专利名称：电路板测试治具的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种电路板测试治具，特别涉及一种提供可固设电路板以及测试电路板的治具。
背景技术：
现有电路板测试治具是用以测试各种已经布置电子组件以及电气线路的电路板，并同时提供固设所述电路板以及进行电气测试等装置。如中国台湾专利公告第M266449号新型专利所显示，一般的电路板测试治具，是一框体设置数个定位组件所构成，其中各个定位组件是可沿着所述框体作位置的平移调整，且各个定位组件具有固锁螺栓，藉以压掣待测的电路板，或是藉以支撑待测的电路板。再者，其电气测试的装置主要是透过一针板设置多个测试针，使得所述测试针分别对应所述电路板的电气信号输出入位置，用以输入信息至待测电路板或量取所述电路板的信息输出。然而，所述定位组件与框体结合的方式是直接透过螺栓的螺接或固锁所达成，会因此导致结合部因为螺栓的高应力接触而导致接处位置的机械破坏。
再者，由于现有电路板测试治具中的定位组件结构复杂，并无考虑方便拆装的设计，不但操作上会有所不便，也常常造成定位组件与电路板或是与电气测试的装置形成结构上的干涉问题。
另外，由于现今的电子产品更迭快速，必须不断进行新品的开发，减少因为电路板测试治具中不当设计所导致的结构限制，并可适用于大部分的电路板。因此必须提供具有可更换测试电路板的针板，以避免需要针对每批不同设计的电路板，设计新的测试用针板，而同时能减少研发成本。
因此，发明人基于上述理由，进而改良现有电路板测试治具所具有的缺失。
发明内容
本发明的电路板测试治具，主要是提供一电路板测试治具并具有固定待测电路板的治具，同时可避免机构连结处因为过度的应力所造成的机械破坏。
本发明电路板测试治具的另一目的，提供一待测电路板的固定装置，并可配合所述待测电路板上的电路组件，而避免机构干涉的发生。
本发明电路板测试治具的再一目的，是提供具有可重新布置测试针的针板，藉以配合不同待测电路板的测试程序。
本发明电路板测试治具的再一目的，是通过框架结构构成所述待测电路板的固定装置，使得操作过程中可观察所述固持装置的压掣机构与所述电路板的相对位置，而方便操作的进行。
本发明是一种电路板测试治具，其是用以装设待测试的电路板并进行电气测试，其特征在于，包括测试装置，其是用以检测所述电路板的电气功能；以及固持装置，其包括框架结构，其包括两个对应平行设置的第一导引杆；多个第二导引杆，且各个第二导引杆的两端是以滑动设置方式分别机构连结于各个杆端所对应的第一导引杆，使得各个第二导引杆是被限制为沿着所述第一导引杆平行方向平移；以及多个竖杆，各个竖杆底端分别具有压掣部，且各个竖杆是以滑动设置方式分别对应机构连结于第二导引杆，使得各个竖杆被限制只能沿着对应的第二导引杆延伸方向平移；以及支撑部，其是板体结构；其中所述框架结构局部可拆卸的组装结构，用以选择所述框架结构与所述支撑部形成闭合状态以及开启状态中的任一状态，且所述支撑部是设置于所述测试装置顶部，所述框架结构所包围的所述支撑部上表面局部区域中是用以设置所述待测电路板，以及所述压掣部是对应所述待测电路板顶端面并用以压掣所述电路板的顶端面。
各个所述第一导引杆分别包括凹槽，所述凹槽是沿着所述第一导引杆平行方向延伸；以及各个所述第二导引杆两端分别设置滑块，且各个滑块是限制于对应的第一导引杆的凹槽中，使得所述滑块被限制沿着对应的凹槽的延伸方向移动。
所述第二导引杆中分别包括沿着杆体延伸的等断面部；以及各个所述竖杆分别包括夹颚部以及固定螺栓，所述夹颚部是配合容纳所述断面部的颚状结构，且所述固定螺栓螺接于所述夹颚部并选择压掣所述断面部表面以及松脱自所述断面部表面中的任一状态，使得选择所述竖杆固设于所述第二导引杆以及相对所述第二导引杆滑动中的任一状态。
各个所述竖杆分别进一步包括下压螺栓，所述下压螺栓是螺接于所述竖杆，且所述下压螺栓底端形成所述压掣部，以及所述下压螺栓的位置调节是用以选择压掣所述电路板的作用力。
所述支撑部进一步包括多个测试针，所述测试针的设置是对应所述待测电路板中的待测电气接点，且所述测试针分别电气连接至所述测试装置，用以检测所述待测电路板的电气功能。
所述支撑部进一步包括针板，且所述测试针是设置于所述针板中。
所述针板是以可拆卸的方式装设在所述测试装置顶部。
所述框架结构进一步包括第一框架；以及第二框架；其中所述框架结构是透过所述第一框架设置于所述测试装置顶部，且所述第一框架一端的两侧具有相对应的枢接部，所述第一框架另一端的两侧具有相对应的卡合部；以及所述第二框架是一端与所述第一框架的枢接部形成枢接的机构连结，且所述第二框架的另一端对应囓合所述第一框架的卡合部并选择囓合以及脱离所述卡合部中的任一状态，用以选择所述框架结构的第二框架与所述支撑部形成闭合状态以及开启状态中的任一状态。
为使本领域技术人员了解本发明的目的、特征及功效，兹通过下述具体实施例，并配合所附的图式，详加说明如后。
图1是显示本发明电路板测试治具的具体实施例的第一状态立体视图；图2是显示本发明电路板测试治具的具体实施例的第二状态立体视图；图3是显示本发明图1的俯视图；图4是显示本发明图1的前视图；图5是显示本发明电路板测试治具一具体实施例的第一导引杆机构连结第二导引杆的局部组件剖视图；
图6是显示本发明图5的6-6断面剖视图；图7是显示本发明电路板测试治具一具体实施例的第二导引杆与竖杆的局部剖视图；图8是显示本发明电路板测试治具一具体实施例的支撑部结构立体分解视图。
附图标记说明固持装置1；第一框架11；枢接部11a；卡合部11b；第二框架12；第一导引杆121；凹槽121a；第二导引杆122；螺栓122a；滑块122b；等断面部122c；竖杆123；压掣部123a；夹颚部123b；固定螺栓123c；下压螺栓123d；凸缘123e；支撑部13；测试针13a；针板13b；测试装置2；电路板3；待测电气接点31；电路组件32。
具体实施例方式
请参阅图1以及图2所示，其分别是显示本发明电路板测试治具的具体实施例的第一状态立体视图以及第二状态立体视图。本发明电路板测试治具主要是一固持装置1设置于一测试装置2上所构成，所述固持装置1是用以摆置电路板3以及固定所述电路板3，且所述测试装置2是用以检测所述电路板3的电气功能。其中，所述固持装置1的局部是形成可拆卸的组装结构，用以将所述局部脱离固设状态，而得以装设或拆卸电路板3。
上述本发明的固持装置1是具有第一框架11、第二框架12以及支撑部13，其中所述第一框架11是设置于所述测试装置2顶部的一框架结构，且所述第一框架11一端的两侧具有相对应的枢接部11a，所述第一框架11另一端的两侧具有相对应的卡合部11b；所述第二框架12是一框架结构，并于一端与所述第一框架11的枢接部11a形成枢接的机构连结，使得所述第二框架12可相对于所述第一框架11的枢接部11a作枢转，且所述第二框架12的另一端可对应囓合所述第一框架11的卡合部11b并可选择囓合或脱离所述卡合部11b，使得所述第二框架12与第一框架11分别对应形成闭合状态以及开启状态；以及所述支撑部13是一板体结构，且其上表面可用以设置所述第一框架11，以及在所述第一框架11所包围的所述支撑部13上表面局部区域中设置所述电路板3。
上述支撑部13的局部具有多个测试针13a，所述测试针13a的设置是对应所述电路板3中的待测电气接点，且所述测试针13a底端分别电气连接至所述测试装置2，用以检测所述电路板3的电气功能。
请再次参阅图1，并进一步参阅图3以及图4所示，其中图3是显示本发明图1的俯视图，且图4是显示本发明图1的前视图。上述的固持装置1中第二框架12的两个对应侧分别设置一第一导引杆121，所述第一导引杆121是相互平行且设置多个第二导引杆122，各个第二导引杆122的两端是以滑动设置方式分别机构连结于两个第一导引杆121处，使得各个第二导引杆122被限制为可沿着两个第一导引杆121的延伸方向平移。
另外，由于所述固持装置1中，所述第二框架12设置于所述第一框架11上，在前端形成镂空的结构，当操作所述第二导引杆122以及竖杆123时，可由前端的镂空部分观看所述电路板3的状况，因而方便操作者调整各个对应的机构，且让所述竖杆123的压掣部123a能更确实地压掣所述电路板3。
请参阅图5以及图6所示，其中图5是显示本发明电路板测试治具一具体实施例的第一导引杆机构连结第二导引杆的局部组件剖视图，且图6是显示本发明图5的6-6断面剖视图。上述的第一导引杆121中具有沿着所述第一导引杆121平行方向延伸的凹槽121a，且上述的第二导引杆122两端分别透过一螺栓122a固锁一滑块122b，且各个滑块122b是被限制于对应的第一导引杆121的凹槽121a中，且使得所述滑块122b被限制为只能沿着对应的凹槽121a的延伸方向移动。
基于上述所述第一导引杆121机构连结所述第二导引杆122的具体实施例，透过调整所述螺栓122a的松紧度，可选择固定所述第二导引杆122于所述第一导引杆121上，或是选择所述第二导引杆122沿着所述第一导引杆121的凹槽121a延伸方向移动，因此，达到所述第二导引杆122的位置调整。再者，因为所述第二导引杆122透过螺栓122a固设于对应的滑块122b，再透过所述滑块122b与所述第一导引杆121的凹槽121a表面接触所产生的摩擦力而达到所述第二导引杆122的杆端固定，使得机构连结所产生的作用力分布于所述接触面，而降低局部应力，意即可避免接触位置的机械破坏。
请再次参阅图1、图3、图4以及图7所示，所述第二导引杆122分别设置多个竖杆123，各个竖杆123是以滑动设置方式分别机构连结于所对应的第二导引杆122，使得各个竖杆123被限制为沿着对应的第二导引杆122延伸方向平移。其中各个竖杆123底端分别具有一压掣部123a，所述压掣部123a是对应所述电路板3顶端面并用以压掣所述电路板3的顶端面。
请参阅图7所示，其是显示本发明电路板测试治具一具体实施例的第二导引杆与竖杆的局部剖视图。上述的第二导引杆122中分别具有沿着杆体延伸的等断面部122c，且上述的竖杆123顶端具有一夹颚部123b，所述夹颚部123b是一颚状结构或称为C型结构并配合可容纳所述断面部122c，并透过一固定螺栓123c螺接于所述夹颚部123b同时作用于所述断面部122c上，使得所述竖杆123固设于所述第二导引杆122。再者，所述竖杆123底端螺接一下压螺栓123d，且所述竖杆123的压掣部123a是形成于所述下压螺栓123d底端，并透过调节所述下压螺栓123d的位置，而达到调节压掣所述电路板的作用力。其中所述下压螺栓123d的一种较佳设置方式，是所述竖杆123底端突出形成一凸缘123e，所述下压螺栓123d透过螺接的方式设置于所述凸缘123e。因此，透过所述第一导引杆121、第二导引杆122、竖杆123以及所述压螺栓122a的机构操作，可使得所述压掣部123a进行三度空间的位置调节，并藉以配合因为设置许多电子组件而造成上表面轮廓高低不平的电路板3。
基于上述所述竖杆的具体实施例，透过调整所述竖杆123的固定螺栓123c的松紧度，可选择固定所述竖杆123于所述第二导引杆122上，或是选择所述竖杆123沿着所述第二导引杆122的等断面部122c延伸方向移动，因此，达到所述竖杆123的位置调整。再者，由于所述竖杆123的夹颚部123b的颚状结构设计，使得所述竖杆123可以方便地自所述第二导引杆122上拆卸或装设至所述第二导引杆122上。
因此，在固定所述电路板3的实际操作中，透过选择所述第二导引杆122固设在所述第一导引杆121上的位置，以及选择所述竖杆123固设在所述第二导引杆122上的位置，可使得所述竖杆123的压掣部123a在水平平面上的位置避开所述电路板3上所设置的电路组件32。再者，透过旋转所述竖杆123的下压螺栓123d，可选择所述竖杆123的压掣部123a的垂直高度位置，并藉以提供适当的作用力压掣所述电路板3中设置电路组件32以外的区域，而达到固设所述电路板3于所述支撑部13的目的。其中，所述固持装置1的第二框架12中的各个机构构件与所述支撑部13是分置于所述电路板3的上下两侧，使得所述第二框架12中的各个机构构件与所述支撑部13中的测试针13a不会产生机构干涉，因而减少了电路板的适用性限制。另外，由于所述固持装置1的第一框架11与第二框架12的框架设计，使得整体结构不会遮蔽所述固持装置1的压掣部123a与所述电路板3的接触状态。
请参阅图8所示，其是显示本发明电路板测试治具一具体实施例的支撑部结构立体分解视图。上述支撑部13中的数个测试针13a是设置于一针板13b上，且所述针板13b是装设在所述测试装置2顶部，所述测试针13a是分别电气连接至所述测试装置2中的测试手段，所述测试手段是用以检测所述电路板3上的多个待测电气接点31，并藉以进行所述待测电路板3的品管程序。再者，所述针板13b是以可拆卸的方式装设在所述测试装置2顶部，且所述测试针13a是可配合不同的待测电路板3而改变设置于所述针板13b中的位置。其中所述针板13b的一种较佳设置方式，是所述针板13b透过螺栓螺接在所述测试装置2顶部，而使得所述针板13b固设在所述测试装置2上，并形成一可拆卸的结构。
虽然本发明已以具体实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟悉此技艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，其所作的更动与润饰皆属于本发明的范畴，本发明的保护范围当视权利要求所界定为准。
权利要求
1.一种电路板测试治具，其是用以装设待测试的电路板并进行电气测试，其特征在于，包括测试装置，其是用以检测所述电路板的电气功能；以及固持装置，其包括框架结构，其包括两个对应平行设置的第一导引杆；多个第二导引杆，且各个第二导引杆的两端是以滑动设置方式分别机构连结于各个杆端所对应的第一导引杆，使得各个第二导引杆是被限制为沿着所述第一导引杆平行方向平移；以及多个竖杆，各个竖杆底端分别具有压掣部，且各个竖杆是以滑动设置方式分别对应机构连结于第二导引杆，使得各个竖杆被限制只能沿着对应的第二导引杆延伸方向平移；以及支撑部，其是板体结构；其中所述框架结构局部可拆卸的组装结构，用以选择所述框架结构与所述支撑部形成闭合状态以及开启状态中的任一状态，且所述支撑部是设置于所述测试装置顶部，所述框架结构所包围的所述支撑部上表面局部区域中是用以设置所述待测电路板，以及所述压掣部是对应所述待测电路板顶端面并用以压掣所述电路板的顶端面。
2.如权利要求1所述的电路板测试治具，其特征在于各个所述第一导引杆分别包括凹槽，所述凹槽是沿着所述第一导引杆平行方向延伸；以及各个所述第二导引杆两端分别设置滑块，且各个滑块是限制于对应的第一导引杆的凹槽中，使得所述滑块被限制沿着对应的凹槽的延伸方向移动。
3.如权利要求1所述的电路板测试治具，其特征在于所述第二导引杆中分别包括沿着杆体延伸的等断面部；以及各个所述竖杆分别包括夹颚部以及固定螺栓，所述夹颚部是配合容纳所述断面部的颚状结构，且所述固定螺栓螺接于所述夹颚部并选择压掣所述断面部表面以及松脱自所述断面部表面中的任一状态，使得选择所述竖杆固设于所述第二导引杆以及相对所述第二导引杆滑动中的任一状态。
4.如权利要求3所述的电路板测试治具，其特征在于各个所述竖杆分别进一步包括下压螺栓，所述下压螺栓是螺接于所述竖杆，且所述下压螺栓底端形成所述压掣部，以及所述下压螺栓的位置调节是用以选择压掣所述电路板的作用力。
5.如权利要求1所述的电路板测试治具，其特征在于所述支撑部进一步包括多个测试针，所述测试针的设置是对应所述待测电路板中的待测电气接点，且所述测试针分别电气连接至所述测试装置，用以检测所述待测电路板的电气功能。
6.如权利要求5所述的电路板测试治具，其特征在于所述支撑部进一步包括针板，且所述测试针是设置于所述针板中。
7.如权利要求6所述的电路板测试治具，其特征在于所述针板是以可拆卸的方式装设在所述测试装置顶部。
8.如权利要求1所述的电路板测试治具，其特征在于所述框架结构进一步包括第一框架；以及第二框架；其中所述框架结构是透过所述第一框架设置于所述测试装置顶部，且所述第一框架一端的两侧具有相对应的枢接部，所述第一框架另一端的两侧具有相对应的卡合部；以及所述第二框架是一端与所述第一框架的枢接部形成枢接的机构连结，且所述第二框架的另一端对应囓合所述第一框架的卡合部并选择囓合以及脱离所述卡合部中的任一状态，用以选择所述框架结构的第二框架与所述支撑部形成闭合状态以及开启状态中的任一状态。
全文摘要
一种电路板测试治具，其是具有固持装置以及测试装置，用以装设待测试的电路板并进行所述电路板的电气测试。其中所述固持装置的框架结构中具有数个压掣部用以固定所述电路板，且所述框架结构是形成具有调整所述压掣部的水平位置以及垂直位置的机构，所述框架结构局部可拆卸的组装结构，用以选择所述框架结构与所述支撑部形成闭合状态以及开启状态中的任一状态；以及所述固持装置的支撑部是设置于所述测试装置顶部，用以设置所述待测电路板。另外，所述支撑部又具有多个测试针，且所述测试针的设置是对应所述待测电路板中的待测电气接点，所述测试针分别电气连接至所述测试装置，用以检测所述待测电路板的电气功能。
文档编号G01R31/28GK101082632SQ20061008382
公开日2007年12月5日 申请日期2006年6月2日 优先权日2006年6月2日
发明者陈万山, 沈德文 申请人:金宝电子工业股份有限公司