专利名称：用恒定幅度及脉宽的可变频光源测定发光期间的方法
技术领域：
本发明涉及发光在光激发后持续的时间长短，它可用于判定发光信息显示屏的反 应速度及交流电源驱动的无闪烁光源的质量。
背景技术：
发光期间表征是发光现象本身及其应用的重要数据。瓦维洛夫曾用它的存在判别 了发光及契连科夫效应的区分，获得了诺贝尔奖。但是他只证明了它是否存在，并没有提出 测量它的数值的方法。已有70多年历史的光致发光衰减的测试方法已发展出5，6种针对 不同时域的技术，但是它只适用于极个别的情况分立中心的单指数发光，而且只反映发光 衰减的速度，例如衰减至1/e，1/10，1/100时各需要多长时间，不能正确地回答发光持续 的全部时间。而这一参数正是发光及其应用技术中最敏感的特性
发明内容
本发明所要解决的技术问题是，提供一种用恒定幅度及脉宽的可变频光源测定发 光期间。本发明的技术方案用恒定幅度及脉宽的可变频光源测定发光期间的方法，该方法是用恒定幅度及脉 宽的可变频脉冲光激发发光体，由分光探测器测量光强，根据发光强度对激发频率的变化 关系，找出光源从低频到高频变化时，发光光强与激发频率的关系从线性上升开始下折的 转折点所对应的频率‘这时发光期间为T =ρ
Jo其中ρ为脉冲光源的脉宽，10_6秒彡ρ彡ICT1秒。本发明的有益效果本发明超越了 70多年来只能了解个别情况下衰减速度的限制，用有坚实理论依 据的、很直观、又很简便、常规的技术手段，扩大了适用领域，测量出各类复杂情况中的发光 期间，以及在可用光激活的非发光系统中测量被激活状态的持续时间。
图1发光强度B随激发频率f的变化曲线。
具体实施例方式一种利用恒定幅度及脉宽的可变频光源测定发光期间的方法，该方法包括以下步 骤步骤一，准备恒定幅度及脉宽的可变频激光光源、测量发光强度的分光探测器和 被激发试样；
步骤二，用恒定幅度及脉宽的可变频脉冲激光源激发发光体，由分光探测器测量 光强；步骤三，光源的频率从零开始，陆续增高。起初，发光光强随激发频率上升而线性 增长，绘制发光强度对激发频率的变化关系B-f曲线。继续增大频率，找出激光从低频到高 频变化时，发光光强与激发频率的关系从线性上升开始下折的转折点所对应的频率fo，见 图1，这时被激发试样的发光期间为T = - ρ
Jo其中受仪器参数制约ρ为脉冲光源的恒定脉宽，按实际发光期间要求10_6秒 ^ ρ ^ IO-1秒均可。被激发试样(发光体)为光致发光材料可以是单晶、薄膜、粉末、液体。可以是有 机发光体，也可以是无机发光体，在可用光脉冲激活，又有可测光照引起的参数时，也可用 于非发光系统。测量中必须保证激发光及其反射、散射、透射光不进入光强探测器。恒定幅度及脉宽的可变频激发光源还包括其它发光光源。本发明的理论依据用单脉冲光激发试样时，一个周期的时间是Ι/f，除去激发脉宽P占用的时间外，
发光衰减可用的时间只有(+-W)。如果这段时间大于发光期间，则每次激发后单个脉冲
引起的发光强度Φ都是相同的，这样测得的发光强度B= Φ · ·，与激发频率成正比，得到 B-f的直线关系。但当这段可用来实现衰减的时间小于ρ激发引起的发光期间，则下一个激 发脉冲将与还未衰减完的发光末梢部分重叠，这个重叠部分的发光中心还处于激发态，不 能被吸收，从而不能再被激发，激发变弱，发光强度离开直线，发生下降。频率再提高时，这 个下偏程度将增大。测量的目标就是频率增长时，发光强度从线性下折处的频率。由于回 折点处发光亮度的变化微弱，为提高测量的准确度，要用外延方法，使发光强度及激发频率 都采用线性坐标，从偏离线性规律部分曲线的低频端作一切线，它与低频下发光随频率变 化的直线交点就是‘从而
τ— 1[-—~P
Jo从直线上的回折点所对应的激发频率&算出T= j-/ ，p是脉宽。
权利要求
一种利用恒定幅度及脉宽的可变频光源测定发光期间的方法，其特征是用恒定幅度及脉宽的可变频脉冲光源激发发光体，由分光探测器测量光强，根据发光强度对激发频率的变化关系，找出光源从低频到高频变化时，发光光强与频率的关系从线性上升开始下折的转折点所对应的频率f0，这时发光期间为 <mrow><mi>T</mi><mo>=</mo><mfrac> <mn>1</mn> <msub><mi>f</mi><mn>0</mn> </msub></mfrac><mo>-</mo><mi>p</mi> </mrow>其中p为脉冲光源的脉宽。
2.根据权利要求1所述的一种利用恒定幅度及脉宽的可变频光源测定发光期间的方 法，其特征是10_6秒彡p彡川—秒。
3.根据权利要求1所述的一种利用恒定幅度及脉宽的可变频光源测定发光期间的方 法，其特征是发光体为光致发光材料单晶、薄膜、粉末或液体，在激发时必须保证激发光 及其反射、散射、透射光不进入分光探测器。
全文摘要
本发明公开了一种利用恒定幅度及脉宽的可变频光源测定发光期间的方法，涉及发光在激发后持续的时间长短，用于判定发光信息显示屏的反应速度及交流电源驱动的无闪烁光源质量。采用恒定幅度及脉宽的可变频脉冲光源激发发光体，分光探测器测量光强，根据发光强度对激发频率的变化关系，找出光源从低频到高频变化时，发光光强与频率关系从线性开始偏折的转折点所对应的频率f0，这时发光期间为其中p为脉冲光源的脉宽。本发明超越了70多年来只能了解个别情况下衰减速度的限制，用有坚实理论依据、很直观、又很简便、常规的技术手段，扩大了适用领域，可测量出各类复杂情况中的发光期间，及在可用光激活的非发光系统中测量出被激活状态的持续时间。
文档编号G01M11/02GK101832856SQ201010152940
公开日2010年9月15日 申请日期2010年4月19日 优先权日2010年4月19日
发明者冀国蕊, 张福俊, 徐叙瑢, 徐征, 赵谡玲 申请人:北京交通大学