专利名称：接插件测试板的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测试板，具体地说是一种接插件测试板。
背景技术：
电子连接线主要由接插件和注塑件两大类组成，它是由铜或铝制成的单柄或 多柄组合而成，用于交直流线路中。
接插件是连接器完成电连接功能的核心零件。 一般由阳性接触件和阴性接 触件组成接触对，通过阴、阳接触件的插合完成电连接。其中，阳性接触件为刚 性零件，其形状为圆柱形(圆插针)、方柱形(方插针)或扁平形(插片)。阳性
接触件一般由黄铜、磷青铜制成。阴性接触件即插孔，是接触对的关键零件，它 依靠弹性结构在与插针插合时发生弹性变形而产生弹性力与阳性接触件形成紧
密接触，完成连接。插孔的结构种类很多，有圆筒型(劈槽、縮口)、音叉型、 悬臂梁型(纵向开槽)、折迭型(纵向开槽，9字形)、盒形(方插孔)以及双曲
面线簧插孔等。接插件在制作的时候是将导线两头剥掉一定长度的胶皮，冲压上 铜片端子，再插入塑料胶壳中，就构成一个完整的连接线，连接线可以由单根或 多根导线组成，主要用于家电、办公设备、汽车、通讯等。
由于材料的质量及加工过程中制作不良，常会造成接插件中导线发生断线、 错位、短路、电阻过大或过小、绝缘不良等问题。为满足国家相关标准的要求， 必须经过测试合格才能出厂。导通仪就是用于检测接插件的仪器。由于这种由导 线制作的接插件种类繁多，胶壳种类与测试线孔距、孔径相差很大，导通仪无法 直接与大多数接插件直接相连，因此测试板(或称冶具板)的使用就十分必要。
测试板有两个插孔14，连接线两端分别插入两个插孔中。目前常见的测试 板结构见图1和图2，最下层为由木板或金属板制的基座11，中间为与基座ll 大小相同的印刷电路板12，在电路板12上再焊接多排探针13， 一般情况下左右 对称，每排探针13的距离直径不尽相同， 一块测试板上少则三四排，多则七八 排的探针。每排探针少则十几根，多则几十根探针。这种测试板的缺点是在使 用过程中定位时间长，易误插和损伤探针，影响测试。
发明内容
为解决上述问题，本实用新型的目的是提供一种接插件测试板，该接插件测 试板在使用时可以保护不使用的探针，快速定位并接插连接线，保护电路板，延 长了测试板的使用寿命。本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的-一种接插件测试板，包括基座、电路板和探针， 一组探针设置在电路板上， 在电路板上设有连接线插口，其特征在于在电路板上设有与电路板形状相适配 的盖板，且该盖板的厚度与探针长度相适配，在盖板上与一组探针相对应位置设 有开口槽。本实用新型中，开口槽的边缘是利于接插件定位与推入的内倾斜面，也可以 是内倾斜曲面。本实用新型中，电路板是与基座大小相同的印刷电路板，基座可由木板或金 属板制成。本实用新型中，盖板通过定位销设置在电路板上，定位销起引导定位的作用。 所述盖板可以拆卸。本实用新型根据探针长度，制作一个厚度适当的盖板，在盖板上开具形状、 大小、长短不同的开口槽，使突出于电路板的探针变成沉孔内的探针，从而保护 探针。与现有技术相比，本实用新型在使用时可以保护不使用的探针，延长了测 试板的使用寿命。
图1是现有技术中接插件测试板的结构示意图； 图2是现有技术中接插件测试板的俯视图； 图3是本实用新型的结构示意图； 图4是本实用新型的俯视图。
具体实施方式
一种本实用新型所述的接插件测试板，包括基座l、塑封的印刷电路板2和 探针3， 一组探针3设置在电路板2上，电路板2的形状、大小与基座l相同， 基座1可由木板或金属板制成。在电路板2上设有两个连接线插口4，在电路板 2上设有与电路板2形状相适配的盖板5，且该盖板5的厚度与探针3长度相适 配，在盖板5上与一组探针3相对应位置设有开口槽6。开口槽6的边缘是利于待测接插件定位与推入的内倾斜面，也可以是内倾斜 曲面。盖板5通过定位销7设置在电路板2上，定位销7起引导定位的作用。盖 板5可以拆卸。测量时，将连接线两端分别插入两个连接线插口 4中即可。本实用新型的盖 板在使用时可以保护不使用的探针，延长了测试板的使用寿命。权利要求1、一种接插件测试板，包括基座(1)、电路板(2)和探针(3)，一组探针(3)设置在电路板(2)上，在电路板(2)上设有连接线插口(4)，其特征在于在电路板(2)上设有与电路板(2)形状相适配的盖板(5)，且该盖板(5)的厚度与探针(3)长度相适配，在盖板(5)上与一组探针(3)相对应位置设有开口槽(6)。
2、 根据权利要求1所述的接插件测试板，其特征在于开口槽(6)的边缘是利于接插件定位与推入的内倾斜面。
3、 根据权利要求1所述的接插件测试板，其特征在于盖板(5)通过定位销(7)设置在电路板(2)上。
专利摘要本实用新型公开了一种接插件测试板，包括基座、电路板和探针，一组探针设置在电路板上，在电路板上设有连接线插口，在电路板上设有与电路板形状相适配的盖板，且该盖板的厚度与探针长度相适配，在盖板上与一组探针相对应位置设有开口槽。本实用新型在使用时可以快速定位，快速测试，大大提高测试效率，同时保护不使用的探针，还可以保护电路板不受灰尘影响，延长了测试板的使用寿命。
文档编号G01R31/02GK201413374SQ200920043828
公开日2010年2月24日 申请日期2009年5月25日 优先权日2009年5月25日
发明者斌 游 申请人:斌 游