专利名称：形状和位置误差接触式检测测量架装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及形状和位置误差的检测领域，具体涉及一种形状和位置误差接触 式检测测量架装置。
背景技术：
形状和位置公差是保证产品的装配使用性能和控制产品加工成本的有效手段，而 产品在加工过程中往往由于加工设备、刀具、工装夹具以及操作者工艺水平的原因出现尺 寸、形状和位置上的偏差，这就需要对产品的形状和位置误差进行检测与评定。在形状误差 和位置误差的接触式检测过程中，需要采用一定的检测原则并在产品被测要素上按一定的 布点规则提取一定数量的数据点，然后再按照相关原则对数据点进行处理，之后才能得到 产品的形状误差和位置误差值并以此来评定产品是否满足其形状和位置公差带要求。
发明内容本实用新型的目的在于提供一种使用方便，移动快速、精度高，可实现X、Y、Z三方 向测量的形状和位置误差接触式检测测量架装置。实现本实用新型目的的技术方案一种形状和位置误差接触式检测测量架装置，检测台上固定安装有相互垂直的两 列水平直线导轨；每列水平直线导轨上均设有与之滑动连接的水平滑块，水平滑块上安装 有燕尾槽底座，测量支架通过燕尾槽滑块与燕尾槽底座配合安装，测量支架可以沿垂直于 水平直线导轨的方向移动；所述的测量支架上安装有竖直导轨，竖直导轨上设有与之滑动 连接的竖直滑块；所述的竖直滑块上安装有测量指示计。如上所述的一种形状和位置误差接触式检测测量架装置，水平直线导轨为双排结 构。如上所述的一种形状和位置误差接触式检测测量架装置，水平滑块、竖直滑块和 燕尾槽底座上均设有止动装置。如上所述的一种形状和位置误差接触式检测测量架装置，检测台上设有工件定位
直o本实用新型的效果在于利用该测量架装置，可以方便快速的对X，Y，Z三个方向 的数据点进行测量获取数据，然后在按照一定的原则对数据进行处理，进而实现产品形状 和位置误差的检测与评定。本装置可以沿X、Y、Z三个方向方便快速的移动，定位方便，精度 高，提高了数据点的测量效率。根据产品实际检测需求，可以方便的更改X、Y、Z向的测量范 围。
图1为本实用新型所提供的一种形状和位置误差接触式检测测量架装置的结构 示意图。
3[0011]图中1.水平直线导轨；2.水平滑块；3.测量支架；4.竖直导轨；5.竖直滑块； 6.止动装置；7.工装定位装置；8.检测台；9.燕尾槽底座；10.燕尾槽滑块。
具体实施方式
以下结合附图和实施例对本实用新型作进一步描述。如图1所示，一种形状和位置误差接触式检测测量架装置，检测台8上固定安装有 相互垂直的两列双排水平直线导轨1。每列水平直线导轨1上均设有与之滑动连接的水平 滑块2，水平滑块2上安装有燕尾槽底座9，测量支架3通过燕尾槽滑块10与燕尾槽底座9 配合安装，测量支架3可以沿垂直于水平直线导轨1的方向移动。测量支架3上安装有竖 直导轨4，竖直导轨4上设有与之滑动连接的竖直滑块5。竖直滑块5上吸附有带有指示计 的磁力表座。水平滑块2、竖直滑块5和燕尾槽底座9上均设有止动装置6。本实施例中， 止动装置6采用螺栓加垫片的组合，当然也可以采用其他现有技术实现止动。检测台8上 设有工件定位装置7，本实施例中，定位装置7为定位板和螺栓的组合，当然也可以采用其 他现有技术实现工件的定位。本实用新型的加工过程如下在检测台8上加工出相互垂直的用以安装固定高精度水平直线导轨1的导轨槽， 导轨槽的加工公差等级不低于检测台8的加工公差等级，导轨槽的安装孔尺寸依据导轨安 装孔尺寸而定，并有防振动装置。其次，依据水平滑块2安装孔尺寸及测量要求设计燕尾槽 及测量支架3尺寸；再次，采取合理的安装工艺装配相关零部件；最后，将带有指示计的磁 力表座吸附于滑块上。本实用新型的使用方式如下将待测产品放置在检测台8上，利用工装定位装置7调整待测产品的放置方向，使 待测面与水平直线导轨1平行。分别滑动水平滑块2和竖直滑块5，测量待测产品平面的形 状和位置偏差，根据指示计测量数据对该产品的形状和位置公差行评定。本测量装置可测量范围为X方向500mm ;Y方向300mm ;Z向300mm。当然，本装置 的测量范围也可以根据检测台的具体形状尺寸做出调整。显然，本领域的技术人员可以对本实用新型进行各种改动和变型而不脱离本实用 新型的精神和范围。倘若这些修改和变型属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之 内，则本实用新型也意图包含这些改动和变型在内。
权利要求一种形状和位置误差接触式检测测量架装置，其特征在于检测台(8)上固定安装有相互垂直的两列水平直线导轨(1)；每列水平直线导轨(1)上均设有与之滑动连接的水平滑块(2)，水平滑块(2)上安装有燕尾槽底座(9)，测量支架(3)通过燕尾槽滑块(10)与燕尾槽底座(9)配合安装，测量支架(3)可以沿垂直于水平直线导轨(1)的方向移动；所述的测量支架(3)上安装有竖直导轨(4)，竖直导轨(4)上设有与之滑动连接的竖直滑块(5)；所述的竖直滑块(5)上安装有测量指示计。
2.按照权利要求1所述的一种形状和位置误差接触式检测测量架装置，其特征在于 所述的水平直线导轨(1)为双排结构。
3.按照权利要求1所述的一种形状和位置误差接触式检测测量架装置，其特征在于 所述的水平滑块(2)、竖直滑块(5)和燕尾槽底座(9)上均设有止动装置(6)。
4.按照权利要求1所述的一种形状和位置误差接触式检测测量架装置，其特征在于 所述的检测台(8)上设有工件定位装置(7)。
专利摘要本实用新型涉及形状和位置误差的检测领域，具体涉及一种形状和位置误差接触式检测测量架装置。其特点在于检测台上固定安装有相互垂直的两列水平直线导轨；每列水平直线导轨上均设有与之滑动连接的水平滑块，水平滑块上安装有燕尾槽底座，测量支架通过燕尾槽滑块与燕尾槽底座配合安装，测量支架可以沿垂直于水平直线导轨的方向移动；所述的测量支架上安装有竖直导轨，竖直导轨上设有与之滑动连接的竖直滑块；所述的竖直滑块上安装有测量指示计。本装置使用方便，移动快速、精度高，可实现X、Y、Z三方向测量。
文档编号G01B5/00GK201583235SQ20092027294
公开日2010年9月15日 申请日期2009年11月27日 优先权日2009年11月27日
发明者朱松波, 闫学刚 申请人:中国航天科工集团第三研究院第八三五七研究所