专利名称：荧光粉发光光谱和反射率光谱的测量方法
技术领域：
本发明属于彩色荧光粉检测技术领域，涉及一种测量方法，特别涉及彩色显象管和彩色显示器用荧光粉发光光谱和反射率光谱的测量方法。
背景技术：
彩色显象管使用的红、绿、蓝三色荧光粉，其颜色是由它们辐射的光谱分布来决定的。对于生产制造出来的荧光粉，要知道它们的发光特性，就必须进行测量。另外，为了吸收部分来自荧光屏前的环境光及荧光粉发光以外的波长，提高图象对比度和改善荧光粉的色纯度，对荧光粉的反射、吸收特性也要进行测量。
现有的发光特性的测量方法是用MCPD型分光仪在电子枪的激发下，测量放置在其真空样品室内的专用测量载片上荧光粉的发光特性(Br、x、y)。由于该测量仪器测量光栅的面积为一定值，因此，对测量发光专用测量载片的高度、宽度就得做出限制，即载片的高度、宽度为固定值。而测量反射率光谱的方法是用分光光度计仪器，将装有荧光粉的专用测量载片放置在反射光谱载片样品室内，测量其荧光粉的反射、吸收特性。为了保证激发光谱对荧光粉样品的测量要求，即保证测量精度，该仪器的样品室限定了测量载片的高度也必须为固定值。因此，现有的两种仪器在分别测量荧光粉的发光特性与反射特性时，必须分别在两种不同形状的荧光粉载片上制作被检测荧光粉的测量载片，从而造成检测成本较高，工人劳动强度加大。
发明内容
为了解决测量发光特性和反射特性分别制作载片而造成的检测成本高、劳动强度大的缺点，本发明的目的是提供了可一体化测量的荧光粉发光光谱和反射率光谱的测量方法，降低了检测成本，减轻了劳动强度。
本发明所采用的技术方案是，荧光粉发光光谱和反射率光谱的测量方法，将荧光粉样品装入测量发光光谱特性的载片上的凹槽内，将其压平，进行发光特性的测量，测量完成后，将载片叠加在测量反射光谱特性的载片上，盖上玻璃片，再进行反射光谱特性的测量。
本发明所采用的另一技术方案是，荧光粉发光光谱和反射率光谱的测量方法，包括一通用载片，通用载片上开有长方形凹槽，凹槽的四角圆弧过渡，该方法包括先将荧光粉样品装入通用载片上的凹槽内，将其压平，进行发光特性的测量，测量完成后，盖上玻璃片，再进行反射光谱特性的测量。
本发明的特点还在于，通用载片上凹槽的长为45mm，宽为25mm，表面积为1125平方毫米。
本发明的方法是将制作测量荧光粉发光特性用的载片及制作测量荧光粉反射光谱用的载片，一次完成，从而降低制样费用，减轻了检测工的劳动量，提高检测工作效率，减轻了检测废弃荧光粉对环境的污染。
图1是原有测量发光特性的载片示意图；图2是原有测量发光特性的载片装样品后示意图；图3是原有测量反射光谱特性的载片示意图；图4是原有测量反射光谱特性的载片装样品后示意图；
图5是本发明的一种测量方法示意图；图6是本发明的通用载片示意图；图7是本发明使用通用载片测量发光特性示意图；图8是本发明使用通用载片测量反射光谱特性示意图；图9是红粉反射率的测试对比曲线图，横坐标是波长，纵坐标是反射率；图10是蓝粉反射率的测试对比曲线图，横坐标是波长，纵坐标是反射率。
图中1载片，2凹槽，3荧光粉样品，4载片，5凹槽，6玻璃片，7通用载片，8凹槽。
具体实施例方式
下面结合附图对本发明进行详细说明。
图1显示的是原有测量发光特性的载片，载片1上开有方形凹槽2。
如图2所示，进行发光特性测量时，将少量荧光粉样品3装入载片1上的凹槽2内，使粉稍高于载片1的内表面，用平面砣将其压平整，用MCPD型分光仪在电子枪激发下测量样品的发光特性(Br、x、y)。
图3显示的是原有测量反射光谱特性的载片，载片4上开有圆形凹槽5。
如图4所示，原来进行反射光谱特性测量时，将少量荧光粉样品3装入载片4上的凹槽5内，使粉稍高于载片4的内表面，用平面砣将其压平整，用分光光度计仪器测量样品的反射特性。
图5显示用本发明的方法进行测量，将少量荧光粉样品3装入测量发光光谱特性的载片1上的凹槽2内，使粉稍高于载片1的内表面，用平面砣将其压平整，用MCPD型分光仪在电子枪激发下测量样品的发光特性，测量完成后，将载片1叠加在测量反射光谱特性的载片4上，再用玻璃片6盖在荧光粉体3上，四周用胶带将玻璃片6与载片1封严，杜绝粉末外溢，并用卫生纸将玻璃面擦净，最后测量其反射光谱特性。从而使发光、反射光谱测量制片只需一次完成，节省了单另制作测量反射率用载片的制片过程。
图6是本发明方法使用的通用载片，通用载片7上开有长方形凹槽8，其长为65mm，宽为24mm，表面积为625平方毫米，凹槽8的四角圆弧过渡。
图7、图8显示用本发明的另一种方法进行测量，先将一定量荧光粉样品装入通用载片7上的凹槽8内，使粉稍高于载片7的内表面，然后用平面砣将粉压平整，首先用MCPD型分光仪在电子枪激发下测量样品的发光特性(Br、x、y)，测量完成后，测量载片7再利用，用玻璃片6盖在其荧光粉3上，四周用胶带将玻璃片6与载片7封严，杜绝粉末外溢，并用卫生纸将玻璃面擦净，最后测量其反射率特性，从而使发光测量、反射光谱测量制片一次完成。
用本发明的两种测量方法与原来的测量方法相比，见下表随机取样进行两种制片方法测试反射光谱测试点对比
从上表的测试数据对比可以看出，其测试结果的极差很小，验证了本发明的可行性。
图9、图10是随机取样进行的本发明的制片方法与原有方法测量出的反射光谱特性对比曲线，可以看出用本发明的制片方法测量出的结果与原有的反射光谱测量方法的测量结果完全吻合。
权利要求
1.荧光粉发光光谱和反射率光谱的测量方法，其特征在于，将荧光粉样品(3)装入测量发光光谱特性的载片(1)上的凹槽(2)内，将其压平，进行发光特性的测量，测量完成后，将载片(1)叠加在测量反射光谱特性的载片(4)上，盖上玻璃片(6)，再进行反射光谱特性的测量。
2.荧光粉发光光谱和反射率光谱的测量方法，其特征在于，包括一通用载片(7)，所述通用载片(7)上开有长方形凹槽(8)，所述凹槽(8)的四角圆弧过渡，该方法包括先将荧光粉样品(3)装入通用载片(7)上的凹槽(8)内，将其压平，进行发光特性的测量，测量完成后，盖上玻璃片(6)，再进行反射光谱特性的测量。
3.根据权利要求2所述的测量方法，其特征在于，所述凹槽(8)的长为45mm，宽为25mm，表面积为1125平方毫米。
全文摘要
荧光粉发光光谱和反射率光谱的测量方法，一种方法是将进行发光特性测量后的载片叠加在测量反射光谱特性的载片上，盖上玻璃片，再进行反射光谱特性的测量；另一种方法是将荧光粉样品装入通用载片上的凹槽内，进行发光特性的测量，测量完成后，盖上玻璃片，再进行反射光谱特性的测量。该方法使发光特性和反射光谱特性的测量一次完成，从而降低制样费用，减轻了检测工的劳动量，提高检测工作效率，减轻了检测废弃荧光粉对环境的污染。
文档编号G01N21/69GK1664565SQ200510041908
公开日2005年9月7日 申请日期2005年4月7日 优先权日2005年4月7日
发明者傅红梅, 张东宏 申请人:彩虹集团电子股份有限公司