量测试过程中，因已测试完毕的待测物未确实自一测试插座被移开，而另一待 测物又将被送至该测试插座时所造成的损坏，并避免过去利用计算机装置进行辨识所造成 的误判，进而有效提高测试的效率及准确性。
【背景技术】
[0002] 近年来，随着电子产业的蓬勃发展，及受到电子产品轻薄化设计的影响，集成电路 (integrated circuit，简称1C)已被广泛地应用于各种电子产品上，而成为不可或缺的电 子组件。一般而言，为能确保集成电路的生产良率，业者通常会于出货之前，对集成电路进 行电路测试，以能淘汰出不良品。
[0003] 按，请参阅图1所示，集成电路A被执行电路测试时，业者通常会利用一吸附式的 机器手臂11，将集成电路A在复数个测试插座12之间位移，以能执行各种测试。惟，前述的 测试方式中，集成电路A会往复地被安装或拔离于该测试插座12上，因此，该测试插座12 有时会残留受损的集成电路A的余肩。又，在长时间的使用下，该测试插座12还会蓄积灰 尘或其它异物，当工作人员未能实时察觉或清理的情况下，易使后续置入的集成电路A因 压抵到异物而陆续受损，且该异物亦会影响到集成电路A与该测试插座12内探针的接触， 造成集成电路A损坏率增加及测试质量不佳的缺失。
[0004] 承上，请参阅图1所示，为使测试系统10的测试信号，能够确实地传送至集成电路 A，以测试出该集成电路A是否能正常工作，该机器手臂11会将集成电路A按压并插设于该 测试插座12上，以使集成电路A的端子和插座的探针相接触。然而，在插拔集成电路A的 过程中，当该机器手臂11不慎拔取集成电路A失败时，将会造成该集成电路A遗留在该测 试插座12上，导致后续的集成电路A被按压至该测试插座12时，会重迭至原先的集成电路 A上而无法正常执行电路测试，甚至，会发生将原先的集成电路A的测试结果，误认为是后 续的集成电路A的测试结果，而错误地判断了集成电路A的良劣质量。此外，将集成电路A 重复迭置按压时，亦可能造成该测试插座12或集成电路A的损坏，提高了业者的生产与维 修成本。
[0005] 为能解决前述问题，业者通常会在测试插座12的上方增设一远程监视装置（如： 摄影机），该远程监视装置会不断地拍摄该测试插座12上的画面，并将拍摄图片传送至一 计算机装置，嗣，该计算机装置会将拍摄图片与一标准图片进行比对，其中该标准图片为该 测试插座12上未插设有集成电路A的画面，如此，计算机装置即可判断出当前的测试插座 12上，是否存有未移除的集成电路A，以能通知工作人员将该集成电路A移除。惟，前述的 方式虽然能够大幅地避免集成电路A被重复迭置的问题，但极易因集成电路A所封装颜色 与该测试插座12相似，或者该测试插座12周边的环境在不同时间上的些微差异（如：灯 光、工作人员的影子），令计算机装置在比对拍摄图片与标准图片上更加困难，而常出现误 判的情况，造成没完全发现未被移除的集成电路A，或不易辨识到测试插座12上的异物。此 夕卜，为达成前述的方式，业者就需额外支出一笔购置昂贵设备的费用，使得业者负担的成本 会更加沉重。
[0006] 故，如何针对前述缺失，设计出一种造价便宜又准确的侦测装置，以得知当前的测 试插座上，是否存有未移除的集成电路，即成为相关业者的重要课题。 实用新型内容
[0007] 本实用新型的目的是提供一种利用谐振电路侦测待测物的侦测装置，以期能有效 改善前述的诸多缺失。
[0008] 申请人:为改进前述测试集成电路上，所使用的检查方式无法有效避免集成电路被 重复迭置的缺点，经过长久努力研宄与实验，终于开发设计出本实用新型的一种利用谐振 电路侦测待测物的侦测装置，以期能有效改善前述的诸多缺失。
[0009] 为实现上述目的，本实用新型提供的利用谐振电路侦测待测物的侦测装置，该侦 测装置是应用在集成电路领域中的一测试系统上，该测试系统还包括一测试单元、一机器 手臂及一控制单元，该测试单元设有一测试插座，该测试插座是供一待测物插接其上，以令 该测试单元测试该待测物是否能正常运作；该机器手臂能将该待测物位移且插接至该测试 插座，或将已测试完毕的该待测物由该测试插座上拔出且移开；该控制单元分别电气连接 至一电源、该测试单元及该机器手臂，以开启或关闭该电源对该测试单元及该机器手臂的 供电，且驱动或停止该测试单元及该机器手臂的运作；该侦测装置与该控制单元相电气连 接，以令该控制单元能通过该侦测装置，侦测该测试插座上是否还存在该待测物，并据以驱 动或停止该机器手臂将另一待测物位移且插接至该测试插座，该侦测装置包括一谐振电路 及一检知电路，该谐振电路包括一感应件，该感应件设于邻近该测试插座的位置，且在感测 到该待测物被插接至该测试插座时，能触发该谐振电路产生一特性变化讯号；该检知电路 系分别电气连接至该谐振电路及该控制单元，当该检知电路测得该特性变化讯号时，能据 以判断是否通知该控制单元关闭对该机器手臂的供电。
[0010] 如此，业者由于该测试系统中增设该侦测装置，即可避免在大量测试的过程中，因 该机器手臂未确实地将已测试完毕的待测物移开，而又将另一待测物送至该测试插座时， 所造成的损坏，此外，由于该侦测装置的造价相对便宜且侦测准确，故除能节省过去业者增 设远程监视装置及计算机装置的成本外，亦能避免计算机装置于辨识上的误判，进而有效 提高测试的效率及准确性。
[0011] 为便贵审查委员能对本实用新型目的、技术特征及其功效，做更进一步的认识与 了解，举实施例配合附图详细说明如下。
【附图说明】
[0012] 图1为公知测试系统的示意图；
[0013] 图2为本实用新型一较佳实施例的测试系统硬件方块示意图；
[0014] 图3为本实用新型一较佳实施例的测试系统局部示意图；
[0015] 图4为本实用新型另一较佳实施例中测试系统局部示意图；及
[0016] 图5为本实用新型一较佳实施例的侦测装置的谐振电路的电路图。
[0017] 附图中主要组件符号说明
[0018] 公知部分：
[0019] 测试系统10,机器手臂11，测试插座12,集成电路A ;
[0020] 本实用新型部分：
[0021] 测试系统20,测试单元21，测试插座211，固定板212,机器手臂22,控制单元23， 侦测装置3,谐振电路31，感应件311，电感L，电容C，电阻R s，检知电路32,待测物B。
【具体实施方式】
[0022] 本实用新型是一种利用谐振电路侦测待测物的侦测装置，请参阅图2及图3所示， 在本实用新型的一较佳实施例中，该侦测装置3是应用在集成电路领域中的一测试系统20 上，该测试系统20还包括一测试单元21、一机器手臂22及一控制单元23,该测试单元21 设有至少一测试插座211，该测试插座211是供一待测物B插接其上，以令该测试单元21测 试该待测物B是否能正常运作。在本较佳实施例中，该待测物B为一集成电路；该机器手臂 22能将该待测物B位移且插接至该测试插座211，或将已测试完毕的该待测物B由该测试 插座211上拔出且移开；该控制单元23分别电气连接至一电源、该测试单元21及该机器手 臂22,以开启或关闭该电源对该测试单元21及该机器手臂22的供电，且驱动或停止该测试 单元21及该机器手臂22的运作。
[0023] 请参阅图2及图3所示，该侦测装置3是与该控制单元23相电气连接，以令该控制 单元23能通过该侦测装置3,侦测该测试插座211上是否还存在该待测物B，并据以驱动或 停止该机器手臂22将另一待测物B位移且插接至该测试插座211，该侦测装置3包括一谐 振电路31及一检知电路32,该谐振电路31包括一感应件311，该感应件311设于邻近该测 试插座211的位置，且在感测到该待测物B被插接至该测试插座211时，能触发该谐振电路 31产生一特性变化讯号；该检知电路32分别电气连接至该谐振电路31及该控制单元23， 当该检知电路32测得该特性变化讯号时，能据以判断是否通知该控制单元23关闭对该机 器手臂22的供电。
[0024] 在本实用新型的另一较佳实施例中，请参阅图3所示，该测试单元21还包括一固 定板212,该固定板212设于该测试插座211的顶面周缘，该感应件311则设于该固定板212 邻近该测试插座211的一侧面，以感测该待测物B是否被插接至该测试插座211，惟，在本 实用新型的其它实施例中，如图4所示，该感应件311亦可设于该测试插座211的顶面，无 论其设置态样为何，请参阅图2及图3,只要该感应件311是设于邻近该测试插座211的位 置，且在感测到该待测物B被插接至该测试插座211时，能触发该谐振电路31产生该特性 变化讯号，即为本实用新型在此欲保护的范围。
[0025] 承上，请参阅图2、图3及图5所示，该谐振电路31还包括一电容C及一电阻R s，该 感应件311为一金属线圈，以作为该谐振电路31上的一电感L，并与该电容C及该电阻艮形 成谐振电路，该电感L能在该待测物B被插设于该测试插座211上，而邻近于该感应件311 时，对该谐振电路31造成一特性变化，该特性变化除可指，因该待测物B被插设于该测试插 座211上，而令该电感L产生的特性变化以外，亦可指因该电感L的特性变化，而相对地产 生特性变化的谐振频率f〇、等效电阻&或质量因子Q(请参考下列公式（1)?（3)所示，是 该谐振电路31的谐振频率&、等效电阻R p或质量因子Q与其电感L、电容C及电阻R s之间 的关系式：
【权利要求】
1. 一种利用谐振电路侦测待测物的侦测装置，其特征是，应用一测试系统上，该测试系 统包括一测试单元、一机器手臂及一控制单元，该测试单元上设有一测试插座，该测试插座 供一待测物插接其上；该机器手臂将该待测物位移且插接至该测试插座，或将已测试完毕 的该待测物由该测试插座上拔出且移开；该控制单元分别电气连接至一电源、该测试单元 及该机器手臂；该侦测装置包括： 一谐振电路，包括一感应件，该感应件设于邻近该测试插座的位置，且在感测到该待测 物被插接至该测试插座时，能触发该谐振电路产生一特性变化讯号；及 一检知电路，该检知电路分别电气连接至该谐振电路及该控制单元，当该检知电路测 得该特性变化讯号时，以判断是否通知该控制单元关闭对该机器手臂的供电。2. 根据权利要求1所述的侦测装置，其特征是，该待测物为一集成电路。3. 根据权利要求2所述的侦测装置，其特征是，该测试单元包括一固定板，该固定板设 于该测试插座的顶面周缘，该感应件则设于该固定板邻近该测试插座的一侧面。4. 根据权利要求2所述的侦测装置，其特征是，该感应件设于该测试插座的顶面。5. 根据权利要求1、2、3或4所述的侦测装置，其特征是，该感应件为一金属线圈，作为 该谐振电路上的一电感，该电感能在该待测物被插接至该测试插座时，对该谐振电路造成 一特性变化。6. 根据权利要求1、2、3或4所述的侦测装置，其特征是，该感应件为一金属板，作为该 谐振电路上的一电容，该电容能在该待测物被插接至该测试插座时，对该谐振电路造成一 特性变化。
【文档编号】G01R31-28GK204302447SQ201420723647
【发明者】陈正泰 [申请人]延富科技股份有限公司