专利名称：测定光谱仪中杂散光比率的装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种光谱仪的检测装置，特别涉及一种测定光谱仪中杂散 光比率的装置。
背景技术：
测试光谱仪杂散光比率时，选择某些在测试波长处不透明的溶液，将光穿 过溶液，在被检测光谱仪上测试该测试波长下的光强，即为该光谱仪在测试波 长下的杂散光光强，将杂散光光强与不穿过溶液时得到的光强相比较，得到杂 散光比率。
根据中华人民共和国国家计量检定规程——《JJG689-1990紫外、可见、 近红外分光光度计》和美国国家材料试验协会提供的评估方法——ASTM E 387
《Standard Test Method for Estimating Stray Radiant Power Ratio of Dispersive Spectrophotometers by the Opaque Filter Method》，对于紫夕卜(UV)波段，测试 220nm处的杂散光比率时，选择lcm光程的10g/L的碘化纳溶液；测试340nm处的 杂散光比率时，采用lcm光程的50g/L的亚硝酸钠溶液。可见光(VIS)波段，测 试620nm处的杂散光比率时，采用lcm光程的0.005y。的亚甲基蓝溶液。近红外
(NIR)波段，测试1690nm处的杂散光比率时，采用5cm光程的二溴甲垸
(CH2Br2)溶液。
上述技术方案有如下不足
1、 配制溶液首先需要称重，然后再配制溶液，操作人员的个体差异会导致 浓度存在较大偏差，测定误差大。
2、 危害性大，采用的这些溶液多是易挥发、有毒的物质，如亚硝酸钠是一 种致癌物质，二溴甲烷是易挥发的有毒物质。这些溶液的回收也是一个难题， 一般直接排放，污染环境。
3、 可测定波长少， 一种溶液一般只能测试一个波长，如二溴甲烷只能用于 1690nm处杂散光的测定。
4、 测定过程烦琐，配制溶液需要一定的时间。溶液不容易长期保存，每次测定一般要重新进行配制。
实用新型内容
为了解决上述现有技术的不足，本实用新型提供了一种结构简单合理，测 量误差小，测量速度快，无毒、无污染，可测定波段多，稳定方便的测定光谱 仪中杂散光比率的装置。
为实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案
一种测定光谱仪中杂散光比率的装置，包括特定光纤、透过光纤、与被测 光谱仪工作波段相匹配的光源；
所述特定光纤对特定波长的光不透明，所述透过光纤对所述特定波长的光 透明，所述特定波长处于所述工作波段内。
本实用新型所述装置还包括与所述特定光纤和透过光纤相连接的光开关。
本实用新型所述不透明是指所述特定波长的光在所述特定光纤中的透过率
小于0.001%。
本实用新型与现有技术相比，具有以下有益效果
1、 本实用新型采用对特定波长的光存在强吸收的特定光纤，特定光纤在特 定波长处不透明，从而实现对特定波长杂散光比率的快速测定。
光纤连接光谱仪即可测试，光纤性质稳定，不会因为操作人员的人为原因 产生偏差，测定误差小，可再现性好。
2、 装置无毒无挥发，不会造成人身伤害和环境污染。
3、 可以一次完成多个波段的杂散光比率测定，提高了工作效率。
4、 使用方便快捷，无须配制溶液和使用比色皿等附件，储藏和运输方便， 处理方式与普通光纤相同。
图1为实施例1中装置的结构示意图； 图2为实施例1中装置的另一结构示意图； 图3为实施例2中装置的结构示意图； 图4为实施例中的特定光谱图；图5为实施例中的透过光谱图。
具体实施方式
以下实施例对本实用新型的结构和应用等情况做了进一步的说明，是本实 用新型比较好的应用形式，但是本实用新型的范围并不局限在以下的实施例。
实施例1:
如图l、 2所示， 一种测定光谱仪中杂散光比率的装置，包括钨灯l、可与
钨灯1相连接的特定光纤3和透过光纤4。
被测光谱仪2为SWIR-100 (Focused Photonics, Inc.),该被测光谱仪2的工 作波段为1000-2500nm。钨灯1的工作波长范围为400-3000nm,从而与所述被 测光谱仪2的工作波段相匹配。
所述特定光纤3由含有高浓度羟基的石英构成，所述羟基的浓度为 lOOOppm，特定光纤3的长度为5m，确保了对特定波长为1390nm、 2200nm的 光的完全吸收；透过光纤4由石英构成(受工艺影响，可能含有低浓度的羟基)， 从而使特定波长为1390nm、 2200nrn的光很好透过。
上述测定光谱仪中杂散光比率的装置的应用过程，包括以下步骤-
a、 如图1所示，用所述特定光纤3连接钨灯1和被测光谱仪2，钨灯1发 出的光经特定光纤3进入所述被测光谱仪2，从而得到如图4所示的特定光谱。 可以看出，在特定波长1390nm、 2200nm处的光强很弱，由于特定波长的光已 经被特定光纤3全部吸收，所以得到的光强正是被测光谱仪2在所述特定波长 处的杂散光光强；
如图2所示，用透过光纤4连接钨灯1和被测光谱仪2，钨灯1发出的光经 透过光纤4进入所述被测光谱仪2，从而得到如图5所示的透过光谱。可以看出， 在特定波长1390nm、 2200nm处的光强很高，而这正是钨灯1在所述特定波长 处的光强；
b、 比较所述特定光谱和透过光谱，从而得到所述被测光谱仪在所述特定波 长1390nm、 2200nm处的杂散光比率。
实施例2:
如图3所示， 一种测定光谱仪中杂散光比率的装置，该装置包括钨灯l、特定光纤3、透过光纤4和光开关5。
特定光纤3和透过光纤4的一端与钨灯1相连，特定光纤3和透过光纤4 的另一端与光开关5相连，光开关5与被测光谱仪2相连。
本实施例中的特定光纤3、透过光纤4、钨灯1和被测光谱仪2与实施例1 所使用的相同。
上述测定光谱仪中杂散光比率的装置的应用过程，包括以下步骤
a、 如图3所示，钨灯1通过特定光纤3、透过光纤4和光开关5连接被测 光谱仪2，通过所述光开关2，使钨灯l发出的光可选择性地分别通过特定光纤 3和透过光纤4进入被测光谱仪2，从而分别得到如图4、 5所示的特定光谱和 透过光谱；
b、 比较所述特定光谱和透过光谱，从而得到所述被测光谱仪2在所述特定 波长1390nm、 2200nm处的杂散光比率。
在上述实施例1、 2中，得出被测光谱仪2在特定波长1390nm处的杂散光 比率为0.035%，在特定波长2200nm处的杂散光比率为0.026%，可见上述被测 光谱仪2的优异性能。
关于本实用新型的其它说明
1、 特定波长并不局限于实施例中的两波长，具体与被测光谱仪的工作波段 相关，还可以是紫外波段的波长、可见波段的波长、红外波段的其他波长。
2、 只要光纤中包含有吸收上述特定波长的光的物质，从而制成与特定波长 相匹配的特定光纤，便可实现对该特定波长处的杂散光测定。
上述实施方式不应理解为对本实用新型保护范围的限制。本实用新型的关 键是将特定波长的光用特定光纤吸收后，测定光谱仪中特定波长的光的光强， 从而实现对光谱仪特定波长杂散光比率的快速测定。在不脱离本实用新型精神 的情况下，对本实用新型做出的任何形式的改变均应落入本实用新型的保护范 围之内。
权利要求1、一种测定光谱仪中杂散光比率的装置，包括与被测光谱仪工作波段相匹配的光源、用于分别连接被测光谱仪和光源的特定光纤、透过光纤。
2、 根据权利要求1所述的测定光谱仪中杂散光比率的装置，其特征是所 述装置还包括与所述特定光纤和透过光纤相连接的光开关。
专利摘要本实用新型公开了一种测定光谱仪中杂散光比率的装置，包括特定光纤、透过光纤、与被测光谱仪工作波段相匹配的光源；所述特定光纤对特定波长的光不透明，所述透过光纤对所述特定波长的光透明，所述特定波长处于所述工作波段内。本实用新型具有能有效、快速的测定杂散光比率，无毒、无污染，可测定波段多，稳定方便的优点，可广泛应用于光谱仪性能的检测中。
文档编号G01M11/02GK201359534SQ20082016877
公开日2009年12月9日 申请日期2008年11月21日 优先权日2008年11月21日
发明者刘立鹏, 叶华俊 申请人:聚光科技(杭州)有限公司;北京聚光世达科技有限公司