专利名称：测试探针的制作方法
技术领域：
本发明关于一种测试探针，特别关于一种用以测试电解电容(electrolytic capacitor)的测试探针。
背景技术：
电子产品通常是由许多小型电子零件所组合而成，其中电解电容(electrolytic capacitor)便是一种常见的小型电子零件。而当电子产品组装完成时，通常必须经过一连串的测试，例如电性测试、功能测试等，以电解电容的测试为例，其通常必须测试所组装的电解电容是否有规格错误、极性相反、及缺少元件等问题。
请参照图1所示，其显示一电路板11、设置于电路板11上的一电解电容13、以及一测试器具20。其中，测试器具20包括一机体21以及一测试探针23；在现有技术中，测试探针23为一不可压缩的针体，因此当利用已有的测试探针23进行电解电容13的测试时，常常会由于施力不当而造成测试探针23的断裂或弯曲，结果会影响测试结果的正确性，并且会降低测试器具20的寿命。
承上所述，为解决现有技术的测试探针容易断裂或弯曲的问题，熟悉该项技术者揭示一种如图2所示的测试探针30，其包括一套筒31、一弹簧33以及一活动杆35；其中，套筒31具有一容置部311以及至少一缩口313，而弹簧33设置于容置部311中，活动杆35的一端为一挡止端部351，其位于容置部311中、并介于缩口313与弹簧33之间。如图2所示，由于活动杆35与套筒31能够相对滑动以提供一探针行程，所以当使用测试探针30来进行电解电容的测试时，可以利用此探针行程来缓冲测试探针30所受到的应力，以避免施力不当所造成的断裂或弯曲。其中，探针行程可以定义为测试探针30与待测试的电解电容接触的部位(即活动杆35的另一端)所能够移动的距离。
然而，已知的测试探针30仅利用缩口313来将挡止端部351维持在容置部311中，此时，当活动杆35露出于容置部311外的长度(即探针行程)与缩口313直径的比值过大时，测试探针30便容易自其缩口313处弯曲或断裂，如图3所示。因此，已知的测试探针30所能够提供的最大探针行程受到限制。
因此，如何提供一种能够同时提供较大的探针行程、且具有较佳探针强度的测试探针，乃当前电子产品制造的重要课题之一。
发明内容
有鉴于上述课题，本发明的目的为提供一种能够同时增加探针行程并改善探针强度的测试探针。
为达上述目的，依本发明所述的测试探针包括一第一套筒、一第一弹性件、一第一活动杆、一第二弹性件、以及至少一第二活动杆。在本发明中，第一套筒具有一第一容纳部；第一弹性件设置于第一容纳部内；第一活动杆至少部分位于第一容纳部内，并具有一第一挡部及一第二容纳部，第一挡部设置于第一容纳部内并与第一弹性件相接触，以使得第一活动杆相对于第一容纳部为可滑动；第二弹性件设置于第二容纳部内；第二活动杆至少部份位于第二容纳部内，并具有一第二挡部，第二挡部设置于第二容纳部内并与第二弹性件相接触，以使得第二活动杆相对于第二容纳部为可滑动。
承上所述，因依本发明的测试探针利用第一活动杆及第二活动杆来提供二阶段的探针行程，所以能够有效地增加测试探针的探针行程；另外，本发明的测试探针将所受到的应力分配至第一活动杆及第二活动杆，所以能够有效地改善测试探针的强度。
图1为显示现有技术的电解电容测试的示意图；图2为显示现有技术的测试探针的剖面示意图；图3为显示现有技术的测试探针弯曲变形的示意图；图4A为显示本发明较佳实施例之测试探针的剖面示意图；图4B为显示如图4A所示测试探针的分解示意图；图5A与5B为显示本发明另一较佳实施例的测试探针的剖面示意图；图6A与6B为显示本发明又一较佳实施例的测试探针的剖面示意图；图7为一显示本发明较佳实施例的测试器具的示意图。
图中符号说明11 电路板13 电解电容20 测试器具21 机体23 测试探针30 测试探针31 套筒311容置部313缩口33 弹簧35 活动杆351挡止端部4 测试探针41 第一套筒411第一容纳部
412第一缩口42 第一弹性件43 第一活动杆431第一挡部432第二容纳部433第二缩口44 第二弹性件45 第二活动杆451第二挡部5 测试探针51 第一套筒511第一容纳部512第一缩口52 第一弹性件53 第一活动杆531第一挡部532第二容纳部533第二缩口534C形环54 第二弹性件55 第二活动杆551第二挡部552C形环56 第二套筒561第一穿孔57 第三套筒571第二穿孔70 测试器具71 机体72 测试探针
具体实施例方式
以下将参照相关附图，说明依本发明较佳实施例的测试探针，其中相同的元件将以相同的参照符号加以说明。
请参照图4A与图4B所示，依本发明较佳实施例的测试探针4包括一第一套筒41、一第一弹性件42、一第一活动杆43、一第二弹性件44、以及至少一第二活动杆45。
第一套筒41具有一第一容纳部411。在本实施例中，第一容纳部411提供一空间以容纳第一弹性件42以及至少一部份的第一活动杆43；另外，第一容纳部411更具有一第一缩口412。
第一弹性件42设置于第一容纳部411内。在本实施例中，第一弹性件42可以是任意一种能够提供一维方向位移的弹性元件，例如为弹簧。
第一活动杆43具有一第一挡部431及一第二容纳部432，而且至少一部份的第一活动杆43位于第一容纳部411内，第一挡部431设置于第一容纳部411内并与第一弹性件42相接触。在本实施例中，第一挡部431介于第一弹性件42与第一缩口412之间，以便将第一挡部431限制在第一容纳部411中，并使得第一活动杆43相对于第一容纳部411为可滑动。另外，第二容纳部432更具有一第二缩口433。
第二弹性件44设置于第二容纳部432内。在本实施例中，第二弹性件44可以是任意一种能够提供一维方向位移的弹性元件，亦即是与第一弹性件42相似但尺寸较小，例如为弹簧。
第二活动杆45具有一第二挡部451，而且至少一部份的第二活动杆45位于第二容纳部432内，第二挡部451设置于第二容纳部432内并与第二弹性件44相接触。在本实施例中，第二挡部451介于第二弹性件44与第二缩口433之间，以便将第二挡部451限制在第二容纳部432中，并使得第二活动杆45相对于第二容纳部432为可滑动。需注意者，本发明较佳实施例的测试探针4可以具有复数个第二活动杆(图中未显示)，例如为三个或以上的第二活动杆。
如上所述，因第一活动杆43能够相对第一容纳部411滑动，且第二活动杆45能够相对第二容纳部432滑动，所以能够提供二阶段的探针行程；而且整个测试探针4所受到的外力，可以有效地分散在第一活动杆43与第二活动杆45，亦即是将外力分散转换成第一弹性件42与第二弹性件44的潜位能(potential)。
另外，请参考图5A与图5B所示，依本发明另一较佳实施例之测试探针5包括一第一套筒51、一第一弹性件52、一第一活动杆53、一第二弹性件54、至少一第二活动杆55以及一第二套筒56。
在本实施例中，第一套筒51具有一第一容纳部511，其具有一第一缩口512。第一弹性件52设置于第一容纳部511内；第一活动杆53的至少一部份位于第一容纳部511内，并具有一第一挡部531及一第二容纳部532，第一挡部531设置于第一容纳部511内并与第一弹性件52相接触，以使得第一活动杆53相对于第一容纳部511为可滑动，而第二容纳部532更具有一第二缩口533；第二弹性件54设置于第二容纳部532内；各第二活动杆55至少一部份位于第二容纳部532内，并具有一第二挡部551，第二挡部551设置于第二容纳部532内并与第二弹性件54相接触，以使得第二活动杆55相对于第二容纳部532为可滑动；第二套筒56套设及固定于第一容纳部511内并具有一第一穿孔561，而第一活动杆53穿过第一穿孔561，且第一挡部531位于或部分位于于第二套筒56外。其中，第二套筒56透过第一套筒51的第一缩口512固定于第一容纳部511内。
如图5A所示，第一弹性件52位于第一容纳部511内且与第二套筒56相邻而设，第一挡部531穿出于第二套筒56外，以便与第一弹性件52相接触。
另外，如图5B所示，第一弹性件52位于第一容纳部511内并设置于第一穿孔561内，此时，第一活动杆53更穿过第一弹性件52，且第一挡部531部分位于第二套筒56外，并利用一设置于第二套筒56外之C形环534将第一活动杆53部分限制于第二套筒56中。
再者，请参照图6A与图6B所示，在本发明另一较佳实施例之测试探针5的另一实施态样中，更包括一第三套筒57。
在本实施例中，第三套筒57套设及固定于第二容纳部532内并具有一第二穿孔571，而第二活动杆55穿过第二穿孔571，且第二挡部551位于或部分位于第三套筒57外。其中，第三套筒57透过第一活动杆53之第二缩口533固定于第二容纳部532内。
如图6A所示，第二弹性件54位于第二容纳部532内且与第三套筒57相邻而设，第二挡部551位于第三套筒57外，以便与第二弹性件54相接触。
另外，如图6B所示，第二弹性件54位于第二容纳部532内并设置于第二穿孔571内，此时，第二活动杆55更穿过第二弹性件54，且第二挡部551部分位于第三套筒57外，并利用一设置于第三套筒57外的C形环552将第二活动杆55部分限制于第三套筒57中。
需注意者，第一弹性件52的设置位置与第二弹性件54的设置位置可以任意搭配，例如第一弹性件52可以是设置于第二套筒56外，同时第二弹性件54可以是设置于第三套筒57的第二穿孔571内；或者是第一弹性件52设置于第二套筒56的第一穿孔561内，同时第二弹性件54设置于第三套筒57外；或者是第一弹性件52设置于第二套筒56的第一穿孔561内，同时第二弹性件54可以是设置于第三套筒57的第二穿孔571内。
如上所述，本发明较佳实施例的测试探针利用第二套筒56及第三套筒57来增加其强度，进而能够有效避免探针断裂或弯曲的情形。
另外，请参照图7所示，依本发明较佳实施例的测试器具70用以测试一电解电容13，特别适用以测试设置于一电路板11上的电解电容13。如图7所示，测试器具70包括一机体71、及至少一测试探针72，其中测试探针72连接至机体71。
在本实施例中，测试探针72为前述的测试探针4或测试探针5(如图4～6B所示)，故此不再赘述。需注意者，依本实施例的测试探针72的第一套筒更具有一连接部，以便测试探针72透过第一套筒的连接部与机体71连设。
综上所述，由于本发明的测试探针利用第一活动杆及第二活动杆的滑动来提供二阶段的探针行程，所以能够有效地增加测试探针的探针行程；另外，本发明的测试探针将所受到的应力有效地分散在第一活动杆及第二活动杆，亦即是将应力分散转换成第一弹性件与第二弹性件的潜位能，所以能够有效地改善测试探针的强度。
以上所述仅为举例性，而非为限制性者。任何未脱离本发明的精神与范畴，而对其进行的等效修改或变更，均应包含于所述的权利要求中。
权利要求
1.一种测试探针，包含一第一套筒，其具有一第一容纳部；一第一弹性件，其设置于该第一容纳部内；一第一活动杆，其至少一部份位于该第一容纳部内，并具有一第一挡部及一第二容纳部，该第一挡部设置于该第一套筒的该第一容纳部内，并与该第一弹性件相接触，该第一活动杆相对于该第一容纳部滑动；一第二弹性件，其设置于该第二容纳部内；以及至少一第二活动杆，其至少一部份位于该第二容纳部内，并具有一第二挡部，该第二挡部设置于该第一活动杆的该第二容纳部内，并与该第二弹性件相接触，该第二活动杆相对于该第二容纳部滑动。
2.如权利要求1所述的测试探针，其中该第一容纳部更包含一第一缩口。
3.如权利要求1所述的测试探针，更包含一第二套筒，该第二套筒设置及固定于该第一容纳部内并具有一第一穿孔，该第一活动杆穿过该第一穿孔，而该第一挡部的至少一部分位于该第二套筒外。
4.如权利要求3所述的测试探针，其中该第一弹性件位于该第一穿孔内，而该第一活动杆更穿过该第一弹性件。
5.如权利要求3所述的测试探针，其中该第一弹性件为一弹簧。
6.如权利要求3所述的测试探针，其中该第一挡部更包含一C形环，该C形环设置于该第二套筒外。
7.如权利要求1所述的测试探针，其中该第二容纳部更包含一第二缩口。
8.如权利要求1所述的测试探针，更包含一第三套筒，该第三套筒设置及固定于该第二容纳部内并具有一第二穿孔，该第二活动杆穿过该第二穿孔，而该第二挡部的至少一部分位于该第三套筒外。
9.如权利要求8所述的测试探针，其中该第二弹性件位于该第二穿孔内，且该第二活动杆更穿过该第二弹性件。
10.如权利要求8所述的测试探针，其中该第二挡部为一C形环，该C形环设置于该第三套筒外。
全文摘要
一种测试探针，包括一第一套筒、一第一弹性件、一第一活动杆、一第二弹性件、以及至少一第二活动杆。第一套筒具有一第一容纳部；第一弹性件设置于第一容纳部内；第一活动杆部分位于第一容纳部内，并具有一第一挡部及一第二容纳部，第一挡部设置于第一容纳部内并与第一弹性件相接触，以使得第一活动杆相对于第一容纳部为可滑动；第二弹性件设置于第二容纳部内；第二活动杆部份位于第二容纳部内，并具有一第二挡部，第二挡部设置于第二容纳部内并与第二弹性件相接触，以使得第二活动杆相对于第二容纳部为可滑动。
文档编号G01R1/067GK1700020SQ20041000505
公开日2005年11月23日 申请日期2004年5月20日 优先权日2004年5月20日
发明者李中山, 丁旭林 申请人:华硕电脑股份有限公司