专利名称：测试装置及其极限开关的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种测试装置及其极限开关，且特别涉及一种测试折叠式电子装置的转轴所能承受的旋转次数的测试装置及其极限开关。
背景技术：
随着电子科技的发展，为符合消费者对于轻薄性及高效能的需求，市面上的电子产品推陈出新，各种折叠式电子装置如笔记型电脑(notebook PC)、行动电话(cell phone) 及个人数字助理(Personal DigitalAssistant ；以下简称PDA)已成为现今的主流产品。一般的折叠式电子装置主要由平板状的一显示屏幕、一主机所组成，且显示屏幕与主机之间以单一的转轴相连结，以使显示屏幕相对主机枢转而开启或关闭。为了能够长期地使用，这些电子装置的转轴必须设计得能够承受多数次开阖的动作。因此，现有技术提供了对电子装置的转轴进行测试的测试装置。测试装置会模拟使用者开阖电子装置的动作，并重复执行，以了解转轴是否能够承受足够次的开阖动作，或是超过极限后损坏的情形。然而，在测试的过程中，若枢转角度过大会造成折叠式电子装置的转轴损坏。
发明内容
本发明提出一种测试装置，用以测试折叠式电子装置的转轴所能承受的旋转次数，且可避免在测试过程中因枢转角度过大而造成折叠式电子装置之转轴损坏。本发明提出一种测试装置，适于测试电子装置。电子装置具有第一机体与第二机体，且第一机体适于相对第二机体旋转。测试装置包括承载平台、固定框架、夹持件及极限开关。承载平台用以承载第一机体。固定框架枢设于承载平台。夹持件枢设于固定框架， 用以夹持第二机体。极限开关包括第一杆件、第二杆件、第一开关件及第二开关件。第一杆件固设于夹持件。第二杆件固设于夹持件。第一开关件枢设于固定框架而位于第一移动路径上。第二开关件枢设于固定框架而位于第二移动路径上。当夹持件沿第一方向相对固定框架枢转时，第二开关件被第二杆件推动而相对固定框架枢转并移离第二移动路径，且第一杆件沿第一移动路径移动至接触第一开关件。当夹持件沿反向于第一方向的第二方向相对固定框架枢转时，第一开关件被第一杆件推动而相对固定框架枢转并移离第一移动路径，且第二杆件沿第二移动路径移动至接触第二开关件。在本发明的一实施例中，上述的测试装置还包括第一驱动元件及第二驱动元件。 第一驱动元件设置于承载平台与固定框架之间，用以带动固定框架相对承载平台枢转。第二驱动元件设置于夹持件与固定框架之间，用以带动夹持件相对固定框架枢转。在本发明的一实施例中，上述的测试装置还包括第一转轴感测器、第二转轴感测器及控制单元。第一转轴感测器设置于承载平台与固定框架之间，以感测固定框架相对承载平台的第一枢转角度。第二转轴感测器设置于夹持件与固定框架之间，以感测夹持件相对固定框架的第二枢转角度。控制单元耦接于第一驱动元件、第二驱动元件、第一转轴感测器以及第二转轴感测器，且控制单元用以依据第一枢转角度与第二枢转角度控制第一驱动元件及第二驱动元件。在本发明的一实施例中，上述的控制单元耦接于第一开关件及第二开关件，其中当第一杆件接触第一开关件时，第一开关件输出第一开关信号给控制单元，以停止第一驱动元件的动作，当第二杆件接触第二开关件时，第二开关件输出第二开关信号给控制单元， 以停止第一驱动元件的动作。在本发明的一实施例中，上述的测试装置还包括二联轴器，分别可挠地连接于第一驱动元件与第二驱动元件。在本发明的一实施例中，上述的夹持件包括支撑架及多个夹具。支撑架枢设于固定框架。夹具连接至支撑架，用以夹持第二机体。在本发明的一实施例中，上述的支撑架包括框体及升降杆。框体枢设于固定框架。 升降杆可升降地配置于框体，且夹具连接至升降杆。在本发明的一实施例中，上述的夹具分别轴设于支撑架，而夹持件还包括多个弹性件，配置于夹具上，用以通过夹具施加弹性力于第二机体。在本发明的一实施例中，上述的测试装置还包括多个固定件，可拆卸地连接于固定框架与夹持件之间，用以限制夹持件相对固定框架的枢转。在本发明的一实施例中，上述的固定件为螺丝。在本发明的一实施例中，上述的固定框架以第一轴线枢设于承载平台，夹持件以第二轴线枢设于固定框架，且第一轴线实质上垂直第二轴线。在本发明的一实施例中，上述的第一杆件的延伸方向及第二杆件的延伸方向实质上垂直于第二轴线，第一杆件的自由端与第二轴线之间的距离大于第二杆件的自由端与第二轴线之间的距离，且第一开关件与第二轴线之间的距离大于第二开关件与第二轴线之间的距离。本发明提出一种极限开关，适用于测试装置。测试装置包括承载平台、固定框架及夹持件。固定框架枢设于承载平台，夹持件枢设于固定框架。极限开关包括第一杆件、第二杆件、第一开关件及第二开关件。第一杆件固设于夹持件。第二杆件固设于夹持件。第一开关件枢设于固定框架而位于第一移动路径上。第二开关件枢设于固定框架而位于第二移动路径上。当夹持件沿第一方向相对固定框架枢转时，第二开关件被第二杆件推动而相对固定框架枢转并移离第二移动路径，且第一杆件沿第一移动路径移动至接触第一开关件。当夹持件沿反向于第一方向的第二方向相对固定框架枢转时，第一开关件被第一杆件推动而相对固定框架枢转并移离第一移动路径，且第二杆件沿第二移动路径移动至接触第二开关件。测试装置的一控制单元耦接于该第一开关件及该第二开关件，当该第一杆件接触该第一开关件时，该第一开关件输出一第一开关信号给该控制单元，以停止该第一驱动元件的动作，当该第二杆件接触该第二开关件时，该第二开关件输出一第二开关信号给该控制单元，以停止该第一驱动元件的动作。在本发明的一实施例中，上述的固定框架以第一轴线枢设于承载平台，夹持件以第二轴线枢设于固定框架，第一轴线实质上垂直第二轴线，第一杆件的延伸方向及第二杆件的延伸方向实质上垂直于第二轴线，第一杆件的自由端与第二轴线之间的距离大于第二杆件的自由端与第二轴线之间的距离，且第一开关件与第二轴线之间的距离大于第二开关件与第二轴线之间的距离。在本发明的一实施例中，上述的第一轴线与第二轴线定义出平面，第一杆件在平 面上的正投影与第一轴线之间的距离小于第二杆件在平面上的正投影与第一轴线之间的 距离，且第一开关件的自由端在平面上的正投影与第一轴线之间的距离小于第二开关件的 自由端在平面上的正投影与第一轴线之间的距离。在本发明的一实施例中，上述的固定框架具有对应于第一开关件的第一挡墙，在 第一杆件沿第一移动路径移动至接触第一开关件后，第一杆件继续沿第一移动路径移动而 推动第一开关件相对固定框架枢转至与第一挡墙接触。在本发明的一实施例中，上述的固定框架具有对应于第二开关件的第二挡墙，在 第二杆件沿第二移动路径移动至接触第二开关件后，第二杆件继续沿第二移动路径移动而 推动第二开关件相对固定框架枢转至与第二挡墙接触。在本发明的一实施例中，上述的测试装置还包括第一扭簧，连接于固定框架及第 一开关件，以提供第一开关件相对固定框架枢转而复位于第一移动路径的力矩。在本发明的一实施例中，上述的测试装置还包括第二扭簧，连接于固定框架及第 二开关件，以提供第二开关件相对固定框架枢转而复位于第二移动路径的力矩。基于上述，本发明的测试装置在测试的过程中，可通过极限开关的第一杆件与第 一开关件的接触或第二杆件与第二开关件的接触使测试装置停止运作，以避免在测试过程 中因枢转角度过大而造成折叠式电子装置的转轴损坏。此外，第一开关件及第ニ开关件系 枢设于固定框架。藉此，当第一杆件因第二开关件对第二杆件的阻挡而无法移动至与第一 开关件接触吋，第二杆件可暂时地将第二开关件推离而使第一杆件可移动至与第一开关件 接触。相同地，当第二杆件因第一开关件对第一杆件的阻挡而无法移动至与第二开关件接 触吋，第一杆件可暂时地将第一开关件推离而使第二杆件可移动至与第二开关件接触。为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详 细说明如下。
图1为本发明一实施例的测试装置对折叠式电子装置进行测试的前视图。图2为图1的测试装置翻转折叠式电子装置的第二机体的立体图。图3A至图3C为图1的测试装置沿视角Vl的局部作动流程图。图4A及图4B为图1的测试装置沿视角V2的局部作动示意图。图5为图1的联轴器的示意图。图6为图1的测试装置的电路方块图。图7为图1的第一转轴感测器的示意图。图8为图1的第二转轴感测器的示意图。主要元件符号说明10、10’ 折叠式电子装置12:第一机体14 第二机体100 测试装置110:承载平台112:限位件120:固定框架122、142:轴
124 第一挡墙126 第二挡墙
130 夹持件132 支撑架
132a 框体132b 升降杆
132c 固定螺丝134 夹具
136 弹性件140 第一驱动元件
150、150，第二驱动元件160 固定件
170 极限开关172 第一杆件
174 第二杆件176 第一开关件
176a、178a 按钮178 第二开关件
180 第一转轴感测器182 磁性元件
184 感磁元件186 转盘
190 第二转轴感测器192 感测元件
194 转盘194a 第一缺口
194b 第二缺口Al 第一轴线
A2 第二轴线C 控制单元
D1、D2、H、R1、R2 方向 El、E2 联轴器
F 破孔I 人机界面
Pl 第一移动路径P2第二移动路径
Tl 第一扭簧T2 第二扭簧
L1、L2、L3、L4、L5、L6、L7、L8距离
具体实施例方式图1为本发明一实施例的测试装置对折叠式电子装置进行测试的前视图。图2为图1的测试装置翻转折叠式电子装置的第二机体的立体图。请参考图1及图2，测试装置 100适于对一折叠式电子装置10进行开阖旋转测试。折叠式电子装置10例如为笔记型电脑，且可包括一第一机体12、一第二机体14以及一转轴(未画出)。第一机体12例如为笔记型电脑的主机部分，而第二机体14例如为笔记型电脑的显示屏幕。转轴连接于第一机体 12与第二机体14之间，以让第二机体14通过转轴相对第一机体12开启或翻转。测试装置100包括一承载平台110、一固定框架120、一夹持件130、一第一驱动元件140以及一第二驱动元件150。承载平台110用以承载第一机体12。在本实施例中，承载平台110可具有多个限位件112，位于第一机体12的周围，以限制第一机体12相对承载平台110的位移。固定框架120枢设于承载平台110。夹持件130枢设于固定框架120，且用以夹持第二机体14。在本实施例中，固定框架120以一第一轴线Al枢设于承载平台110， 且夹持件130以一第二轴线A2枢设于固定框架120。第一轴线Al例如与第二轴线A2互相垂直。第一驱动元件140设置于承载平台110与固定框架120之间，用以带动固定框架 120相对该承载平台110枢转。第二驱动元件150设置于夹持件130与固定框架120之间， 用以带动夹持件130相对固定框架120枢转。在本实施例中，第一驱动元件140与第二驱动元件150例如为马达或是气压缸，分别用以提供一驱动力。
8
当第一驱动元件140带动固定框架120在方向Dl上枢转时，第二机体14便会相对第一机体12开阖或关闭。当第二驱动元件150带动夹持件130相对固定框架120在方向D2上枢转时，第二机体14便会相对第一机体12翻转。如此一来，即可模拟使用者使用折叠式电子装置10的情形。反复进行，便可测试折叠式电子装置10的转轴所能承受的旋转次数。为了防止在测试的过程中，枢转角度过大造成折叠式电子装置10的转轴损坏，图 1的测试装置100还包括极限开关170。极限开关170例如设置于夹持件130与固定框架 120之间，以在夹持件130相对固定框架120在方向D2上枢转的角度过大时(如180度) 时，输出信号使测试装置100的动作停止。请参考图1及图2，本实施例的极限开关170包括第一杆件172、第二杆件174、第一开关件176及第二开关件178。第一杆件172及第二杆件174皆固设于夹持件130，且第一开关件176及第二开关件178皆枢设于固定框架120。图3A至图3C为图1的测试装置沿视角Vl的局部作动流程图。图1的折叠式电子装置10的第二机体14沿第二轴线A2相对第一机体12枢转的极限例如为180度(意即夹持件130相对固定框架120转动的极限亦应被限制为180度)，而本实施例的第一杆件 172、第二杆件174、第一开关件176及第二开关件178的相对位置系对应于此限制而加以配置。详细而言，当测试装置100处于图1所示的状态时，固定框架120及夹持件130的相对位置系如图3A所示。当夹持件130沿方向Rl相对固定框架120转动180度时，第二杆件174会沿第二移动路径P2移动而接触到第二开关件178，以输出信号使测试装置100 的动作停止。相同地，当夹持件130沿方向R2相对固定框架120转动180度时，第一杆件 172会沿第一移动路径Pl移动而接触到第一开关件176，以输出信号使测试装置100的动作停止。值得注意的是，在图3A的第二杆件174随着夹持件130沿方向Rl的枢转而沿第二移动路径P2移动至图:3B所画出的位置且未接触到第二开关件178时，第一杆件172会被位于第一移动路径Pl上的第一开关件176阻挡。相同地，在第一杆件172随着夹持件130 沿方向R2的枢转而沿第一移动路径Pl移动至图3C所画出的位置且未接触到第一开关件 176时，第二杆件174会被位于第二移动路径P2上的第二开关件178阻挡。有鉴于此，本实施例的第一开关件176系枢设于固定框架120，使第一杆件172在到达图3B所示位置时可将第一开关件176推开，以让第二杆件174可继续随着夹持件130 的转动而与第二开关件178接触。相同地，第二开关件178系枢设于固定框架120，使第二杆件174在到达图3C所示位置时可将第二开关件178推开，以让第一杆件172可继续随着夹持件130的转动而与第一开关件176接触。以下通过图4A及图4B对此加以详细说明。图4A及图4B为图1的测试装置沿视角V2的局部作动示意图。当第一杆件172如图3B所示被位于第一移动路径Pl上的第一开关件176阻挡时，第一杆件172可如图4A所示推动第一开关件176相对固定框架120枢转并使第一开关件176移离第一移动路径P1， 让第二杆件174可继续随着夹持件130的转动而移动至与第二开关件178接触。相同地， 当第二杆件174如图3C所示被位于第二移动路径P2上的第二开关件178阻挡时，第二杆件174可如图4B所示推动第二开关件178相对固定框架120枢转并使第二开关件178移离第二移动路径P2，让第一杆件172可继续随着夹持件130的转动而移动至与第一开关件176接触。请参考图1，本实施例的第一杆件172的延伸方向及第二杆件174的延伸方向实质上垂直于第二轴线A2。第一杆件172在平面A1A2 (第一轴线Al与第二轴线A2定义出的平面)上的正投影与第一轴线Al之间的距离Ll小于第二杆件174在平面A1A2上的正投影与第一轴线Al之间的距离L2，且第一开关件176的自由端在平面A1A2上的正投影与第一轴线Al之间的距离L3小于第二开关件178的自由端在平面A1A2上的正投影与第一轴线Al之间的距离L4。意即，第一杆件172在方向H上的位置低于第二杆件174在方向H 上的位置，且第一开关件176的自由端在方向H上的位置低于第二开关件178的自由端在方向H上的位置。此外，第一杆件172的自由端与第二轴线A2之间的距离L5大于第二杆件174的自由端与第二轴线A2之间的距离L6，且第一开关件176与第二轴线A2之间的距离L7大于第二开关件178与第二轴线A2之间的距离L8。藉此，第一杆件172及第一开关件176皆位于图3A所示的第一移动路径Pl上，且第二杆件174及第二开关件178皆位于图3A所示的不同于第一移动路径Pl的第二移动路径P2上，而使夹持件130转动时不会让第一杆件172误触第二开关件178，且不会让第二杆件174误触第一开关件176。请参考图4A及图4B，在本实施例中，固定框架120具有对应于第一开关件176的第一挡墙IM及对应于第二开关件178的第二挡墙126。在第一杆件172沿第一移动路径 Pl移动至接触第一开关件176 (如图4B所示)后，第一杆件172继续沿第一移动路径Pl移动而推动第一开关件176相对固定框架120枢转至抵靠于第一挡墙124，以使第一杆件172 可确实地按压第一开关件176上的按钮176a。相同地，在第二杆件174沿第二移动路径P2 移动至接触第二开关件178 (如图4B所示)后，第二杆件174继续沿第二移动路径P2移动而推动第二开关件178相对固定框架120枢转至抵靠于第二挡墙126，以使第二杆件174可确实地按压第二开关件178上的按钮178a。此外，在本实施例中，测试装置100还包括第一扭簧Tl及第二扭簧T2。第一扭簧 Tl连接于固定框架120及第一开关件176，以提供第一开关件176相对固定框架120枢转而复位于第一移动路径Pl的力矩，使第一开关件176在第一杆件172移开之后可复位于原始位置。相同地，第二扭簧T2连接于固定框架120及第二开关件178，以提供第二开关件 178相对固定框架120枢转而复位于第二移动路径P2的力矩，使第二开关件178在第二杆件174移开之后可复位于原始位置。以下对本实施例得测试装置100的其它构件做更详细的说明。请参考图1及图2， 夹持件130可包括一支撑架132以及多个夹具134。支撑架132枢设于固定框架120，且这些夹具Π4用以夹持第二机体14。在本实施例中，支撑架132例如包括一框体13 以及一升降杆132b。框体13 枢设于固定框架120。升降杆132b可升降地配置于框体13 ，以依据第二机体14的尺寸做上下调整。此外，支撑架132还可包括多个固定螺丝132c，用以在升降杆132b调整至定位后，固定升降杆132b与框体13 的相对位置。进一步来说，这些夹具134可分别轴设于支撑架132的升降杆132b，而夹持件130 还可包括多个弹性件136。这些弹性件136分别配置于这些夹具134上。这些弹性件136 分别位于升降杆132b与这些夹具134之间，以通过这些夹具134施加一弹性力于第二机体 14。在本实施例中，这些弹性件136可选用不同弹性系数的弹簧，以模拟使用者的手压持第二机体14来进行操作的状态。如此一来，使此测试更能贴近实际使用时的情形。
10
此外，测试装置100还可包括多个固定件160，可拆卸地连接于固定框架120与夹持件130之间，用以限制夹持件130相对固定框架120的枢转。在本实施例中，这些固定件 160例如为螺丝。当固定件160锁固于固定框架120与夹持件130时(如图1)，可避免第二机体14以第二轴线A2相对第一机体12枢转。也就是说，测试装置100也可如现有中只测试折叠式电子装置10在单一轴向上的开启与关闭。相对地，当固定件160卸除时(如图 2)，测试装置100即可进行折叠式电子装置10在第一轴线Al与第二轴线A2两个方向上的开启、关闭与翻转。另外，测试装置100还包括二联轴器El、E2，分别可挠地连接于第一驱动元件140 与第二驱动元件150。图5为图1得联轴器的示意图。请参考图1与图5，以联轴器El为例来说，联轴器El连接于第一驱动元件140的一轴142与固定框架120的一轴122之间。 联轴器El例如具有多个破孔F，以让联轴器El能够略微弯折，以吸收轴142与轴122之间的对位公差。图6为示意图1的测试装置的电路方块图。请参考图1与图6，测试装置100还可包括一第一转轴感测器180以及一第二转轴感测器190以及一控制单元C。第一转轴感测器180设置承载平台110与固定框架120之间，以感测固定框架120相对承载平台110 在方向Dl上的一第一枢转角度。第二转轴感测器190设置于夹持件130与固定框架120 之间，以感测夹持件130相对固定框架120在方向D2上的一第二枢转角度。控制单元C耦接于第一驱动元件140、第二驱动元件150、第一转轴感测器180以及第二转轴感测器190。 控制单元C用以依据第一枢转角度与第二枢转角度控制第一驱动元件140及第二驱动元件 150。此外，控制单元C亦耦接于第一开关件176及第二开关件178。当第一杆件172接触第一开关件176(如图4B所示)时，第一开关件176输出开关信号给该控制单元C，以停止第一驱动元件140的动作。当第二杆件174接触第二开关件178(如图4A所示)时，第二开关件178输出开关信号给控制单元C，以停止第一驱动元件140的动作。图7为图1的第一转轴感测器的示意图。请参考图1与图7，测试装置100的第一转轴感测器180可为一磁感式的转轴感测器。第一转轴感测器180可包含两磁性元件182、 两感磁元件184以及一转盘186。两磁性元件182连接至转盘186，而两感磁元件184分别配置于转盘186的两侧。当转盘186随固定框架120的轴122旋转时，会带动两磁性元件 182旋转。在两磁性元件182旋转至分别靠近两感磁元件184时，两感磁元件184便会送出信号给控制单元C，来表示第一驱动元件140已枢转了一第一枢转角度。在本实施例中，使用者可通过调整两感磁元件184相对转盘的上下位置，来决定第一枢转角度的大小。举例来说，当两感磁元件184从位置Wl往上移动到W2时，由于两磁性元件182只要转动较小的幅度，即可让两感磁元件184感应到磁性的变化。因此，第一枢转角度也会随之变小。图8为图1的第二转轴感测器的示意图。请参考图1与图8，测试装置100的第二转轴感测器190可为一缺口感应式的转轴感测器。第二转轴感测器190可包括一感测元件 192及一转盘194。转盘194具有一第一缺口 19 以及一第二缺口 194b，且第一缺口 19 与第二缺口 194b相距180度。感测元件192及转盘194分别固接至固定框架120及夹持件130。当第二驱动元件150驱使夹持件130相对固定框架120旋转时，夹持件130带动转盘194相对感测元件192旋转。当感测元件192与第一缺口 19 相对位时(如图6的状态)，感测元件192送出一侦测信号给控制单元C。当转盘194继续旋转使得第二缺口 194b与感测元件192相对位时，感测元件192送出另一侦测信号给控制单元C。在控制单元C收到连续两个侦测信号时，即可得知夹持件130已相对固定框架120枢转了第二枢转角度(如180度，即第一缺口 19 与第二缺口 194b的角度差)。在本实施例中，使用者可根据需求来设计缺口的数量与缺口之间相差的角度。此外，在另一未画出的实施例中，第一转轴感测器180与第二转轴感测器190皆可选择性地采用磁感式、缺口感应式等等的转轴感测器，并不以此为限。为了更清楚说明测试的流程，请参考图1、图2与图6，测试装置100还可包括一人机界面I，以让使用者通过人机界面I输入测试条件，例如启动时间、停止时间、开阖角度、 翻转角度、测试次数等等。在设定完成后，还可对应调整第一转轴感测器180与第二转轴感测器190，以让第一枢转角度与第二枢转角度符合测试条件(例如90度与180度)，使用者即可按压启动按钮(未画出)而开始测试。首先，控制单元C根据使用者所设定的开阖角度(如超过90度并低于180度)，驱使第一驱动元件140以第一轴线Al正转(图2的顺时针方向)，带动固定框架120相对承载平台110枢转，使得第二机体14从相对第一机体12关闭到打开至超过第一枢转角度90 度(如图1的状态)。此时第一转轴感测器180便会输出信号至控制单元C，以使控制单元 C启动第二驱动元件150。接着，第二驱动元件150带动夹持件130以第二轴线A2相对固定框架120反转 (图2的逆时针方向)，使得第二机体14相对第一机体12翻转(如图2的状态)，直到第二机体14的一显示区域翻转至背面。在第二转轴感测器190感测到夹持件130相对固定框架120枢转了第二枢转角度180度时，控制单元C继续启动第一驱动元件140。此时，第一驱动元件140以第一轴线Al反转(图2的逆时针方向)，带动第二机体14盖合于第一机体 12上，使得第二机体14的显示区域朝上。然后，控制单元C根据测试条件停止第一驱动元件140达一段预设时间。停止到达预设时间之后，控制单元C驱使第一驱动元件140开始正转，使得第二机体14相对第一机体12开启。当第一转轴感测器180感测到达第一枢转角度90度时，控制单元C会接收到第一转轴感测器180的信号而驱使第二驱动元件150正转(图2的顺时针方向)。之后，当第二机体14的显示区域转回正面，也就是第二转轴感测器190感测到达第二枢转角度180度时，控制单元C再驱使第一驱动元件140以第一轴线Al反转，带动第二机体14盖合于第一机体12上，而完成一次测试。接着，根据测试条件，重复上述步骤达预期的测试次数即结束。值得注意的是，上述极限开关170(画出于图1)可在第二转轴感测器190故障或失效时强制停止测试装置 100的运作，以避免测试装置100持续运作而造成折叠式电子装置10因过度枢转而有所损坏。另外，在本实施例中，测试装置100通过固定框架120的延伸与配合另一组的第二驱动元件150’等构件，而可在测试折叠式电子装置10的同时，测试另一折叠式电子装置 10’。在另一未画出的实施例中，亦可只测试单一的折叠式电子装置10，当然也可同时测试三台以上的折叠式电子装置，本发明并不以此为限。综上所述，本发明的测试装置在测试的过程中，可通过极限开关的第一杆件与第一开关件的接触或第二杆件与第二开关件的接触使测试装置停止运作，以避免在测试过程中因枢转角度过大而造成折叠式电子装置之转轴损坏。此外，第一开关件及第二开关件系枢设于固定框架。藉此，当第一杆件因第二开关件对第二杆件的阻挡而无法移动至与第一开关件接触时，第二杆件可暂时地将第二开关件推离而使第一杆件可移动至与第一开关件接触。相同地，当第二杆件因第一开关件对第一杆件的阻挡而无法移动至与第二开关件接触时，第一杆件可暂时地将第一开关件推离而使第二杆件可移动至与第二开关件接触。另外，更可通过扭簧的配置而提供第一开关件与第二开关件复位的力矩，以进一步确保极限开关的作动的正确性。虽然本发明已以实施例揭示如上，然其并非用以限定本发明，任何所属本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，故本发明的保护范围当视所附的权利要求所界定者为准。
权利要求
1.一种测试装置，适于测试一电子装置，所述电子装置具有一第一机体与一第二机体， 且所述第一机体适于相对所述第二机体旋转，所述测试装置包括一承载平台，用以承载所述第一机体；一固定框架，枢设于所述承载平台；一夹持件，枢设于所述固定框架，用以夹持所述第二机体；一极限开关，包括一第一杆件，固设于所述夹持件；一第二杆件，固设于所述夹持件；一第一开关件，枢设于所述固定框架而位于一第一移动路径上；以及一第二开关件，枢设于所述固定框架而位于一第二移动路径上，其中当所述夹持件沿一第一方向相对所述固定框架枢转时，所述第二开关件被所述第二杆件推动而相对所述固定框架枢转并移离所述第二移动路径，且所述第一杆件沿所述第一移动路径移动至接触所述第一开关件，当所述夹持件沿反向于所述第一方向的一第二方向相对所述固定框架枢转时，所述第一开关件被所述第一杆件推动而相对所述固定框架枢转并移离所述第一移动路径，且所述第二杆件沿所述第二移动路径移动至接触所述第二开关件。
2.根据权利要求1所述测试装置，还包括一第一驱动元件，设置于所述承载平台与所述固定框架之间，用以带动所述固定框架相对所述承载平台枢转；以及一第二驱动元件，设置于所述夹持件与所述固定框架之间，用以带动所述夹持件相对所述固定框架枢转。
3.根据权利要求2所述的测试装置，还包括一第一转轴感测器，设置于所述承载平台与所述固定框架之间，以感测所述固定框架相对所述承载平台的一第一枢转角度；一第二转轴感测器，设置于所述夹持件与所述固定框架之间，以感测所述夹持件相对所述固定框架的一第二枢转角度；以及一控制单元，耦接于所述第一驱动元件、所述第二驱动元件、所述第一转轴感测器以及所述第二转轴感测器，且所述控制单元用以依据所述第一枢转角度与所述第二枢转角度控制所述第一驱动元件及所述第二驱动元件。
4.根据权利要求3所述的测试装置，其中所述控制单元耦接于所述第一开关件及所述第二开关件，其中当所述第一杆件接触所述第一开关件时，所述第一开关件输出一第一开关信号给所述控制单元，以停止所述第一驱动元件的动作，当所述第二杆件接触所述第二开关件时，所述第二开关件输出一第二开关信号给所述控制单元，以停止所述第一驱动元件的动作。
5.根据权利要求3所述测试装置，还包括二联轴器，分别可挠地连接于所述第一驱动元件与所述第二驱动元件。
6.根据权利要求1所述的测试装置，其中所述夹持件，包括 一支撑架，枢设于所述固定框架；以及多个夹具，连接至所述支撑架，用以夹持所述第二机体。
7.根据权利要求6所述的测试装置，其中所述支撑架，包括一框体，枢设于所述固定框架；以及一升降杆，可升降地配置于所述框体，且所述多个夹具连接至所述升降杆。
8.根据权利要求6所述测试装置，其中所述多个夹具分别轴设于所述支撑架，而所述夹持件，还包括多个弹性件，配置于所述多个夹具上，用以通过所述多个夹具施加一弹性力于所述第二机体。
9.根据权利要求1所述的测试装置，还包括多个固定件，可拆卸地连接于所述固定框架与所述夹持件之间，用以限制所述夹持件相对所述固定框架的枢转。
10.根据权利要求9所述的测试装置，其中所述多个固定件为螺丝。
11.根据权利要求1所述的测试装置，其中所述固定框架以一第一轴线枢设于所述承载平台，所述夹持件以一第二轴线枢设于所述固定框架，且所述第一轴线垂直所述第二轴线。
12.根据权利要求11所述的测试装置，其中所述第一杆件的延伸方向及所述第二杆件的延伸方向垂直于所述第二轴线，所述第一杆件的一自由端与所述第二轴线之间的一距离大于所述第二杆件的一自由端与所述第二轴线之间的一距离，且所述第一开关件与所述第二轴线之间的一距离大于所述第二开关件与所述第二轴线之间的一距离。
13.根据权利要求11所述的测试装置，其中所述第一轴线与所述第二轴线定义出一平面，所述第一杆件在所述平面上的一正投影与所述第一轴线之间的一距离小于所述第二杆件在所述平面上的一正投影与所述第一轴线之间的一距离，且所述第一开关件的一自由端在所述平面上的一正投影与所述第一轴线之间的一距离小于所述第二开关件的一自由端在所述平面上的一正投影与所述第一轴线之间的一距离。
14.根据权利要求1所述的测试装置，其中所述固定框架具有对应于所述第一开关件的一第一挡墙，在所述第一杆件沿所述第一移动路径移动至接触所述第一开关件后，所述第一杆件继续沿所述第一移动路径移动而推动所述第一开关件相对所述固定框架枢转至与所述第一挡墙接触。
15.根据权利要求14所述的测试装置，其中所述固定框架具有对应于所述第二开关件的一第二挡墙，在所述第二杆件沿所述第二移动路径移动至接触所述第二开关件后，所述第二杆件继续沿所述第二移动路径移动而推动所述第二开关件相对所述固定框架枢转至与所述第二挡墙接触。
16.根据权利要求1所述的测试装置，其中所述测试装置还包括一第一扭簧，连接于所述固定框架及所述第一开关件，以提供所述第一开关件相对所述固定框架枢转而复位于所述第一移动路径的力矩。
17.根据权利要求16所述的测试装置，其中所述测试装置还包括一第二扭簧，连接于所述固定框架及所述第二开关件，以提供所述第二开关件相对所述固定框架枢转而复位于所述第二移动路径的力矩。
18.一种极限开关，适用于一测试装置，所述测试装置包括一承载平台、一固定框架及一夹持件，所述固定框架枢设于所述承载平台，所述夹持件枢设于所述固定框架，所述极限开关包括一第一杆件，固设于所述夹持件；一第二杆件，固设于所述夹持件；一第一开关件，枢设于所述固定框架而位于一第一移动路径上；以及一第二开关件，枢设于所述固定框架而位于一第二移动路径上，其中当所述夹持件沿一第一方向相对所述固定框架枢转时，所述第二开关件被所述第二杆件推动而相对所述固定框架枢转并移离所述第二移动路径，且所述第一杆件沿所述第一移动路径移动至接触所述第一开关件，当所述夹持件沿反向于所述第一方向的一第二方向相对所述固定框架枢转时，所述第一开关件被所述第一杆件推动而相对所述固定框架枢转并移离所述第一移动路径，且所述第二杆件沿所述第二移动路径移动至接触所述第二开关件。
19.根据权利要求18所述的极限开关，其中所述测试装置的一控制单元耦接于所述第一开关件及所述第二开关件，当所述第一杆件接触所述第一开关件时，所述第一开关件输出一第一开关信号给所述控制单元，以停止所述第一驱动元件的动作，当所述第二杆件接触所述第二开关件时，所述第二开关件输出一第二开关信号给所述控制单元，以停止所述第一驱动元件的动作。
20.根据权利要求18所述的极限开关，其中所述固定框架以一第一轴线枢设于所述承载平台，所述夹持件以一第二轴线枢设于所述固定框架，所述第一轴线垂直所述第二轴线， 所述第一杆件的延伸方向及所述第二杆件的延伸方向垂直于所述第二轴线，所述第一杆件的一自由端与所述第二轴线之间的一距离大于所述第二杆件的一自由端与所述第二轴线之间的一距离，且所述第一开关件与所述第二轴线之间的一距离大于所述第二开关件与所述第二轴线之间的一距离。
21.根据权利要求20所述的极限开关，其中所述第一轴线与所述第二轴线定义出一平面，所述第一杆件在所述平面上的一正投影与所述第一轴线之间的一距离小于所述第二杆件在所述平面上的一正投影与所述第一轴线之间的一距离，且所述第一开关件的一自由端在所述平面上的一正投影与所述第一轴线之间的一距离小于所述第二开关件的一自由端在所述平面上的一正投影与所述第一轴线之间的一距离。
22.根据权利要求18所述的极限开关，其中所述固定框架具有对应于所述第一开关件的一第一挡墙，在所述第一杆件沿所述第一移动路径移动至接触所述第一开关件后，所述第一杆件继续沿所述第一移动路径移动而推动所述第一开关件相对所述固定框架枢转至与所述第一挡墙接触。
23.根据权利要求22所述的极限开关，其中所述固定框架具有对应于所述第二开关件的一第二挡墙，在所述第二杆件沿所述第二移动路径移动至接触所述第二开关件后，所述第二杆件继续沿所述第二移动路径移动而推动所述第二开关件相对所述固定框架枢转至与所述第二挡墙接触。
24.根据权利要求18所述的极限开关，其中所述测试装置还包括一第一扭簧，连接于所述固定框架及所述第一开关件，以提供所述第一开关件相对所述固定框架枢转而复位于所述第一移动路径的力矩。
25.根据权利要求M所述的极限开关，其中所述测试装置还包括一第二扭簧，连接于所述固定框架及所述第二开关件，以提供所述第二开关件相对所述固定框架枢转而复位于所述第二移动路径的力矩。
全文摘要
本发明提供了一种测试装置及其极限开关，适用于测试装置。测试装置包括相互枢接的固定框架及夹持件。极限开关包括第一杆件、第二杆件、第一开关件及第二开关件。第一杆件及第二杆件固设于夹持件。第一开关件及第二开关件枢设于固定框架。当夹持件沿第一方向枢转时，第二杆件推动第二开关件枢转且第一杆件移动至接触第一开关件。当夹持件沿反向于第一方向的第二方向枢转时，第一杆件推动第一开关件枢转且第二杆件移动至接触第二开关件。
文档编号G01M13/00GK102221453SQ20101015088
公开日2011年10月19日 申请日期2010年4月13日 优先权日2010年4月13日
发明者刘佩芬, 戴宝华, 许乃仁, 陈彦志 申请人:英业达股份有限公司