专利名称：密封电磁继电器多余物微粒的复合检测系统的制作方法
技术领域：
本发明具体涉及继电器内部多余物的检测方法。
背景技术：
继电器广泛应用于工业现场，特别是航天继电器广泛应用在军事、航空、航天等国防领域中。继电器在控制、导航和监控等方面起到至关重要的作用，因此，保证继电器功能正常、不发生故障是确保任务成功以及人员和设备安全的关键。密封电磁继电器在制造、密封过程中，一些灰尘、塑料屑、焊锡等颗粒很容易被封装在继电器内并附着于继电器内部构件上形成多余物微粒，而这些多余物微粒是造成继电器失效的一个主要因素。由于我国现阶段继电器的设计基础理论薄弱，制造工艺水平不高，还无法实现从根源上消除多余物微粒的产生，因此，只能通过一定的方法来检测继电器中是否含有多余物微粒，然后剔除含有多余物微粒的继电器。对于研究密封电磁继电器的多余物检测技术，特别是研究航天继电器的多余物检测技术及预防措施对保证整个国防电子系统，尤其是卫星、导弹、载人航天飞船的可靠性具有重要的理论意义和实用价值。
目前，国内外常用的用于检测继电器是否含有多余物的方法是PIND法(即颗粒碰撞噪声检测法)和马特拉方法，采用马特拉方法对继电器进行检测，即在振动中通过监测密封继电器触点的接触电阻、绝缘电阻等静态参数，直接从多余物微粒对继电器的功能危害上检测多余物微粒的存在。马特拉方法作为PIND法的扩展和补充，虽然能够有效地检测出使密封继电器触点功能失效的各种金属、非金属多余物粒子，但是马特拉方法只能检测密封电磁继电器触点的接触电阻和绝缘电阻等静态参数，这些参数的失效只能反映触点间是否存在多余物粒子，而对于存在于继电器衔铁与极面之间的多余物微粒(多为铁磁性多余物微粒)无能为力且无法反映多余物微粒对继电器功能造成危害的程度有多大，所以说马特拉方法测试参数的潜在意义不大，且效率较低。
发明内容
本发明的目的是为了解决现有的马特拉方法检测效率低，无法测定存在于密封电磁继电器衔铁与极面之间的多余物微粒及无法进一步分析多余物微粒对继电器造成的危害程度的问题，从而提供了一种密封电磁继电器多余物微粒的复合检测系统。本发明包括用于固定被测密封电磁继电器的振动平台2，它还包括处理机3、驱动控制电路4、数据采集存储电路5、同步触发信号发生电路6、继电器线圈电流测量电路7、继电器触点参数测量电路8，处理机3的多路控制信号输出端连接驱动控制电路4的信号输入端，处理机3的多路测量数据输入端连接数据采集存储电路5的测量数据输出端，驱动控制电路4的单路控制信号输出端连接同步触发信号发生电路6的被测继电器控制信号输入端，同步触发信号发生电路6的被测继电器控制信号输出端连接继电器线圈电流测量电路7的被测继电器控制信号输入端，驱动控制电路4的多路控制信号输出端连接同步触发信号发生电路6、继电器线圈电流测量电路7和继电器触点参数测量电路8的控制信号输入端，同步触发信号发生电路6的触发信号输出端连接数据采集存储电路5的外触发信号输入端，继电器线圈电流测量电路7的多路测量数据输出端连接数据采集存储电路5的线圈电流测量数据输入端，继电器触点参数测量电路8的多路测量数据输出端连接数据采集存储电路5的触点参数测量数据输入端。
工作原理本发明的用于固定被测密封电磁继电器的振动平台2为被测密封电磁继电器1提供振动环境，只有在振动环境下，被封装在被测密封电磁继电器1内并附着于被测密封电磁继电器1内部构件上的多余物微粒才能移动到转换触点之间或移动到衔铁和极面之间，于是检测被测密封电磁继电器1的静态参数可用于判定触点之间是否存在多余物微粒，检测其动态参数可用于判定衔铁和极面之间是否存在多余物微粒且评定其对被测密封电磁继电器1的功能的影响程度。本发明是在马特拉方法检测密封电磁继电器静态参数的基础上，扩展了对密封电磁继电器动态参数的检测而形成的复合检测法。电磁继电器动态参数如超程时间、动作时间等的检测主要依靠同步检测继电器线圈电流信号和触点电压信号，通过信号分析获得；而静态参数主要指转换触点之间的接触电阻和绝缘电阻，通过检测电信号换算获得。本发明的继电器触点参数测量电路8是用来测量被测密封电磁继电器1的转换触点的接触电阻、绝缘电阻和继电器动作过程的触点电压波形；当要获取被测密封电磁继电器1的静态参数时，处理机3给出驱动控制电路4控制信号使继电器触点参数测量电路8测量被测密封电磁继电器1的转换触点之间的接触电阻或绝缘电阻数据并将测量数据存储在数据采集存储电路5中，处理机3可以在需要时从数据采集存储电路5中读取静态参数测量数据；当要获取被测密封电磁继电器1的动态参数时，处理机3通过驱动控制电路4启动同步触发信号发生电路6工作并产生同步触发信号，在所述外触发信号下，数据采集存储电路5同步采集继电器线圈电流测量电路7的线圈测量信号和继电器触点参数测量电路8的触点电压测量数据，处理机3再从数据采集存储电路5中读取线圈电流和触点电压的测量数据并进行比较和分析被测密封电磁继电器1的动态参数。
发明效果本发明既能检测密封电磁继电器静态参数，又能检测密封电磁继电器的动态参数，利用测试动态参数可以有效地检测出存在于密封电磁继电器衔铁与极面之间的多余物微粒，并根据动态参数序列的变化来判定多余物微粒的大小及所述多余物微粒对密封电磁继电器功能造成的危害程度。采用PIND仪的振动台及其驱动系统作为用于固定被测密封电磁继电器的振动平台2时，本发明获得如图7和图8所示的实验结果图7中的a曲线是本发明采集到的被测密封电磁继电器1的线圈电流动态波形图，b曲线是本发明采集到的被测密封电磁继电器1的转换触点的触点电压动态波形；如图8所示，密封电磁继电器衔铁闭合时间的序列，即根据图7分析出来的被测密封电磁继电器1的动态参数。通过将图9和图7进行对比及对图8中的数据进行分析，可显示本发明所有静态参数的测试误差在5％以内，动态参数的测试误差在1％以内。如图8所示，分析接触电阻的测试序列可发现，存在一个较大的波动值(508.34mΩ)，此时密封电磁继电器闭合触点中间夹有一个金属多余物微粒；分析绝缘电阻的测试序列可发现，也存在绝缘电阻的较大变化(88.67MΩ)，此时密封电磁继电器断开触点之间夹有一个较大的金属多余物微粒；分析动态参数衔铁吸合的测试序列，可以发现衔铁闭合时间也存在一个较大的波动值(6.64ms)，此时继电器的衔铁和极面存在一个直径较小的多余物微粒；由上述试验数据分析可知，本发明对于存在于密封电磁继电器触点之间、衔铁和极面之间的各种多余物微粒都能比较有效的检测出来并且还能判断多余物微粒的大小，它提高了多余物微粒的检测效率。本发明还可利用测试过程中获得的线圈电流波形，来综合评定电磁继电器的可靠性指标。本发明是对检测电磁继电器内多余物微粒的PIND法和马特拉法的重大补充，如果利用本发明与PIND检测法配合使用，优势互补，可以大大提高对密封电磁继电器多余物微粒的检测能力。
图1是本发明的整体结构示意图，图2是具体实施方式
二的结构示意图，图3是具体实施方式
三的结构示意图，图4是具体实施方式
四的结构示意图，图5是具体实施方式
五的结构示意图，图6是具体实施方式
六的电路结构图，图7是本发明采集到的被测密封电磁继电器1的动态波形图，图8是本发明检测到的被测密封电磁继电器1的静态参数和根据图7分析出来的被测密封电磁继电器1的动态参数，图9是理论上继电器吸合动作过程中的线圈电流和触点电压的波形。
具体实施例方式具体实施方式
一结合图1说明本具体实施方式
，本具体实施方式
由被测密封电磁继电器1、用于固定被测密封电磁继电器的振动平台2、处理机3、驱动控制电路4、数据采集存储电路5、同步触发信号发生电路6、继电器线圈电流测量电路7、继电器触点参数测量电路8组成，处理机3的多路控制信号输出端连接驱动控制电路4的信号输入端，处理机3的多路测量数据输入端连接数据采集存储电路5的测量数据输出端，驱动控制电路4的单路控制信号输出端连接同步触发信号发生电路6的被测继电器控制信号输入端，同步触发信号发生电路6的被测继电器控制信号输出端连接继电器线圈电流测量电路7的被测继电器控制信号输入端，驱动控制电路4的多路控制信号输出端连接同步触发信号发生电路6、继电器线圈电流测量电路7和继电器触点参数测量电路8的控制信号输入端，同步触发信号发生电路6的触发信号输出端连接数据采集存储电路5的外触发信号输入端，继电器线圈电流测量电路7的多路测量数据输出端连接数据采集存储电路5的线圈电流测量数据输入端，继电器触点参数测量电路8的多路测量数据输出端连接数据采集存储电路5的触点参数测量数据输入端，被测密封电磁继电器1固定在用于固定被测密封电磁继电器的振动平台2上，继电器线圈电流测量电路7的测量数据输入端连接被测密封电磁继电器1的线圈电流信号输出端，继电器触点参数测量电路8的测量数据输入端连接被测密封电磁继电器1的转换触点的信号输出端。
本具体实施方式
中用于固定被测密封电磁继电器的振动平台2采用PIND仪的振动台及其驱动系统。本发明在实际检测实验中，利用PIND仪的振动环境可以不断地检测和分析继电器的静态参数和动态参数，获得静态参数和动态参数的时间序列。
具体实施方式
二结合图1和图2说明本具体实施方式
，本具体实施方式
与具体实施方式
一的不同点是驱动控制电路4由ISA总线4-1、D/A转换模块4-2、多路开关量输出电路4-3、功率放大电路4-4和多个隔离驱动电路4-5组成，处理机3的多路控制信号输出端通过ISA总线4-1分别与D/A转换模块4-2和多路开关量输出电路4-3的信号输入端相连，D/A转换模块4-2的信号输出端连接功率放大电路4-4的一个信号输入端，功率放大电路4-4的另一个信号输入端接地，功率放大电路4-4的信号输出端连接同步触发信号发生电路6的被测继电器控制信号输入端，多路开关量输出电路4-3的每一个信号输出端分别连接一个隔离驱动电路4-5的输入端。其他组成和连接关系与具体实施方式
一相同。
本具体实施方式
的处理机3采用CPU为PIII866的工控机实现，它具备八个ISA扩展槽和四个PCI扩展槽，有标准外部输入输出配置；驱动控制电路4是基于ISA扩展槽的DA卡实现的，该卡具备1个DA通道及功率放大电路和32路开关量输出电路。本具体实施方式
中D/A转换模块4-2输出电压为0～5V，通过功率放大电路4-4输出的电压为0～30V，功率放大电路4-4的信号输出端(VR)为正极性输出端；多路开关量转换电路4-4可以输出32路开关量信号，即M＝32，32路开关量信号分别经过隔离驱动电路4-5输出32路控制信号(IO1～IO32)，这32路控制信号(IO1～IO32)可用于驱动同步触发信号发生电路6、继电器线圈电流测量电路7和继电器触点参数测量电路8中的每个控制元器件工作。
具体实施方式
三结合图1和图3说明本具体实施方式
，本具体实施方式
与具体实施方式
一的不同点是数据采集存储电路5由PCI总线5-1、时钟控制电路5-2、PCI协议转换接口电路5-3、局部总线5-4和至少两组A/D转换及存储电路5-5组成，处理机3的多路测量数据输入端通过PCI总线5-1与PCI协议转换接口电路5-3的数据输出端相连，时钟控制电路5-2的控制信号输出端连接PCI协议转换接口电路5-3的控制信号输入端，时钟控制电路5-2的外触发信号输入端连接同步触发信号发生电路6的触发信号输出端，每组A/D转换及存储电路5-5由RAM存储模块5-5-1、A/D转换模块5-5-2和电平转换及放大电路5-5-3组成，每组A/D转换及存储电路5-5中电平转换及放大电路5-5-3的输出端连接A/D转换模块5-5-2的数据输入端，每组A/D转换及存储电路5-5中A/D转换模块5-5-2的数据输出端连接RAM存储模块5-5-1的数据输入端，每组A/D转换及存储电路5-5的RAM存储模块5-5-1的数据输出端都通过局部总线5-4与PCI协议转换接口电路5-3的数据输入端相连，时钟控制电路5-2的每一个时钟信号输出端分别连接一组A/D转换及存储电路5-5的RAM存储模块5-5-1和A/D转换模块5-5-2的时钟信号端。本具体实施方式
中PCI协议转换接口电路5-3的主芯片型号为PCI9030，时钟控制电路5-2的主芯片型号为EPM7128STC100，每组A/D转换及存储电路5-5中RAM存储模块5-5-1的主芯片型号为IS61C64，每组A/D转换及存储电路5-5中A/D转换模块5-5-2的主芯片型号为ADS802。其他组成和连接关系与具体实施方式
一相同。
本具体实施方式
的数据采集存储电路5是基于处理机3采用的CPU为PIII866的工控机的PCI扩展槽来实现的，它是精确获得被测密封电磁继电器1的动态参数的关键电路，它是由多通道同步高速数据采集系统构成的；数据采集存储电路5中至少有一组A/D转换及存储电路5-5用于采集被测密封电磁继电器1的线圈电流信号，至少有一组A/D转换及存储电路5-5用于采集被测密封电磁继电器1的转换触点参数；同步触发信号发生电路6的触发信号经过时钟控制电路5-2后控制多组A/D转换及存储电路5-5同步采集继电器线圈电流测量电路7和继电器触点参数测量电路8的测量数据。数据采集电路5的时钟控制电路5-2的时钟信号输出端的个数等于A/D转换及存储电路5-5的组数，而A/D转换及存储电路5-5的组数取决于被测密封电磁继电器1的线圈个数和转换触点组数，即A/D转换及存储电路5-5的组数等于被测密封电磁继电器1的线圈个数与转换触点组数之和。
具体实施方式
四结合图1、图3和图4说明本具体实施方式
，本具体实施方式
与具体实施方式
一的不同点是继电器线圈电流测量电路7由至少一组继电器线圈取样变换放大电路7-1构成；继电器触点参数测量电路8由至少一组继电器接触电阻/绝缘电阻/触点电压测量电路8-1构成，驱动控制电路4的多路控制信号输出端连接每组继电器线圈取样变换放大电路7-1和每组继电器接触电阻/绝缘电阻/触点电压测量电路8-1的控制信号输入端，同步触发信号发生电路6的被测继电器控制信号输出端连接每组继电器线圈取样变换放大电路7-1的被测继电器控制信号输入端，每一组继电器线圈取样变换放大电路7-1的测量数据输出端分别连接数据采集存储电路5中一组A/D转换及存储电路5-5的电平转换及放大电路5-5-3的数据输入端，每一组继电器接触电阻/绝缘电阻/触点电压测量电路8-1的测量数据输出端也分别连接数据采集存储电路5中的一组A/D转换及存储电路5-5的电平转换及放大电路5-5-3的数据输入端。其他组成和连接关系与具体实施方式
一相同。
如图4所示，被测密封电磁继电器1由至少一个线圈1-1和至少一组转换触点1-2构成，采用本发明可以测量含有多个线圈和多组转换触点的密封继电器的静态及动态参数，例如航天继电器；被测密封电磁继电器1中一个线圈1-1对应有一组继电器线圈取样变换放大电路7-1用于测量所述这个线圈的线圈电流信号，而所述这组继电器线圈取样变换放大电路7-1对应有一组A/D转换及存储电路5-5用于采集和存储所述这组继电器线圈取样变换放大电路7-1测量到的所述这个线圈电流信号；被测密封电磁继电器1中一组转换触点1-2对应有一组继电器接触电阻/绝缘电阻/触点电压测量电路8-1用于测量所述这组转换触点的触点参数，而所述这组继电器接触电阻/绝缘电阻/触点电压测量电路8-1又对应有一组A/D转换及存储电路5-5用于采集和存储所述这组继电器接触电阻/绝缘电阻/触点电压测量电路8-1测量到的所述这组转换触点的触点参数。根据具体实施方式
三的说明可知，数据采集存储电路5中A/D转换及存储电路5-5的组数、继电器线圈电流测量电路7中继电器线圈取样变换放大电路7-1和继电器触点参数测量电路8中继电器接触电阻/绝缘电阻/触点电压测量电路8-1的组数之和与被测密封电磁继电器1的线圈个数与转换触点组数之和这三者互相相等，所以可以根据被测密封电磁继电器1的型号调整本发明中A/D转换及存储电路5-5、继电器线圈取样变换放大电路7-1和继电器接触电阻/绝缘电阻/触点电压测量电路8-1的组数。继电器线圈取样变换放大电路7-1的原理是利用取样电阻获得继电器线圈电流信号，再利用运算放大器将线圈电流取样信号放大到数据采集存储电路5能够正确识别的电压范围。根据美军标规范规定，在被测密封电磁继电器1的线圈电流取样时，取样电阻要尽可能的小，以免改变被测密封电磁继电器1的时间常数，影响被测密封电磁继电器1的动态参数的测试精度，一般取样电阻的阻值要小于被测密封电磁继电器1的线圈电阻的1/20。
具体实施方式
五结合图1、图3、图4和图5说明本具体实施方式
，本具体实施方式
与具体实施方式
四的不同点是继电器触点参数测量电路8中的每组继电器接触电阻/绝缘电阻/触点电压测量电路8-1由信号选通电路8-1-1、继电器接触电阻测试电路8-1-2、继电器绝缘电阻测试电路8-1-3和继电器触点电压采集电路8-1-4组成，驱动电路4的多路控制信号输出端连接信号选通电路8-1-1、继电器接触电阻测试电路8-1-2、继电器绝缘电阻测试电路8-1-3和继电器触点电压采集电路8-1-4的控制信号输入端，继电器接触电阻测试电路8-1-2、继电器绝缘电阻测试电路8-1-3和继电器触点电压采集电路8-1-4的测量数据输出端分别连接信号选通电路8-1-1的三个测量数据输入端，信号选通电路8-1-1的测量数据输出端连接数据采集存储电路5中一组A/D转换及存储电路5-5的电平转换及放大电路5-5-3的数据输入端，继电器接触电阻测试电路8-1-2的常闭触点测量信号输入端连接继电器绝缘电阻测试电路8-1-3和继电器触点电压采集电路8-1-4的常闭触点测量信号输入端，继电器接触电阻测试电路8-1-2的常开触点测量信号输入端连接继电器绝缘电阻测试电路8-1-3和继电器触点电压采集电路8-1-4的常开触点测量信号输入端，继电器接触电阻测试电路8-1-2的测量信号输出端连接继电器绝缘电阻测试电路8-1-3和继电器触点电压采集电路8-1-4的测量信号输出端。其他组成和连接关系与具体如图5所示，每一组继电器接触电阻/绝缘电阻/触点电压测量电路8-1中继电器接触电阻测试电路8-1-2、继电器绝缘电阻测试电路8-1-3和继电器触点电压采集电路8-1-4的常闭触点测量信号输入端用来测量与这一组电器接触电阻/绝缘电阻/触点电压测量电路8-1对应连接的被测密封电磁继电器1的转换触点的常闭触点，每一组继电器接触电阻/绝缘电阻/触点电压测量电路8-1中继电器接触电阻测试电路8-1-2、继电器绝缘电阻测试电路8-1-3和继电器触点电压采集电路8-1-4的常开触点测量信号输入端用来测量与这一组电器接触电阻/绝缘电阻/触点电压测量电路8-1对应连接的被测密封电磁继电器1的转换触点的常开触点，每一组继电器接触电阻/绝缘电阻/触点电压测量电路8-1中继电器接触电阻测试电路8-1-2、继电器绝缘电阻测试电路8-1-3和继电器触点电压采集电路8-1-4的测量信号输出端用来测量与这一组电器接触电阻/绝缘电阻/触点电压测量电路8-1对应连接的被测密封电磁继电器1的转换触点的公共端。继电器接触电阻测试电路8-1-2的原理是使被测触点通过一定的电流，通过测试触点的接触压降，经过换算计算出等效的接触电阻值。根据美军标相关测试标准规定，接触电阻或接触压降测试的负载为6V(最大值)/10mA，中等电流试验之后可以选择28V/100mA。继电器绝缘电阻测试电路8-1-3的原理是通过对被测绝缘间隙施加较高的测试电压，通过一定的电路检测绝缘间隙的漏电流，在通过一定的换算计算出绝缘电阻的测试值。根据美军标相关测试标准规定，对于线圈额定电压和触点额定负载均小于60V的继电器，绝缘电阻的测试电压为DC100±10％。本发明试验系统的测试对象的线圈额定电压和触点额定负载均小于60V，因此根据军标选择测试激励电压为DC100±10％。继电器触点电压采集电路8-1-4的功能主要是通过采集电磁继电器动作过程中的触点电压波形，以分析触点状态。军标中规定触点电压波形采集时的负载与接触电阻测试的负载相同。
如图4和图5所示，采用本具体实施方式
在测试静态参数时，处理机3发给驱动控制电路4控制指令使得信号选通电路8-1-1将继电器接触电阻测试电路8-1-2和继电器绝缘电阻测试电路8-1-3的信号接入到数据采集存储电路5中，数据采集存储电路5将模拟信号转化成数字信号，处理机3再将数据采集存储电路5中的数字信号读入进行处理，分析计算；当处理机3给驱动控制电路4改变被测密封电磁继电器1状态的命令时，驱动控制电路4的单路控制信号输出端(VR)利用同步触发信号发生电路6、继电器线圈电流测量电路7和被测密封电磁继电器1的线圈形成的通路送给被测密封电磁继电器1改变状态的信号，于是便可以测试被测密封电磁继电器1在另一种状态下的静态参数，将测试数据保存。本具体实施方式
在测试动态参数前，处理机3根据被测密封电磁继电器1的型号，控制驱动控制电路4切换继电器线圈电流取样变换放大电路7-1中的取样放大倍数，使继电器线圈电流取样变换电路7-1的输出信号在数据采集存储电路5的线性范围内，同时命令信号选通电路8-1-1将继电器触点电压采集电路8-1-4的信号接入到数据采集存储电路5中，从而获得原始对比数据；在测试吸合动态参数时，处理机3控制驱动控制电路4的单路控制信号输出端给被测密封电磁继电器1激励信号，同步触发信号发生电路6根据激励信号给数据采集存储电路5同步触发信号，于是数据采集电路5同步采集继电器线圈电流取样变换放大电路7-1和继电器触点电压采集电路8-1-4的信号，采样完毕后，处理机3将数据采集存储电路5中存储的测试动态参数前的原始对比数据读入，使其与此时继电器线圈电流取样变换放大电路7-1和继电器触点电压采集电路8-1-4的信号相对比，分析吸合过程的动态参数，并将分析得到的数据和原始数据上传或保存；在测试释放动态参数时，处理机3控制驱动控制电路4的单路控制信号输出端给被测密封电磁继电器1掉电信号，同步触发信号发生电路6根据驱动控制电路4的信号给数据采集存储电路5同步触发信号并启动数据采集存储电路5，然后数据采集电路5同步采集继电器线圈电流取样变换放大电路7-1和继电器触点电压采集电路8-1-4的信号，采样完毕后，处理机3将数据采集存储电路5中存储的测试动态参数前的原始对比数据读入，使其与此时继电器线圈电流取样变换电路7和继电器触点电压采集电路8-1-4的信号相对比，并分析释放过程的动态参数，将分析得到的数据和原始数据上传或保存。
具体实施方式
六结合图1、图2、图3、图5和图6说明本具体实施方式
，本具体实施方式
与具体实施方式
四的不同点是数据采集存储电路5包含两组A/D转换及存储电路5-5，同步触发信号发生电路6由继电器U1、第一电阻R1、第二电阻R2、开关三极管T1和第一直流电源+VA组成，第一直流电源+VA的输出端连接继电器U1的励磁线圈的正极性端，继电器U1的励磁线圈的负极性端连接驱动控制电路4中第一个隔离驱动电路4-5的控制信号输出端，继电器U1的静触点连接驱动控制电路4中功率放大电路4-4的信号输出端，继电器U1的动触点连接第一电阻R1的一端，第一电阻R1的另一端连接开关三极管T1的基极，开关三极管T1的集电极连接第二电阻R2的一端和数据采集存储电路5的时钟控制电路5-2的外触发信号输入端，第二电阻R2的另一端连接第一直流电源+VA的输出端，开关三极管T1的发射极接地；继电器线圈电流测量电路7由一组继电器线圈取样变换放大电路7-1构成，继电器线圈取样变换放大电路7-1由第一双转换触点电磁继电器U2、第二双转换触点电磁继电器U3、第三双转换触点电磁继电器U4、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6、第七电阻R7、第八电阻R8、第二直流电源-VB、第三直流电源+VC和第一运算放大器Q1组成，第一双转换触点电磁继电器U2的线圈的正极性端连接第一直流电源+VA的输出端，第一双转换触点电磁继电器U2的线圈的负极性端连接驱动控制电路4中第二个隔离驱动电路4-5的控制信号输出端，继电器U1的动触点连接第一双转换触点电磁继电器U2的第一组转换触点的公共端，第一双转换触点电磁继电器U2的第一组转换触点的常闭触点连接第一双转换触点电磁继电器U2的第二组转换触点的常开触点，第一双转换触点电磁继电器U2的第一组转换触点的常开触点连接第一双转换触点电磁继电器U2的第二组转换触点的常闭触点，第一双转换触点电磁继电器U2的第二组转换触点的公共端连接第一运算放大器Q1的3脚和第三电阻R3的一端，第三电阻R3的另一端连接第一运算放大器Q1的2脚并接地，第一运算放大器Q1的4脚连接第二直流电源-VB的输出端，第一运算放大器Q1的7脚连接第三直流电源+VC的输出端，第一运算放大器Q1的5脚接地，第一运算放大器Q1的1脚连接第四电阻R4、第五电阻R5、第七电阻R7和第六电阻R6的一端，第四电阻R4的另一端连接第二双转换触点电磁继电器U3的第一组转换触点的常闭触点，第五电阻R5的另一端连接第二双转换触点电磁继电器U3的第一组转换触点的常开触点，第七电阻R7的另一端连接第二双转换触点电磁继电器U3的第二组转换触点的常开触点，第六电阻R6的另一端连接第二双转换触点电磁继电器U3的第二组转换触点的常闭触点，第二双转换触点电磁继电器U3的线圈的正极性端连接第一直流电源+VA的输出端，第二双转换触点电磁继电器U3的线圈的负极性端连接驱动控制电路4中第三个隔离驱动电路4-5的控制信号输出端，第二双转换触点电磁继电器U3的第一组转换触点的公共端连接第三双转换触点电磁继电器U4的第一组转换触点的常开触点，第二双转换触点电磁继电器U3的第二组转换触点的公共端连接第三双转换触点电磁继电器U4的第一组转换触点的常闭触点，第三双转换触点电磁继电器U4的第一组转换触点的公共端连接第一运算放大器Q1的8脚，第三双转换触点电磁继电器U4的线圈的正极性端连接第一直流电源+VA的输出端，第三双转换触点电磁继电器U4的线圈的负极端连接驱动控制电路4中第四个隔离驱动电路4-5的控制信号输出端，第一运算放大器Q1的6脚通过第八电阻R8连接数据采集存储电路5中的第一组A/D转换及存储电路5-5的数据输入端；继电器触点参数测量电路8由一组继电器接触电阻/绝缘电阻/触点电压测量电路8-1构成，继电器接触电阻测试电路8-1-2由第四双转换触点电磁继电器U5、第五双转换触点电磁继电器U6、第六双转换触点电磁继电器U7、第二运算放大器Q2、第九电阻R9、第十电阻R10和第十一电阻R11组成，第四双转换触点电磁继电器U5的线圈的正极性端连接第一直流电源+VA的输出端，第四双转换触点电磁继电器U5的线圈的负极性端连接驱动控制电路4的第五个隔离驱动电路4-5的控制信号输出端，第四双转换触点电磁继电器U5的第一组转换触点和第二组转换触点的常闭触点都接地，第四双转换触点电磁继电器U5的第一组转换触点的公共端连接第二运算放大器Q2的3脚，第四双转换触点电磁继电器U5的第二组转换触点的公共端连接第二运算放大器Q2的2脚，第四双转换触点电磁继电器U5的第二组转换触点的常开触点连接第五双转换触点电磁继电器U6的第一组转换触点的公共端，第五双转换触点电磁继电器U6的线圈的正极性端连接第一直流电源+VA的输出端，第五双转换触点电磁继电器U6的线圈的负极性端连接驱动控制电路4的第六个隔离驱动电路4-5的控制信号输出端，第二运算放大器Q2的7脚连接第三直流电源+VC的输出端，第二运算放大器Q2的4脚连接第二直流电源-VB的输出端，第二运算放大器Q2的1脚连接第九电阻R9和第十电阻R10的一端，第九电阻R9的另一端连接第六双转换触点电磁继电器U7的第一组转换触点的常闭触点，第十电阻R10的另一端连接第六双转换触点电磁继电器U7的第一组转换触点的常开触点，第六双转换触点电磁继电器U7的线圈的正极性端连接第一直流电源+VA的输出端，第六双转换触点电磁继电器U7的线圈的负极性端连接驱动控制电路4的第七个隔离驱动电路4-5的控制信号输出端，第二运算放大器Q2的8脚连接第六双转换触点电磁继电器U7的第一组转换触点的公共端，第二运算放大器Q2的6脚连接第十一电阻R11的一端，第二运算放大器Q2的5脚接地；继电器绝缘电阻测试电路8-1-3由第七双转换触点电磁继电器U8、第八双转换触点电磁继电器U9、第三运算放大器Q3、第十二电阻R12、第十三电阻R13、第十四电阻R14、第十五电阻R15、第十六电阻R16、第四直流电源+VD和稳压二极管D1组成，第七双转换触点电磁继电器U8的线圈的正极性端连接第一直流电源+VA的输出端，第七双转换触点电磁继电器U8的线圈的负极性端连接驱动控制电路4的第八个隔离驱动电路4-5的控制信号输出端，第七双转换触点电磁继电器U8的第一组转换触点的公共端通过第十二电阻R12连接第四直流电源+VD的输出端，第八双转换触点电磁继电器U9的线圈的正极性端连接第一直流电源+VA的输出端，第八双转换触点电磁继电器U9的线圈的负极性端连接驱动控制电路4的第九个隔离驱动电路4-5的控制信号输出端，第八双转换触点电磁继电器U9的第一组转换触点的公共端连接稳压二极管D1的负极性端和第十三电阻R13的一端，第十三电阻R13的另一端连接第十四电阻R14的一端和第三运算放大器Q3的3脚，稳压二极管D1的正极性端、第十四电阻R14的另一端、第三运算放大器Q3的2脚和第三运算放大器Q3的5脚都接地，第三运算放大器Q3的1脚通过第十六电阻R16连接第三运算放大器Q3的8脚，第三运算放大器Q3的6脚连接第十五电阻R15的一端，第三运算放大器Q3的7脚连接第三直流电源+VC的输出端，第三运算放大器Q3的4脚连接第二直流电源-VB的输出端；继电器触点电压采集电路8-1-4由第九双转换触点电磁继电器U10、第十七电阻R17、第十八电阻R18、第十九电阻R19、第二十电阻R20、第二十一电阻R21、第二十二电阻R22、第五直流电源+VE和第六直流电源+VF组成，第九双转换触点电磁继电器U10的线圈的正极性端连接第一直流电源+VA的输出端，第九双转换触点电磁继电器U10的线圈的负极性端连接驱动控制电路4的第十个隔离驱动电路4-5的控制信号输出端，第九双转换触点电磁继电器U10的第一组转换触点的常闭触点连接第六直流电源+VF的输出端，第九双转换触点电磁继电器U10的第一组转换触点的常开触点通过第十七电阻R17连接第五直流电源+VE的输出端，第九双转换触点电磁继电器U10的第二组转换触点的常闭触点连接第十九电阻R19和第二十一电阻R21的一端，第九双转换触点电磁继电器U10的第二组转换触点的的公共端连接第十八电阻R18的一端，第九双转换触点电磁继电器U10的第二组转换触点的常开触点连接第二十电阻R20和第二十二电阻R22的一端，第二十一电阻R21和第二十二电阻R22的另一端接地；信号选通电路8-1-1由第十双转换触点电磁继电器U11、第十一双转换触点电磁继电器U12和第二十三电阻R23组成，第十双转换触点电磁继电器U11的线圈的正极性端连接第一直流电源+VA的输出端，第十双转换触点电磁继电器U11的线圈的负极性端连接驱动控制电路4的第十一个隔离驱动电路4-5的控制信号输出端，第十双转换触点电磁继电器U11的第一组转换触点的常闭触点连接继电器接触电阻测试电路8-1-2的第十一电阻R11的另一端，第十双转换触点电磁继电器U11的第一组转换触点的公共端连接第十一双转换触点电磁继电器U12的第一组转换触点的常闭触点，第十双转换触点电磁继电器U11的第一组转换触点的常开触点连接继电器触点电压采集电路8-1-4的第十九电阻R19和第二十电阻R20的另一端，第十双转换触点电磁继电器U11的第二组转换触点的常闭触点连接继电器绝缘电阻测试电路8-1-3的第十五电阻R15的另一端，第十双转换触点电磁继电器U11的第二组转换触点的公共端连接第十一双转换触点电磁继电器U12的第一组转换触点的常开触点，第十一双转换触点电磁继电器U12的线圈的正极性端连接第一直流电源+VA的输出端，第十一双转换触点电磁继电器U12的线圈的负极性端连接驱动控制电路4的第十二个隔离驱动电路4-5的控制信号输出端，第十一双转换触点电磁继电器U12的第一组转换触点的公共端通过第二十三电阻R23连接数据采集存储电路5的第二组A/D转换及存储电路5-5的数据输入端。其他组成和连接关系与具体实施方式
四相同。
采用本具体实施方式
测量被测密封电磁继电器1的静态及动态参数时，继电器线圈取样变换放大电路7-1中第一双转换触点电磁继电器U2的第一组转换触点的常闭触点作为所测的被测密封电磁继电器1的线圈1-1的正极输入端，第一双转换触点电磁继电器U2的第一组转换触点的常开触点作为被测密封电磁继电器1的所述线圈1-1的负极输入端；继电器接触电阻测试电路8-1-2中第四双转换触点电磁继电器U5的第一组转换触点的常开触点、继电器绝缘电阻测试电路8-1-3中第七双转换触点电磁继电器U8的第一组转换触点的常开触点、继电器触点电压采集电路8-1-4中第九双转换触点电磁继电器U10的第一组转换触点的公共端作为被测密封电磁继电器1的转换触点1-2的公共端的测量输入端；继电器接触电阻测试电路8-1-2中第五双转换触点电磁继电器U6的第一组转换触点的常闭触点、继电器绝缘电阻测试电路8-1-3中第八双转换触点电磁继电器U9的第一组转换触点的常开触点、继电器触点电压采集电路8-1-4中第十八电阻R18的另一端作为被测密封电磁继电器1的所述转换触点1-2的的常闭触点的测量输入端；继电器接触电阻测试电路8-1-2中第五双转换触点电磁继电器U6的第一组转换触点的常开触点、继电器绝缘电阻测试电路8-1-3中第八双转换触点电磁继电器U9的第一组转换触点的常闭触点、继电器触点电压采集电路8-1-4中第九双转换触点电磁继电器U10的第二组转换触点的公共端作为被测密封电磁继电器1的所述转换触点1-2的常开触点的测量输入端。
在同步触发信号发生电路6中继电器U1采用湿簧继电器，它可以保证继电器在上电闭合的过程中不产生回跳，可以保证被测密封电磁继电器1的动态参数在测试时不受影响，从而提高测试精度；在驱动控制电路4的第一个隔离驱动电路4-5输出低电平时，继电器U1的线圈上电、触点吸合，开关三极管T1导通，开关三极管T1的集电极产生下降沿送入数据采集存储电路5的时钟控制电路5-2的外触发信号输入端，反之，在驱动控制电路4的第一个隔离驱动电路4-5输出高电平时，继电器U1的线圈断电、触点断开，开关三极管T1截止，开关三极管T1的集电极产生上升沿送入数据采集存储电路5的时钟控制电路5-2的外触发信号输入端，同步触发信号发生电路6能够将5V～28V的电平信号转换到TTL电平；通过驱动控制电路4改变第一双转换触点电磁继电器U2的吸合或断开状态时，被测密封电磁继电器1的激励极性也随之改变，如果被测密封电磁继电器1是磁保持继电器，那么第一双转换触点电磁继电器U2状态的改变将可以使被测密封电磁继电器1的衔铁恢复到初始位置；通过驱动控制电路4改变继电器线圈取样变换放大电路7-1中第二双转换触点电磁继电器U3和第三双转换触点电磁继电器U4的吸合或断开状态，可以使第一运算放大器Q1获得四种不同的放大倍数。继电器接触电阻测试电路8-1-2中第四双转换触点电磁继电器U5是切换控制接触电阻测试的开关，第五双转换触点电磁继电器U6是用来选择测试常开触点接触电阻还是常闭触点接触电阻的，测试常开接触电阻时，需要使被测密封电磁继电器1上电，第六双转换触点电磁继电器U7是用来改变接触电阻测试的放大倍数的。继电器绝缘电阻测试电路8-1-3中第七双转换触点电磁继电器U8是用来在绝缘电阻测试加载测试电压+VD的，第八双转换触点电磁继电器U9是用来选择测试常开触点绝缘电阻还是测试常闭触点绝缘电阻的，测试常闭绝缘电阻时，需要使被测密封电磁继电器1上电。继电器触点电压采集电路8-1-4中第九双转换触点电磁继电器U10是用来切换不同的负载标准的。信号选通电路8-1-1中第十双转换触点电磁继电器U11和第十一双转换触点电磁继电器U12用来选择触点参数测试模块输出的；当驱动控制电路4的第十一个隔离驱动电路4-5的控制信号输出端和驱动控制电路4的第十二个隔离驱动电路4-5的控制信号输出端都为高电平时，选择继电器接触电阻测试电路8-1-2的输出进入到数据采集存储电路5中；当驱动控制电路4的第十一个隔离驱动电路4-5的控制信号输出端为低电平，而驱动控制电路4的第十二个隔离驱动电路4-5的控制信号输出端为高电平时，选择继电器触点电压采集电路8-1-4的输出进入到数据采集存储电路5中；当驱动控制电路4的第十一个隔离驱动电路4-5的控制信号输出端为高电平，当驱动控制电路4的第十二个隔离驱动电路4-5的控制信号输出端为低电平时，选择继电器绝缘电阻测试电路8-1-3的输出进入到数据采集存储电路5中。本具体实施方式
中第一运算放大器Q1、第二运算放大器Q2和第三运算放大器Q3采用的型号为AD620。
权利要求
1.密封电磁继电器多余物微粒的复合检测系统，它包括用于固定被测密封电磁继电器的振动平台(2)，其特征在于它还包括处理机(3)、驱动控制电路(4)、数据采集存储电路(5)、同步触发信号发生电路(6)、继电器线圈电流测量电路(7)、继电器触点参数测量电路(8)，处理机(3)的多路控制信号输出端连接驱动控制电路(4)的信号输入端，处理机(3)的多路测量数据输入端连接数据采集存储电路(5)的测量数据输出端，驱动控制电路(4)的单路控制信号输出端连接同步触发信号发生电路(6)的被测继电器控制信号输入端，同步触发信号发生电路(6)的被测继电器控制信号输出端连接继电器线圈电流测量电路(7)的被测继电器控制信号输入端，驱动控制电路(4)的多路控制信号输出端连接同步触发信号发生电路(6)、继电器线圈电流测量电路(7)和继电器触点参数测量电路(8)的控制信号输入端，同步触发信号发生电路(6)的触发信号输出端连接数据采集存储电路(5)的外触发信号输入端，继电器线圈电流测量电路(7)的多路测量数据输出端连接数据采集存储电路(5)的线圈电流测量数据输入端，继电器触点参数测量电路(8)的多路测量数据输出端连接数据采集存储电路(5)的触点参数测量数据输入端。
2.根据权利要求1所述的密封电磁继电器多余物微粒的复合检测系统，其特征在于驱动控制电路(4)由ISA总线(4-1)、D/A转换模块(4-2)、多路开关量输出电路(4-3)、功率放大电路(4-4)和多个隔离驱动电路(4-5)组成，处理机(3)的多路控制信号输出端通过ISA总线(4-1)分别与D/A转换模块(4-2)和多路开关量输出电路(4-3)的信号输入端相连，D/A转换模块(4-2)的信号输出端连接功率放大电路(4-4)的一个信号输入端，功率放大电路(4-4)的另一个信号输入端接地，功率放大电路(4-4)的信号输出端连接同步触发信号发生电路(6)的被测继电器控制信号输入端，多路开关量输出电路(4-3)的每一个信号输出端分别连接一个隔离驱动电路(4-5)的输入端。
3.根据权利要求1所述的密封电磁继电器多余物微粒的复合检测系统，其特征在于数据采集存储电路(5)由PCI总线(5-1)、时钟控制电路(5-2)、PCI协议转换接口电路(5-3)、局部总线(5-4)和至少两组A/D转换及存储电路(5-5)组成，处理机(3)的多路测量数据输入端通过PCI总线(5-1)与PCI协议转换接口电路(5-3)的数据输出端相连，时钟控制电路(5-2)的控制信号输出端连接PCI协议转换接口电路(5-3)的控制信号输入端，时钟控制电路(5-2)的外触发信号输入端连接同步触发信号发生电路(6)的触发信号输出端，每组A/D转换及存储电路(5-5)由RAM存储模块(5-5-1)、A/D转换模块(5-5-2)和电平转换及放大电路(5-5-3)组成，每组A/D转换及存储电路(5-5)中电平转换及放大电路(5-5-3)的输出端连接A/D转换模块(5-5-2)的数据输入端，每组A/D转换及存储电路(5-5)中A/D转换模块(5-5-2)的数据输出端连接RAM存储模块(5-5-1)的数据输入端，每组A/D转换及存储电路(5-5)的RAM存储模块(5-5-1)的数据输出端都通过局部总线(5-4)与PCI协议转换接口电路(5-3)的数据输入端相连，时钟控制电路(5-2)的每一个时钟信号输出端分别连接一组A/D转换及存储电路(5-5)的RAM存储模块(5-5-1)和A/D转换模块(5-5-2)的时钟信号端。
4.根据权利要求1或3所述的密封电磁继电器多余物微粒的复合检测系统，其特征在于继电器线圈电流测量电路(7)由至少一组继电器线圈取样变换放大电路(7-1)构成；继电器触点参数测量电路(8)由至少一组继电器接触电阻/绝缘电阻/触点电压测量电路(8-1)构成，驱动控制电路(4)的多路控制信号输出端连接每组继电器线圈取样变换放大电路(7-1)和每组继电器接触电阻/绝缘电阻/触点电压测量电路(8-1)的控制信号输入端，同步触发信号发生电路(6)的被测继电器控制信号输出端连接每组继电器线圈取样变换放大电路(7-1)的被测继电器控制信号输入端，每一组继电器线圈取样变换放大电路(7-1)的测量数据输出端分别连接数据采集存储电路(5)中一组A/D转换及存储电路(5-5)的电平转换及放大电路(5-5-3)的数据输入端，每一组继电器接触电阻/绝缘电阻/触点电压测量电路(8-1)的测量数据输出端也分别连接数据采集存储电路(5)中的一组A/D转换及存储电路(5-5)的电平转换及放大电路(5-5-3)的数据输入端。
5.根据权利要求4所述的密封电磁继电器多余物微粒的复合检测系统，其特征在于继电器触点参数测量电路(8)中的每组继电器接触电阻/绝缘电阻/触点电压测量电路(8-1)由信号选通电路(8-1-1)、继电器接触电阻测试电路(8-1-2)、继电器绝缘电阻测试电路(8-1-3)和继电器触点电压采集电路(8-1-4)组成，驱动电路(4)的多路控制信号输出端连接信号选通电路(8-1-1)、继电器接触电阻测试电路(8-1-2)、继电器绝缘电阻测试电路(8-1-3)和继电器触点电压采集电路(8-1-4)的控制信号输入端，继电器接触电阻测试电路(8-1-2)、继电器绝缘电阻测试电路(8-1-3)和继电器触点电压采集电路(8-1-4)的测量数据输出端分别连接信号选通电路(8-1-1)的三个测量数据输入端，信号选通电路(8-1-1)的测量数据输出端连接数据采集存储电路(5)中一组A/D转换及存储电路(5-5)的电平转换及放大电路(5-5-3)的数据输入端，继电器接触电阻测试电路(8-1-2)的常闭触点测量信号输入端连接继电器绝缘电阻测试电路(8-1-3)和继电器触点电压采集电路(8-1-4)的常闭触点测量信号输入端，继电器接触电阻测试电路(8-1-2)的常开触点测量信号输入端连接继电器绝缘电阻测试电路(8-1-3)和继电器触点电压采集电路(8-1-4)的常开触点测量信号输入端，继电器接触电阻测试电路(8-1-2)的测量信号输出端连接继电器绝缘电阻测试电路(8-1-3)和继电器触点电压采集电路(8-1-4)的测量信号输出端。
6.根据权利要求4所述的密封电磁继电器多余物微粒的复合检测系统，其特征在于数据采集存储电路(5)包含两组A/D转换及存储电路(5-5)，同步触发信号发生电路(6)由继电器(U1)、第一电阻(R1)、第二电阻(R2)、开关三极管(T1)和第一直流电源(+VA)组成，第一直流电源(+VA)的输出端连接继电器(U1)的励磁线圈的正极性端，继电器(U1)的励磁线圈的负极性端连接驱动控制电路(4)中第一个隔离驱动电路(4-5)的控制信号输出端，继电器(U1)的静触点连接驱动控制电路(4)中功率放大电路(4-4)的信号输出端，继电器(U1)的动触点连接第一电阻(R1)的一端，第一电阻(R1)的另一端连接开关三极管(T1)的基极，开关三极管(T1)的集电极连接第二电阻(R2)的一端和数据采集存储电路(5)的时钟控制电路(5-2)的外触发信号输入端，第二电阻(R2)的另一端连接第一直流电源(+VA)的输出端，开关三极管(T1)的发射极接地；继电器线圈电流测量电路(7)由一组继电器线圈取样变换放大电路(7-1)构成，继电器线圈取样变换放大电路(7-1)由第一双转换触点电磁继电器(U2)、第二双转换触点电磁继电器(U3)、第三双转换触点电磁继电器(U4)、第三电阻(R3)、第四电阻(R4)、第五电阻(R5)、第六电阻(R6)、第七电阻(R7)、第八电阻(R8)、第二直流电源(-VB)、第三直流电源(+VC)和第一运算放大器(Q1)组成，第一双转换触点电磁继电器(U2)的线圈的正极性端连接第一直流电源(+VA)的输出端，第一双转换触点电磁继电器(U2)的线圈的负极性端连接驱动控制电路(4)中第二个隔离驱动电路(4-5)的控制信号输出端，继电器(U1)的动触点连接第一双转换触点电磁继电器(U2)的第一组转换触点的公共端，第一双转换触点电磁继电器(U2)的第一组转换触点的常闭触点连接第一双转换触点电磁继电器(U2)的第二组转换触点的常开触点，第一双转换触点电磁继电器(U2)的第一组转换触点的常开触点连接第一双转换触点电磁继电器(U2)的第二组转换触点的常闭触点，第一双转换触点电磁继电器(U2)的第二组转换触点的公共端连接第一运算放大器(Q1)的3脚和第三电阻(R3)的一端，第三电阻(R3)的另一端连接第一运算放大器(Q1)的2脚并接地，第一运算放大器(Q1)的4脚连接第二直流电源(-VB)的输出端，第一运算放大器(Q1)的7脚连接第三直流电源(+VC)的输出端，第一运算放大器(Q1)的5脚接地，第一运算放大器(Q1)的1脚连接第四电阻(R4)、第五电阻(R5)、第七电阻(R7)和第六电阻(R6)的一端，第四电阻(R4)的另一端连接第二双转换触点电磁继电器(U3)的第一组转换触点的常闭触点，第五电阻(R5)的另一端连接第二双转换触点电磁继电器(U3)的第一组转换触点的常开触点，第七电阻(R7)的另一端连接第二双转换触点电磁继电器(U3)的第二组转换触点的常开触点，第六电阻(R6)的另一端连接第二双转换触点电磁继电器(U3)的第二组转换触点的常闭触点，第二双转换触点电磁继电器(U3)的线圈的正极性端连接第一直流电源(+VA)的输出端，第二双转换触点电磁继电器(U3)的线圈的负极性端连接驱动控制电路(4)中第三个隔离驱动电路(4-5)的控制信号输出端，第二双转换触点电磁继电器(U3)的第一组转换触点的公共端连接第三双转换触点电磁继电器(U4)的第一组转换触点的常开触点，第二双转换触点电磁继电器(U3)的第二组转换触点的公共端连接第三双转换触点电磁继电器(U4)的第一组转换触点的常闭触点，第三双转换触点电磁继电器(U4)的第一组转换触点的公共端连接第一运算放大器(Q1)的8脚，第三双转换触点电磁继电器(U4)的线圈的正极性端连接第一直流电源(+VA)的输出端，第三双转换触点电磁继电器(U4)的线圈的负极端连接驱动控制电路(4)中第四个隔离驱动电路(4-5)的控制信号输出端，第一运算放大器(Q1)的6脚通过第八电阻(R8)连接数据采集存储电路(5)中的第一组A/D转换及存储电路(5-5)的数据输入端；继电器触点参数测量电路(8)由一组继电器接触电阻/绝缘电阻/触点电压测量电路(8-1)构成，继电器接触电阻测试电路(8-1-2)由第四双转换触点电磁继电器(U5)、第五双转换触点电磁继电器(U6)、第六双转换触点电磁继电器(U7)、第二运算放大器(Q2)、第九电阻(R9)、第十电阻(R10)和第十一电阻(R11)组成，第四双转换触点电磁继电器(U5)的线圈的正极性端连接第一直流电源(+VA)的输出端，第四双转换触点电磁继电器(U5)的线圈的负极性端连接驱动控制电路(4)的第五个隔离驱动电路(4-5)的控制信号输出端，第四双转换触点电磁继电器(U5)的第一组转换触点和第二组转换触点的常闭触点都接地，第四双转换触点电磁继电器(U5)的第一组转换触点的公共端连接第二运算放大器(Q2)的3脚，第四双转换触点电磁继电器(U5)的第二组转换触点的公共端连接第二运算放大器(Q2)的2脚，第四双转换触点电磁继电器(U5)的第二组转换触点的常开触点连接第五双转换触点电磁继电器(U6)的第一组转换触点的公共端，第五双转换触点电磁继电器(U6)的线圈的正极性端连接第一直流电源(+VA)的输出端，第五双转换触点电磁继电器(U6)的线圈的负极性端连接驱动控制电路(4)的第六个隔离驱动电路(4-5)的控制信号输出端，第二运算放大器(Q2)的7脚连接第三直流电源(+VC)的输出端，第二运算放大器(Q2)的4脚连接第二直流电源(-VB)的输出端，第二运算放大器(Q2)的1脚连接第九电阻(R9)和第十电阻(R1)的一端，第九电阻(R9)的另一端连接第六双转换触点电磁继电器(U7)的第一组转换触点的常闭触点，第十电阻(R10)的另一端连接第六双转换触点电磁继电器(U7)的第一组转换触点的常开触点，第六双转换触点电磁继电器(U7)的线圈的正极性端连接第一直流电源(+VA)的输出端，第六双转换触点电磁继电器(U7)的线圈的负极性端连接驱动控制电路(4)的第七个隔离驱动电路(4-5)的控制信号输出端，第二运算放大器(Q2)的8脚连接第六双转换触点电磁继电器(U7)的第一组转换触点的公共端，第二运算放大器(Q2)的6脚连接第十一电阻(R11)的一端，第二运算放大器(Q2)的5脚接地；继电器绝缘电阻测试电路(8-1-3)由第七双转换触点电磁继电器(U8)、第八双转换触点电磁继电器(U9)、第三运算放大器(Q3)、第十二电阻(R12)、第十三电阻(R13)、第十四电阻(R14)、第十五电阻(R15)、第十六电阻(R16)、第四直流电源(+VD)和稳压二极管(D1)组成，第七双转换触点电磁继电器(U8)的线圈的正极性端连接第一直流电源(+VA)的输出端，第七双转换触点电磁继电器(U8)的线圈的负极性端连接驱动控制电路(4)的第八个隔离驱动电路(4-5)的控制信号输出端，第七双转换触点电磁继电器(U8)的第一组转换触点的公共端通过第十二电阻(R12)连接第四直流电源(+VD)的输出端，第八双转换触点电磁继电器(U9)的线圈的正极性端连接第一直流电源(+VA)的输出端，第八双转换触点电磁继电器(U9)的线圈的负极性端连接驱动控制电路(4)的第九个隔离驱动电路(4-5)的控制信号输出端，第八双转换触点电磁继电器(U9)的第一组转换触点的公共端连接稳压二极管(D1)的负极性端和第十三电阻(R13)的一端，第十三电阻(R13)的另一端连接第十四电阻(R14)的一端和第三运算放大器(Q3)的3脚，稳压二极管(D1)的正极性端、第十四电阻(R14)的另一端、第三运算放大器(Q3)的2脚和第三运算放大器(Q3)的5脚都接地，第三运算放大器(Q3)的1脚通过第十六电阻(R16)连接第三运算放大器(Q3)的8脚，第三运算放大器(Q3)的6脚连接第十五电阻(R15)的一端，第三运算放大器(Q3)的7脚连接第三直流电源(+VC)的输出端，第三运算放大器(Q3)的4脚连接第二直流电源(-VB)的输出端；继电器触点电压采集电路(8-1-4)由第九双转换触点电磁继电器(U10)、第十七电阻(R17)、第十八电阻(R18)、第十九电阻(R19)、第二十电阻(R20)、第二十一电阻(R21)、第二十二电阻(R22)、第五直流电源(+VE)和第六直流电源(+VF)组成，第九双转换触点电磁继电器(U10)的线圈的正极性端连接第一直流电源(+VA)的输出端，第九双转换触点电磁继电器(U10)的线圈的负极性端连接驱动控制电路(4)的第十个隔离驱动电路(4-5)的控制信号输出端，第九双转换触点电磁继电器(U10)的第一组转换触点的常闭触点连接第六直流电源(+VF)的输出端，第九双转换触点电磁继电器(U10)的第一组转换触点的常开触点通过第十七电阻(R17)连接第五直流电源(+VE)的输出端，第九双转换触点电磁继电器(U10)的第二组转换触点的常闭触点连接第十九电阻(R19)和第二十一电阻(R21)的一端，第九双转换触点电磁继电器(U10)的第二组转换触点的的公共端连接第十八电阻(R18)的一端，第九双转换触点电磁继电器(U10)的第二组转换触点的常开触点连接第二十电阻(R20)和第二十二电阻(R22)的一端，第二十一电阻(R21)和第二十二电阻(R22)的另一端接地；信号选通电路(8-1-1)由第十双转换触点电磁继电器(U11)、第十一双转换触点电磁继电器(U12)和第二十三电阻(R23)组成，第十双转换触点电磁继电器(U11)的线圈的正极性端连接第一直流电源(+VA)的输出端，第十双转换触点电磁继电器(U11)的线圈的负极性端连接驱动控制电路(4)的第十一个隔离驱动电路(4-5)的控制信号输出端，第十双转换触点电磁继电器(U11)的第一组转换触点的常闭触点连接继电器接触电阻测试电路(8-1-2)的第十一电阻(R11)的另一端，第十双转换触点电磁继电器(U11)的第一组转换触点的公共端连接第十一双转换触点电磁继电器(U12)的第一组转换触点的常闭触点，第十双转换触点电磁继电器(U11)的第一组转换触点的常开触点连接继电器触点电压采集电路(8-1-4)的第十九电阻(R19)和第二十电阻(R20)的另一端，第十双转换触点电磁继电器(U11)的第二组转换触点的常闭触点连接继电器绝缘电阻测试电路(8-1-3)的第十五电阻(R15)的另一端，第十双转换触点电磁继电器(U11)的第二组转换触点的公共端连接第十一双转换触点电磁继电器(U12)的第一组转换触点的常开触点，第十一双转换触点电磁继电器(U12)的线圈的正极性端连接第一直流电源(+VA)的输出端，第十一双转换触点电磁继电器(U12)的线圈的负极性端连接驱动控制电路(4)的第十二个隔离驱动电路(4-5)的控制信号输出端，第十一双转换触点电磁继电器(U12)的第一组转换触点的公共端通过第二十三电阻(R23)连接数据采集存储电路(5)的第二组A/D转换及存储电路(5-5)的数据输入端。
7.根据权利要求1、2或3所述的密封电磁继电器多余物微粒的复合检测系统，其特征在于用于固定被测密封电磁继电器的振动平台(2)采用PIND仪的振动台及其驱动系统；处理机(3)采用CPU为PIII866的工控机；数据采集存储电路(5)中PCI协议转换接口电路(5-3)的主芯片型号为PCI9030，时钟控制电路(5-2)的主芯片型号为EPM7128STC100，每组A/D转换及存储电路(5-5)中RAM存储模块(5-5-1)的主芯片型号为IS61C64，每组A/D转换及存储电路(5-5)中A/D转换模块(5-5-2)的主芯片型号为ADS802。
8.根据权利要求6所述的密封电磁继电器多余物微粒的复合检测系统，其特征在于第一运算放大器(Q1)、第二运算放大器(Q2)和第三运算放大器(Q3)采用的型号为AD620；同步触发信号发生电路(6)中继电器(U1)采用湿簧继电器。
全文摘要
密封电磁继电器多余物微粒的复合检测系统，它具体涉及继电器内部多余物的检测方法，它的目的是为了解决现有的马特拉方法检测效率低，无法测定存在于密封电磁继电器衔铁与极面之间的多余物微粒及无法进一步分析多余物微粒对继电器造成的危害程度的问题。本发明的3的控制信号输出端连接4的信号输入端，3的测量数据输入端连接5的测量数据输出端，4的多路控制信号输出端连接6、7和8，6的触发信号输出端连接5，7的测量数据输出端连接5，8的测量数据输出端连接5。本发明利用测试动态参数能有效地检测出存在于密封电磁继电器衔铁与极面之间的多余物微粒，并根据动态参数序列来判定多余物的大小及它对密封电磁继电器功能造成的危害程度。
文档编号G01M1/00GK1719251SQ20051001020
公开日2006年1月11日 申请日期2005年7月20日 优先权日2005年7月20日
发明者翟国富, 王世成, 张辉, 高宏亮, 余琼, 王淑娟 申请人:哈尔滨工业大学