专利名称：滑套式刻线深度量规的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种刻线深度量规，具体地说是一种用于测量工件内孔深度的滑 套式刻线深度量规。
背景技术：
目前对于工件孔的深度的测量，普遍采用的形式之一的是用量棒形式的量规进行 检测，见图1。对于图1中待测孔6的检测，目前采用图中的刻线深度量规检测。检测时，将 量棒1插入孔底，通过人眼观察待测孔6端面相对于量棒1上的两条深度上界限刻线3和 下界限刻线4的位置来判断深度是否合格的。这种量规存在很多不足对于内孔，一般情况 下，它基本上都有孔口倒角或者圆角。端面的孔口尺寸都要大于内孔，其孔口边缘就会远离 量棒1的刻线。这样，人眼观察待测孔6端面相对于量棒1上的上界限刻线3和下界限刻 线4的位置时，就不便于比对。对于大型零件上的孔(特别是斜孔)，操作者有时就必须歪 着头来瞄准观察，既不准确，也不方便。
实用新型内容本实用新型所要解决的是孔口边缘与量规的刻线对比不方便的问题，提供一种滑 套式刻线深度量规。本实用新型为解决上述技术问题的不足，所采用的技术方案是滑套式刻线深度 量规，包括带有刻线的量棒，在量棒上还设有滑套。所述的滑套，其上下两个端面为平面。所述的量棒上刻有上界限刻线和下界限刻线。所述的量棒顶端设有手柄。本实用新型的有益效果是通过增加一个标准厚度的过渡滑套，将检测位置由孔 口转换为滑套的上端面，滑套的上孔口边缘专门做成无倒角或者圆角的形式，这样，滑套上 孔口与量棒紧密贴合。人眼观察过渡滑套上端面相对于量棒上的两条测量刻线位置就既准 确，又方便。不受被测内孔的孔口倒角或圆角的影响。尤其是对于深孔和空间受限制不便 观察的孔，可以通过加长滑套的引出，很方便地进行检测。
图1是原有刻线深度量规的结构示意图。图2是本实用新型的结构示意图。图中标记1、量棒，2、滑套，3、上界限刻线，4、下界限刻线，5、手柄，6、待测孔。
具体实施方式
如图2所示，滑套式刻线深度量规，包括带有刻线的量棒1，在量棒1上还设有滑套2。滑套2的上下两个端面为平面，滑套2的上孔口边缘与量棒贴合。将滑套2厚度设定为一个标准值，量棒1的上界限刻线3和下界限刻线4的设置位置分别调整为孔深的上下限 与滑套2厚度的和。检测时，将量棒1插入待测孔6孔底后，再将标准厚度的滑套2的下端 面贴紧孔口端面，人眼观察滑套2的上端面相对于量棒1上的上界限刻线3和下界限刻线 4的位置来判断待测孔6的深度是否合格的。在所述的量棒顶端设置手柄，方便手持测量。对于深孔和空间受限制不便观察的孔，可以加大滑套2的厚度，将观测面引出，以 便于观测。若将量棒上的刻线设置成标准长度刻线，也可用于测量孔的深度值。
权利要求滑套式刻线深度量规，包括带有刻线的量棒(1)，其特征在于在量棒(1)上还设有滑套(2)。
2.根据权利要求1所述的滑套式刻线深度量规，其特征在于所述的滑套(2)，其上下 两个端面为平面。
3.根据权利要求1所述的滑套式刻线深度量规，其特征在于所述的量棒(1)上刻有 上界限刻线⑶和下界限刻线(4)。
4.根据权利要求1所述的滑套式刻线深度量规，其特征在于所述的量棒(1)顶端设 有手柄(5)。
专利摘要滑套式刻线深度量规，用于测量工件内孔深度。包括带有刻线的量棒，在量棒上还设有滑套。所述的滑套，其上下两个端面为平面。所述的量棒上刻有上界限刻线和下界限刻线。所述的量棒顶端设有手柄。通过增加一个标准厚度的过渡滑套，将检测位置由孔口转换为滑套的上端面，滑套上孔口与量棒紧密贴合。人眼观察过渡滑套上端面相对于量棒上的两条测量刻线位置就既准确，又方便。不受被测内孔的孔口倒角或圆角的影响。
文档编号G01B5/18GK201569399SQ20092029838
公开日2010年9月1日 申请日期2009年12月29日 优先权日2009年12月29日
发明者张阳 申请人:力邦测控设备(洛阳)有限公司