专利名称：半高屏蔽门结构性能的测试装置及测试方法
技术领域：
本发明涉及一种地铁半高屏蔽门的结构性能的测试装置及测试方法。
背景技术：
随着城市轨道交通的快速发展，为保证乘客的人身安全，地铁半高屏蔽门得到了 广泛地应用。半高屏蔽门除了结构要牢固、滑动门开合可靠灵活外，还要就能够有承受各种 载荷要求，因而半高屏蔽门的综合强度显得非常重要。但是，业界对于半高屏蔽门没有标准 的结构性能的测试装置及测试方法，所以需要规范现有的半高屏蔽门结构性能的测试装置 及测试方法。
发明内容
本发明专利是为了解决上述的技术问题，提供一种半高屏蔽门结构性能的测试装 置及结构性能的测试方法。本发明提出的半高屏蔽门的结构性能的测试装置，其包括底支架、竖直设于底支 架上面一侧的加压支架、竖直设于底支架上面另一侧的测量支架、设于该测量支架上的至 少一个与一测试仪连接的位移计；所述的加压支架上横向设有朝着测量支架的可伸缩的加 压杆，设于加压杆前端的施压构件，所述的加压杆与液压机构连接。较优的，所述底支架的下面还设有带调节螺栓的支撑脚；底支架的上面设有测试
架所述的施压构件可以为一施压架，该施压架置于所述的测试架上面。所述的施压构件也可以为一横向延伸的施压条，该施压条置于所述的测试架上面。本发明提出的测试方法，包括如下步骤将待测的半高屏蔽门固定于测试装置的底支架上面的加压支架和测量支架之 间；调整好测试仪，将位移计抵靠半高屏蔽门的检测部位；根据加载的要求，选择带有不同施压构件的加压杆，启动液压机构通过加压杆和 施压构件，先对半高屏蔽门进行一定的预压；再将施压构件的压力调至为零，将测试仪的数 值调至为零；根据预定的加压程序进行分级加压，当压力加到设计要求时，由测试仪采集半高 屏蔽门各检测点的变形量，记录变形数据。本发明解决了目前地铁半高屏蔽门缺乏标准的结构性能的测试装置及测试方法 的问题，通过采用本发明的测试装置及方法对地铁半高屏蔽门结构性能的测试，可以有效 地检测半高屏蔽门的结构性能。
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的说明，其中图1为本发明测试装置的第一实施例的结构示意图；图2为本发明测试装置的第二实施例的结构示意图；
图3为半高屏蔽门结构测试的测点分布示意图。
具体实施例方式图1示出了本发明测试装置第一实施例的基本结构，所述的半高屏蔽门的结构性 能的测试装置，主要用于风力荷载下结构荷载的测试，其包括底支架1、竖直设于底支架1 上面一侧的加压支架2、竖直设于底支架1上面另一侧的测量支架3、上、下设于该测量支架 上的至少一个与一测试仪(图中未示出)连接的位移计6。加压支架2上横向设有朝着测 量支架3的可伸缩的加压杆4，设于加压杆前端的施压架7，加压杆与液压机构(图中未示 出)连接。底支架1的下面设有带调节螺栓8的支撑脚9，可用于调平底支架。底支架1的 上面设有测试架5，施压架7置于所述的测试架5上面。如图2所示，本发明测试装置第二实施例的基本结构，该实施例主要用于人群挤 压荷载下结构荷载测的测试，该结构基本与第一实施例的结构相同，所不同的是连接于加 压杆4前端的为一横向延伸的施压条10，该施压条平行于待测半高屏蔽门的平面并置于测 试架5上面。本发明提出的测试方法的第一实施例——模拟风力荷载下结构荷载的测试方法， 包括如下步骤(参阅图1)步骤1 将待测的半高屏蔽门11固定于测试装置的底支架1上面的加压支架2和 测量支架3之间。步骤2 调整好测试仪，将位移计3抵靠半高屏蔽门11的检测部位14 (参阅图3)。步骤3 根据加载的要求，选择带有施压架7的加压杆4，由施压架7经过缓冲块12 与半高屏蔽门11形成平面的接触。启动液压机构通过加压杆4和施压架7，先对半高屏蔽 门11进行一定的预压，消除因制造或安装留下的间隙、位移等，再将施压构件的压力调至 为零，将测试仪的数值调至为零。步骤4 根据预定的加压程序进行分级加压，当压力加到设计要求时，由测试仪采 集半高屏蔽门各检测点的变形量，记录模拟风力荷载下半高屏蔽门结构的变形数据。本发明提出的测试方法的第二实施例——模拟人群挤压荷载下结构荷载的测试 方法，其测试步骤与第一实施例的测试步骤基本相同，所不同的是加载方式(参阅图2)步骤3 根据加载的要求，加压杆4前端的施压构件为平行于半高屏蔽门并横向延 伸的施压条10，该施压条经过一缓冲条13与半高屏蔽门形成“线”接触。启动液压机构通 过加压杆4和施压条10，先对半高屏蔽门11进行一定的预压，消除因制造或安装留下的间 隙、位移等，再将施压构件的压力调至为零，将测试仪的数值调至为零。这样由测试仪采集的变形量，为模拟人群挤压荷载下半高屏蔽门结构的变形数据。本发明提出的测试方法的第三实施例——模拟风压荷载+人群挤压荷载联合作用 情况下的结构负荷载的测试方法。其测试步骤与前面二个实施例的测试步骤基本相同，所 不同的是采用风压荷载+人群挤压荷载联合加载方式
步骤3 根据加载的要求，选择带有施压架7的加压杆4，由施压架7经过缓冲块12 与半高屏蔽门11形成平面的接触。同时选择加压杆4前端的施压构件为平行于半高屏蔽 门并横向延伸的施压条10，该施压条经过一缓冲条13与半高屏蔽门形成“线”接触。启动 液压机构通过加压杆4和施压架7，先对半高屏蔽门11进行一定的预压，消除因制造或安装 留下的间隙、位移等，再将施压构件的压力调至为零，将测试仪的数值调至为零。这样由测试仪采集的变形量，为模拟风压荷载和人群挤压荷载联合作用下半高屏 蔽门结构的变形数据。本发明解决了目前地铁半高屏蔽门缺乏标准的结构性能的测试装置及测试方法 的问题，通过采用本发明的测试装置及方法对地铁半高屏蔽门结构性能的测试，可以有效 地检测半高屏蔽门的结构性能。
权利要求
一种半高屏蔽门的结构性能的测试装置，其特征在于，包括底支架(1)、竖直设于底支架(1)上面一侧的加压支架(2)、竖直设于底支架(1)上面另一侧的测量支架(3)、设于该测量支架上的至少一个与一测试仪连接的位移计(6)；所述的加压支架(2)上横向设有朝着测量支架(3)的可伸缩的加压杆(4)，设于加压杆前端的施压构件，所述的加压杆与液压机构连接。
2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述底支架(1)的下面设有带调节螺栓 (8)的支撑脚(9)；底支架(1)的上面设有测试架(5)。
3.如权利要求1或2所述的测试装置，其特征在于，所述的施压构件为一施压架(7)， 该施压架置于所述的测试架(5)上面。
4.如权利要求1或2所述的测试装置，其特征在于，所述的施压构件为一横向延伸的施 压条(10)，该施压条置于所述的测试架(5)上面。
5.一种采用权利要求1所述测试装置的测试方法，其特征在于包括如下步骤将待测的半高屏蔽门(11)固定于测试装置的底支架(1)上面的加压支架(2)和测量支架⑶之间；调整好测试仪，将位移计(3)抵靠半高屏蔽门的检测部位；根据加载的要求，选择带有不同施压构件的加压杆(4)，启动液压机构通过加压杆(4) 和施压构件，先对半高屏蔽门(11)进行一定的预压；再将施压构件的压力调至为零，将测 试仪的数值调至为零；根据预定的加压程序进行分级加压，当压力加到设计要求时，由测试仪采集半高屏蔽 门各检测点的变形量，记录变形数据。
6.如权利要求5所述的测试方法，其特征在于，所述的测试装置，包括底支架(1)、竖 直设于底支架(1)上面一侧的加压支架(2)、竖直设于底支架(1)上面另一侧的测量支架 (3)、设于该测量支架上的至少一个与测试仪连接的位移计(6)；所述的加压支架(2)上横 向设有朝着测量支架⑶的可伸缩的加压杆(4)，设于加压杆前端的施压构件，所述的加压 杆与液压机构连接。
7.如权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述的施压构件为一施压架(7)，该施 压架通过缓冲块(12)与所述半高屏蔽门(11)接触。
8.如权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述的施压构件为一横向延伸的施压 条(10)，该施压条通过缓冲条(13)与所述半高屏蔽门(11)接触。
全文摘要
本发明公开了一种半高屏蔽门的结构性能的测试装置，其包括底支架、竖直设于底支架上面一侧的加压支架、竖直设于底支架上面另一侧的测量支架、设于该测量支架上的至少一个与一测试仪连接的位移计；所述的加压支架上横向设有朝着测量支架的可伸缩的加压杆，设于加压杆前端的施压构件，所述的加压杆与液压机构连接。本发明还公开了一种测试方法。本发明解决了目前地铁半高屏蔽门缺乏标准的结构性能的测试装置及测试方法的问题，通过采用本发明的测试装置及方法对地铁半高屏蔽门结构性能的测试，可以有效地检测半高屏蔽门的结构性能。
文档编号G01M99/00GK101819095SQ20091018898
公开日2010年9月1日 申请日期2009年12月18日 优先权日2009年12月18日
发明者刘招生 申请人:方大集团股份有限公司