专利名称：光学元件检测装置和方法
技术领域：
本发明涉及光学元件加工领域，尤其涉及加工后光学元件尺寸的检测装置和方法。
背景技术：
随着光电行业的快速发展，光学镜片被设计成各种形状以满足不同产品之需要。光学镜 片的加工技术也得到迅速发展，人们可通过不同的加工方式得到所需要的光学镜片。
在很多应用场合中，例如相机镜片、眼镜镜片、放大镜及望远镜镜片等，通常需要把光 学镜片加工成圆形。光学镜片加工成圆形的过程中，通常需要切割和滚圆工序。切割工序是 指选材后从整块的原材料如光学玻璃坯体中切取适当大小的待加工坯体的过程。目前的滚圆 技术，就是把方形光学镜片进行滚圆处理，使光学镜片具有圆形边缘以满足光学应用。
在实际生产中，需要对切割后和滚圆后的光学元件进行检测，以确定光学元件的形状和 尺寸是否符合规格。现有技术中，对光学元件的检测通常采用人工抽检的方式。作业人员采 用游标卡尺等量测工具抽检产品的尺寸。采用上述方式进行检测，需要消耗大量的时间，效 率低下。在实际的检测中，容易造成光学元件的污染，须增加清洗的步骤，降低生产的效率
有鉴于此，有必要提供一种能够快速地进行光学元件检测的装置和方法，并能够避免在 检测的过程中对光学元件产生污染。
发明内容
以下将以实施例说明一种光学元件的检测装置和方法。
一种光学元件尺寸的检测装置，其包括多个间隔设置的筛板与多个刮板，每个筛板中 形成有多个通孔，每个刮板滑动安装于一相应的筛板，用于沿筛板表面滑动使放置在该筛板 上的光学元件通过该筛板内的通孔而到达下一筛板上，该筛板中的通孔的孔径大于所述下一 筛板中的通孔的孔径。
一种采用所述光学检测装置进行光学元件检测的方法，其包括如下步骤将待检测的光 学元件置于具有最大通孔孔径的筛板上；驱动刮板在筛板的表面滑动使得待检测的光学元件 通过筛板的通孔落入通孔孔径小于所述筛板的筛板的表面上。
通过采用检测装置进行光学元件尺寸的检测，可以实现多个光学元件的同时检测，可以 改变现有技术中进行抽检的检测方法，可以进行全部光学元件的检测，提高了产品检测的效率和准确度。另外，在检测的过程中避免了操作人员与光学元件的接触，防止了检测过程中 对光学元件的污染，避免了后续的清洗制程，降低了产品制作的成本。
图l是本技术方案实施例提供的光学元件检测装置的立体图。
图2是本技术方案实施例提供的光学元件检测装置沿着II-II方向的剖面图。
具体实施例方式
下面将结合附图对本技术方案提供的光学元件的检测装置和方法作进一步的详细说明。
请参阅图1及图2，本技术方案实施例提供一种光学元件的检测装置100，其包括第一筛 板110、第一刮板120、第二筛板130、第二刮板140、收集槽150和支撑杆160。
第一筛板110具有相对的第一表面1101和第二表面1102，第一筛板110内开设有多个贯穿 第一表面1101与第二表面1102的第一通孔113。本实施例中，多个第一通孔113按均匀分布于 第一筛板IIO。多个第一通孔113的大小相同，第一通孔113的孔径与待检测光学元件容许的 最大容许尺寸相等(光学元件检测时，具有一定的容许公差，设定的标准尺寸与容许公差之 和即为容许的最大尺寸，标准尺寸与容许公差之差即为容许的最小尺寸)。
本实施例中，第一筛板lIO的周边相对的两侧分别形成有第一侧壁I 1 l和第二侧壁l 12， 第一侧壁lll、第二侧壁112和第一筛板110形成收容槽114。本实施例中，第一筛板lll呈长 方形，两个第一侧壁112相互平行，且与第一筛板110垂直。第一侧壁lll的一远离第一筛板 110的端面上设置有滑槽115。
第一刮板120包括第一主体部121和与第一主体部121的两端相连的两个第一滚轮122。第 一主体部121为板状结构，第一主体部121平行于第一多孔板111的宽度方向设置。第一主体 部121的长度与收容槽114的宽度相等，第一主体部121与第一筛板110的第一表面1101相接触 或与第一表面1101相距较小距离，所述距离应小于待检测的光学元件的厚度。
第一滚轮122可滚动的收容于第一滑槽115内，使得第一刮板120运动时，主体部121与第 一表面1101的距离不发生变化。第一滚轮122的形状与滑槽115的形状相配合。
第二筛板130的结构与第一筛板110的结构相近，第二筛板的周边形成有第三侧壁131和 第四侧壁132，第三侧壁131的端面1311上设置有第二滑槽135。不同之处在于，第二筛板 131设置的第二通孔133的孔径与待检测光学元件的容许的最小尺寸相等。第一筛板lll和第 二筛板131相互间隔并相互平行，在垂直于它们的方向上相互重叠。
第二刮板140与第一刮板120的结构相同，第二刮板140具有第二主体部141和两个第二滚 轮142，第二滚轮142滚动的收容于第二滑槽135内。收集槽150具有收容空间，用于收容光学元件，其大小与第一收容槽114的大小相等。收 集槽150设置靠近于设置的通孔孔径小的筛板。
在第一筛板110与第二筛板130之间和第二筛板130与收集槽150之间分别设置有支撑杆 160，设置支撑杆160的根数和长度实际情况确定。本实施例中，在第一筛板110和第二筛板 130之间设置有4根支撑杆160，第二筛板130和收集槽150之间设置有4根支撑杆160，支撑杆 160分别设置于第一筛板110、第二筛板130和收集槽150的四个顶点处，使得第一筛板IIO、 第二筛板130和收集槽150相互平行并相距一段距离。
为了实现检测装置100能够检测两种以上不同尺寸的光学元件，可以在设置更多的筛板 和刮板。在筛板上根据实际检测的光学元件的尺寸设计多孔板的孔径的大小，将多个筛板按 照孔径大小的一次排列，使得孔径最大的筛板处于最上端，孔径最小的筛板处于最下端。各 筛板上设置的通孔的孔径可以根据实际检测的镜片的尺寸进行确定，即可实现在同一检测装 置检测不同尺寸大小的光学元件。
当然，为了实现检测过程的自动化，也可以将第一刮板120和第二刮板140与驱动装置相 连，通过驱动装置驱动第一刮板120和第二刮板140分别在第一筛板110和第二筛板130的表面 内运动。
采用检测装置100对光学元件的尺寸进行检测，包括以下步骤
第一步，将待检测的光学元件置于具有最大通孔孔径的第一筛板iio上。
本实施例中待检测的光学元件包括完成滚圆或切割制程的光学元件，所述的光学元件呈 薄片状。
第二步，驱动刮板在筛板的表面滑动使得待检测的光学元件通过筛板的通孔落入通孔孔 径小于所述筛板的筛板的表面上。
具体地，驱动第一刮板120在第一筛板110表面滑动使得被检测的光学元件通过第一筛板 110的第一通孔113而落入第二筛板130的表面上。
第一筛板110设置的第一通孔113的大小为光学元件容许的最大尺寸作为直径，这样，第 一筛板110上待检测的光学元件符合尺寸小于容许的最大尺寸的光学元件即可通过第一通孔 113，而到达第二筛板130。
通过驱动第一刮板120在第一筛板110表面1101上运动，可以使得第一筛板110内的光学 元件随着第一刮板120运动而产生运动，使得待检测的光学元件在运动过程中到达多个第一 通孔l 13所在位置，从而完成第一筛板lIO的检测。
第三步，驱动第二刮板140在第二筛板130表面滑动使得被检测的光学元件通过第二筛板
5130的第二通孔133而落入收集槽150内。第二筛板130设置的第二通孔133的大小为光学元件 容许的最小尺寸作为直径，这样，第二筛板130上待检测的光学元件符合尺寸大于容许的最 小尺寸的光学元件不能通过第二通孔133，尺寸小于容许的最小尺寸的光学元件通过第二通 孔133。
因此，最后留在第二筛板130内的光学元件即为尺寸合格的光学元件，留在第一筛板 IIO上的光学元件为尺寸偏大的光学元件，通过第二通孔133落入到收容槽150内的光学元件 为尺寸偏小的光学元件。
当检测装置100具有更多的筛板和刮板时，本实施例的检测光学元件尺寸的方法进一步 包括按照次序依次驱动刮板在对应的筛板的表面滑动，使得对应筛板上的光学元件尺寸小于 对应的筛板设置的通孔的光学元件通过所述通孔，而达到通孔尺寸更小的筛板，直至检测 结束。通过采用检测装置100进行光学元件尺寸的检测，可以实现多个光学元件的同时检测 ，可以改变现有技术中进行抽检的检测方法，可以进行全部光学元件的检测，提高了产品检 测的效率和准确度。另外，在检测的过程中避免了操作人员与光学元件的接触，防止了检测 过程中对光学元件的污染，避免了后续的清洗制程，降低了产品制作的成本。
可以理解的是，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术构思做出其它 各种相应的改变与变形，而所有这些改变与变形都应属于本发明权利要求的保护范围。
权利要求
1.一种光学元件尺寸的检测装置，其包括多个间隔设置的筛板与多个刮板，每个筛板中形成有多个通孔，每个刮板滑动安装于一相应的筛板，用于沿筛板表面滑动使放置在该筛板上的光学元件通过该筛板内的通孔而到达下一筛板上，该筛板中的通孔的孔径大于所述下一筛板中的通孔的孔径。
2.如权利要求l所述的光学元件尺寸的检测装置，其特征在于，所述筛板相对两侧分别形成有第一侧壁，第一侧壁的端面上形成有滑槽，所述刮板两端设有滚轮，所述滚轮分别可滚动的收容于所述滑槽内。
3.如权利要求2所述的光学元件尺寸的检测装置，其特征在于，所述筛板周围还形成有两相对设置的第二侧壁，所述第一侧壁、第二侧壁及所述筛板围成一收容槽，所述收容槽用于收容光学元件。
4.如权利要求l所述的光学元件尺寸的检测装置，其特征在于，进一步包括多根支撑杆，所述多个筛板固定于所述支撑杆。
5.如权利要求l所述的光学元件检测装置，其特征在于，进一步包括驱动装置，用于驱动所述刮板滑所述筛板表面滑动。
6.如权利要求l所述的光学元件检测装置，其特征在于，在靠近所述多个筛板中通孔直径最小的筛板处设置有收集槽，用于收集自该筛板中脱落的光学元件。
7.一种采用如权利要求1至6任一项所述光学检测装置进行光学元件检测的方法，其包括如下步骤将待检测的光学元件置于具有最大通孔孔径的筛板上；驱动刮板在筛板的表面滑动使得待检测的光学元件通过筛板的通孔落入通孔孔径小于所述筛板的筛板的表面上。
全文摘要
一种光学元件尺寸的检测装置，其包括多个间隔设置的筛板与多个刮板，每个筛板中形成有多个通孔，每个刮板滑动安装于一相应的筛板，用于沿筛板表面滑动使放置在该筛板上的光学元件通过该筛板内的通孔而到达下一筛板上，该筛板中的通孔的孔径大于所述下一筛板中的通孔的孔径。本发明还涉及一种光学元件尺寸的检测方法。
文档编号G01B5/08GK101684997SQ200810304609
公开日2010年3月31日 申请日期2008年9月23日 优先权日2008年9月23日
发明者王仲培 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司