专利名称：高度量测仪的制作方法
技术领域：
本发明涉及测量技术，尤其涉及一种高度量测仪。
背景技术：
高度测量作为测量技术中的一个重要方面，需要能够适合各种测量情况的高度 量测仪进行量测。如Tomas Fischer等人在2006年IEEE系统、仪器及检测技术的国 际石开讨会(Instrumentation and Measurement Technology Conference)上发表的论 文A NovelOptical Method of Dimension Measurement of Objects with Circular Cross-section中揭示了一种高度检测方法。 目前，高度量测仪主要由底座、导杆、延伸杆与高度规构成。底座主要用于固定支
承导杆等部件。测量时，先将待测量元件放置于底座上，然后沿导杆轴向调节延伸杆的高
度，使得套设于延伸杆中的高度规随延伸杆移动，再微调高度规使高度规的量测探头与待
测量元件接触，则底座表面与量测探头的间距即为待测量元件的高度。但是，现有的高度量
测仪的延伸杆的长度固定，且其延伸的方向亦固定，从而不能方便地测量同一待测元件上
具有不同高度差的多个表面位置的高度，其测量范围与测量效率受到很大限制。 因此，有必要提供一种测量范围广、测量效率高的可伸縮转向的高度量测仪。
发明内容
下面将以具体实施例说明一种可伸縮转向的高度量测仪。 —种高度量测仪，包括底座、导杆、延伸杆以及高度规，所述导杆固定于底座，所述 延伸杆包括可滑动的套设于导杆的滑动部，用于沿导杆的轴向移动，所述高度规设于延伸 杆远离导杆的一端，所述延伸杆具有第一延伸部以及与第一延伸部平行的第二延伸部，第 一延伸部与第二延伸部远离导杆的一端设有一连接部，用于连接第一延伸部与第二延伸 部，所述第二延伸部可相对该连接部滑动及转动。 —种高度量测方法，包括步骤提供待测量元件以及如上所述的高度量测仪，所述
待测量元件上包括待测量高度的第一位置、第二位置及第三位置；测量第一位置的高度；
延伸第二延伸部，测量第二位置的高度；转动第二延伸部，测量第三位置的高度。 相对于现有技术，本技术方案的高度量测仪及高度量测方法具有如下优点首先，
其利用可延伸的第二延伸部延伸到需要长度后再测量待测量元件在该位置的高度，扩大了
量测区域；其次，其利用第二延伸部旋转后 可测量待测量元件在另一位置的高度，不需移
动待测量元件，不仅扩大了量测区域，还提高了测量效率。
图1是本技术方案实施例提供的高度量测仪的示意图。 图2是本技术方案包括三个测量位置(A、B、C)的待测量元件示意图。 图3是本技术方案的高度量测仪的精密量测仪归零的示意图。
图4是本技术方案的高度量测仪测量A位置所在高度的示意图。
图5是本技术方案的高度量测仪测量B位置所在高度的示意图。
图6是本技术方案的高度量测仪测量C位置所在高度的示意图。
具体实施例方式
下面将结合附图对本技术方案的高度量测仪作进一步详细说明。 请参阅图l，本技术方案实施例提供的高度量测仪100，包括底座10、导杆20、延伸
杆30以及高度规40。 底座10具有第一表面12和第二表面14。所述第一表面12与第二表面14平行相 对。第一表面12为平面，其用于承载待测量元件。 导杆20固定于底座10且与底座10垂直，即与第一表面12垂直。导杆20近似为
圆柱体。 延伸杆30包括滑动部31、第一延伸部32、第二延伸部33、固定螺丝34、连接部35 与水平气泡仪36。第一延伸部32与第二延伸部33远离导杆20的一端设有一连接部35， 用于连接第一延伸部32与第二延伸部33，从而，第二延伸部33可相对该连接部35滑动及 转动。本实施例中，所述连接部35为一连接螺栓。 滑动部31近似为圆筒状，其内孔径略大于导杆20的外径以可与导杆20相配合。 滑动部31可滑动的套设于导杆20，用以使延伸杆30可沿导杆20的轴向移动，从而调节延 伸杆30相对底座10的第一表面12的距离。滑动部31的一端与固定螺丝34连接。固定 螺丝34用于将滑动部31锁紧，以使滑动部31相对导杆20固定，从而使与滑动部31固定 的延伸杆30相对固定于导杆20。 第一延伸部32的一端与滑动部32固定，其平行于底座10的第一表面12。第一延 伸部32的另一端具有一个与连接部35相配合的连接孔322。 第二延伸部33与第一延伸部32平行。第二延伸部33远离导杆20的一端具有可 套设固定高度规40的通孔302。 第二延伸部33沿延伸轴线方向开设有滑动槽334。滑动槽334由位于两端的两个 半圆形孔336以及连通所述两个半圆形孔336的长方形孔338构成。长方形孔338的宽度 与半圆形孔336的直径相等。从而，连接部35可穿过连接孔322与滑动槽334，以连接固定 第二延伸部33与第一延伸部32。 水平气泡仪36固设于第二延伸部33，用于判断第二延伸部33是否水平。
高度规40包括活动量测杆41、精密量测器42以及量测探头43。高度规40设于 延伸杆30远离导杆20的一端且垂直于底座IO，用于沿垂直于延伸杆30和底座10的方向 移动。 活动量测杆41垂直套设于延伸杆30，其可相对延伸杆30沿垂直底座10的第一表 面12的方向移动。 精密量测器42固定于活动量测杆41远离底座10的一端，用于获取量测探头43 量测到的高度值。 量测探头43固定于活动量测杆41靠近底座10的一端，用于与待测量元件接触以 获得待测量元件在量测探头43对应位置的高度值。
本技术方案的高度量测仪100利用第二延伸部33相对第一延伸部32的滑动及转 动，扩大了量测区域，提高了量测效率。 本技术方案实施例还提供一种利用上述高度量测仪100对待测量元件的高度进 行量测的方法，其包括以下步骤 第一步，提供待测量元件200以及上述高度量测仪100。 请参阅图2，所述待测量元件200具有三个待测量位置，即第一位置A、第二位置B 以及第三位置C。其中，所述第一位置A、第二位置B与第一延伸部32的延伸方向在同一直 线方向，所述第三位置C与第一延伸部32的延伸方向不在同一直线方向。
第二步，将高度量测仪100归零。 请参阅图3，将量测探头43向底座10的第一表面12靠近，直至其与第一表面12 接触，并将精密量测器42的显示值调零。此时，高度量测仪100以第一表面12所在的高度 为参考零点。 第三步，将待测量元件200放置于高度量测仪100的底座10。 请参阅图4，将待测试元件200放置于所述底座10的第一表面12，使待测试元件
200的底面贴合于第一表面12，并使待测试元件200的第一位置A与高度规40的量测探头
43相对。 第四步，测量第一位置A的高度。 使量测探头43向靠近底座10方向移动，直至其与待测试元件200的第一位置A 所在位置相接触，即可从精密量测器42读取第一位置A所在的高度值Hl。
第五步，将第二延伸部33延伸至第二位置B所在位置，测量第二位置B的高度。
请参阅图5，松开连接部35，将第二延伸部33延伸至第二位置B所在位置，使量测 探头43与第二位置B所在位置相接触，拧紧连接部35。 调节连接部35的松紧度，使水平气泡仪36的气泡处于水平状态，从而第二延伸部 33水平。然后，从精密量测器42读取第二位置B所在位置的高度值H2。
第六步，将第二延伸部33转动至第三位置C所在位置，测量第三位置C的高度。
请参阅图6，松开连接部35，将第二延伸部33转动至第三位置C所在位置，使量测 探头43与第三位置C相接触，拧紧连接部35。 调节连接部35的松紧度，使水平气泡仪36的气泡处于水平状态，从而第二延伸部
33水平。然后，从精密量测器42读取第三位置C所在位置的高度值H3。 当然，若要测量第二位置B相对第一位置A的高度，也可使量测探头43与第一位
置A所在位置相接触，将精密量测器42归零，再使量测探头43与第二位置B所在位置相接
触，则可从精密量测器42中直接读取第二位置B相对第一位置A的高度。 相对于现有技术，本技术方案的高度量测仪及高度量测方法具有如下优点首先，
其利用可延伸的第二延伸部延伸到需要长度后再测量待测量元件在该位置的高度，扩大了
量测区域；其次，其利用第二延伸部旋转后即可测量待测量元件在另一位置的高度，不需移
动待测量元件，不仅扩大了量测区域，还提高了测量效率。 可以理解的是，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本技术方案的技术构 思做出其它各种相应的改变与变形，而所有这些改变与变形都应属于本技术方案权利要求 的保护范围。
权利要求
一种高度量测仪，包括底座、导杆、延伸杆以及高度规，所述导杆固定于底座，所述延伸杆包括可滑动的套设于导杆的滑动部，用于沿导杆的轴向移动，所述高度规设于延伸杆远离导杆的一端，其特征在于，所述延伸杆具有第一延伸部以及与第一延伸部平行的第二延伸部，第一延伸部与第二延伸部远离导杆的一端设有一连接部，用于连接第一延伸部与第二延伸部，所述第二延伸部可相对该连接部滑动及转动。
2. 如权利要求1所述的高度量测仪，其特征在于，所述第二延伸部固设有水平气泡仪， 水平气泡仪平行于第二延伸部的延伸方向。
3. 如权利要求1所述的高度量测仪，其特征在于，所述第一延伸杆与导杆间通过滑动 部连接，第一延伸杆固定于滑动部，滑动部可沿导杆轴向移动。
4. 如权利要求3所述的高度量测仪，其特征在于，所述导杆与滑动部间设置固定螺丝， 固定螺丝可自滑动部向导杆方向旋紧，以使滑动部相对固定于导杆。
5. 如权利要求1所述的高度量测仪，其特征在于，所述第一延伸部的一端具有螺纹孔， 所述第二延伸部沿其延伸方向开设滑动槽，连接部通过螺纹孔与滑动槽连接第一延伸部与 第二延伸部。
6. 如权利要求1所述的高度量测仪，其特征在于，所述高度规包括活动量测杆、精密量 测器以及量测探头，活动量测杆垂直套设于延伸杆，精密量测器固定于活动量测杆远离底 座的一端，用于获取量测探头量测到的高度值，量测探头固定于活动量测杆靠近底座的一 端，用于与待测量元件接触以获得待测量元件在量测探头对应位置的高度值。
7. —种高度量测方法，包括步骤提供待测量元件以及如权利要求1所述的高度量测仪，所述待测量元件上包括待测量 高度的第一位置、第二位置及第三位置； 测量第一位置的高度； 延伸第二延伸部，测量第二位置的高度； 转动第二延伸部，测量第三位置的高度。
8. 如权利要求7所述的高度量测仪，其特征在于，测量第一位置的高度前，将高度量测 仪归零。
9. 如权利要求7所述的高度量测仪，其特征在于，所述第一位置、第二位置与第一延伸 部延伸方向在同一直线方向，所述第三位置与第一延伸部延伸方向不在同一直线方向。
全文摘要
本发明提供一种高度量测仪，包括底座、导杆、延伸杆以及高度规，所述导杆固定于底座，所述延伸杆包括可滑动的套设于导杆的滑动部，用于沿导杆的轴向移动，所述高度规设于延伸杆远离导杆的一端，所述延伸杆具有第一延伸部以及与第一延伸部平行的第二延伸部，第一延伸部与第二延伸部远离导杆的一端设有一连接部，用于连接第一延伸部与第二延伸部，所述第二延伸部可相对该连接部滑动及转动。本发明还提供一种利用上述高度量测仪进行测量的高度量测方法。
文档编号G01B5/02GK101713629SQ20081030477
公开日2010年5月26日 申请日期2008年10月8日 优先权日2008年10月8日
发明者林后尧 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司